磁性体管の欠陥検査方法。
【課題】磁性体管の欠陥を、更には磁性体管の外部に設けられたバッフルの部分の磁性体管の欠陥をも精度良く検出することができる磁性体管の欠陥検査方法を提供すること。
【解決手段】本発明の磁性体管の欠陥検出方法は、円柱状ヨークの中央部の周囲に永久磁石を、その磁化方向がヨークの軸方向になるように装着し、その両側のヨークの周囲に永久磁石を、その磁化方向がヨークの半径方向であって、ヨーク側の磁極が相異なるように装着し、中央部の永久磁石の上に検出コイルを配置してなるプローブを用いて、磁性体管内を渦流探傷することを特徴とし、更には多重周波数法によって渦流探傷することを特徴とする。
【解決手段】本発明の磁性体管の欠陥検出方法は、円柱状ヨークの中央部の周囲に永久磁石を、その磁化方向がヨークの軸方向になるように装着し、その両側のヨークの周囲に永久磁石を、その磁化方向がヨークの半径方向であって、ヨーク側の磁極が相異なるように装着し、中央部の永久磁石の上に検出コイルを配置してなるプローブを用いて、磁性体管内を渦流探傷することを特徴とし、更には多重周波数法によって渦流探傷することを特徴とする。
【発明の詳細な説明】
【技術分野】
【０００１】
本発明は、磁性体管の欠陥を精度良く検査する方法に関する。
【背景技術】
【０００２】
金属材料の検査方法の一つとして渦流探傷法が挙げられる。オーステナイト系ステンレス鋼、チタン、銅合金などの非磁性体管の検査では、内挿型の渦流探傷用プローブを用いた渦流探傷が広く行われている。
炭素鋼、フェライト系ステンレス鋼、フェライト相とオーステナイト相の二相からなる二相ステンレス鋼などの磁性体管の検査においては、非磁性体管の渦流探傷用プローブでは渦電流が表面しか流れないこと、透磁率の局部的な変動に起因するノイズが検出能に悪影響を及ぼすことから精度良く欠陥の探傷ができない。
【０００３】
二相ステンレス伝熱管の渦流探傷用プローブとして、円柱状ヨークの中央部の周囲に検出コイルを配置し、その両側のヨークの周囲に、磁化方向がヨークの半径方向であって、ヨーク側の磁極が相異なるように永久磁石を装着したプローブが知られている（例えば、非特許文献１参照。）
このプローブを用いることによって二相ステンレス管などの弱磁性体管の渦流探傷は可能であるが、炭素鋼などの強磁性体管の小さい欠陥を探傷するには不十分であり、強磁性体管の小さい欠陥をもより精度良く検査できる方法が望まれている。
【先行技術文献】
【非特許文献】
【０００４】
【非特許文献１】非破壊検査 第４２巻 第９号 ５２０〜５２６頁 平成５年
【発明の概要】
【発明が解決しようとする課題】
【０００５】
本発明は、磁性体管の欠陥を精度良く検査する方法、更には磁性体管の外部に設けられたバッフルプレート、管板、支持具など（以下、単にバッフルと称する）の部分の磁性体管の欠陥をも精度良く検査する方法を提供することを目的とする。
【課題を解決するための手段】
【０００６】
本発明者は、磁性体管の渦流探傷方法について鋭意検討した結果、円柱状ヨークの中央部の周囲に検出コイルを配置し、その両側のヨークの周囲に、磁化方向がヨークの半径方向であって、ヨーク側の磁極が相異なるように永久磁石を装着したプローブの中央部に、更に磁化方向がヨークの軸方向になるように永久磁石を装着したプローブを用いて、磁性体管内を渦流探傷することによって、磁性体管の欠陥を精度良く検査できること、更に多重周波数法によって渦流探傷することによって、外部に設けられたバッフルの部分の磁性体管の欠陥をも精度良く検査できることを見出し、本発明に至った。
【０００７】
すなわち本発明は、（１）円柱状ヨークの中央部の周囲に永久磁石を、その磁化方向がヨークの軸方向になるように装着し、その両側のヨークの周囲に永久磁石を、その磁化方向がヨークの半径方向であって、ヨーク側の磁極が相異なるように装着し、中央部の永久磁石の上に検出コイルを配置してなるプローブを用いて、磁性体管内を渦流探傷することを特徴とする磁性体管の欠陥検査方法、および（２）多重周波数法によって渦流探傷することを特徴とする上記（１）の磁性体管の欠陥検査方法である。
【発明の効果】
【０００８】
本発明の方法によって、磁性体管の欠陥を精度良く検査でき、更には磁性体管の外部に設けられたバッフルの部分の磁性体管の欠陥をも精度良く検査することができる。
【図面の簡単な説明】
【０００９】
【図１】本発明のプローブの一実施態様を示す断面模式図である。
【図２−Ａ】本発明のプローブの永久磁石取り付け方法の模式図である。
【図２−Ｂ】本発明のプローブの永久磁石取り付け方法の模式図である。
【図２−Ｃ】本発明のプローブの永久磁石取り付け方法の模式図である。
【図３】本発明のプローブの回路図である。
【図４】多重周波数法を説明するための図である。
【図５】実施例１の結果を示す図である。
【図６】実施例１の他の結果を示す図である。
【図７】実施例３の結果を示す図である。
【図８】実施例３の他の結果を示す図である。
【図９】実施例３の他の結果を示す図である。
【図１０】実施例３の他の結果を示す図である。
