説明

マスク及びマスクの製造方法

【課題】2層構造のマスクを用いてスクリーン印刷を行う場合に、印刷パターンの端部分にもインク等を十分に付着させることが可能な高い印刷精度のマスクを提供することを目的とする。
【解決手段】基材上に印刷パターンとなる導電層を形成し、導電層が形成された基材上に第1の金属層を形成する。導電層と第1の金属層と上に、メッシュパターンを持つ第2の金属層を形成する。基材と導電層とから前記第1の金属層および第2の金属層を一体に剥離する。そして、メッシュパターンに対応する開口35等が印刷パターンに対応する開口32,33,34の位置に合わせて形成される。

【発明の詳細な説明】
【技術分野】
【0001】
本発明は、例えば、スクリーン印刷用マスク及びその製造方法に関するものである。
【背景技術】
【0002】
めっきにより形成され、印刷パターンに対応する開口を有する層と、めっきにより形成され、メッシュパターンに対応する開口を有する層とが積層されたスクリーン印刷用マスクがある。
上記スクリーン印刷用マスクを用いてスクリーン印刷する場合、メッシュパターンに対応する開口を通して、印刷パターンに対応する開口へインク等を移動させ、インク等をワークへ付着させる。
【特許文献1】特開平05−85077号公報
【発明の開示】
【発明が解決しようとする課題】
【0003】
従来の上記形態のスクリーン印刷用マスクでは、メッシュパターンに対応する開口が印刷パターンに対応する開口の位置とは関係なく全体に形成されている。そのため、印刷パターンに対応する開口の端の部分にメッシュパターンが形成されていない場合がある。この場合、印刷パターンの端部分にインク等が十分に付着しないという課題がある。
本発明は、例えば、2層構造のマスクを用いてスクリーン印刷を行う場合に、印刷パターンの端部分にもインク等を十分に付着させることが可能な高い印刷精度のマスク及びその製造方法を提供することを目的とする。
【課題を解決するための手段】
【0004】
本発明に係るマスクの製造方法は、例えば、基材に第1のレジストを形成し、
上記基材に形成した第1のレジストに印刷パターン形状の開口を形成し、
上記基材の上記開口部分に第1の金属膜をめっきにより形成し、
上記第1のレジストを除去し、
上記第1の金属膜が形成された領域を除いて、上記基材に第2の金属膜をめっきにより形成し、
上記第1の金属膜と上記第2の金属膜との少なくともいずれかの金属膜上の所定のパターンに対応する開口となる位置に第2のレジストを形成し、
上記第2のレジストが形成された領域を除いて、上記第1の金属膜と上記第2の金属膜とに第3の金属膜をめっきにより形成し、
上記第2のレジストを除去し、
上記第2の金属膜と上記第3の金属膜とから上記第1の金属膜と上記基材とを剥離する
ことを特徴とする。
【0005】
また、本発明に係るマスクの製造方法は、例えば、上記第1のレジストを除去した後、上記第1の金属膜の上面全体にレジストを形成し、
上記第1の金属膜の上面全体にレジストを形成した後、上記基材に第2の金属膜をめっきにより形成する
ことを特徴とする。
【0006】
さらに、本発明に係るマスクの製造方法は、例えば、上記第1のレジストを除去した後、上記基材と上記第1の金属膜とに離型処理を施し、
上記基材と上記第1の金属膜とに離型処理を施した後、上記第1の金属膜が形成された領域を除いて、上記基材に上記第2の金属膜をめっきにより形成し、
上記第2のレジストを形成した後、上記第2のレジストが形成された領域を除いて、上記第1の金属膜に離型処理を施し、
上記第1の金属膜に離型処理を施した後、上記第2のレジストが形成された領域を除いて、上記第1の金属膜と上記第2の金属膜とに上記第3の金属膜をめっきにより形成する
ことを特徴とする。
【0007】
