記録装置
【課題】位置案内子が形成された基準面と、異なる深さ位置に形成された記録層とを有する光ディスク記録媒体に記録を行う場合、レンズシフト等に伴うスポット位置ずれで生じる記録マーク列の重なりやをＡＴＳ（隣接トラックサーボ）で解決する際のサーボを安定化する。
【解決手段】基準面の位置案内子に基づき対物レンズを制御するトラッキングサーボループをマイナーループとして形成し、当該ループに対してＡＴＳ制御系によるサーボ制御信号を与える構成とする。このとき、ＡＴＳ制御系の位相補償については全積分や一次のＬＰＦなどＡＴＳループの伝達特性ゲインにピークを発生させない構成を用い、またマイナーループの制御帯域はＡＴＳループの制御帯域より十分高く設定する。従来のＡＴＳ単体とする場合に生じていたループ伝達特性ゲインのピークの発生を防止でき、トラッキング誤差の発散が防止されサーボの安定化が図られる。
【解決手段】基準面の位置案内子に基づき対物レンズを制御するトラッキングサーボループをマイナーループとして形成し、当該ループに対してＡＴＳ制御系によるサーボ制御信号を与える構成とする。このとき、ＡＴＳ制御系の位相補償については全積分や一次のＬＰＦなどＡＴＳループの伝達特性ゲインにピークを発生させない構成を用い、またマイナーループの制御帯域はＡＴＳループの制御帯域より十分高く設定する。従来のＡＴＳ単体とする場合に生じていたループ伝達特性ゲインのピークの発生を防止でき、トラッキング誤差の発散が防止されサーボの安定化が図られる。
【発明の詳細な説明】
【技術分野】
【０００１】
本発明は、位置案内子が形成された基準面と当該基準面とは異なる深さ位置に形成された記録層とを有する光ディスク記録媒体に対して記録を行う記録装置に関する。
【先行技術文献】
【特許文献】
【０００２】
【特許文献１】特開２００８−１３５１４４号公報
【特許文献２】特開２００８−１７６９０２号公報
【背景技術】
【０００３】
光の照射により信号の記録／再生が行われる光ディスク記録媒体（光ディスク）として、例えばＣＤ（Compact Disc）、ＤＶＤ（Digital Versatile Disc）、ＢＤ（Blu-ray Disc：登録商標）などが普及している。
【０００４】
これらＣＤ、ＤＶＤ、ＢＤなど現状において普及している光ディスクの次世代を担うべき光ディスクに関して、先に本出願人は、上記特許文献１や上記特許文献２に記載されるようないわゆるバルク記録型のものを提案している。
【０００５】
ここで、バルク記録とは、例えば図２５に示すようにして少なくともカバー層１０１とバルク層（記録層）１０２とを有する光記録媒体（バルク型記録媒体１００）に対し、逐次焦点位置を変えてレーザ光照射を行ってバルク層１０２内に多層記録を行うことで、大記録容量化を図る技術である。
【０００６】
このようなバルク記録に関して、上記特許文献１には、いわゆるマイクロホログラム方式と呼ばれる記録技術が開示されている。
マイクロホログラム方式では、バルク層１０２の記録材料として、いわゆるホログラム記録材料が用いられる。ホログラム記録材料としては、例えば光重合型フォトポリマ等が広く知られている。
【０００７】
マイクロホログラム方式は、ポジ型マイクロホログラム方式とネガ型マイクロホログラム方式とに大別される。
ポジ型マイクロホログラム方式は、対向する２つの光束（光束Ａ、光束Ｂ）を同位置に集光して微細な干渉縞（ホログラム）を形成し、これを記録マークとする手法である。
また、ネガ型マイクロホログラム方式は、ポジ型マイクロホログラム方式とは逆の発想で、予め形成しておいた干渉縞をレーザ光照射により消去して、当該消去部分を記録マークとする手法である。具体的に、ネガ型マイクロホログラム方式では、記録動作を行う前に、予めバルク層１０２に対して干渉縞を形成するための初期化処理を行う。すなわち、平行光による光束Ｃ，Ｄを対向して照射し、それらの干渉縞をバルク層１０２の全体に形成しておくものである。そして、このように初期化処理により予め干渉縞を形成しておいた上で、消去マークの形成による情報記録を行う。具体的には、任意の層位置にフォーカスを合わせた状態で記録すべき情報に応じたレーザ光照射を行うことで、消去マークによる情報記録を行うものである。
【０００８】
また、本出願人は、マイクロホログラム方式とは異なるバルク記録の手法として、例えば特許文献２に開示されるようなボイド（空孔、空包）を記録マークとして形成する記録手法も提案している。