【発明を実施するための形態】
【００１０】
以下、図面を参照して本発明を詳細に説明する。図１は本発明のプローブの一実施態様を示す断面模式図である。
円柱状ヨーク１の中央部の周囲に永久磁石２が、その磁化方向がヨークの軸方向になるように装着されている。図では左側にＮ極、右側にＳ極になるように装着されている。
永久磁石２の両側のヨークの周囲に永久磁石３および永久磁石４が、その磁化方向がヨークの半径方向であって、ヨーク側の磁極が永久磁石３および永久磁石４で異なるように装着されている。図では永久磁石３はヨーク側がＳ極、外側がＮ極、永久磁石４はヨーク側がＮ極、外側がＳ極になるように装着されている。
中央部の永久磁石２の上に検出コイル５が配置されている。その両側には内側励磁コイル６が配置されている。
プローブの両端部にはガイド７、８が設けられている。ヨーク１の略中心部に空気導入孔９、および両端部に空気導入孔から半径方向に延びる複数の空気噴射孔１０が設けられている。
なお、コイルの導線およびその取り出し孔は図示されていない。
【００１１】
ヨークとしては、炭素鋼、低合金鋼などの高透磁率金属が用いられる。
永久磁石としては、例えば、ネオジム磁石などの高性能永久磁石が用いられる。中央部に装着する永久磁石２としては、ヨークの軸方向の長さが約５〜１０ｍｍのリング状のものが用いられる。永久磁石２の両側に装着される永久磁石３および永久磁石４としては、ヨークの軸方向の長さが約５〜３０ｍｍ、好ましくは約１０〜３０ｍｍのリング状のものが用いられる。永久磁石３および永久磁石４は長い方が、探傷精度が向上するが、約３０ｍｍを超えてもそれに見合った効果は得られない。なお、永久磁石３および永久磁石４のヨークの半径方向の大きさ、厚さは探傷する磁性体管の大きさに合わせて変更される。
【００１２】
半径方向の磁化を有するリング状の永久磁石は製作コストがかかるため、通常、図２−Ａに示すように、四分割等の分割形状にして円柱状ヨークの周囲に装着し使用される。該１／４周分割の永久磁石を円柱状ヨークに装着するときは図２−Ｂに示す如くダミーの鉄片あるいは装着する永久磁石とは磁化方向が逆の永久磁石を間に挟むことにより対面の永久磁石の反発力が解消されて容易に装着が可能となる。円柱状ヨークへの永久磁石の装着方法は特に限定されないが、接着剤、例えばアクリル系接着剤を用いて接着して装着される。一対の永久磁石を装着後、ダミーの鉄片もしくは装着した永久磁石とは磁化方向が逆の永久磁石を取り除いて、この位置に、円柱状ヨークとの接触面に接着剤を塗布したもう一対の永久磁石を装入し、対面する永久磁石を万力等で接着剤が接着効果を奏するまで挟み保持することにより容易に円柱状ヨークに永久磁石を装着することができる。また、別法として図２−Ｃに示すように、円柱状ヨークの周囲に接着剤を介して半径方向に磁化を有する永久磁石を並べ、この永久磁石を覆うように、磁化方向が逆になったダミーの永久磁石を、隣り合う永久磁石にまたがって配置する場合には、反発力が緩和され、万力等を用いて固定しなくても、容易に円柱状ヨークに永久磁石を接着し得る。ダミーの永久磁石は接着剤が効果を発現した後、取り除けばよい。
【００１３】
２個の検出コイル５および２個の内側励磁コイル６としては、各々、例えば、素線径が約０．０５〜０．１ｍｍφの銅線を、幅が約０．８〜１．２ｍｍ、深さが約０．８〜１．２ｍｍで、約６０〜８０回巻いて形成される。
内側励磁コイルは、渦電流の導電範囲を欠陥近傍のみに抑制し、微小な欠陥のS/N比を改善し、管端近傍の影響を軽減するので、設けることが好ましい。
【００１４】
プローブの両端部のガイド７、８は、アセタール樹脂、ステンレス鋼などで形成され、ねじ構造によってヨークに装着される。
【００１５】
ヨーク１に設けられた空気導入孔９から空気が導入され、空気噴射孔１０から空気が噴射される。磁性体管の探傷ではプローブに装着した強力な永久磁石による管内面への張り付きによって、プローブの走査および芯出しが困難になるが、空気噴射孔から垂直に空気が噴射されることによって、管への張り付きを軽減させることができ、プローブの走査が容易になる。
なお、空気噴射孔１０は、例えば、孔径が約２ｍｍφで、空気導入孔９から周方向に約６〜１０本設けられる。
【００１６】
コイルは導線によって渦流探傷装置に接続され、時間-電圧特性などを求め、欠陥を検査する。
図３にプローブの回路図を示す。２個の検出コイルＬ１、Ｌ２および２個の内側励磁コイルＬ３、Ｌ４および４個の可変抵抗器Ｒ１、Ｒ２、Ｒ３、Ｒ４を、ロックインアンプに対して並列に接続し、検出コイルＬ１、Ｌ２と可変抵抗器Ｒ１、Ｒ２がホイストンブリッジ回路となるように、ロックインアンプの入力信号用の端子と接続している。
【００１７】
探傷は次のようにして行う。
所定の試験周波数、例えば、実際の探傷で探傷感度が高い１００ｋＨｚ、印加電圧５ｖの時の検出コイルおよび内側励磁コイルのインピーダンスを測定し、可変抵抗器Ｒ１、Ｒ２の抵抗値を、その測定した抵抗値に調整する。またこのときの検出コイルと可変抵抗器の合成インピーダンスを測定し、内側励磁コイルに接続する可変抵抗器Ｒ３、Ｒ４の抵抗値を、その測定した抵抗値の前後に変化させて探傷し、最終的に検出感度が良い条件で探傷を行う。