また、さらに、本発明に係るマスクの製造方法は、例えば、第1のレジストに印刷パターン形状の開口を形成した後、上記基材の上記開口部分をエッチングして表面を粗し、
上記基材の表面を粗した開口部分に第1の金属膜をめっきにより形成する
ことを特徴とする。
【0008】
また、本発明に係るマスクの製造方法は、例えば、上記第2の金属膜と上記第3の金属膜とは、上記第1の金属膜と異なるめっき溶液を用いてめっきにより形成される
ことを特徴とする。
【0009】
本発明に係るマスクは、例えば、基材に第1のレジストを形成し、
上記基材に形成した第1のレジストに印刷パターン形状の開口を形成し、
上記基材の上記開口部分に第1の金属膜をめっきにより形成し、
上記第1のレジストを除去し、
上記第1の金属膜が形成された領域を除いて、上記基材に第2の金属膜をめっきにより形成し、
上記第1の金属膜と上記第2の金属膜との少なくともいずれかの金属膜上の所定のパターンに対応する開口となる位置に第2のレジストを形成し、
上記第2のレジストが形成された領域を除いて、上記第1の金属膜と上記第2の金属膜とに第3の金属膜をめっきにより形成し、
上記第2のレジストを除去し、
上記第2の金属膜と上記第3の金属膜とから上記第1の金属膜と上記基材とを剥離する
ことにより製造されたことを特徴とする。
【0010】
また、本発明に係るマスクの製造方法は、例えば、基材上に、印刷パターンとなる導電層を形成するステップと、
導電層が形成された基材上に第1のマスク層を形成するステップと、
導電層と第1のマスク層と上に、所定のパターンを持つ第2のマスク層を形成するステップと、
基材と導電層とから前記第1のマスク層および第2のマスク層を一体に剥離するステップと
を備えることを特徴とする。
【0011】
さらに、本発明に係るマスクは、例えば、上記製造方法により製造されたことを特徴とする。
【0012】
また、さらに、本発明に係るマスクの製造方法は、例えば、基材に印刷パターン形状の開口部分となる第1の層を形成し、
上記第1の層が形成された領域を除いて、上記基材に第2の層を形成し、
上記第1の層と上記第2の層との少なくともいずれかの層に所定のパターンを有する第3の層を形成し、
上記第2の層と上記第3の層とから上記第1の層と上記基材とを剥離する
ことを特徴とする。
【0013】
また、さらに、本発明に係るマスクは、例えば、印刷パターンに対応する開口を有する第1のマスク層と、
上記第1のマスク層と積層して形成され、上記印刷パターンに対応する開口部分に上記印刷パターンに対応する開口よりも大きな開口を有する第2のマスク層と
を備えることを特徴とする。
【0014】
上記第2のマスク層が有する開口は、上記印刷パターンに対応する開口全体を包含する
ことを特徴とする。
【0015】
また、本発明に係るマスクは、例えば、印刷パターンに対応する開口を有する第1のマスク層と、
上記印刷パターンに対応する開口部分と上記印刷パターンに対応する開口以外の部分と跨る開口を含む、上記印刷パターンに対応する開口部分に応じて形成されたメッシュパターンに対応する開口を有し、上記第1のマスク層と積層して形成された第2のマスク層と
を備えることを特徴とする。
【発明の効果】
【0016】
本発明に係るマスクでは、メッシュパターンに対応する開口が印刷パターンに対応する開口の位置に合わせて形成されている。特に、本発明に係るマスクでは、メッシュパターンに対応する開口と印刷パターンに対応する開口とが連結しながら、メッシュパターンに対応する開口が印刷パターンに対応する開口の外側にまで形成することが可能である。したがって、本発明に係るマスクによれば、印刷パターンの端部分にもインク等を十分に付着させることが可能である。
【発明を実施するための最良の形態】
【0017】
実施の形態1.