ボイド記録方式は、例えば光重合型フォトポリマなどの記録材料で構成されたバルク層１０２に対して、比較的高パワーでレーザ光照射を行い、上記バルク層１０２内に空孔を記録する手法である。特許文献２に記載されるように、このように形成された空孔部分は、バルク層１０２内における他の部分と屈折率が異なる部分となり、それらの境界部分で光の反射率が高められることになる。従って上記空孔部分は記録マークとして機能し、これによって空孔マークの形成による情報記録が実現される。
【０００９】
このようなボイド記録方式は、ホログラムを形成するものではないため、記録にあたっては片側からの光照射を行えば済むものとできる。すなわち、ポジ型マイクロホログラム方式の場合のように２つの光束を同位置に集光して記録マークを形成する必要は無いものとできる。
また、ネガ型マイクロホログラム方式との比較では、初期化処理を不要にできるというメリットがある。
なお、特許文献２には、ボイド記録を行うにあたり記録前のプリキュア光の照射を行う例が示されているが、このようなプリキュア光の照射は省略してもボイドの記録は可能である。
【００１０】
ところで、上記のような各種の記録手法が提案されているバルク記録型（単にバルク型とも称する）の光記録媒体であるが、このようなバルク型の光記録媒体の記録層（バルク層）は、例えば反射膜が複数形成されるという意味での明示的な多層構造を有するものではない。すなわち、バルク層１０２においては、通常の多層ディスクが備えているような記録層ごとの反射膜、及び案内溝は設けられていない。
従って、先の図２５に示したバルク型記録媒体１００の構造のままでは、マークが未形成である記録時において、フォーカスサーボやトラッキングサーボを行うことができないことになる。
【００１１】
このため実際において、バルク型記録媒体１００に対しては、次の図２６に示すような案内溝を有する基準となる反射面（基準面Ｒｅｆ）を設けるようにされている。
具体的には、カバー層１０１の下面側にピットやグルーブによる案内溝（位置案内子）が形成され、そこに選択反射膜１０３が成膜される。そして、このように選択反射膜１０３が成膜されたカバー層１０２の下層側に対し、図中の中間層１０４としての、例えばＵＶ硬化樹脂などの接着材料を介してバルク層１０２が積層される。
【００１２】
また、このような媒体構造とした上で、バルク型記録媒体１００に対しては、次の図２７に示されるようにしてマークの記録用のレーザ光（記録用レーザ光）とは別途に、位置制御用のレーザ光としてのサーボ用レーザ光を照射するようにされる。
図示するようにこれら記録用レーザ光とサーボ用レーザ光とは、共通の対物レンズを介してバルク型記録媒体１００に照射される。
【００１３】
このとき、仮に、サーボ用レーザ光がバルク層１０２に到達してしまうと、当該バルク層１０２内におけるマーク記録に悪影響を与える虞がある。このため、従来よりバルク記録方式では、サーボ用レーザ光として、記録用レーザ光とは波長帯の異なるレーザ光を用いるものとした上で、案内溝形成面（基準面Ｒｅｆ）に形成される反射膜としては、サーボ用レーザ光は反射し、記録用レーザ光は透過するという波長選択性を有する選択反射膜１０３を設けるものとしている。
【００１４】
以上の前提を踏まえた上で、図２７を参照し、バルク型記録媒体１００に対するマーク記録時の動作について説明する。
先ず、案内溝や反射膜の形成されていないバルク層１０２に対して多層記録を行うとしたときには、バルク層１０２内の深さ方向においてマークを記録する層位置を何れの位置とするかを予め設定しておくことになる。図中では、バルク層１０２内においてマークを形成する層位置（マーク形成層位置：情報記録層位置とも呼ぶ）として、第１情報記録層位置Ｌ１〜第５情報記録層位置Ｌ５の計５つの情報記録層位置Ｌが設定された場合を例示している。図示するように第１情報記録層位置Ｌ１は、案内溝が形成された選択反射膜１０３（基準面Ｒｅｆ）からフォーカス方向（深さ方向）に第１オフセットｏｆ-L1分だけ離間した位置として設定される。また、第２情報記録層位置Ｌ２、第３情報記録層位置Ｌ３、第４情報記録層位置Ｌ４、第５情報記録層位置Ｌ５は、それぞれ基準面Ｒｅｆから第２オフセットｏｆ-L2分、第３オフセットｏｆ-L3分、第４オフセットｏｆ-L4分、第５オフセットｏｆ-L5分だけ離間した位置として設定される。
【００１５】
