コネクタ製造装置およびコネクタ製造方法
【課題】製造装置の簡素化、小型化を図ることができるコネクタ製造技術を提供する。
【解決手段】コネクタ製造装置１０は、フープ材供給装置５１と、定寸カット装置５２と、樹脂成形装置５３と、加工検査装置２０とを備えている。加工検査装置２０は、複数のコンタクトがキャリアに繋がって整列保持された状態で絶縁ハウジングに配置された成形品の当該コンタクトの導通検査を行う導通検査手段と、成形品のコンタクトからキャリアを分離除去してコネクタを形成するキャリア分離手段と、コネクタを構成するコンタクトの短絡検査を行う短絡検査手段とを有している。加工検査装置２０は、複数のコンタクト１ａに接触する複数の検査プローブを有する検査プローブセットと、コンタクトに繋がるキャリアに接触するキャリアカッタとを有している。加工検査装置２０は、成形品の絶縁ハウジングを保持した状態で、導通検査と、キャリアの分離除去と、短絡検査とを行う。
【解決手段】コネクタ製造装置１０は、フープ材供給装置５１と、定寸カット装置５２と、樹脂成形装置５３と、加工検査装置２０とを備えている。加工検査装置２０は、複数のコンタクトがキャリアに繋がって整列保持された状態で絶縁ハウジングに配置された成形品の当該コンタクトの導通検査を行う導通検査手段と、成形品のコンタクトからキャリアを分離除去してコネクタを形成するキャリア分離手段と、コネクタを構成するコンタクトの短絡検査を行う短絡検査手段とを有している。加工検査装置２０は、複数のコンタクト１ａに接触する複数の検査プローブを有する検査プローブセットと、コンタクトに繋がるキャリアに接触するキャリアカッタとを有している。加工検査装置２０は、成形品の絶縁ハウジングを保持した状態で、導通検査と、キャリアの分離除去と、短絡検査とを行う。
【発明の詳細な説明】
【技術分野】
【０００１】
本発明は、互いに絶縁された複数のコンタクトが絶縁ハウジングに配置された構造を有する電気コネクタの製造技術に関する。
【背景技術】
【０００２】
近年、電気コネクタにおいては、小型化、コンタクトの多極化、コンタクトの高密度化が進み、例えば、携帯電話等に用いられる細線同軸線用コネクタの場合、外形寸法（横幅×奥行き×高さ）が２２ｍｍ×３ｍｍ×１．７ｍｍ、コンタクト芯数２０ピン、コンタクトの幅が０．２ｍｍ、コンタクトピッチが０．４ｍｍというものが出現している。このような細線同軸コネクタの製造方法としては、図５に示すような、インサート成形方式を用いたコネクタ製造装置５０が知られている。
【０００３】
ここで、図２および図５〜図８を参照しながら、従来のコネクタ製造装置５０を用いてコネクタ４をインサート成形により製作する工程について説明する。図２（ａ）に示すように、複数のコンタクト１ａがキャリア１ｂに整列保持されて繋がった状態に形成されたフープ材１を、定寸送り装置（図示せず）により、図５に示すコネクタ製造装置５０のフープ材供給装置５１から定寸カット装置５２へ供給する。そして、定寸カット装置５２により、製造するコネクタの芯数に相当する所定の長さにフープ材１を切断して、図２（ｂ）に示すような定寸カット済みフープ材２（以下、「端子片２」と記す。）を形成する。
【０００４】
次に、コネクタ製造装置５０に設けられた搬送装置（図示せず）により端子片２を樹脂成形装置５３へ搬送し、ここで端子片２に樹脂成形を施すことにより、図２（ｃ）に示すように、所定数のコンタクト１ａが互いに絶縁状態に配置された絶縁ハウジング３ａが形成され、所定数のコンタクト１ａが一体成形された成形品３が得られる。このとき、図２（ｃ）における成形品３のＡ−Ａ断面は図２（ｄ）に示すような形状となっている。
【０００５】
次に、コネクタ製造装置５０に設けられた搬送装置（図示せず）により成形品３を樹脂成形装置５３からキャリアカット装置５４に搬送する。そして、キャリアカット装置５４において、図６（ａ）に示すように、成形品３がレール５６上にセットされ、この後、図６（ｂ）に示すように、クランパ５５を閉じることによって成形品３をレール５６上に保持する。この後、図６（ｃ）に示すように、キャリアカッタ５７を閉じることによってキャリア１ｂを切断し、成形品３に配置されたコンタクト１ａからキャリア１ｂを分離すると、図２（ｅ）に示すコネクタ４が形成される。
【０００６】
次に、クランパ５５を開いてコネクタ４の保持を開放した後、キャリア１ｂが除去されたコネクタ４を、搬送装置（図示せず）によって、図５および図７（ａ）に示す導通短絡検査装置５８まで搬送し、レール５９上にセットする。そして、導通短絡検査装置５８において、図７（ｂ）に示すように、クランパ６０を閉じることにより、コネクタ４をレール５９上に保持する。
【０００７】
この後、図７（ｃ）に示すように、複数のコンタクト１ａのそれぞれにほぼ同時に接触する複数の検査プローブ６１ａを備えた第１検査プローブセット６１と、同様に複数のコンタクト１ａのそれぞれにほぼ同時に接触する複数の検査プローブ６２ａを備えた第２検査プローブセット６２を前進させ、それぞれの検査プローブ６１ａ，６２ａをコンタクト１ａに接触させる。そして、第１検査プローブセット６１の１本の検査プローブ６１ａと、第２検査プローブセット６２の１本の検査プローブ６２ａと、１つのコンタクト１ａとによって閉回路が形成され、この閉回路に対して通電することによって導通検査を行う。
【０００８】
導通検査が終わると、図８（ａ）に示すように、第１検査プローブセット６１を後退させることによって、各検査プローブ６１ａをコンタクト１ａから離し、第２検査プローブセット６２によって短絡検査を行う。短絡検査が終わると、図８（ｂ）に示すように、クランパ６０を開いてコネクタ４を開放するとともに、第２検査プローブセット６２を後退させて、各検査プローブ６２ａをコンタクト１ａから離す。