プローブによる探傷速度は、約２〜５０ｍｍ／秒であり、より小さい欠陥を精度良く検出するためには、約２〜１０ｍｍ／秒が好ましい。
【００１８】
上記の方法によって、磁性体管の外部にバッフルが設けられていない部分の磁性体管の欠陥を精度良く検出することができるが、バッフルが設けられている部分では、バッフルの信号が邪魔して、磁性体管の欠陥を精度良く検出することができない。
このような邪魔する信号を除去して渦流探傷の精度を向上させる方法として、検出コイルに２つ以上の周波数を加えて渦流探傷する多重周波数法が知られている。多重周波数法については、例えば、「非破壊検査シーリーズ 渦流探傷試験II」（平成14年10月5日 1995年版第6刷 社団法人日本非破壊検査協会発行）に記載されている。
【００１９】
以下、二つの周波数を用いた多重周波数法によるバッフルが設けられている部分の磁性体管の欠陥の検査について説明する。図４はこれを説明のための図である。
バッフルが設けられている部分の欠陥の無い磁性体管をｆ１という周波数で探傷を行なうと（Ａ）に示したようなバッフルの信号（リサージュ波形）が得られる（ｆ１処理）。周波数をｆ２にして探傷すると、（Ｂ）に示したようなバッフルの信号が得られる（ｆ2処理）。周波数ｆ２で得られたバッフルの信号の振幅Ｘ、Ｙおよび位相θを回転させ、周波数ｆ１で探傷した時に得られたバッフルの信号とできるだけ同じ振幅と傾きを持った信号になるように調整する（Ｃ）。周波数ｆ２で得られた信号を調整して得られたのでこの処理をｆ２’とする。
ｆ１処理の信号とｆ２’処理の信号の差をとる処理（ｆ１−ｆ２’）をすると、同じようなリサージュ波形形状になっているためバッフルの信号は相殺されて消える（Ｄ）。
【００２０】
バッフルが設けられている部分の欠陥が有る磁性体管をｆ１という周波数で探傷を行なうと（Ｅ）に示したようなバッフルと欠陥が複合された信号が得られる（ｆ１処理）。
ここで、上記と同じようにバッフル信号を除去するような処理（ｆ１−ｆ２’）を行ない、バッフル信号が除去された欠陥信号のみを取り出し（Ｆ）、（Ｄ）と比較して欠陥を検査する。
【００２１】
周波数ｆ１とｆ２が同じような帯域であると、バッフル信号も欠陥信号も似通ったものになるため、演算すると欠陥信号も大部分が演算で消えてしまう可能性ある。逆に周波数ｆ１とｆ２を全く異なった帯域に設定すると、基本的な波形形状が変わってしまうため、いくら調整してもｆ１処理とｆ２’処理のバッフル信号を似た形状にすることができず、結果としてバッフル信号を消去できなくなる。周波数ｆ２は、通常、周波数ｆ１の１／２〜１／８程度にする。周波数は、磁性体管の材質などによって変わり、走査して最適な周波数を選定する。
【００２２】
渦流探傷および演算処理は、周波数ｆ１とｆ２を検出コイルに同時に加え、演算処理も行うように回路を形成し、プローブを走査すると同時に欠陥を検査することができる。
また、周波数ｆ１とｆ２を別々に検出コイルに加えて走査し、その後、得られた信号を演算処理して欠陥を検出することもできる。
【００２３】
なお、バッフル以外に邪魔な信号、例えば、プローブのガタ信号（管内でプローブがガタつくことによって、管と検出コイルとの距離が変化して発生する信号）が大きい場合に、それを消去するために第３の周波数を用いて行うことがある。
【実施例】
【００２４】
以下、実施例を挙げて本発明を説明するが、本発明は以下の実施例に限定されるものではない。
【００２５】
実施例１
図１に示すと同様のプローブを作製した。使用した材料および形状を以下に示す。
ヨーク１：炭素鋼Ｓ１５Ｃ焼鈍材
永久磁石２：ネオジウムマグネット（（株）アサヒコーポレーション製）
外径φ２５．５ｍｍ×内径φ２１ｍｍ×長さ６．４ｍｍのリング状
永久磁石３、４：ネオジムマグネット（（株）アサヒコーポレーション製）
外径φ２８ｍｍ×内径φ２１ｍｍ×長さ３０ｍｍのリング状を四分割したも
の。
検出コイル５、内側励磁コイル６：
各コイルともに、線径φ０．０８ｍｍの銅線を使用し、寸法は幅１．０ｍｍ×
深さ１．０ｍｍ、巻数は７０回、コイル間隔は０．８ｍｍとした。
ガイド７、８：ポリアセタール（コポリマー）ジュラコン（登録商標）（ポリプラス
チック（株）製）、外径φ２８.４ｍｍ
永久磁石をヨークに接着するための接着剤：
アクリル系接着剤ハードロック（登録商標）（電気化学工業（株）製）
なお、ロックインアンプは、ＬＩ５６４０（（株）エヌエフ回路設計ブロック製）を、オシロスコープは、ＴＤＳ３１０４Ｂ（日本テクトロニクス（株）製を、プローブを走査させるステージコントローラは、ＣＡＴ-Ｅ（中央精機（株）製）を用いた。
【００２６】
プローブの回路図を図３に示すように作製した。試験周波数を１００ｋＨｚ、印加電圧５ｖの時の検出コイルおよび内側励磁コイルのインピーダンスを測定すると約９３Ωであったことから、可変抵抗器Ｒ１、Ｒ２の抵抗値を約９３Ωに調整した。またこのときの検出コイルと可変抵抗器の合成インピーダンスを測定すると約１７２Ωであった。この条件で、内側励磁コイルに接続する可変抵抗器Ｒ３、Ｒ４の抵抗値を１５０〜５００Ωに変化させて探傷を行った。