まず、図1から図7に基づき実施の形態1に係る製造方法により製造されるマスクの形状について説明する。
【0018】
図1から図3に基づき1つ目の例について説明する。図1は、印刷パターンの形状を示す図である。マスク31に形成された開口32、33、34はそれぞれ印刷パターンに相当する開口である。図2は、メッシュパターンを示す図である。マスク31に形成された実線で示される複数の開口35はそれぞれメッシュパターンに相当する開口である。また、図2において破線は、図1に示した印刷パターンに相当する開口32、33、34を示す。図3は、図2に示すA−A’断面図である。図3に示すようにマスク31は、印刷パターンに相当する開口32、33、34を有する層と、メッシュパターンに相当する複数の開口35を有する層との2つの層を備える。また、図2、図3に示すように、メッシュパターンに相当する複数の開口35は、印刷パターンに相当する開口32、33、34が形成されている部分に応じて形成される。さらに、図2、図3に示すように、メッシュパターンに相当する複数の開口35は、印刷パターンに相当する開口32、33、34が形成されている部分の少し外側部分にまで形成することも可能である。つまり、メッシュパターンに相当する複数の開口35は、印刷パターンに相当する開口32、33、34が形成されている部分と、印刷パターンに相当する開口32、33、34が形成されていない部分とに跨って形成された開口を含んでいる。また、さらに、開口35は、通常印刷パターンに相当する開口32、33、34のそれぞれに対して複数形成されるが、1つであっても構わない。
メッシュパターンに相当する複数の開口35が印刷パターンに相当する開口32、33、34が形成されている部分の少し外側部分にまで形成されているため、1つ目の例に示す形状のマスクによれば、印刷パターンに相当する開口32、33、34の端の部分についてもインクを十分に充填することができる。しかし、マスクの形状は、これに限らず、図4、図5に示すようにメッシュパターンに相当する複数の開口35が印刷パターンに相当する開口32、33、34が形成されている部分の内側のみに形成されていても構わない。ここで、図4は、メッシュパターンを示す図であり、図5は、図4に示すB−B’断面図である。
【0019】
次に、図1、図6、図7に基づき上記とは異なる2つ目の例を説明する。図6は、印刷パターンに相当する開口部分に印刷パターンよりも大きい開口(スキージ面の開口36)が形成された例を示す図である。図6において実線はスキージ面の開口を示し、破線は図1に示した印刷パターンに相当する開口32、33、34を示す。図7は、図6に示すC−C’断面図である。図7に示すように、マスク31は、印刷パターンに相当する開口32、33、34を有する層と、スキージ面の開口36等を有する層との2つの層を備える。また、図6、図7に示すように、スキージ面の開口36等は、印刷パターンに相当する開口32、33、34が形成されている部分に形成される。さらに、スキージ面の開口36等は、印刷パターンに相当する開口32、33、34それぞれよりも大きく、また、印刷パターンに相当する開口32、33、34それぞれの全体を包含している。また、スキージ面の開口36等は、印刷パターンに相当する開口32、33、34それぞれと相似した形状であるとしても構わない。さらに、スキージ面の開口36は、印刷パターンに相当する開口1つに対して1つ形成される。
このようにすることにより、2つ目の例に示す形状のマスクによれば、マスクを1つ目の例に示した形状とするよりもインクの充填性が向上する。また、印刷パターンに相当する開口32、33、34を有する層の上にスキージ面の開口36等を有する層が形成されているためマスクの厚みが増し、2つ目の例に示す形状のマスクは、印刷時にスキージが印刷パターンに相当する開口32、33、34を掘ってしまう可能性が低い。一方、マスクを単に厚くし、印刷パターンに相当する開口32、33、34を深くした場合と比べ、2つ目の例に示す形状のマスクはスキージ面の開口36が印刷パターンに相当する開口32、33、34よりも広いためインクの充填性が高い。
【0020】
次に、図8から図20に基づき上記形状を有するマスクの製造方法について説明する。
まず、図8に示すように、基材1を準備する。基材1の材質は例えばSUS(ステンレス鋼,Stainless Used Steel)、鉄板、アルミニウム等の導電性基材を用いる事ができる。または、導電性皮膜が形成された非導電性基材でもよく、例えば、ガラスにNi,Cr、ITO(Indium Tin Oxide)膜等の導電性物質を蒸着した基材でもよい。次に、図9に示すように、基材1上にレジスト2(感光性樹脂,第1のレジスト)をラミネートする。次に、図10に示すように、レジスト2の上に印刷パターンを有するパターンフィルム3を重ねて露光する。つまり、パターンフィルム3の印刷パターンの露光部分3−1が露光される。このように、フィルムを用いて印刷パターンをレジストに露光する方法に限られず、紫外線レーザー等を用いて印刷パターンをレジストに直接描画しても構わない。そして、パターンフィルム3を取り外し、現像する。すると、図11に示すように、レジスト2に印刷パターン形状の開口が形成される。この次に、基材1の開口部分2−1をエッチングして表面を粗すのもよい。そして、図12に示すように、基材1の表面を粗した開口部分2−1に導電体形成部4(第1の金属膜,第1の層,導電層)をニッケル等のめっきにより形成し、導電体形成部4を形成後、レジスト2を剥離(除去)する。つまり、導電体形成部4は印刷パターンの形状に形成される。ここで、基材1の開口部分2−1をエッチングして表面を粗したことにより、基材1と導電体形成部4との結合強度が高くなる。