【０００９】
短絡検査が終わったコネクタ４は搬送装置（図示せず）によって所定位置まで搬送されるが、導通検査および短絡検査において合格したコネクタ４だけが、図５に示す梱包トレイ６５に搬送され、不合格となったコネクタ４は廃棄される。
【００１０】
このように、コネクタ４の製造工程の最終段階においては、コンタクト１ａの導通検査および短絡検査が行われる。導通検査は、コンタクト１ａが正しく導通するかどうかを検査するものであり、短絡検査は、隣り合うまたは／および近接するコンタクト１ａが短絡していないかどうかを検査するものである。
【００１１】
一方、フレキシブルケーブルを接続する接続部品（コネクタ）の導通試験において、従来、接続部品上部に検出手段（検出ピン）を挿入可能な開口部を設け、その中に検出手段（検出ピン）を挿入し、接続端子部の持つバネ性を利用して、接続端子と検出手段（検出ピン）との接触圧を安定化させることにより、適切な導通試験を行うという技術が提案されている（例えば、特許文献１参照。）。
【００１２】
【特許文献１】特開平６−２９０５５号公報
【発明の開示】
【発明が解決しようとする課題】
【００１３】
図５〜図８で示した従来の導通検査は、それぞれのコンタクト１ａの２箇所に検査プローブ６１ａ，６２ａを接触させ、電流を流すことによって行っているが、検査に要する時間を短縮するためには、検査プローブ６１ａ，６２ａは、高密度で配置されたコンタクト１ａのそれぞれに同時に接触しなければならず、そのためには、複数の検査プローブ６１ａ，６２ａが高精度に配置された検査プローブセットが必要となる。また、第１検査プローブセット６１および第２検査プローブセット６２という、２組のプローブセットが必要であるため、コネクタ製造装置５０が複雑化、大型化するだけでなく、装置価格の上昇を招いている。
【００１４】
また、図５に示した従来のコネクタ製造装置５０においては、コンタクト１ａからキャリア１ｂを分離するキャリアカット装置５４と導通・短絡検査装置５８とが別々に設けられている。そのため、キャリアカット装置５４にてキャリア１ｂが切断分離されたコネクタ４をキャリアカット装置５４から導通・短絡検査装置５８まで搬送する装置が別途必要である。このように、キャリアカット装置５４と、導通・短絡検査装置５８とが別々に設けられていたこと、搬送装置が必要だったことにより、コネクタ製造装置５０全体が複雑化、大型化するため、広い設置スペースが必要であり、装置の高価格化も招いている。
【００１５】
さらに、キャリアカット装置５４と、導通・短絡検査装置５８とが別々に設けられていたことにより、キャリアカット装置５４にてキャリア１ｂが切断分離されたコネクタ４をキャリアカット装置５４から導通・短絡検査装置５８まで搬送する必要があるため、コネクタ製造時間が増大する。また、前述したように、別途コネクタ４をキャリアカット装置５４から導通・短絡検査装置５８まで搬送する工程を実行する場合、導通・短絡検査装置５８のコネクタ停止位置にコネクタ４を正確に位置決めするための位置決め装置が必要となり、それに起因して装置の高価格化を招いている。
【００１６】
一方、特許文献１に記載された導通検査は、コネクタの上部開口部から挿入した検出ピンを接続端子部に接触させるとともに、プリント基板の基板パターンに検出ピンを接触させ、その導通を取るというものである。従って、複数の接続端子部と同数の検出ピンが必要であり、検査関連機器の複雑化、大型化、および装置価格の上昇を招いている。また、特許文献１に記載の発明においては、コネクタを基板に半田付けした後に検査を行うものであるため、検査によって不良が判明したときは、基板からコネクタを取り外す必要があり、多大な工数が発生する。
【００１７】
本発明が解決しようとする課題は、製造装置の簡素化・小型化、低価格化およびコネクタ製造時間の短縮を図ることができるコネクタ製造技術を提供することにある。
【課題を解決するための手段】
【００１８】
本発明のコネクタ製造装置は、互いに絶縁された複数のコンタクトが絶縁ハウジングに配置された構成を有するコネクタの製造装置であって、
複数のコンタクトがキャリアに繋がって整列保持された状態で絶縁ハウジングに配置された成形品における前記コンタクトの導通検査を行う導通検査手段と、
前記コンタクトから前記キャリアを分離除去してコネクタを形成するキャリア分離手段と、
前記コネクタを構成する前記コンタクトの短絡検査を行う短絡検査手段と、を有し、
少なくとも前記絶縁ハウジングの一部を保持して静止させた状態で、前記導通検査と、前記キャリアの分離除去と、前記短絡検査とを行う加工検査装置を備えたことを特徴とする。
【００１９】
このような構成とすれば、加工検査装置における所定位置に絶縁ハウジングを保持した状態で成形品（若しくはコネクタ）を移動させず静止させた状態で、コンタクトの導通検査と、キャリアの分離除去と、コンタクトの短絡検査と、を連続的に行うことが可能となる。従って、従来のコネクタ製造装置が具備しているキャリア分離装置と導通・短絡検査装置とが一体化された状態となり、キャリア分離装置から導通・短絡検査装置へのコネクタの移動が不要となり、コネクタ製造時間の短縮を図ることができる。また、これらの装置間の搬送装置およびコネクタの位置決め装置も不要となるため、コネクタ製造装置全体の簡素化・小型化、低価格化を図ることができる。
【００２０】
ここで、前記導通検査手段に、前記成形品を構成する複数のコンタクトに接触する第１導電手段と、前記コンタクトと繋がる前記キャリアに接触する第２導電手段と、を設ければ、第１導電手段のみを複数の検査プローブが高密度で配置された検査プローブセットとするだけで、導通検査を実行可能となるため、装置の簡素化・小型化、低価格化を図ることができる。