【００２７】
強磁性体管（炭素鋼ＳＴＢ３４０、外径φ３４ｍｍ×厚み２.３ｍｍ×長さ９００ｍｍ）に１００ｍｍ間隔でφ２.０ｍｍ、φ１．５ｍｍ、φ１.０ｍｍ、φ０．５ｍｍの貫通孔を設けたものについて、速度３０ｍｍ／秒、４ｍｍ／秒で走査して探傷を行った。
探傷速度が３０ｍｍ／秒の時の結果を図５に、探傷速度が４ｍｍ／秒でφ１.０ｍｍ、φ０．５ｍｍの貫通孔について探傷した時の結果を図６に示す。
図中、内側励磁なし（２コイル）は、内側励磁コイルを生かさず、検出コイルのみで探傷したことを、１５０・・・５００Ωは可変抵抗器Ｒ３、Ｒ４の抵抗値を表す。
【００２８】
φ２ｍｍ以下の微小な欠陥では内側励磁コイルを設けたプローブを用いることによって、内側励磁コイルがなく検出コイルのみのプローブを使用した時よりも明らかにＳ／Ｎ比が改善されている。また探傷速度が約４ｍｍ／秒の時、内側励磁コイルがないとＳ／Ｎ比が悪く、φ１ｍｍ、φ０．５ｍｍの貫通孔をともに検出できていないが、内側励磁コイルを設けたプローブでは両者ともに十分な感度で検出可能である。
【００２９】
実施例２
実施例１で使用したプローブのヨークの軸方向の内部にφ４ｍｍの空気導入孔、および永久磁石の両側（ガイド部）に空気導入孔から半径方向に延びるそれぞれ８本のφ２ｍｍの空気噴射孔を設けた。
プローブの端部にばね秤を取り付け、実施例１と同じ強磁性体管に挿入し、レギュレーターで圧力を調整した空気を空気導入孔に供給し、空気噴射孔から噴出させながら一定速度となるように引張り、プローブが動き出す直前の引張り力を測定した。同じ条件で５回測定し、平均値を求めた。
結果を表１に示す。空気圧を高くして空気を多く噴射させることによって、引張り力が低下して走査が容易になっている。
【００３０】
【表１】
【００３１】
実施例３
強磁性体管（炭素鋼ＳＴＢ３４０、外径φ３４ｍｍ×厚み２.３ｍｍ×長さ９００ｍｍ）に、模擬欠陥として直径１ｍｍφの貫通孔、外表面に幅５ｍｍ×長さ１２．５ｍｍで深さが厚みの２５％である方形溝、外表面に幅５ｍｍ×長さ１７．５ｍｍで深さが厚みの５０％である方形溝、幅が１．５ｍｍで深さが厚みの２０％の内側全周溝、幅が１．５ｍｍで深さが厚みの７０％の内側全周溝、幅が１．５ｍｍで深さが厚みの５０％の外側全周溝、幅が１．５ｍｍで深さが厚みの８０％の外側全周溝を設けた。
模擬バッフル（炭素鋼ＳＳ４００、縦１００ｍｍ×横１００ｍｍ×厚み１５ｍｍ、中央に直径３４．４ｍｍφの孔）の孔に強磁性体管を挿入し、実施例１と同じプローブおよび渦流探傷装置を用い、模擬バッフルの位置を変えて渦流探傷し、欠陥の検査を行った。
【００３２】
探傷速度を約４ｍｍ／秒で、先ず周波数ｆ１を２０ｋＨｚで探傷し（ｆ１処理）、その後、周波数ｆ２を１０ｋＨｚで探傷した（ｆ２処理）。
得られたデータを演算処理した。すなわち、ｆ２処理で得られたバッフルの信号の振幅Ｘ、Ｙおよび位相θを回転させ、ｆ１処理で得られたバッフルの信号とできるだけ同じ振幅と傾きを持った信号になるように処理（ｆ２’処理）した。
ｆ１処理の信号とｆ２’処理の信号との差をとる処理（ｆ１−ｆ２’）をし、欠陥を検査した。得られたリサージュ波形を図７〜図１０に示す。図７の（１）は欠陥の無い部位、（２）は直径１ｍｍφの貫通孔、図８の（３）は幅５ｍｍ×長さ１２．５ｍｍで深さが厚みの２５％である方形溝、（４）は幅５ｍｍ×長さ１７．５ｍｍで深さが厚みの５０％である方形溝、図９の（５）は幅が１．５ｍｍで深さが厚みの２０％の内側全周溝、（６）は幅が１．５ｍｍで深さが厚みの７０％の内側全周溝、図１０の（７）は幅が１．５ｍｍで深さが厚みの５０％の外側全周溝、（８）は幅が１．５ｍｍで深さが厚みの８０％の外側全周溝について示す。
（１）と（２）〜（８）のリサージュ波形の比較から、外部に設けられたバッフル部分の磁性体管の欠陥が検出されていることが判る。
【符号の説明】
【００３３】
１ ヨーク
２ 永久磁石
３ 永久磁石
４ 永久磁石
５ 検出コイル
６ 内側励磁コイル
７ ガイド
８ ガイド
９ 空気導入孔
１０ 空気噴出孔
【技術分野】
【０００１】
本発明は、磁性体管の欠陥を精度良く検査する方法に関する。
【背景技術】
【０００２】
金属材料の検査方法の一つとして渦流探傷法が挙げられる。オーステナイト系ステンレス鋼、チタン、銅合金などの非磁性体管の検査では、内挿型の渦流探傷用プローブを用いた渦流探傷が広く行われている。
炭素鋼、フェライト系ステンレス鋼、フェライト相とオーステナイト相の二相からなる二相ステンレス鋼などの磁性体管の検査においては、非磁性体管の渦流探傷用プローブでは渦電流が表面しか流れないこと、透磁率の局部的な変動に起因するノイズが検出能に悪影響を及ぼすことから精度良く欠陥の探傷ができない。
【０００３】
二相ステンレス伝熱管の渦流探傷用プローブとして、円柱状ヨークの中央部の周囲に検出コイルを配置し、その両側のヨークの周囲に、磁化方向がヨークの半径方向であって、ヨーク側の磁極が相異なるように永久磁石を装着したプローブが知られている（例えば、非特許文献１参照。）