次に、図13に示すように、導電体形成部4の上にレジスト5をラミネートし、その上にパターンフィルム6を重ねて露光する。ここでパターンフィルム6は、導電体形成部4と重なる部分以外に露光部分6−1を有している。したがって、パターンフィルム6とパターンフィルム3とは露光部分と否露光部分とが逆の関係になっている。パターンフィルム6を取り外し現像すると、図14に示すように、導電体形成部4の上全体のレジスト5のみが硬化して残る。露光処理は上記同様に紫外線レーザー等を用いてレジストに直接描画しても構わない。次に、基材1の導電体形成部4が形成されていない表面部分1−1と、導電体形成部4の側面部4−1とに離型処理を行ってもよい。離型処理とは、例えば重クローム酸カリ等の離型液に浸すことや、離型液を塗布することである。次に、図15に示すように、導電体形成部4が形成された領域を除いて、基材1に印刷パターン形状のめっき層7(第2の金属膜,第1のマスク層,第2の層)をニッケル等のめっきにより形成する。つまり、導電体形成部4は印刷パターン形状に形成されているため、導電体形成部4以外の部分に形成されためっき層7は印刷パターンに対応する開口を有することになる。ここで、めっき層7と導電体形成部4とは略同厚である。また、上記離型処理を行った場合には、めっき層7は基材1と導電体形成部4とから離れ易い。また、レジスト5は導電体形成部4上にめっき層7が形成されることを防止するためのものである。そのため、レジスト5は導電体形成部4よりも少し大きくても構わない。例えば、レジスト5は導電体形成部4の周囲を20μm程度広く覆うくらいの大きさであっても構わない。して、めっき層7を形成した後、レジスト5を剥離する。
次に、図16に示すように、めっき層7と導電体形成部4との上にレジスト8(第2のレジスト)を形成する。そして、図17に示すように、メッシュパターンを有するパターンフィルム9をレジスト8の上に重ねて露光、現像する。つまり、パターンフィルム9のメッシュパターンの露光部分9−1が露光され、図18に示すように、導電体形成部4上のメッシュパターンに対応する開口となる位置にのみレジスト8が残る。露光処理は上記同様に紫外線レーザー等を用いてレジストに直接描画しても構わない。次に、導電体形成部4の上面に離型処理を行う。そして、図19に示すように、レジスト8が形成された領域を除いて、めっき層7と導電体形成部4との上にメッシュパターン形状のめっき層10(第3の金属膜,第2のマスク層,第3の層)をニッケル等のめっきにより形成する。つまり、メッシュパターンに対応する開口となる位置に残されたレジスト8以外の部分にめっき層10を形成するため、めっき層10はメッシュパターンに対応する開口を有すことになる。また、上記離型処理を行っているため、めっき層10は導電体形成部4から離れ易い。
そして、図20に示すように、レジスト8を剥離し、めっき層7とめっき層10とを基材1と導電体形成部4とから剥がす。これにより、印刷パターンに対応する開口を有するめっき層7と、メッシュパターンに対応する開口を有するめっき層10とを備えるマスクが製造される。ここで、基材1の開口部分2−1をエッチングして表面を粗したことにより、基材1と導電体形成部4との結合強度が高い。一方、離型処理を行っているため、めっき層7は基材1と導電体形成部4とから離れ易く、めっき層10は導電体形成部4から離れ易い。したがって、めっき層7とめっき層10とを基材1と導電体形成部4とから剥がすことを容易に行える。また、基材1の開口部分2−1をエッチングして表面を粗す処理と離型処理とを行わず、導電体形成部4に使用するめっきとめっき層7とめっき層10とに使用するめっきとを異なるめっき溶液を用いためっきとしても構わない。つまり、導電体形成部4は基材1との結合強度が高いめっき組成となるように形成し、めっき層7とめっき層10とは基材1と導電体形成部4との結合強度が低いめっき組成となるように形成するとしても構わない。このようにすることにより、上記と同様にめっき層7とめっき層10とを基材1と導電体形成部4とから剥がすことを容易に行える。
【0021】
この方法により、上述した1つ目の例の形状を有するマスクが製造できる。ここで、図17に示すメッシュパターンに対応する開口を有するパターンフィルム9のメッシュパターンの露光部分9−1をスキージ面の開口36のパターンからなる露光部分とすることで、上述した2つ目の例の形状を有するマスクが製造できる。
