説明

印字駆動集積回路

【課題】印字駆動集積回路において、電源投入後に、補正データ保持回路のメモリセルのデータを消去する時に、電源線のノイズによるシフトレジスタ等の誤動作を防止する。
【解決手段】補正データ保持回路4のメモリセルは、第1のインバータINV1と第2のインバータINV2からなり、2つのインバータがデータ保持ループを形成する。このメモリセルには、印字濃淡を調整するための補正データDATA2が書き込まれ、保持される。そして、第1のインバータINV1の第1のPチャネル型MOSトランジスタ21のインピーダンスを、第2のインバータINV2の第2のPチャネル型MOSトランジスタ23のインピーダンスより大きくすることにより、電源投入時にメモリセルに保持されるデータが「0」になる確率を高くした。

【発明の詳細な説明】
【技術分野】
【0001】
本発明は、LEDプリンター等の印字ヘッドを駆動する印字駆動集積回路に関する。
【背景技術】
【0002】
図5は、印字駆動集積回路を示すブロック図である。出力回路1は、ストローブ信号STBが供給されることにより複数個(例えば192個)のドット印字を一括で行うものであり、192個の出力端子Dout1〜Dout192と接続される。
【0003】
シフトレジスタ2(例えば192ビット)は、シフトクロックCLKに同期して印字データDATA1又は補正データDATA2をシリアル入力するものである。
【0004】
印字データDATA1の各ビットは、各ドットに対応し、印字データDATA1の各ビットがデータ「1」(ハイレベル)の時は印字を指示し、印字データDATA1の各ビットがデータ「0」(ローレベル)の時は非印字を指示する。一方、補正データDATA2は印字濃淡を補正するものであり、補正データDATA2がデータ「1」の時は印字高濃度を指示し、補正データDATA2がデータ「0」の時は印字低濃度を指示する。
【0005】
印字データ保持回路3(例えば192ビット)は、読み込み信号LOADが供給されることにより、シフトレジスタ2からパラレル出力される印字データDATA1を保持するものである。
【0006】
補正データ保持回路4(例えば、1152ビット)は、書き込み信号LOADが供給されることにより、シフトレジスタ2からパラレル出力される補正データDATA2を192ビット単位で書き込み、保持するものである。
【0007】
補正データ保持回路4はSRAMで構成される。電源投入後の初回動作でSRAMのデータは、データ「0」に消去されるように構成されている。
【0008】
シフトレジスタ2の出力と印字データ保持回路3及び補正データ保持回路4の入力との間の信号線5、6は、選択信号SELECTのレベルに応じて選択される。即ち、信号線5は選択信号SELECTがローレベルの時に選択され、信号線6は選択信号SELECTがハイレベルの時に選択される。
【0009】
尚、この種の印字駆動集積回路は、特許文献1に記載されている。
【特許文献1】特開2000−218834号公報
【発明の開示】
【発明が解決しようとする課題】
【0010】
上述のように印字駆動回路においては、補正データ保持回路4はSRAMで構成され、電源投入後の初回動作でSRAMのデータを消去する。しかし、SRAMのデータを消去する時に、SRAMのデータは不確定である。出力端子の個数が192個の場合は、SRAMのメモリ容量は6ワード×192ビットであり、1152個のメモリセルがある。
【0011】
つまり、1152個のメモリセルの中、データ「1」を保持しているメモリセルとデータ「0」を保持しているメモリセルが混在している場合が多い。このような状態で、1152個のメモリセルを一括して消去すると、電源線に過大電流が流れることにより電源線にノイズが発生する。そして、その電源ノイズにより、シフトレジスタ2等が誤動作する恐れがあった。
【課題を解決するための手段】
【0012】
本発明の印字駆動集積回路は、印字データ及び補正データがシリアル入力されるシフトレジスタと、前記シフトレジスタに入力された印字データを保持する印字データ保持回路と、前記シフトレジスタに入力された補正データを保持する補正データ保持回路と、前記印字データ保持回路に保持された印字データに応じて、印字ヘッドを駆動する為の駆動電流を出力する駆動トランジスタと、前記補正データ保持回路に保持された補正データに応じて、前記印字ヘッドによる印字濃淡を補正する為の補正電流を出力する補正トランジスタと、を備え、前記補正データ保持回路は、第1のPチャネル型MOSトランジスタと第1のNチャネル型MOSトランジスタで形成された第1のインバータと、第2のPチャネル型MOSトランジスタと第2のNチャネル型MOSトランジスタで形成された第2のインバータとを備え、前記第1のインバータの出力端が前記第2のインバータの入力端に接続され、前記第2のインバータの出力端が前記第1のインバータの入力端に接続されて成るメモリセルと、前記第1のインバータの出力端と接地の間に接続され、前記第1のインバータの出力端を接地することにより前記メモリセルのデータを消去する消去トランジスタと、を備え、前記第1のPチャネル型MOSトランジスタのインピーダンスを前記第2のPチャネル型MOSトランジスタのインピーダンスより大きくしたことを特徴とする。