マークが未だ形成されていない記録時においては、記録用レーザ光の反射光に基づいてバルク層１０２内の各層位置Ｌを対象としたフォーカスサーボ、トラッキングサーボを行うことはできない。従って、記録時における対物レンズのフォーカスサーボ制御、トラッキングサーボ制御は、位置制御用光としてのサーボ用レーザ光の反射光に基づき、当該サーボ用レーザ光のスポット位置が基準面Ｒｅｆ上において案内溝に追従するようにして行うことになる。
【００１６】
但し、記録用レーザ光は、マーク記録のために選択反射膜１０３よりも下層側に形成されたバルク層１０２に到達させる必要がある。このため、この場合の光学系には、対物レンズのフォーカス機構とは別途に、記録用レーザ光の合焦位置を独立して調整するためのフォーカス機構が設けられることになる。
【００１７】
ここで、このような記録用レーザ光の合焦位置を独立して調整するための機構を含めた、バルク型記録媒体１００の記録装置の内部構成例を図２８に示しておく。
図２８において、図中にＬＤ１と示す第１レーザダイオード１１１は、記録用レーザ光の光源であり、ＬＤ２と示す第２レーザダイオード１１９はサーボ用レーザ光の光源である。先の説明からも理解されるように、これら第１レーザダイオード１１１と第２レーザダイオード１１９はそれぞれ異なる波長帯によるレーザ光を発光するように構成されている。
【００１８】
図示するように第１レーザダイオード１１１より出射した記録用レーザ光は、コリメーションレンズ１１２を介して固定レンズ１１３・可動レンズ１１４・レンズ駆動部１１５から成るフォーカス機構に入射する。上記レンズ駆動部１１５によって上記可動レンズ１１４が記録用レーザ光の光軸に平行な方向に駆動されることで、図中の対物レンズ１１７に入射する記録用レーザ光のコリメーション状態（収束／平行／発散の状態）が変化し、記録用レーザ光の合焦位置を対物レンズ１１７の駆動による合焦位置の変化とは独立して調整することができる。
なお、この意味で、当該フォーカス機構については、記録光用フォーカス機構とも表記する。
【００１９】
上記記録光用フォーカス機構を介した記録用レーザ光は、当該記録用レーザ光と同波長帯による光を透過しそれ以外の波長帯による光は反射するように構成されたダイクロイックミラー１１６に入射する。
図示するようにダイクロイックミラー１１６を透過した記録用レーザ光は、対物レンズ１１７を介してバルク型記録媒体１００に対して照射される。対物レンズ１１７は、２軸アクチュエータ１１８によりフォーカス方向及びトラッキング方向に変位可能に保持されている。
【００２０】
また、第２レーザダイオード１１９より出射されたサーボ用レーザ光は、コリメーションレンズ１２０を介した後、ビームスプリッタ１２１を透過し、上述したダイクロイックミラー１１６に入射する。サーボ用レーザ光は、当該ダイクロイックミラー１１７にて反射され、その光軸がダイクロイックミラー１１６を透過した記録用レーザ光の光軸と一致するようにして対物レンズ１１７に入射する。
対物レンズ１１７に入射したサーボ用レーザ光は、後述するサーボ回路１２５によるフォーカスサーボ制御によって２軸アクチュエータ１１８が駆動されることで、バルク型記録媒体１００の選択反射膜１０３上（基準面Ｒｅｆ）に合焦するようにされている。また同時に、サーボ用レーザ光のトラッキング方向における位置は、サーボ回路１２５によるトラッキングサーボ制御によって２軸アクチュエータ１１８が駆動されることで、選択反射膜１０３に形成された案内溝に沿うようにされる。
【００２１】
選択反射膜１０３からのサーボ用レーザ光の反射光は、対物レンズ１１７を介しダイクロイックミラー１１６で反射された後、ビームスプリッタ１２１にて反射される。ビームスプリッタ１２１にて反射されたサーボ用レーザ光の反射光は、集光レンズ１２２を介してフォトディテクタ１２３の検出面上に集光する。
【００２２】
マトリクス回路１２４は、フォトディテクタ１２３による受光信号に基づきフォーカス、トラッキングの各エラー信号を生成し、それらの各エラー信号はサーボ回路１２５に供給される。
【００２３】
サーボ回路１２５は上記各エラー信号からフォーカスサーボ信号、トラッキングサーボ信号を生成する。これらフォーカスサーボ信号、トラッキングエラー信号に基づき上述した２軸アクチュエータ１１８が駆動されることで、対物レンズ１１７のフォーカスサーボ制御、トラッキングサーボ制御が実現される。
【００２４】