このプローブを用いることによって二相ステンレス管などの弱磁性体管の渦流探傷は可能であるが、炭素鋼などの強磁性体管の小さい欠陥を探傷するには不十分であり、強磁性体管の小さい欠陥をもより精度良く検査できる方法が望まれている。
【先行技術文献】
【非特許文献】
【０００４】
【非特許文献１】非破壊検査 第４２巻 第９号 ５２０〜５２６頁 平成５年
【発明の概要】
【発明が解決しようとする課題】
【０００５】
本発明は、磁性体管の欠陥を精度良く検査する方法、更には磁性体管の外部に設けられたバッフルプレート、管板、支持具など（以下、単にバッフルと称する）の部分の磁性体管の欠陥をも精度良く検査する方法を提供することを目的とする。
【課題を解決するための手段】
【０００６】
本発明者は、磁性体管の渦流探傷方法について鋭意検討した結果、円柱状ヨークの中央部の周囲に検出コイルを配置し、その両側のヨークの周囲に、磁化方向がヨークの半径方向であって、ヨーク側の磁極が相異なるように永久磁石を装着したプローブの中央部に、更に磁化方向がヨークの軸方向になるように永久磁石を装着したプローブを用いて、磁性体管内を渦流探傷することによって、磁性体管の欠陥を精度良く検査できること、更に多重周波数法によって渦流探傷することによって、外部に設けられたバッフルの部分の磁性体管の欠陥をも精度良く検査できることを見出し、本発明に至った。
【０００７】
すなわち本発明は、（１）円柱状ヨークの中央部の周囲に永久磁石を、その磁化方向がヨークの軸方向になるように装着し、その両側のヨークの周囲に永久磁石を、その磁化方向がヨークの半径方向であって、ヨーク側の磁極が相異なるように装着し、中央部の永久磁石の上に検出コイルを配置してなるプローブを用いて、磁性体管内を渦流探傷することを特徴とする磁性体管の欠陥検査方法、および（２）多重周波数法によって渦流探傷することを特徴とする上記（１）の磁性体管の欠陥検査方法である。
【発明の効果】
【０００８】
本発明の方法によって、磁性体管の欠陥を精度良く検査でき、更には磁性体管の外部に設けられたバッフルの部分の磁性体管の欠陥をも精度良く検査することができる。
【図面の簡単な説明】
【０００９】
【図１】本発明のプローブの一実施態様を示す断面模式図である。
【図２−Ａ】本発明のプローブの永久磁石取り付け方法の模式図である。
【図２−Ｂ】本発明のプローブの永久磁石取り付け方法の模式図である。
【図２−Ｃ】本発明のプローブの永久磁石取り付け方法の模式図である。
【図３】本発明のプローブの回路図である。
【図４】多重周波数法を説明するための図である。
【図５】実施例１の結果を示す図である。
【図６】実施例１の他の結果を示す図である。
【図７】実施例３の結果を示す図である。
【図８】実施例３の他の結果を示す図である。
【図９】実施例３の他の結果を示す図である。
【図１０】実施例３の他の結果を示す図である。
【発明を実施するための形態】
【００１０】
以下、図面を参照して本発明を詳細に説明する。図１は本発明のプローブの一実施態様を示す断面模式図である。
円柱状ヨーク１の中央部の周囲に永久磁石２が、その磁化方向がヨークの軸方向になるように装着されている。図では左側にＮ極、右側にＳ極になるように装着されている。
永久磁石２の両側のヨークの周囲に永久磁石３および永久磁石４が、その磁化方向がヨークの半径方向であって、ヨーク側の磁極が永久磁石３および永久磁石４で異なるように装着されている。図では永久磁石３はヨーク側がＳ極、外側がＮ極、永久磁石４はヨーク側がＮ極、外側がＳ極になるように装着されている。
中央部の永久磁石２の上に検出コイル５が配置されている。その両側には内側励磁コイル６が配置されている。
プローブの両端部にはガイド７、８が設けられている。ヨーク１の略中心部に空気導入孔９、および両端部に空気導入孔から半径方向に延びる複数の空気噴射孔１０が設けられている。
なお、コイルの導線およびその取り出し孔は図示されていない。
【００１１】
ヨークとしては、炭素鋼、低合金鋼などの高透磁率金属が用いられる。
永久磁石としては、例えば、ネオジム磁石などの高性能永久磁石が用いられる。中央部に装着する永久磁石２としては、ヨークの軸方向の長さが約５〜１０ｍｍのリング状のものが用いられる。永久磁石２の両側に装着される永久磁石３および永久磁石４としては、ヨークの軸方向の長さが約５〜３０ｍｍ、好ましくは約１０〜３０ｍｍのリング状のものが用いられる。永久磁石３および永久磁石４は長い方が、探傷精度が向上するが、約３０ｍｍを超えてもそれに見合った効果は得られない。なお、永久磁石３および永久磁石４のヨークの半径方向の大きさ、厚さは探傷する磁性体管の大きさに合わせて変更される。
【００１２】