【００２１】
次に、本発明のコネクタ製造方法は、互いに絶縁された複数のコンタクトが絶縁ハウジングに配置された構成を有するコネクタの製造方法であって、
複数のコンタクトがキャリアに繋がって整列保持された状態で絶縁ハウジングに配置された成形品における前記コンタクトの導通を検査する導通検査工程を行い、
次に、前記コンタクトから前記キャリアを分離除去してコネクタを形成するキャリア分離工程を行い、
次に、前記コネクタを構成する前記コンタクトの短絡を検査する短絡検査工程を行うことを特徴とする。
【００２２】
このような構成とすれば、導通検査工程において、コンタクトがキャリアに繋がった状態で導通検査を行うことが可能となるため、前述と同様、複数の検査プローブが高密度で配置された検査プローブセットは、コンタクトに接触する側の１セットのみ具備すればよいこととなり、装置の簡素化・小型化、低価格化を図ることができる。
【００２３】
ここで、少なくとも前記絶縁ハウジングの一部を保持して静止させた状態で、前記導通検査工程と、前記キャリア分離工程と、前記短絡検査工程とをこの順番に実行することが望ましい。このような構成とすれば、成形品（若しくはコネクタ）を保持して、移動させずに、コンタクトの導通検査と、キャリアの分離除去と、コンタクトの短絡検査とを連続的に行うことが可能となるため、キャリア分離装置と導通・短絡検査装置とが一体化され、これらの装置間のコネクタの移動が不要となり、コネクタ製造時間の短縮を図ることができる。また、コネクタ搬送装置およびコネクタ位置決め装置も不要となるため、装置全体の簡素化・小型化および低価格化を図ることができる。
【００２４】
また、前記導通検査工程は、前記成形品のコンタクトに接触する第１導電手段と、前記コンタクトと繋がるキャリアに接触する第２導電手段とを用いて導通検査を行うことが望ましい。このような構成とすれば、第１導電手段のみを複数の検査プローブが高密度で配置された検査プローブセットとするだけで、導通検査を実行可能となるため、装置の簡素化・小型化、低価格化を図ることができる。
【発明の効果】
【００２５】
本発明により、コネクタ製造装置の簡素化・小型化、低価格化およびコネクタ製造時間の短縮を図ることができる。
【発明を実施するための最良の形態】
【００２６】
以下、図面に基づいて、本発明の実施の形態について説明する。図１は本発明の実施の形態であるコネクタ製造装置を示す斜視図、図２（ａ）は複数のコンタクトがキャリアに整列保持されて繋がった状態に形成されたフープ材を示す部分斜視図、図２（ｂ）は製造するコネクタの芯数に相当する所定の長さに切断した定寸カット済みフープ材である端子片を示す斜視図、図２（ｃ）は端子片に樹脂成形を施され所定数のコンタクトが一体成形された成形品を示す斜視図、図２（ｄ）は図２（ｃ）のＡ−Ａ線における斜視断面図、図２（ｅ）は成形品に配置されたコンタクトからキャリアが分離されたコネクタを示す斜視図である。また、図３は図１に示すコネクタ製造装置を構成する加工検査装置における処理工程を示す図、図４は図１に示すコネクタ製造装置を構成する加工検査装置おける処理工程を示す図である。
【００２７】
図１に示すように、本実施形態のコネクタ製造装置１０は、フープ材供給装置５１と、定寸カット装置５２と、樹脂成形装置５３と、加工検査装置２０とを備えている。これらの装置のうち、フープ材供給装置５１、定寸カット装置５２および樹脂成形装置５３は、図５に示す従来のコネクタ製造装置５０における各装置と同じ構造、機能を有するものであり、図２（ａ）に示すフープ材１から図２（ｃ），（ｄ）に示す成形品３を形成する工程も同じであるため、説明を省略する。
【００２８】
図１に示すコネクタ製造装置１０を構成する樹脂成形装置５３において形成された成形品３（図２（ｃ）参照）は、搬送装置（図示せず）により樹脂成形装置５３から加工検査装置（導通短絡キャリア分離装置）２０へ搬送され、ここで、図３（ａ）に示すように、成形品３はレール１２上の所定位置にセットされる。そして、図３（ｂ）に示すように、クランパ１１が閉じて成形品３はレール１２上に保持される。
【００２９】
次に、図３（ｃ）に示すように、キャリアカッタ１３を、成形品３のキャリア１ｂの両面に接触するまで閉じるとともに、検査プローブセット１４を上昇させて、検査プローブセット１４が具備する複数の検査プローブ１４ａをそれぞれ複数のコンタクト１ａに接触させる。これによって、キャリアカッタ１３と、キャリア１ｂと、コンタクト１ａと、各検査プローブ１４ａとは電気的に接続された閉回路を形成するため、この閉回路に給電することによって導通検査を行う。このとき、複数のコンタクト１ａに接触する検査プローブ１４ａを有する検査プローブセット１４が第１導通手段として機能し、これらのコンタクト１ａと繋がるキャリア１ｂに接触するキャリアカッタ１３が第２導通手段として機能する。
【００３０】
導通検査が終了したら、図４（ａ）に示すように、キャリアカッタ１３をさらに閉じることによってキャリア１ｂが切断され、絶縁ハウジング３ａに配置されたコンタクト１ａからキャリア１ｂが分離され、図２（ｅ）に示すコネクタ４が形成される。キャリア切断工程が終わると、図４（ｂ）に示すように、複数の検査プローブ１４ａを各コンタクト１ａに接触させた状態でキャリアカッタ１３が開かれ、検査プローブ１４ａからコンタクト１ａに給電することによって短絡検査が行われる。
【００３１】
次に、図４（ｃ）に示すように、クランパ１１を開くとともに検査プローブ１４ａをコンタクト１ａから離し、コネクタ４を図示しない搬送装置で搬送する。この時、導通・短絡検査に不合格となったコネクタ４は廃棄され、合格したコネクタ４だけが搬送され梱包トレイ６５に収容される。