ここで、バルク型記録媒体１００について予め設定された各情報記録層位置Ｌのうちから所要の情報記録層位置Ｌを対象としたマーク記録を行うとしたときには、レンズ駆動部１１５を駆動制御して、記録用レーザ光の合焦位置を、選択した情報記録層位置Ｌに対応するオフセットｏｆに応じた分だけ変化させる。
具体的にこのような情報記録位置の設定制御は、例えば記録装置の全体制御を行うコントローラ１２６により行われる。すなわち、当該コントローラ１２６により、対象とする情報記録層位置Ｌｘに応じて予め設定されたオフセット量ｏｆ-Lxに基づいてレンズ駆動部１１５を駆動制御することで、記録用レーザ光による情報記録位置（合焦位置）を、上記対象とする情報記録層位置Ｌｘに合わせるものである。
【００２５】
また、記録時における記録用レーザ光のトラッキングサーボに関しては、上述のようにサーボ回路１２５がサーボ用レーザ光の反射光に基づいて対物レンズ１１７のトラッキングサーボ制御を行うことで、自動的に行われるものとなる。具体的に、記録用レーザ光のトラッキング方向におけるスポット位置は、基準面Ｒｅｆに形成された案内溝の直下となるように制御される。
【００２６】
ちなみに、マーク記録が既に行われたバルク型記録媒体１００について再生を行う際は、記録時のように対物レンズ１１７の位置を基準面Ｒｅｆからのサーボ用レーザ光の反射光に基づいて制御する必要はない。すなわち再生時においては、再生対象とする情報記録層位置Ｌに形成されたマーク列を対象として、再生用のレーザ光の照射を行うことで、当該再生用のレーザ光の反射光に基づいて対物レンズ１１７のフォーカスサーボ制御、トラッキングサーボ制御を行うことができる。
【００２７】
上記により説明したようにバルク記録方式においては、バルク型記録媒体１００に対し、マークの記録光としての記録用レーザ光と、位置制御用光としてのサーボ用レーザ光とを、共通の対物レンズ１１７を介して（同一光軸上に合成して）照射するようにされている。その上で、サーボ用レーザ光の反射光に基づいて対物レンズ１１７のフォーカスサーボ制御、トラッキングサーボ制御を行うことで、バルク層１０２内に案内溝やそれが形成された反射面が形成されていなくとも、記録用レーザ光のフォーカスサーボ、トラッキングサーボを行うことができるように図られている。
【００２８】
しかしながら、上記により説明したようなサーボ制御手法を採る場合には、バルク型記録媒体１００の偏芯や光学ピックアップのスライド機構のガタ等に起因して生じる対物レンズ１１７のレンズシフトによって、トラッキング方向における情報記録位置のずれが生じてしまうという問題がある。
確認のため述べておくと、スライド機構のガタに伴うレンズシフトとは、スライドサーボ制御中において、当該スライド機構におけるメカ機構的なガタの発生に起因して光学ピックアップの位置が急激（瞬間的に）に変位したことに伴って、トラッキングサーボ制御中の対物レンズ１１７の位置がその変位の吸収ためにシフトされることを意味する。
【００２９】
図２９は、上記のようなレンズシフトに伴う情報記録位置のずれが生じる原理について説明するための図である。
図２９において、図２９（ａ）は、バルク型記録媒体１００に偏芯やスライド機構のガタが無く対物レンズ１１７のレンズシフトが生じていない理想的な状態を、また図２９（ｂ）は紙面左方向（外周方向であるとする）のレンズシフトが生じた場合（＋方向の偏芯と称する）、図２９（ｃ）は紙面右方向（内周方向であるとする）のレンズシフトが生じた場合（−方向の偏芯と称する）をそれぞれ示している。
【００３０】
先ず、図中の中心軸ｃは、光学系を設計する上で設定された中心軸であり、図２９（ａ）に示す理想状態においては、対物レンズ１１７の中心は当該中心軸ｃに一致する。
【００３１】
これに対し、図２９（ｂ）に示すような＋方向のレンズシフトが生じた場合は、対物レンズ１１７の中心が光学系の中心軸ｃに対して＋方向にシフトする。
このとき、サーボ用レーザ光（図中の柄付きの光線）に関しては、対物レンズ１１７に対して平行光により入射するので、上記のような対物レンズ１１７の中心軸ｃからのシフトが生じても、その焦点位置のトラッキング方向における位置に変化は生じない。これに対し、記録用レーザ光（図中の白抜きの光線）は、前述のように、基準面Ｒｅｆよりも下層側のバルク層１０２内の所要の情報記録層位置Ｌに合焦させるために、対物レンズ１１７に対して非平行光により入射されるので、上記のような＋方向への対物レンズ１１７のシフトに対しては、図のように、記録用レーザ光の焦点位置（情報記録位置）が、レンズシフト量に応じた分だけ＋方向に変化してしまうこととなる（図中、ずれ量＋ｄ）。