【0013】
また、本発明の印字駆動集積回路は、印字データ及び補正データがシリアル入力されるシフトレジスタと、前記シフトレジスタに入力された印字データを保持する印字データ保持回路と、前記シフトレジスタに入力された補正データを保持する補正データ保持回路と、前記印字データ保持回路に保持された印字データに応じて、印字ヘッドを駆動する為の駆動電流を出力する駆動トランジスタと、前記補正データ保持回路に保持された補正データに応じて、前記印字ヘッドによる印字濃淡を補正する為の補正電流を出力する補正トランジスタと、を備え、前記補正データ保持回路は、第1のPチャネル型MOSトランジスタと第1のNチャネル型MOSトランジスタで形成された第1のインバータと、第2のPチャネル型MOSトランジスタと第2のNチャネル型MOSトランジスタで形成された第2のインバータとを備え、前記第1のインバータの出力端が前記第2のインバータの入力端に接続され、前記第2のインバータの出力端が前記第1のインバータの入力端に接続されて成るメモリセルと、前記第1のインバータの出力端と接地の間に接続され、前記第1のインバータの出力端を接地することにより前記メモリセルのデータを消去する消去トランジスタと、を備え、前記第1のインバータの出力端と前記第2のインバータの入力端の間に抵抗を挿入したことを特徴とする。
【発明の効果】
【0014】
本発明の印字駆動集積回路によれば、電源投入後の初回動作でメモリセルのデータを消去する時に、メモリセルのデータは高い確率で一定値に確定しているため、消去動作により電源線に流れる電流を大幅に抑制することができる。これにより、電源線のノイズによるシフトレジスタ等の誤動作を防止することができる。
【発明を実施するための最良の形態】
【0015】
本発明の実施形態による印字駆動集積回路について図面を参照して説明する。印字駆動集積回路は、全体構成においては図5と同様であるが、その中で補正データ保持回路4の構成に特徴を有している。
【0016】
補正データ保持回路4は、複数のメモリセルで構成されている。例えば、出力端子の個数が192個の場合は、メモリ容量は6ワード×192ビットであり、1152個のメモリセルがある。つまり、出力端子1個当たり6個のメモリセルが設けられており、6ビットの補正データが保持される。尚、出力端子1個当たりのメモリセルの個数は必要とされる印字濃淡の段階数に応じて任意に設定することができる。
【0017】
図1は、1個のメモリセルの回路図である。他のメモリセルも同様に構成されている。
図示のように、第1のインバータINV1と、第2のインバータINV2が設けられており、第1のインバータINV1の出力端が第2のインバータINV2の入力端に接続され、第2のインバータINV2の出力端が第1のインバータINV1の入力端に接続されている。つまり、第1のインバータINV1と、第2のインバータINV2はデータの保持ループを形成するように接続されている。
【0018】
そして、第1のインバータINV1は、CMOSインバータであって、電源電位VDDを供給する電源線16と接地電位を供給する接地線17との間に直列接続された、第1のPチャネル型MOSトランジスタ21と第1のNチャネル型MOSトランジスタ22で形成されている。
【0019】
第2のインバータINV2もCMOSインバータであって、電源電位VDDを供給する電源線16と接地電位を供給する接地線17との間に直列接続された、第2のPチャネル型MOSトランジスタ23と第2のNチャネル型MOSトランジスタ24で形成されている。
【0020】
また、第1のインバータINV1の出力端であるノードAと接地線17との間には、Nチャネル型MOSトランジスタからなる消去トランジスタ25が接続され、そのゲートに消去信号eraseが印加される。消去信号eraseがHレベルになると、消去トランジスタ25がオンしてノードAの電位をLレベルに設定する。
【0021】
また、第2のインバータINV2の出力端であるノードBにはNチャネル型MOSトランジスタからなる書き込みトランジスタ26が接続されている。書き込みトランジスタ26のゲートには書き込み信号LOADが印加される。書き込み信号LOADがHレベルになると、書き込みトランジスタ26がオンし、シフトレジスタ2からの補正データDATA2がメモリセルに書き込まれ、保持される。この場合、ノードAの電位がHレベルの時、データ「1」が保持されており、ノードAの電位がLレベルの時、データ「0」が保持されていると定義する。
【0022】