【００３２】
このように、コネクタ製造装置１０においては、加工検査装置２０におけるレール１２上に絶縁ハウジング３ａをクランパ１１で保持して静止させたままの状態で、成形品３を移動させることなく、コンタクト１ａの導通検査と、キャリア１ｂの分離除去と、コンタクト１ａの短絡検査とを連続的に行うことができる。このため、図５に示す従来のコネクタ製造装置５０を構成するキャリアカット装置５４と導通・短絡検査装置５８とが一体化された状態となり、従来は必要であった、キャリアカット装置５４から導通・短絡検査装置５８へのコネクタ４の移動装置が不要となり、コネクタ製造装置１０全体を簡素化・小型化、コネクタ製造時間の短縮を実現することができる。このため、コネクタ製造装置１０の設置スペースも縮小することができ、コネクタ製造装置１０の製造コストも低減することができる。
【００３３】
また、図３（ｃ）に示す導通検査工程においては、複数のコンタクト１ａが一連のキャリア１ｂに繋がった状態で導通検査を行うことができるため、複数の検査プローブ１４ａが高密度で配置された検査プローブセット１４は、コンタクト１ａに接触する側のみ具備すればよい。従って、複数の検査プローブ６１ａ，６２ａがそれぞれ高密度で配置された２組の検査プローブセット６１，６２が必要な従来のコネクタ製造装置５０に比べ、コネクタ製造装置１０は構造の簡素化・小型化、低価格化を図ることができる。
【００３４】
本実施形態においては、コネクタ製造装置１０を細線同軸線用コネクタの製造工程に適用した場合を説明したが、本発明のコネクタ製造装置１０は細線同軸コネクタの製造に限らず、様々な種類の電気コネクタの製造に適用することができる。また、コンタクトが絶縁ハウジングへ配置されたコネクタをインサート成形で製造する方法について説明したが、成形された絶縁ハウジングにコンタクトを圧入してコネクタを製造する方法を採用することもできる。さらに、本実施形態では、コンタクト１ａからキャリア１ｂを分離する方法としてキャリアカッタ１３を用いているが、コンタクト１ａの所定箇所に溝を形成しておき、コンタクト１ａをその溝部分で折り曲げることによりコンタクト１ａとキャリア１ｂとを分離する方式を採用することもできる。その場合、本実施形態において第２導通手段として機能したキャリア分離装置の１つであるキャリアカッタ１３に代えて、コンタクト１ａを折り曲げて分離する部材を第２導通手段として用いることができる。
【産業上の利用可能性】
【００３５】
本発明に係るコネクタ製造技術は、電気・電子部品として使用されるコネクタの製造工程において広く使用することができる。
【図面の簡単な説明】
【００３６】
【図１】本発明の実施の形態であるコネクタ製造装置を示す斜視図である。
【図２】（ａ）はフープ材を示す部分斜視図、（ｂ）は端子片を示す斜視図、（ｃ）は成形品を示す斜視図、（ｄ）は前記（ｃ）のＡ−Ａ線における斜視断面図、（ｅ）はコネクタを示す斜視図である。
【図３】図１に示すコネクタ製造装置を構成する加工検査装置における処理工程を示す図である。
【図４】図１に示すコネクタ製造装置を構成する加工検査装置における処理工程を示す図である。
【図５】従来のコネクタ製造装置を示す斜視図である。
【図６】図５に示すコネクタ製造装置を構成するキャリアカット装置における加工工程を示す図である。
【図７】図５に示すコネクタ製造装置を構成する導通・短絡検査装置における検査工程を示す図である。
【図８】図５に示すコネクタ製造装置を構成する導通・短絡検査装置における検査工程を示す図である。
【符号の説明】
【００３７】
１ フープ材
１ａ コンタクト
１ｂ キャリア
２ 端子片
３ 成形品
３ａ 絶縁ハウジング
４ コネクタ
１０，５０ コネクタ製造装置
１１ クランパ
１２ レール
１３ キャリアカッタ
１４ 検査プローブセット
１４ａ，６１ａ，６２ａ 検査プローブ
２０ 加工検査装置
５１ フープ材供給装置
５２ 定寸カット装置
５３ 樹脂成形装置
５４ キャリアカット装置
５８ 導通・短絡検査装置
６１ 第１検査プローブセット
６２ 第２検査プローブセット
６５ 梱包トレイ
【技術分野】
【０００１】
本発明は、互いに絶縁された複数のコンタクトが絶縁ハウジングに配置された構造を有する電気コネクタの製造技術に関する。
【背景技術】
【０００２】
近年、電気コネクタにおいては、小型化、コンタクトの多極化、コンタクトの高密度化が進み、例えば、携帯電話等に用いられる細線同軸線用コネクタの場合、外形寸法（横幅×奥行き×高さ）が２２ｍｍ×３ｍｍ×１．７ｍｍ、コンタクト芯数２０ピン、コンタクトの幅が０．２ｍｍ、コンタクトピッチが０．４ｍｍというものが出現している。このような細線同軸コネクタの製造方法としては、図５に示すような、インサート成形方式を用いたコネクタ製造装置５０が知られている。
【０００３】
ここで、図２および図５〜図８を参照しながら、従来のコネクタ製造装置５０を用いてコネクタ４をインサート成形により製作する工程について説明する。図２（ａ）に示すように、複数のコンタクト１ａがキャリア１ｂに整列保持されて繋がった状態に形成されたフープ材１を、定寸送り装置（図示せず）により、図５に示すコネクタ製造装置５０のフープ材供給装置５１から定寸カット装置５２へ供給する。そして、定寸カット装置５２により、製造するコネクタの芯数に相当する所定の長さにフープ材１を切断して、図２（ｂ）に示すような定寸カット済みフープ材２（以下、「端子片２」と記す。）を形成する。
【０００４】