【0022】
以上の実施の形態において、レジスト2、5、8はネガ型レジストであるとして説明した。しかし、これに限られず、レジスト2、5、8はポジ型レジストであるとしても構わない。但し、レジスト2、5、8がポジ型レジストである場合、各パターンフィルムの露光部分と非露光部分とを入れ替える必要がある。
【図面の簡単な説明】
【0023】
【図1】印刷パターンの形状を示す図。
【図2】メッシュパターンを示す図。
【図3】図2に示すA−A’断面図。
【図4】メッシュパターンを示す図。
【図5】図4に示すB−B’断面図。
【図6】印刷パターンに相当する開口部分に印刷パターンよりも大きい開口(スキージ面の開口36)が形成された例を示す図。
【図7】図6に示すC−C’断面図。
【図8】基材1を示す図。
【図9】基材1の上にレジスト2をラミレートした状態を示す図。
【図10】レジスト2の上にパターンフィルム3を乗せ露光する状態を示す図。
【図11】レジスト2に印刷パターンに対応する開口が形成された状態を示す図。
【図12】基材1に導電体形成部4が形成された状態を示す図。
【図13】導電体形成部4の上にレジスト5をラミレートしてパターンフィルム6を乗せて露光する状態を示す図。
【図14】パターンフィルム6を外して現像した状態を示す図。
【図15】基材1の上にめっき層7を形成した状態を示す図。
【図16】レジスト5を除去し、めっき層7と導電体形成部4との上にレジスト8をラミレートした状態を示す図。
【図17】レジスト8の上にパターンフィルム9を乗せて露光する状態を示す図。
【図18】メッシュパターンに対応する開口となる位置にレジスト8が形成された状態を示す図。
【図19】めっき層7と導電体形成部4との上にめっき層10を形成した状態を示す図。
【図20】めっき層7とめっき層10とを基材1と導電体形成部4とから剥がした状態を示す図。
【符号の説明】
【0024】
1 基材、2,5,8 レジスト、3,6,9 パターンフィルム、4 導電体形成部、7,10 めっき層、2−1 基材1の開口部分、3−1,6−1,9−1 露光部分、4−1 導電体形成部4の側面部、31 マスク、32,33,34 印刷パターンに相当する開口、35 メッシュパターンに相当する複数の開口、36 スキージ面の開口。

【特許請求の範囲】
【請求項1】
基材に第1のレジストを形成し、
上記基材に形成した第1のレジストに印刷パターン形状の開口を形成し、
上記基材の上記開口部分に第1の金属膜をめっきにより形成し、
上記第1のレジストを除去し、
上記第1の金属膜が形成された領域を除いて、上記基材に第2の金属膜をめっきにより形成し、
上記第1の金属膜と上記第2の金属膜との少なくともいずれかの金属膜上の所定のパターンに対応する開口となる位置に第2のレジストを形成し、
上記第2のレジストが形成された領域を除いて、上記第1の金属膜と上記第2の金属膜とに第3の金属膜をめっきにより形成し、
上記第2のレジストを除去し、
上記第2の金属膜と上記第3の金属膜とから上記第1の金属膜と上記基材とを剥離する
ことを特徴とするマスクの製造方法。
【請求項2】
上記第1のレジストを除去した後、上記第1の金属膜の上面にレジストを形成し、
上記第1の金属膜の上面にレジストを形成した後、上記基材に第2の金属膜をめっきにより形成する
ことを特徴とする請求項1記載のマスクの製造方法。
【請求項3】
上記第1のレジストを除去した後、上記基材と上記第1の金属膜とに離型処理を施し、
上記基材と上記第1の金属膜とに離型処理を施した後、上記第1の金属膜が形成された領域を除いて、上記基材に上記第2の金属膜をめっきにより形成し、
上記第2のレジストを形成した後、上記第2のレジストが形成された領域を除いて、上記第1の金属膜に離型処理を施し、
上記第1の金属膜に離型処理を施した後、上記第2のレジストが形成された領域を除いて、上記第1の金属膜と上記第2の金属膜とに上記第3の金属膜をめっきにより形成する
ことを特徴とする請求項1記載のマスクの製造方法。
【請求項4】
第1のレジストに印刷パターン形状の開口を形成した後、上記基材の上記開口部分をエッチングして表面を粗し、
上記基材の表面を粗した開口部分に第1の金属膜をめっきにより形成する
ことを特徴とする請求項1記載のマスクの製造方法。
【請求項5】
上記第2の金属膜と上記第3の金属膜とは、上記第1の金属膜と異なるめっき溶液を用いてめっきにより形成される
ことを特徴とする請求項1記載のマスクの製造方法。
【請求項6】
基材に第1のレジストを形成し、
上記基材に形成した第1のレジストに印刷パターン形状の開口を形成し、
上記基材の上記開口部分に第1の金属膜をめっきにより形成し、
上記第1のレジストを除去し、
上記第1の金属膜が形成された領域を除いて、上記基材に第2の金属膜をめっきにより形成し、
上記第1の金属膜と上記第2の金属膜との少なくともいずれかの金属膜上の所定のパターンに対応する開口となる位置に第2のレジストを形成し、
上記第2のレジストが形成された領域を除いて、上記第1の金属膜と上記第2の金属膜とに第3の金属膜をめっきにより形成し、