上述の回路の動作を説明する。先ず、電源が投入され、電源電位VDDが所定電位に立ち上がる。その後、消去信号eraseが印加されることにより消去トランジスタ25がオンし、すべてのメモリセルのデータが消去される。つまり、すべてのメモリセルにデータ「0」が保持される。データ消去後、シフトレジスタ2からの補正データDATA2がメモリセルに書き込まれ、保持される。データ消去は電源投入時の1回だけであり、その後は、次に送られてくるシフトレジスタ2からの補正データDATA2によりメモリセルのデータは順次更新される。
【0023】
この場合、消去動作により、すべてのメモリセルのデータは予め「0」に設定されるので、補正データDATA2としては、データ「0」だけを対応するメモリセルに書き込めばよいことになる。しかしながら、電源投入時において、メモリセルに保持されたデータは不確定である。つまり、1152個のメモリセルの中、データ「1」を保持しているメモリセルとデータ「0」を保持しているメモリセルが混在している場合が多い。このような状態で、1152個のメモリセルのデータを一括して消去したとする。
【0024】
すると、データ「1」を保持しているメモリセルにおいては、ノードAの電位がHレベルからLレベルに変化する。つまり、第1のインバータINV1と第2のインバータINV2の出力が反転し、メモリセルのデータは「1」から「0」に書き換えられる。この時、第1のインバータINV1と第2のインバータINV2に動作電流が流れる。このように、メモリセルの消去時にデータが書き換えられるメモセルの個数は、確率的に相当数ある。例えば、1152個のメモリセルの中の約半数である。そのような場合には、電源線16、接地線17に過大電流が流れて電源線16にノイズが発生する。そして、その電源ノイズにより、シフトレジスタ2等が誤動作する恐れがある。
【0025】
そこで、本実施形態においては、第1のPチャネル型MOSトランジスタ21のインピーダンスを第2のPチャネル型MOSトランジスタ23のインピーダンスより大きくすることにより、電源投入時にメモリセルに保持されるデータが「0」になる確率を高くしたのである。これは、第1のPチャネル型MOSトランジスタ21のインピーダンスが第2のPチャネル型MOSトランジスタ23のインピーダンスより大きいと、ノードAの時定数(ノードAの寄生容量と抵抗の積)は、ノードBの時定数より大きくなるからである。
【0026】
第1のインバータINV1のインピーダンスと第2のインバータINV2のインピーダンスとの比は、3:2程度であることが好ましい。但し、第1のインバータINV1のインピーダンスと第2のインバータINV2のインピーダンスとの比は、1:1とする。この場合、本発明者の実験によれば、電源投入時に殆どのメモリセルのデータが「0」であった。つまり、ノードAの電位は殆どがLレベルであった。
【0027】
そのため、消去トランジスタ25をオンさせて1152個のメモリセルを一括して消去する時、動作電流が流れるメモリセルは殆どない。従って、電源線16、接地線17に過大電流が流れることはなく、電源線16、接地線17のノイズを抑制し、シフトレジスタ2等の誤動作を防止することができる。
【0028】
また、代替の構成として、図2に示すように、第1のインバータINV1の出力端と第2のインバータINV2の入力端の間に抵抗27を挿入してもよい。この構成によっても、ノードAの時定数は、ノードBの時定数より大きくなり、上述と同様の効果が得られる。
【0029】
以下では、出力回路1、印字データ保持回路3及び補正データ保持回路4の詳細構成について、図3を参照して説明する。図3では、1ドット印字の為の構成を示している。
【0030】
印字データ保持回路3の1ビット(3n)の値はストローブ信号STBがハイレベルとなった時にANDゲート7から出力される。補正データ保持回路4は、図1又は図2に示した6ビットのメモリセル4a〜4fから成り、64(2の6乗)種類の補正データが用意される。
【0031】
即ち、印字濃淡を64段階で調整できる。6ビットの補正データDATA2は、ANDゲート7の出力がハイレベルの時、即ち、印字データDATA1が印字を指示している状態でストローブ信号STBがアクティブとなった時、ANDゲート8a〜8fから出力される。
【0032】
一方、Pチャネル型MOSトランジスタ及びNチャネル型MOSトランジスタから成るインバータ9の入力端は、ANDゲート7の出力端と接続され、インバータ10a〜10fの入力はANDゲート8a〜8fの出力端と接続される。
【0033】
駆動用Pチャネル型MOSトランジスタ11のゲートはインバータ9の出力端と接続され、補正用Pチャネル型MOSトランジスタ12a〜12fのゲートはインバータ10a〜10fの出力端と接続される。駆動用Pチャネル型MOSトランジスタ11及び補正用Pチャネル型MOSトランジスタ12a〜12fのドレインは出力端子Dout1と共通接続される。
【0034】
演算増幅器13の出力端はインバータ9、10a〜10fを構成するNチャネル型MOSトランジスタのソースと共通接続され、Pチャネル型MOSトランジスタ14のゲートと接続される。演算増幅器13の一方の入力端はPチャネル型MOSトランジスタ14及び抵抗15の接続点と接続され、他方の入力端は基準電圧Vrefと接続される。