次に、コネクタ製造装置５０に設けられた搬送装置（図示せず）により端子片２を樹脂成形装置５３へ搬送し、ここで端子片２に樹脂成形を施すことにより、図２（ｃ）に示すように、所定数のコンタクト１ａが互いに絶縁状態に配置された絶縁ハウジング３ａが形成され、所定数のコンタクト１ａが一体成形された成形品３が得られる。このとき、図２（ｃ）における成形品３のＡ−Ａ断面は図２（ｄ）に示すような形状となっている。
【０００５】
次に、コネクタ製造装置５０に設けられた搬送装置（図示せず）により成形品３を樹脂成形装置５３からキャリアカット装置５４に搬送する。そして、キャリアカット装置５４において、図６（ａ）に示すように、成形品３がレール５６上にセットされ、この後、図６（ｂ）に示すように、クランパ５５を閉じることによって成形品３をレール５６上に保持する。この後、図６（ｃ）に示すように、キャリアカッタ５７を閉じることによってキャリア１ｂを切断し、成形品３に配置されたコンタクト１ａからキャリア１ｂを分離すると、図２（ｅ）に示すコネクタ４が形成される。
【０００６】
次に、クランパ５５を開いてコネクタ４の保持を開放した後、キャリア１ｂが除去されたコネクタ４を、搬送装置（図示せず）によって、図５および図７（ａ）に示す導通短絡検査装置５８まで搬送し、レール５９上にセットする。そして、導通短絡検査装置５８において、図７（ｂ）に示すように、クランパ６０を閉じることにより、コネクタ４をレール５９上に保持する。
【０００７】
この後、図７（ｃ）に示すように、複数のコンタクト１ａのそれぞれにほぼ同時に接触する複数の検査プローブ６１ａを備えた第１検査プローブセット６１と、同様に複数のコンタクト１ａのそれぞれにほぼ同時に接触する複数の検査プローブ６２ａを備えた第２検査プローブセット６２を前進させ、それぞれの検査プローブ６１ａ，６２ａをコンタクト１ａに接触させる。そして、第１検査プローブセット６１の１本の検査プローブ６１ａと、第２検査プローブセット６２の１本の検査プローブ６２ａと、１つのコンタクト１ａとによって閉回路が形成され、この閉回路に対して通電することによって導通検査を行う。
【０００８】
導通検査が終わると、図８（ａ）に示すように、第１検査プローブセット６１を後退させることによって、各検査プローブ６１ａをコンタクト１ａから離し、第２検査プローブセット６２によって短絡検査を行う。短絡検査が終わると、図８（ｂ）に示すように、クランパ６０を開いてコネクタ４を開放するとともに、第２検査プローブセット６２を後退させて、各検査プローブ６２ａをコンタクト１ａから離す。
【０００９】
短絡検査が終わったコネクタ４は搬送装置（図示せず）によって所定位置まで搬送されるが、導通検査および短絡検査において合格したコネクタ４だけが、図５に示す梱包トレイ６５に搬送され、不合格となったコネクタ４は廃棄される。
【００１０】
このように、コネクタ４の製造工程の最終段階においては、コンタクト１ａの導通検査および短絡検査が行われる。導通検査は、コンタクト１ａが正しく導通するかどうかを検査するものであり、短絡検査は、隣り合うまたは／および近接するコンタクト１ａが短絡していないかどうかを検査するものである。
【００１１】
一方、フレキシブルケーブルを接続する接続部品（コネクタ）の導通試験において、従来、接続部品上部に検出手段（検出ピン）を挿入可能な開口部を設け、その中に検出手段（検出ピン）を挿入し、接続端子部の持つバネ性を利用して、接続端子と検出手段（検出ピン）との接触圧を安定化させることにより、適切な導通試験を行うという技術が提案されている（例えば、特許文献１参照。）。
【００１２】
【特許文献１】特開平６−２９０５５号公報
【発明の開示】
【発明が解決しようとする課題】
【００１３】
図５〜図８で示した従来の導通検査は、それぞれのコンタクト１ａの２箇所に検査プローブ６１ａ，６２ａを接触させ、電流を流すことによって行っているが、検査に要する時間を短縮するためには、検査プローブ６１ａ，６２ａは、高密度で配置されたコンタクト１ａのそれぞれに同時に接触しなければならず、そのためには、複数の検査プローブ６１ａ，６２ａが高精度に配置された検査プローブセットが必要となる。また、第１検査プローブセット６１および第２検査プローブセット６２という、２組のプローブセットが必要であるため、コネクタ製造装置５０が複雑化、大型化するだけでなく、装置価格の上昇を招いている。
【００１４】
また、図５に示した従来のコネクタ製造装置５０においては、コンタクト１ａからキャリア１ｂを分離するキャリアカット装置５４と導通・短絡検査装置５８とが別々に設けられている。そのため、キャリアカット装置５４にてキャリア１ｂが切断分離されたコネクタ４をキャリアカット装置５４から導通・短絡検査装置５８まで搬送する装置が別途必要である。このように、キャリアカット装置５４と、導通・短絡検査装置５８とが別々に設けられていたこと、搬送装置が必要だったことにより、コネクタ製造装置５０全体が複雑化、大型化するため、広い設置スペースが必要であり、装置の高価格化も招いている。
【００１５】
さらに、キャリアカット装置５４と、導通・短絡検査装置５８とが別々に設けられていたことにより、キャリアカット装置５４にてキャリア１ｂが切断分離されたコネクタ４をキャリアカット装置５４から導通・短絡検査装置５８まで搬送する必要があるため、コネクタ製造時間が増大する。また、前述したように、別途コネクタ４をキャリアカット装置５４から導通・短絡検査装置５８まで搬送する工程を実行する場合、導通・短絡検査装置５８のコネクタ停止位置にコネクタ４を正確に位置決めするための位置決め装置が必要となり、それに起因して装置の高価格化を招いている。
【００１６】