半径方向の磁化を有するリング状の永久磁石は製作コストがかかるため、通常、図２−Ａに示すように、四分割等の分割形状にして円柱状ヨークの周囲に装着し使用される。該１／４周分割の永久磁石を円柱状ヨークに装着するときは図２−Ｂに示す如くダミーの鉄片あるいは装着する永久磁石とは磁化方向が逆の永久磁石を間に挟むことにより対面の永久磁石の反発力が解消されて容易に装着が可能となる。円柱状ヨークへの永久磁石の装着方法は特に限定されないが、接着剤、例えばアクリル系接着剤を用いて接着して装着される。一対の永久磁石を装着後、ダミーの鉄片もしくは装着した永久磁石とは磁化方向が逆の永久磁石を取り除いて、この位置に、円柱状ヨークとの接触面に接着剤を塗布したもう一対の永久磁石を装入し、対面する永久磁石を万力等で接着剤が接着効果を奏するまで挟み保持することにより容易に円柱状ヨークに永久磁石を装着することができる。また、別法として図２−Ｃに示すように、円柱状ヨークの周囲に接着剤を介して半径方向に磁化を有する永久磁石を並べ、この永久磁石を覆うように、磁化方向が逆になったダミーの永久磁石を、隣り合う永久磁石にまたがって配置する場合には、反発力が緩和され、万力等を用いて固定しなくても、容易に円柱状ヨークに永久磁石を接着し得る。ダミーの永久磁石は接着剤が効果を発現した後、取り除けばよい。
【００１３】
２個の検出コイル５および２個の内側励磁コイル６としては、各々、例えば、素線径が約０．０５〜０．１ｍｍφの銅線を、幅が約０．８〜１．２ｍｍ、深さが約０．８〜１．２ｍｍで、約６０〜８０回巻いて形成される。
内側励磁コイルは、渦電流の導電範囲を欠陥近傍のみに抑制し、微小な欠陥のS/N比を改善し、管端近傍の影響を軽減するので、設けることが好ましい。
【００１４】
プローブの両端部のガイド７、８は、アセタール樹脂、ステンレス鋼などで形成され、ねじ構造によってヨークに装着される。
【００１５】
ヨーク１に設けられた空気導入孔９から空気が導入され、空気噴射孔１０から空気が噴射される。磁性体管の探傷ではプローブに装着した強力な永久磁石による管内面への張り付きによって、プローブの走査および芯出しが困難になるが、空気噴射孔から垂直に空気が噴射されることによって、管への張り付きを軽減させることができ、プローブの走査が容易になる。
なお、空気噴射孔１０は、例えば、孔径が約２ｍｍφで、空気導入孔９から周方向に約６〜１０本設けられる。
【００１６】
コイルは導線によって渦流探傷装置に接続され、時間-電圧特性などを求め、欠陥を検査する。
図３にプローブの回路図を示す。２個の検出コイルＬ１、Ｌ２および２個の内側励磁コイルＬ３、Ｌ４および４個の可変抵抗器Ｒ１、Ｒ２、Ｒ３、Ｒ４を、ロックインアンプに対して並列に接続し、検出コイルＬ１、Ｌ２と可変抵抗器Ｒ１、Ｒ２がホイストンブリッジ回路となるように、ロックインアンプの入力信号用の端子と接続している。
【００１７】
探傷は次のようにして行う。
所定の試験周波数、例えば、実際の探傷で探傷感度が高い１００ｋＨｚ、印加電圧５ｖの時の検出コイルおよび内側励磁コイルのインピーダンスを測定し、可変抵抗器Ｒ１、Ｒ２の抵抗値を、その測定した抵抗値に調整する。またこのときの検出コイルと可変抵抗器の合成インピーダンスを測定し、内側励磁コイルに接続する可変抵抗器Ｒ３、Ｒ４の抵抗値を、その測定した抵抗値の前後に変化させて探傷し、最終的に検出感度が良い条件で探傷を行う。
プローブによる探傷速度は、約２〜５０ｍｍ／秒であり、より小さい欠陥を精度良く検出するためには、約２〜１０ｍｍ／秒が好ましい。
【００１８】
上記の方法によって、磁性体管の外部にバッフルが設けられていない部分の磁性体管の欠陥を精度良く検出することができるが、バッフルが設けられている部分では、バッフルの信号が邪魔して、磁性体管の欠陥を精度良く検出することができない。
このような邪魔する信号を除去して渦流探傷の精度を向上させる方法として、検出コイルに２つ以上の周波数を加えて渦流探傷する多重周波数法が知られている。多重周波数法については、例えば、「非破壊検査シーリーズ 渦流探傷試験II」（平成14年10月5日 1995年版第6刷 社団法人日本非破壊検査協会発行）に記載されている。
【００１９】
以下、二つの周波数を用いた多重周波数法によるバッフルが設けられている部分の磁性体管の欠陥の検査について説明する。図４はこれを説明のための図である。
バッフルが設けられている部分の欠陥の無い磁性体管をｆ１という周波数で探傷を行なうと（Ａ）に示したようなバッフルの信号（リサージュ波形）が得られる（ｆ１処理）。周波数をｆ２にして探傷すると、（Ｂ）に示したようなバッフルの信号が得られる（ｆ2処理）。周波数ｆ２で得られたバッフルの信号の振幅Ｘ、Ｙおよび位相θを回転させ、周波数ｆ１で探傷した時に得られたバッフルの信号とできるだけ同じ振幅と傾きを持った信号になるように調整する（Ｃ）。周波数ｆ２で得られた信号を調整して得られたのでこの処理をｆ２’とする。
ｆ１処理の信号とｆ２’処理の信号の差をとる処理（ｆ１−ｆ２’）をすると、同じようなリサージュ波形形状になっているためバッフルの信号は相殺されて消える（Ｄ）。
【００２０】
バッフルが設けられている部分の欠陥が有る磁性体管をｆ１という周波数で探傷を行なうと（Ｅ）に示したようなバッフルと欠陥が複合された信号が得られる（ｆ１処理）。