【0035】
即ち、印字データDATA1及び補正データDATA2の値(データ「1」)に応じてインバータ9、10a〜10fを構成するNチャネル型MOSトランジスタがオンした時、Pチャネル型MOSトランジスタ14と駆動用Pチャネル型MOSトランジスタ11及び補正用Pチャネル型MOSトランジスタ12a〜12fとは電流ミラー回路を構成する。
【0036】
従って、駆動用Pチャネル型MOSトランジスタ11及び補正用Pチャネル型MOSトランジスタ12a〜12fには、演算増幅器13が定電流を出力することに伴い、Pチャネル型MOSトランジスタ14と駆動用Pチャネル型MOSトランジスタ11及び補正用Pチャネル型MOSトランジスタ12a〜12fのサイズ比に応じた定電流が流れる。よって、駆動用Pチャネル型MOSトランジスタ11の出力電流と補正用Pチャネル型MOSトランジスタ12a〜12fの何れかの出力電流とが加算された状態で、即ち、駆動用Pチャネル型MOSトランジスタ11の出力電流が補正された状態で、出力端子Dout1から導出される。出力回路1は、図3中の192個の破線ブロックを並列に設け、ストローブ信号STBを共通化したものである。
【0037】
上述した印字駆動集積回路の動作を図4のタイムチャートを用いて説明する。電源が投入され、印字駆動集積回路の内部素子が動作可能状態となると、先ず、選択信号SELECTがハイレベルとなり信号線6が選択される。この状態で、補正データDATA2がシフトクロックCLKの立ち上がりに同期してシフトレジスタ2にシリアル入力される。(図5参照)
【0038】
そして、最初の書き込み信号LOADが発生する前に、消去信号eraseが発生し、補正データ保持回路4のすべてのメモリセル4a〜4fのデータを消去する。即ち、メモリセル4a〜4fのデータはすべて「0」に設定される。これにより、補正用Pチャネル型MOSトランジスタ12a〜12fはすべてオフ状態に設定される。
【0039】
その後、書き込み信号LOADは、補正データDATA2が192ビット単位でシフトレジスタ2に格納される毎に発生する。補正データDATA2は書き込み信号LOADに応じて、192ビット単位で補正データ保持回路4に順次6回格納される。
【0040】
補正データ保持回路4の格納値が1152ビットに達すると、選択信号SELECTがローレベルとなり信号線5が選択される。この状態で、印字データDATA1がシフトクロックCLKの立ち上がりに同期してシフトレジスタ2にシリアル入力される。印字データDATA1は読み込み信号LOADに従って192ビット単位で印字データ保持回路3に格納される。こうして、192ビットの印字データDATA1及び1152ビットの補正データDATA2が出力回路1の前段に用意され、ストローブ信号STBが発生すると、印字データDATA1に応じて駆動用Pチャネル型MOSトランジスタ11がオンすると共に、補正データDATA2に応じて補正用Pチャネル型MOSトランジスタ12a〜12fが選択的にオンし、駆動用Pチャネル型MOSトランジスタ11の駆動電流及び補正用Pチャネル型MOSトランジスタ12a〜12fの補正電流が加算された状態で出力端子Dout1〜Dout192を介して印字ヘッド(図示せず)に同時供給される。
【0041】
尚、6ビット単位の64個の補正データDATA2は出力端子Dout1〜Dout192に対応する駆動用Pチャネル型MOSトランジスタ11の特性ばらつきを補正する固有の値であり、電源投入後は補正データ保持回路4に常時保持される。また、192ビット単位の印字データDATA1は印字位置に応じて更新される。
【図面の簡単な説明】
【0042】
【図1】本発明の実施形態による印字駆動集積回路の補正データ保持回路の回路図である。
【図2】本発明の実施形態による印字駆動集積回路の補正データ保持回路の回路図である。
【図3】本発明の実施形態による印字駆動集積回路の出力回路の回路図である。
【図4】本発明の実施形態による印字駆動集積回路の動作タイミング図である。
【図5】印字駆動集積回路のブロック図である。
【符号の説明】
【0043】
1 出力回路 2 シフトレジスタ 3 印字データ保持回路
4 補正データ保持回路 4a〜4f メモリセル 5,6 信号線
7,8a〜8f ANDゲート 9,10a〜10f インバータ
11 駆動用Pチャネル型MOSトランジスタ
12a〜12f 補正用Pチャネル型MOSトランジスタ
13 演算増幅器 14 Pチャネル型MOSトランジスタ 15 抵抗
16 電源線 17 接地線
21 第1のPチャネル型MOSトランジスタ
22 第1のNチャネル型MOSトランジスタ
23 第2のPチャネル型MOSトランジスタ
24 第2のNチャネル型MOSトランジスタ
25 消去トランジスタ 26 書き込みトランジスタ 27 抵抗