一方、特許文献１に記載された導通検査は、コネクタの上部開口部から挿入した検出ピンを接続端子部に接触させるとともに、プリント基板の基板パターンに検出ピンを接触させ、その導通を取るというものである。従って、複数の接続端子部と同数の検出ピンが必要であり、検査関連機器の複雑化、大型化、および装置価格の上昇を招いている。また、特許文献１に記載の発明においては、コネクタを基板に半田付けした後に検査を行うものであるため、検査によって不良が判明したときは、基板からコネクタを取り外す必要があり、多大な工数が発生する。
【００１７】
本発明が解決しようとする課題は、製造装置の簡素化・小型化、低価格化およびコネクタ製造時間の短縮を図ることができるコネクタ製造技術を提供することにある。
【課題を解決するための手段】
【００１８】
本発明のコネクタ製造装置は、互いに絶縁された複数のコンタクトが絶縁ハウジングに配置された構成を有するコネクタの製造装置であって、
複数のコンタクトがキャリアに繋がって整列保持された状態で絶縁ハウジングに配置された成形品における前記コンタクトの導通検査を行う導通検査手段と、
前記コンタクトから前記キャリアを分離除去してコネクタを形成するキャリア分離手段と、
前記コネクタを構成する前記コンタクトの短絡検査を行う短絡検査手段と、を有し、
少なくとも前記絶縁ハウジングの一部を保持して静止させた状態で、前記導通検査と、前記キャリアの分離除去と、前記短絡検査とを行う加工検査装置を備えたことを特徴とする。
【００１９】
このような構成とすれば、加工検査装置における所定位置に絶縁ハウジングを保持した状態で成形品（若しくはコネクタ）を移動させず静止させた状態で、コンタクトの導通検査と、キャリアの分離除去と、コンタクトの短絡検査と、を連続的に行うことが可能となる。従って、従来のコネクタ製造装置が具備しているキャリア分離装置と導通・短絡検査装置とが一体化された状態となり、キャリア分離装置から導通・短絡検査装置へのコネクタの移動が不要となり、コネクタ製造時間の短縮を図ることができる。また、これらの装置間の搬送装置およびコネクタの位置決め装置も不要となるため、コネクタ製造装置全体の簡素化・小型化、低価格化を図ることができる。
【００２０】
ここで、前記導通検査手段に、前記成形品を構成する複数のコンタクトに接触する第１導電手段と、前記コンタクトと繋がる前記キャリアに接触する第２導電手段と、を設ければ、第１導電手段のみを複数の検査プローブが高密度で配置された検査プローブセットとするだけで、導通検査を実行可能となるため、装置の簡素化・小型化、低価格化を図ることができる。
【００２１】
次に、本発明のコネクタ製造方法は、互いに絶縁された複数のコンタクトが絶縁ハウジングに配置された構成を有するコネクタの製造方法であって、
複数のコンタクトがキャリアに繋がって整列保持された状態で絶縁ハウジングに配置された成形品における前記コンタクトの導通を検査する導通検査工程を行い、
次に、前記コンタクトから前記キャリアを分離除去してコネクタを形成するキャリア分離工程を行い、
次に、前記コネクタを構成する前記コンタクトの短絡を検査する短絡検査工程を行うことを特徴とする。
【００２２】
このような構成とすれば、導通検査工程において、コンタクトがキャリアに繋がった状態で導通検査を行うことが可能となるため、前述と同様、複数の検査プローブが高密度で配置された検査プローブセットは、コンタクトに接触する側の１セットのみ具備すればよいこととなり、装置の簡素化・小型化、低価格化を図ることができる。
【００２３】
ここで、少なくとも前記絶縁ハウジングの一部を保持して静止させた状態で、前記導通検査工程と、前記キャリア分離工程と、前記短絡検査工程とをこの順番に実行することが望ましい。このような構成とすれば、成形品（若しくはコネクタ）を保持して、移動させずに、コンタクトの導通検査と、キャリアの分離除去と、コンタクトの短絡検査とを連続的に行うことが可能となるため、キャリア分離装置と導通・短絡検査装置とが一体化され、これらの装置間のコネクタの移動が不要となり、コネクタ製造時間の短縮を図ることができる。また、コネクタ搬送装置およびコネクタ位置決め装置も不要となるため、装置全体の簡素化・小型化および低価格化を図ることができる。
【００２４】
また、前記導通検査工程は、前記成形品のコンタクトに接触する第１導電手段と、前記コンタクトと繋がるキャリアに接触する第２導電手段とを用いて導通検査を行うことが望ましい。このような構成とすれば、第１導電手段のみを複数の検査プローブが高密度で配置された検査プローブセットとするだけで、導通検査を実行可能となるため、装置の簡素化・小型化、低価格化を図ることができる。
【発明の効果】
【００２５】
本発明により、コネクタ製造装置の簡素化・小型化、低価格化およびコネクタ製造時間の短縮を図ることができる。
【発明を実施するための最良の形態】
【００２６】
以下、図面に基づいて、本発明の実施の形態について説明する。図１は本発明の実施の形態であるコネクタ製造装置を示す斜視図、図２（ａ）は複数のコンタクトがキャリアに整列保持されて繋がった状態に形成されたフープ材を示す部分斜視図、図２（ｂ）は製造するコネクタの芯数に相当する所定の長さに切断した定寸カット済みフープ材である端子片を示す斜視図、図２（ｃ）は端子片に樹脂成形を施され所定数のコンタクトが一体成形された成形品を示す斜視図、図２（ｄ）は図２（ｃ）のＡ−Ａ線における斜視断面図、図２（ｅ）は成形品に配置されたコンタクトからキャリアが分離されたコネクタを示す斜視図である。また、図３は図１に示すコネクタ製造装置を構成する加工検査装置における処理工程を示す図、図４は図１に示すコネクタ製造装置を構成する加工検査装置おける処理工程を示す図である。
【００２７】