ここで、上記と同じようにバッフル信号を除去するような処理（ｆ１−ｆ２’）を行ない、バッフル信号が除去された欠陥信号のみを取り出し（Ｆ）、（Ｄ）と比較して欠陥を検査する。
【００２１】
周波数ｆ１とｆ２が同じような帯域であると、バッフル信号も欠陥信号も似通ったものになるため、演算すると欠陥信号も大部分が演算で消えてしまう可能性ある。逆に周波数ｆ１とｆ２を全く異なった帯域に設定すると、基本的な波形形状が変わってしまうため、いくら調整してもｆ１処理とｆ２’処理のバッフル信号を似た形状にすることができず、結果としてバッフル信号を消去できなくなる。周波数ｆ２は、通常、周波数ｆ１の１／２〜１／８程度にする。周波数は、磁性体管の材質などによって変わり、走査して最適な周波数を選定する。
【００２２】
渦流探傷および演算処理は、周波数ｆ１とｆ２を検出コイルに同時に加え、演算処理も行うように回路を形成し、プローブを走査すると同時に欠陥を検査することができる。
また、周波数ｆ１とｆ２を別々に検出コイルに加えて走査し、その後、得られた信号を演算処理して欠陥を検出することもできる。
【００２３】
なお、バッフル以外に邪魔な信号、例えば、プローブのガタ信号（管内でプローブがガタつくことによって、管と検出コイルとの距離が変化して発生する信号）が大きい場合に、それを消去するために第３の周波数を用いて行うことがある。
【実施例】
【００２４】
以下、実施例を挙げて本発明を説明するが、本発明は以下の実施例に限定されるものではない。
【００２５】
実施例１
図１に示すと同様のプローブを作製した。使用した材料および形状を以下に示す。
ヨーク１：炭素鋼Ｓ１５Ｃ焼鈍材
永久磁石２：ネオジウムマグネット（（株）アサヒコーポレーション製）
外径φ２５．５ｍｍ×内径φ２１ｍｍ×長さ６．４ｍｍのリング状
永久磁石３、４：ネオジムマグネット（（株）アサヒコーポレーション製）
外径φ２８ｍｍ×内径φ２１ｍｍ×長さ３０ｍｍのリング状を四分割したも
の。
検出コイル５、内側励磁コイル６：
各コイルともに、線径φ０．０８ｍｍの銅線を使用し、寸法は幅１．０ｍｍ×
深さ１．０ｍｍ、巻数は７０回、コイル間隔は０．８ｍｍとした。
ガイド７、８：ポリアセタール（コポリマー）ジュラコン（登録商標）（ポリプラス
チック（株）製）、外径φ２８.４ｍｍ
永久磁石をヨークに接着するための接着剤：
アクリル系接着剤ハードロック（登録商標）（電気化学工業（株）製）
なお、ロックインアンプは、ＬＩ５６４０（（株）エヌエフ回路設計ブロック製）を、オシロスコープは、ＴＤＳ３１０４Ｂ（日本テクトロニクス（株）製を、プローブを走査させるステージコントローラは、ＣＡＴ-Ｅ（中央精機（株）製）を用いた。
【００２６】
プローブの回路図を図３に示すように作製した。試験周波数を１００ｋＨｚ、印加電圧５ｖの時の検出コイルおよび内側励磁コイルのインピーダンスを測定すると約９３Ωであったことから、可変抵抗器Ｒ１、Ｒ２の抵抗値を約９３Ωに調整した。またこのときの検出コイルと可変抵抗器の合成インピーダンスを測定すると約１７２Ωであった。この条件で、内側励磁コイルに接続する可変抵抗器Ｒ３、Ｒ４の抵抗値を１５０〜５００Ωに変化させて探傷を行った。
【００２７】
強磁性体管（炭素鋼ＳＴＢ３４０、外径φ３４ｍｍ×厚み２.３ｍｍ×長さ９００ｍｍ）に１００ｍｍ間隔でφ２.０ｍｍ、φ１．５ｍｍ、φ１.０ｍｍ、φ０．５ｍｍの貫通孔を設けたものについて、速度３０ｍｍ／秒、４ｍｍ／秒で走査して探傷を行った。
探傷速度が３０ｍｍ／秒の時の結果を図５に、探傷速度が４ｍｍ／秒でφ１.０ｍｍ、φ０．５ｍｍの貫通孔について探傷した時の結果を図６に示す。
図中、内側励磁なし（２コイル）は、内側励磁コイルを生かさず、検出コイルのみで探傷したことを、１５０・・・５００Ωは可変抵抗器Ｒ３、Ｒ４の抵抗値を表す。
【００２８】
φ２ｍｍ以下の微小な欠陥では内側励磁コイルを設けたプローブを用いることによって、内側励磁コイルがなく検出コイルのみのプローブを使用した時よりも明らかにＳ／Ｎ比が改善されている。また探傷速度が約４ｍｍ／秒の時、内側励磁コイルがないとＳ／Ｎ比が悪く、φ１ｍｍ、φ０．５ｍｍの貫通孔をともに検出できていないが、内側励磁コイルを設けたプローブでは両者ともに十分な感度で検出可能である。
【００２９】
実施例２
実施例１で使用したプローブのヨークの軸方向の内部にφ４ｍｍの空気導入孔、および永久磁石の両側（ガイド部）に空気導入孔から半径方向に延びるそれぞれ８本のφ２ｍｍの空気噴射孔を設けた。
プローブの端部にばね秤を取り付け、実施例１と同じ強磁性体管に挿入し、レギュレーターで圧力を調整した空気を空気導入孔に供給し、空気噴射孔から噴出させながら一定速度となるように引張り、プローブが動き出す直前の引張り力を測定した。同じ条件で５回測定し、平均値を求めた。
結果を表１に示す。空気圧を高くして空気を多く噴射させることによって、引張り力が低下して走査が容易になっている。
【００３０】
【表１】
【００３１】
実施例３
