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国際特許分類[H01L27/04]の内容

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【課題】半導体記憶装置の面積を縮小する技術を提供する。
【解決手段】高抵抗付加型ラッチ回路(12)と、その高抵抗付加型ラッチ回路(12)に保持されるデータの読み出しと書込みとを制御する選択回路(13)とを具備する半導体記憶装置(11)を構成する。その高抵抗付加型ラッチ回路(12)は、第1駆動トランジスタ(22)と、第2駆動トランジスタ(24)と、第1抵抗(121)と、第2抵抗(123)とを備えることが好ましい。また、その選択回路(13)は、第1選択トランジスタ(31)と、第2選択トランジスタ(32)とを備えることが好ましい。ここにおいて、その第1抵抗(121)と第2抵抗(123)とは、サイドウォール状の導電性材料(21)(23)で形成されるものである。 (もっと読む)


【課題】 間欠動作する論理回路の動作停止時(待機時)のリーク電流を低減するとともに、さらに論理回路の動作時の駆動電流を十分に供給可能とする。
【解決手段】 論理回路と電源の間に接続のパワースイッチを論理回路の間欠動作に合わせて制御する構成において、2つのパワースイッチは論理回路と正の電源電位との間にnMOSトランジスタを接続し、論理回路と接地電位との間にpMOSトランジスタを接続した構成とし、論理回路の動作停止時にpMOSトランジスタのゲート端子を正の電源電位に接続して非導通とし、論理回路の動作時にpMOSトランジスタのゲート電位を接地電位に接続して導通させるスイッチを備え、論理回路の動作停止時にnMOSトランジスタのゲート端子を接地電位に設定して非導通とし、論理回路の動作時にnMOSトランジスタのゲート端子を正の電源電位以上の電位に設定して導通させる電圧変換器を備える。 (もっと読む)


【課題】 クロックツリー及びクロックツリーに接続されたFF回路全体で消費電力を低減できるクロックツリー設計方法及び装置を提供する。
【解決手段】 自動配置配線処理を実行してクロックツリーを作成するクロックツリー設計方法であって、通常の自動配置配線処理により第1クロックツリーを作成する第1クロックツリー作成工程と、少なくとも第1クロックツリー及び第1クロックツリーに接続されたFF回路の消費電力を算出する第1消費電力算出工程と、前記FF回路のクロックピンのピン容量を初期設定値より大きい値に変更するピン容量変更工程と、ピン容量の変更後に自動配置配線処理を実行して第2クロックツリーを作成する第2クロックツリー作成工程と、少なくとも第2クロックツリー及び第2クロックツリーに接続されたFF回路の消費電力を算出する第2消費電力算出工程を有する。 (もっと読む)


【課題】ダイオード内蔵スイッチング素子において、良好なダイオード損失特性を実現する。
【解決手段】半導体基板32の一面33側においてはダイオード領域20およびIGBT領域10のうちIGBT素子を除いた領域に半導体基板32の一面33を基準として所定の深さまで低ライフタイム領域49を設け、半導体基板32の他面47側においてはIGBT領域10に半導体基板32の他面47を基準として所定の深さまで低ライフタイム領域49を設ける。これにより、ダイオード素子の動作時にドリフト層30に残されたホールが低ライフタイム領域49によって再結合して消滅するため、IGBT領域10からダイオード領域20へのホールの注入を抑制することができる。 (もっと読む)


【課題】キャパシタ装置及びその製造方法を提供する。
【解決手段】本発明に係るキャパシタ装置10は、第1導電型を有して第1電圧が印加される第1ウェル105及び第2導電型を有して第2電圧が印加される第2ウェル110を有する基板100、及び第1または第2ウェル105,110と絶縁されるように第1または第2ウェル105,110の上部に配されたゲート電極126を含み、キャパシタ装置10のキャパシタンスは、第1ウェル105と第2ウェル110との間の第1キャパシタンス及び第1または第2ウェル105,110とゲート電極126との間の第2キャパシタンスを含む。 (もっと読む)


【課題】各チャネルの第1、第2信号の差分に対応する信号のA/D変換を少ない回路規模で実現できる集積回路装置を提供する。
【解決手段】集積回路装置は、第1チャネル第1信号VQ1、第2チャネル第1信号VQ2が入力され、第1チャネル計測期間、第2チャネル計測期間において、各々、第1チャネル第1信号VQ1、第2チャネル第1信号VQ2を第1信号SG1として出力する第1マルチプレクサーMUX1と、第1チャネル第2信号VR1、第2チャネル第2信号VR2が入力され、第1チャネル計測期間、第2チャネル計測期間において、各々、VR1、VR2を第2信号SG2として出力する第2マルチプレクサーMUX2と、第1信号SG1と第2信号SG2が入力され、第1信号SG1と第2信号SG2の差分に対応する信号を出力する増幅回路AMPと、増幅回路AMPの出力信号についてのA/D変換を行うA/D変換器ADCを含む。 (もっと読む)


【課題】センサーデバイスからの検出信号の精度の高いA/D変換を実現できる集積回路装置及び電子機器等の提供。
【解決手段】集積回路装置は、電源電圧VDDAを生成する電源回路60と、電源回路60から電源電圧VDDAが供給され、供給された電源電圧VDDAに基づいて動作し、電源電圧VDDAにより規定されるA/D変換範囲で、センサーデバイス30からの検出信号に対応する信号についてのA/D変換を行うA/D変換器ADCと、電源回路60から電源電圧VDDAが供給され、供給された電源電圧VDDAをセンサーデバイス30に供給する電源端子PVDAを含む。 (もっと読む)


【課題】寄生素子の動作を起因とする不安定動作を防ぐことができる、半導体集積回路を提供すること。
【解決手段】入出力を異なる電流値にする入出力比特性を有するカレントミラーを構成する一対のトランジスタ(63,65)と、前記カレントミラーの出力電流に応じて基準電圧を生成する出力トランジスタとを備える半導体集積回路であって、一対のトランジスタ(63,65)のうち前記電流値が小さい方のトランジスタ63側のコレクタ領域85Aの総面積と一対のトランジスタ(63,65)のうち前記電流値が大きい方のトランジスタ65側のコレクタ領域82と88とを合わせた総面積とが等しくなるように構成されたことを特徴とする、半導体集積回路。 (もっと読む)


【課題】周辺回路の抵抗素子の抵抗部の厚さに依らずにメモリセルトランジスタの浮遊ゲートの厚さを自由に設定することのできる半導体装置、およびその製造方法を提供すること。
【解決手段】基板上の抵抗素子およびスタックド・ゲート型のメモリセルトランジスタを含む半導体装置を提供する。前記抵抗素子は、抵抗として機能しない非導通層、および前記非導通層上に第1の絶縁膜を介して形成された抵抗として機能する導通層を含む。前記メモリセルトランジスタは、第1の浮遊ゲートを含む浮遊ゲートを有する。前記非導通層と前記第1の浮遊ゲートは、同じ材料からなる。 (もっと読む)


【課題】 電源電圧の安定した供給が可能な半導体集積回路および半導体集積回路装置を提供する。
【解決手段】 半導体集積回路40において、半導体基板の表面の、コア領域に、第1の電源が供給されて動作するコア回路が形成されるとともに、前記半導体基板の表面の前記コア領域の外側のI/O領域に、第2の電源が供給されて動作するI/O回路が形成された半導体集積回路40であって、前記半導体基板内に、該半導体基板を貫通して、前記第1の電源を供給する貫通ビア51が設けられ、前記半導体基板の表面のI/O領域に、前記第2の電源を供給するパッド46が設けられたことを特徴とする。 (もっと読む)


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