図１に示すように、本実施形態のコネクタ製造装置１０は、フープ材供給装置５１と、定寸カット装置５２と、樹脂成形装置５３と、加工検査装置２０とを備えている。これらの装置のうち、フープ材供給装置５１、定寸カット装置５２および樹脂成形装置５３は、図５に示す従来のコネクタ製造装置５０における各装置と同じ構造、機能を有するものであり、図２（ａ）に示すフープ材１から図２（ｃ），（ｄ）に示す成形品３を形成する工程も同じであるため、説明を省略する。
【００２８】
図１に示すコネクタ製造装置１０を構成する樹脂成形装置５３において形成された成形品３（図２（ｃ）参照）は、搬送装置（図示せず）により樹脂成形装置５３から加工検査装置（導通短絡キャリア分離装置）２０へ搬送され、ここで、図３（ａ）に示すように、成形品３はレール１２上の所定位置にセットされる。そして、図３（ｂ）に示すように、クランパ１１が閉じて成形品３はレール１２上に保持される。
【００２９】
次に、図３（ｃ）に示すように、キャリアカッタ１３を、成形品３のキャリア１ｂの両面に接触するまで閉じるとともに、検査プローブセット１４を上昇させて、検査プローブセット１４が具備する複数の検査プローブ１４ａをそれぞれ複数のコンタクト１ａに接触させる。これによって、キャリアカッタ１３と、キャリア１ｂと、コンタクト１ａと、各検査プローブ１４ａとは電気的に接続された閉回路を形成するため、この閉回路に給電することによって導通検査を行う。このとき、複数のコンタクト１ａに接触する検査プローブ１４ａを有する検査プローブセット１４が第１導通手段として機能し、これらのコンタクト１ａと繋がるキャリア１ｂに接触するキャリアカッタ１３が第２導通手段として機能する。
【００３０】
導通検査が終了したら、図４（ａ）に示すように、キャリアカッタ１３をさらに閉じることによってキャリア１ｂが切断され、絶縁ハウジング３ａに配置されたコンタクト１ａからキャリア１ｂが分離され、図２（ｅ）に示すコネクタ４が形成される。キャリア切断工程が終わると、図４（ｂ）に示すように、複数の検査プローブ１４ａを各コンタクト１ａに接触させた状態でキャリアカッタ１３が開かれ、検査プローブ１４ａからコンタクト１ａに給電することによって短絡検査が行われる。
【００３１】
次に、図４（ｃ）に示すように、クランパ１１を開くとともに検査プローブ１４ａをコンタクト１ａから離し、コネクタ４を図示しない搬送装置で搬送する。この時、導通・短絡検査に不合格となったコネクタ４は廃棄され、合格したコネクタ４だけが搬送され梱包トレイ６５に収容される。
【００３２】
このように、コネクタ製造装置１０においては、加工検査装置２０におけるレール１２上に絶縁ハウジング３ａをクランパ１１で保持して静止させたままの状態で、成形品３を移動させることなく、コンタクト１ａの導通検査と、キャリア１ｂの分離除去と、コンタクト１ａの短絡検査とを連続的に行うことができる。このため、図５に示す従来のコネクタ製造装置５０を構成するキャリアカット装置５４と導通・短絡検査装置５８とが一体化された状態となり、従来は必要であった、キャリアカット装置５４から導通・短絡検査装置５８へのコネクタ４の移動装置が不要となり、コネクタ製造装置１０全体を簡素化・小型化、コネクタ製造時間の短縮を実現することができる。このため、コネクタ製造装置１０の設置スペースも縮小することができ、コネクタ製造装置１０の製造コストも低減することができる。
【００３３】
また、図３（ｃ）に示す導通検査工程においては、複数のコンタクト１ａが一連のキャリア１ｂに繋がった状態で導通検査を行うことができるため、複数の検査プローブ１４ａが高密度で配置された検査プローブセット１４は、コンタクト１ａに接触する側のみ具備すればよい。従って、複数の検査プローブ６１ａ，６２ａがそれぞれ高密度で配置された２組の検査プローブセット６１，６２が必要な従来のコネクタ製造装置５０に比べ、コネクタ製造装置１０は構造の簡素化・小型化、低価格化を図ることができる。
【００３４】
本実施形態においては、コネクタ製造装置１０を細線同軸線用コネクタの製造工程に適用した場合を説明したが、本発明のコネクタ製造装置１０は細線同軸コネクタの製造に限らず、様々な種類の電気コネクタの製造に適用することができる。また、コンタクトが絶縁ハウジングへ配置されたコネクタをインサート成形で製造する方法について説明したが、成形された絶縁ハウジングにコンタクトを圧入してコネクタを製造する方法を採用することもできる。さらに、本実施形態では、コンタクト１ａからキャリア１ｂを分離する方法としてキャリアカッタ１３を用いているが、コンタクト１ａの所定箇所に溝を形成しておき、コンタクト１ａをその溝部分で折り曲げることによりコンタクト１ａとキャリア１ｂとを分離する方式を採用することもできる。その場合、本実施形態において第２導通手段として機能したキャリア分離装置の１つであるキャリアカッタ１３に代えて、コンタクト１ａを折り曲げて分離する部材を第２導通手段として用いることができる。
【産業上の利用可能性】
【００３５】
本発明に係るコネクタ製造技術は、電気・電子部品として使用されるコネクタの製造工程において広く使用することができる。
【図面の簡単な説明】
【００３６】
【図１】本発明の実施の形態であるコネクタ製造装置を示す斜視図である。
【図２】（ａ）はフープ材を示す部分斜視図、（ｂ）は端子片を示す斜視図、（ｃ）は成形品を示す斜視図、（ｄ）は前記（ｃ）のＡ−Ａ線における斜視断面図、（ｅ）はコネクタを示す斜視図である。
【図３】図１に示すコネクタ製造装置を構成する加工検査装置における処理工程を示す図である。
【図４】図１に示すコネクタ製造装置を構成する加工検査装置における処理工程を示す図である。
【図５】従来のコネクタ製造装置を示す斜視図である。
【図６】図５に示すコネクタ製造装置を構成するキャリアカット装置における加工工程を示す図である。