【特許請求の範囲】
【請求項1】
印字データ及び補正データがシリアル入力されるシフトレジスタと、
前記シフトレジスタに入力された印字データを保持する印字データ保持回路と、
前記シフトレジスタに入力された補正データを保持する補正データ保持回路と、
前記印字データ保持回路に保持された印字データに応じて、印字ヘッドを駆動する為の駆動電流を出力する駆動トランジスタと、
前記補正データ保持回路に保持された補正データに応じて、前記印字ヘッドによる印字濃淡を補正する為の補正電流を出力する補正トランジスタと、を備え、
前記補正データ保持回路は、第1のPチャネル型MOSトランジスタと第1のNチャネル型MOSトランジスタで形成された第1のインバータと、第2のPチャネル型MOSトランジスタと第2のNチャネル型MOSトランジスタで形成された第2のインバータとを備え、前記第1のインバータの出力端が前記第2のインバータの入力端に接続され、前記第2のインバータの出力端が前記第1のインバータの入力端に接続されて成るメモリセルと、前記第1のインバータの出力端と接地の間に接続され、前記第1のインバータの出力端を接地することにより前記メモリセルのデータを消去する消去トランジスタと、を備え、
前記第1のPチャネル型MOSトランジスタのインピーダンスを前記第2のPチャネル型MOSトランジスタのインピーダンスより大きくしたことを特徴とする印字駆動集積回路。
【請求項2】
印字データ及び補正データがシリアル入力されるシフトレジスタと、
前記シフトレジスタに入力された印字データを保持する印字データ保持回路と、
前記シフトレジスタに入力された補正データを保持する補正データ保持回路と、
前記印字データ保持回路に保持された印字データに応じて、印字ヘッドを駆動する為の駆動電流を出力する駆動トランジスタと、
前記補正データ保持回路に保持された補正データに応じて、前記印字ヘッドによる印字濃淡を補正する為の補正電流を出力する補正トランジスタと、を備え、
前記補正データ保持回路は、第1のPチャネル型MOSトランジスタと第1のNチャネル型MOSトランジスタで形成された第1のインバータと、第2のPチャネル型MOSトランジスタと第2のNチャネル型MOSトランジスタで形成された第2のインバータとを備え、前記第1のインバータの出力端が前記第2のインバータの入力端に接続され、前記第2のインバータの出力端が前記第1のインバータの入力端に接続されて成るメモリセルと、前記第1のインバータの出力端と接地の間に接続され、前記第1のインバータの出力端を接地することにより前記メモリセルのデータを消去する消去トランジスタと、を備え、
前記第1のインバータの出力端と前記第2のインバータの入力端の間に抵抗を挿入したことを特徴とする印字駆動集積回路。

【図1】
image rotate

【図2】
image rotate

【図3】
image rotate

【図4】
image rotate

【図5】
image rotate


【公開番号】特開2010−105302(P2010−105302A)
【公開日】平成22年5月13日(2010.5.13)
【国際特許分類】
【出願番号】特願2008−280778(P2008−280778)
【出願日】平成20年10月31日(2008.10.31)
【出願人】(000001889)三洋電機株式会社 (18,308)
【出願人】(506227884)三洋半導体株式会社 (1,155)
【Fターム(参考)】