上記第2のレジストを除去し、
上記第2の金属膜と上記第3の金属膜とから上記第1の金属膜と上記基材とを剥離する
ことにより製造されたことを特徴とするマスク。
【請求項7】
基材上に、印刷パターンとなる導電層を形成するステップと、
導電層が形成された基材上に第1のマスク層を形成するステップと、
導電層と第1のマスク層と上に、所定のパターンを持つ第2のマスク層を形成するステップと、
基材と導電層とから前記第1のマスク層および第2のマスク層を一体に剥離するステップと
を備えることを特徴とするマスクの製造方法。
【請求項8】
請求項7記載のマスクの製造方法により製造されたことを特徴とするマスク。
【請求項9】
基材に印刷パターン形状の開口部分となる第1の層を形成し、
上記第1の層が形成された領域を除いて、上記基材に第2の層を形成し、
上記第1の層と上記第2の層との少なくともいずれかの層に所定のパターンを有する第3の層を形成し、
上記第2の層と上記第3の層とから上記第1の層と上記基材とを剥離する
ことを特徴とするマスクの製造方法。
【請求項10】
印刷パターンに対応する開口を有する第1のマスク層と、
上記第1のマスク層と積層して形成され、上記印刷パターンに対応する開口部分に上記印刷パターンに対応する開口よりも大きな開口を有する第2のマスク層と
を備えることを特徴とするマスク。
【請求項11】
上記第2のマスク層が有する開口は、上記印刷パターンに対応する開口全体を包含する
ことを特徴とする請求項10記載のマスク。
【請求項12】
印刷パターンに対応する開口を有する第1のマスク層と、
上記印刷パターンに対応する開口部分と上記印刷パターンに対応する開口以外の部分とに跨る開口を含む、上記印刷パターンに対応する開口部分に応じて形成されたメッシュパターンに対応する複数の開口を有し、上記第1のマスク層と積層して形成された第2のマスク層と
を備えることを特徴とするマスク。

【図1】
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【図2】
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【図3】
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【図4】
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【図5】
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【図6】
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【図7】
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【図8】
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【図9】
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【図10】
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【図11】
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【図12】
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【図13】
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【図14】
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【図15】
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【図16】
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【図17】
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【図18】
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【図19】
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【図20】
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【公開番号】特開2008−132738(P2008−132738A)
【公開日】平成20年6月12日(2008.6.12)
【国際特許分類】
【出願番号】特願2006−322352(P2006−322352)
【出願日】平成18年11月29日(2006.11.29)
【出願人】(300071823)株式会社ボンマーク (54)
【Fターム(参考)】