【図７】図５に示すコネクタ製造装置を構成する導通・短絡検査装置における検査工程を示す図である。
【図８】図５に示すコネクタ製造装置を構成する導通・短絡検査装置における検査工程を示す図である。
【符号の説明】
【００３７】
１ フープ材
１ａ コンタクト
１ｂ キャリア
２ 端子片
３ 成形品
３ａ 絶縁ハウジング
４ コネクタ
１０，５０ コネクタ製造装置
１１ クランパ
１２ レール
１３ キャリアカッタ
１４ 検査プローブセット
１４ａ，６１ａ，６２ａ 検査プローブ
２０ 加工検査装置
５１ フープ材供給装置
５２ 定寸カット装置
５３ 樹脂成形装置
５４ キャリアカット装置
５８ 導通・短絡検査装置
６１ 第１検査プローブセット
６２ 第２検査プローブセット
６５ 梱包トレイ
【特許請求の範囲】
【請求項１】
互いに絶縁された複数のコンタクトが絶縁ハウジングに配置された構成を有するコネクタの製造装置であって、
複数のコンタクトがキャリアに繋がって整列保持された状態で絶縁ハウジングに配置された成形品における前記コンタクトの導通検査を行う導通検査手段と、
前記コンタクトから前記キャリアを分離除去してコネクタを形成するキャリア分離手段と、
前記コネクタを構成する前記コンタクトの短絡検査を行う短絡検査手段と、を有し、
少なくとも前記絶縁ハウジングの一部を保持して静止させた状態で、前記導通検査と、前記キャリアの分離除去と、前記短絡検査とを行う加工検査装置を備えたことを特徴とするコネクタ製造装置。
【請求項２】
前記導通検査手段に、
前記成形品を構成する複数のコンタクトに接触する第１導電手段と、
前記コンタクトと繋がる前記キャリアに接触する第２導電手段と、を設けたことを特徴とする請求項１記載のコネクタ製造装置。
【請求項３】
互いに絶縁された複数のコンタクトが絶縁ハウジングに配置された構成を有するコネクタの製造方法であって、
複数のコンタクトがキャリアに繋がって整列保持された状態で絶縁ハウジングに配置された成形品における前記コンタクトの導通を検査する導通検査工程を行い、
次に、前記コンタクトから前記キャリアを分離除去してコネクタを形成するキャリア分離工程を行い、
次に、前記コネクタを構成する前記コンタクトの短絡を検査する短絡検査工程を行うことを特徴とするコネクタ製造方法。
【請求項４】
少なくとも前記絶縁ハウジングの一部を保持して静止させた状態で、前記導通検査工程と、前記キャリア分離工程と、前記短絡検査工程とをこの順番に実行することを特徴とする請求項３記載のコネクタ製造方法。
【請求項５】
前記導通検査工程は、前記成形品のコンタクトに接触する第１導電手段と、前記コンタクトと繋がるキャリアに接触する第２導電手段とを用いて導通検査を行うことを特徴とする請求項３または４記載のコネクタ製造方法。
【請求項１】
互いに絶縁された複数のコンタクトが絶縁ハウジングに配置された構成を有するコネクタの製造装置であって、
複数のコンタクトがキャリアに繋がって整列保持された状態で絶縁ハウジングに配置された成形品における前記コンタクトの導通検査を行う導通検査手段と、
前記コンタクトから前記キャリアを分離除去してコネクタを形成するキャリア分離手段と、
前記コネクタを構成する前記コンタクトの短絡検査を行う短絡検査手段と、を有し、
少なくとも前記絶縁ハウジングの一部を保持して静止させた状態で、前記導通検査と、前記キャリアの分離除去と、前記短絡検査とを行う加工検査装置を備えたことを特徴とするコネクタ製造装置。
【請求項２】
前記導通検査手段に、
前記成形品を構成する複数のコンタクトに接触する第１導電手段と、
前記コンタクトと繋がる前記キャリアに接触する第２導電手段と、を設けたことを特徴とする請求項１記載のコネクタ製造装置。
【請求項３】
互いに絶縁された複数のコンタクトが絶縁ハウジングに配置された構成を有するコネクタの製造方法であって、
複数のコンタクトがキャリアに繋がって整列保持された状態で絶縁ハウジングに配置された成形品における前記コンタクトの導通を検査する導通検査工程を行い、
次に、前記コンタクトから前記キャリアを分離除去してコネクタを形成するキャリア分離工程を行い、
次に、前記コネクタを構成する前記コンタクトの短絡を検査する短絡検査工程を行うことを特徴とするコネクタ製造方法。
【請求項４】
少なくとも前記絶縁ハウジングの一部を保持して静止させた状態で、前記導通検査工程と、前記キャリア分離工程と、前記短絡検査工程とをこの順番に実行することを特徴とする請求項３記載のコネクタ製造方法。
【請求項５】
前記導通検査工程は、前記成形品のコンタクトに接触する第１導電手段と、前記コンタクトと繋がるキャリアに接触する第２導電手段とを用いて導通検査を行うことを特徴とする請求項３または４記載のコネクタ製造方法。
【図１】
【図２】
【図３】
【図４】
【図５】
【図６】
【図７】
【図８】
【図２】
【図３】
【図４】
【図５】
【図６】
【図７】
【図８】
【公開番号】特開２００６−２０２６０９（Ｐ２００６−２０２６０９Ａ）
【公開日】平成１８年８月３日（２００６．８．３）
【国際特許分類】
【出願番号】特願２００５−１３１６０（Ｐ２００５−１３１６０）
【出願日】平成１７年１月２０日（２００５．１．２０）
【出願人】（５９２０２８８４６）第一精工株式会社 (94)
【Ｆターム（参考）】
【公開日】平成１８年８月３日（２００６．８．３）
【国際特許分類】
【出願日】平成１７年１月２０日（２００５．１．２０）
【出願人】（５９２０２８８４６）第一精工株式会社 (94)
【Ｆターム（参考）】
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