強磁性体管（炭素鋼ＳＴＢ３４０、外径φ３４ｍｍ×厚み２.３ｍｍ×長さ９００ｍｍ）に、模擬欠陥として直径１ｍｍφの貫通孔、外表面に幅５ｍｍ×長さ１２．５ｍｍで深さが厚みの２５％である方形溝、外表面に幅５ｍｍ×長さ１７．５ｍｍで深さが厚みの５０％である方形溝、幅が１．５ｍｍで深さが厚みの２０％の内側全周溝、幅が１．５ｍｍで深さが厚みの７０％の内側全周溝、幅が１．５ｍｍで深さが厚みの５０％の外側全周溝、幅が１．５ｍｍで深さが厚みの８０％の外側全周溝を設けた。
模擬バッフル（炭素鋼ＳＳ４００、縦１００ｍｍ×横１００ｍｍ×厚み１５ｍｍ、中央に直径３４．４ｍｍφの孔）の孔に強磁性体管を挿入し、実施例１と同じプローブおよび渦流探傷装置を用い、模擬バッフルの位置を変えて渦流探傷し、欠陥の検査を行った。
【００３２】
探傷速度を約４ｍｍ／秒で、先ず周波数ｆ１を２０ｋＨｚで探傷し（ｆ１処理）、その後、周波数ｆ２を１０ｋＨｚで探傷した（ｆ２処理）。
得られたデータを演算処理した。すなわち、ｆ２処理で得られたバッフルの信号の振幅Ｘ、Ｙおよび位相θを回転させ、ｆ１処理で得られたバッフルの信号とできるだけ同じ振幅と傾きを持った信号になるように処理（ｆ２’処理）した。
ｆ１処理の信号とｆ２’処理の信号との差をとる処理（ｆ１−ｆ２’）をし、欠陥を検査した。得られたリサージュ波形を図７〜図１０に示す。図７の（１）は欠陥の無い部位、（２）は直径１ｍｍφの貫通孔、図８の（３）は幅５ｍｍ×長さ１２．５ｍｍで深さが厚みの２５％である方形溝、（４）は幅５ｍｍ×長さ１７．５ｍｍで深さが厚みの５０％である方形溝、図９の（５）は幅が１．５ｍｍで深さが厚みの２０％の内側全周溝、（６）は幅が１．５ｍｍで深さが厚みの７０％の内側全周溝、図１０の（７）は幅が１．５ｍｍで深さが厚みの５０％の外側全周溝、（８）は幅が１．５ｍｍで深さが厚みの８０％の外側全周溝について示す。
（１）と（２）〜（８）のリサージュ波形の比較から、外部に設けられたバッフル部分の磁性体管の欠陥が検出されていることが判る。
【符号の説明】
【００３３】
１ ヨーク
２ 永久磁石
３ 永久磁石
４ 永久磁石
５ 検出コイル
６ 内側励磁コイル
７ ガイド
８ ガイド
９ 空気導入孔
１０ 空気噴出孔
【特許請求の範囲】
【請求項１】
円柱状ヨークの中央部の周囲に永久磁石を、その磁化方向がヨークの軸方向になるように装着し、その両側のヨークの周囲に永久磁石を、その磁化方向がヨークの半径方向であって、ヨーク側の磁極が相異なるように装着し、中央部の永久磁石の上に検出コイルを配置してなるプローブを用いて、磁性体管内を渦流探傷することを特徴とする磁性体管の欠陥検査方法。
【請求項２】
検出用コイルの両側に内側励磁コイルを配置してなるプローブを用いることを特徴とする請求項１記載の磁性体管の欠陥検査方法。
【請求項３】
ヨークの軸方向の内部に空気導入孔、および両側の永久磁石の更に両側に空気導入孔から半径方向に延びる複数の空気噴射孔を有してなるプローブを用いることを特徴とする請求項１記載の磁性体管の欠陥検査方法。
【請求項４】
多重周波数法によって渦流探傷することを特徴とする請求項１〜３のいずれかに記載の磁性体管の欠陥検査方法。
【請求項１】
円柱状ヨークの中央部の周囲に永久磁石を、その磁化方向がヨークの軸方向になるように装着し、その両側のヨークの周囲に永久磁石を、その磁化方向がヨークの半径方向であって、ヨーク側の磁極が相異なるように装着し、中央部の永久磁石の上に検出コイルを配置してなるプローブを用いて、磁性体管内を渦流探傷することを特徴とする磁性体管の欠陥検査方法。
【請求項２】
検出用コイルの両側に内側励磁コイルを配置してなるプローブを用いることを特徴とする請求項１記載の磁性体管の欠陥検査方法。
【請求項３】
ヨークの軸方向の内部に空気導入孔、および両側の永久磁石の更に両側に空気導入孔から半径方向に延びる複数の空気噴射孔を有してなるプローブを用いることを特徴とする請求項１記載の磁性体管の欠陥検査方法。
【請求項４】
多重周波数法によって渦流探傷することを特徴とする請求項１〜３のいずれかに記載の磁性体管の欠陥検査方法。
【図１】
【図２−Ａ】
【図２−Ｂ】
【図２−Ｃ】
【図３】
【図４】
【図５】
【図６】
【図７】
【図８】
【図９】
【図１０】
【図２−Ａ】
【図２−Ｂ】
【図２−Ｃ】
【図３】
【図４】
【図５】
【図６】
【図７】
【図８】
【図９】
【図１０】
【公開番号】特開２０１０−２６１８３６（Ｐ２０１０−２６１８３６Ａ）
【公開日】平成２２年１１月１８日（２０１０．１１．１８）
【国際特許分類】
【出願番号】特願２００９−１１３３６０（Ｐ２００９−１１３３６０）
【出願日】平成２１年５月８日（２００９．５．８）
【出願人】（０００００２０９３）住友化学株式会社 (8,981)
【Ｆターム（参考）】
【公開日】平成２２年１１月１８日（２０１０．１１．１８）
【国際特許分類】
【出願日】平成２１年５月８日（２００９．５．８）
【出願人】（０００００２０９３）住友化学株式会社 (8,981)
【Ｆターム（参考）】
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