【００３２】
また、図２９（ｃ）に示すような−方向のレンズシフトが生じた場合には、記録用レーザ光による情報記録位置は、図のようにレンズシフト量に応じた分だけ−方向に変化することとなる（図中ずれ量−ｄ）。
【００３３】
このようにして，先の図２８にて説明したバルク型記録媒体１００についての記録装置の構成、すなわち、
・記録用レーザ光とサーボ用レーザ光とを共通の対物レンズ１１７を介して照射する
・対物レンズ１１７のフォーカスサーボ制御を、サーボ用レーザ光がバルク型記録媒体１００の基準面Ｒｅｆに合焦するようにして行う
・記録用レーザ光の焦点位置（情報記録位置）を対物レンズ１１７に入射する記録用レーザ光のコリメーション状態を変化させて調整する
・対物レンズ１１７のトラッキングサーボ制御を、サーボ用レーザ光の焦点位置が基準面Ｒｅｆに形成された案内溝に沿うようにして行う
という構成においては、ディスクの偏芯やスライド機構のガタ等に起因して、記録用レーザ光による情報記録位置がトラッキング方向にずれてしまうという問題が生じる。
このとき、偏芯の大きさ等やトラックピッチ（案内溝の形成間隔）の設定によっては、隣接する案内溝同士で情報記録位置が重なってしまうこともある。このようであると、正しく記録信号を再生することはできなくなる。
【００３４】
なお、上記では情報記録位置のずれの要因として対物レンズ１１７のレンズシフトを主なものとして説明したが、情報記録位置のずれは、ディスクチルトによっても同様に生じるものである。
【００３５】
上記のような情報記録位置ずれの問題を回避するための１つの対策としては、情報記録位置の変動以上にトラックピッチを広げておくということを挙げることができる。
しかしながら、この手法では、レンズシフト等の最大発生量が不確定であるため、どの程度トラックピッチを広げるかも不確定であるという問題がある。また、何よりトラックピッチの拡大により記録容量の低下を招いてしまうことが問題となる。
【００３６】
また、情報記録位置ずれを回避するための他の手法としては、ディスクを着脱不能なシステムとすることが挙げられる。
ここで、偏芯の原因としては、ディスク内径とスピンドルモータへのクランプ径との誤差が挙げられる。加工上、両者の誤差を完全にゼロにすることは不可能であるので偏芯は不可避である。また仮に、両者の誤差をゼロにできたとしても、ディスクの基準面における記録信号中心と記録装置のスピンドル軸中心とが同一になるとは限らないので、この面でもやはり偏芯が生じる。そこで、ディスクの着脱を不能としたシステムにすれば、偏芯による影響が同じとなるので、記録位置が重なる問題を回避できる。そしてこのことで、トラックピッチを詰めることができ、その分、記録容量の増大を図ることができる。
【００３７】
しかしながら、当然、この手法ではディスクの交換が一切できないので、例えばディスク不良時にディスクだけを交換するといったことができなくなる。さらには、或る記録装置で記録したデータを別の記録装置で読み出すといったこともできない。つまりこれらの点で、利便性が損なわれる結果となる。
【００３８】
そこで、これらの問題を回避するための有効な手法として、いわゆるＡＴＳ（Adjacent Track Servo：隣接トラックサーボ）の手法を採ることが考えられる。このＡＴＳは、元々はハードディスクドライブにおけるセルフサーボトラックライタ（ＳＳＴＷ）として検討されていたものである。
【００３９】
図３０は、ＡＴＳについて説明するための図である。
図のようにＡＴＳでは、記録用スポットＳrecと隣接トラックサーボ用スポットＳatsとを記録媒体上に形成するようにされる。これらスポットＳrecとスポットＳatsは、それぞれその元となる光線を共通の対物レンズを介して記録媒体に照射することで形成される。このとき、スポット間の距離は固定にする。
【００４０】
ＡＴＳでは、記録用スポットＳrecを先行スポット（つまり記録の進行方向が内周→外周である場合には外周側）とし、隣接トラックサーボ用スポットＳatsを後行スポットとして、記録用スポットＳrecによって形成したマーク列を対象として、隣接トラックサーボ用スポットＳatsによりトラッキングサーボをかける。つまりは、記録用スポットＳrecが形成した１本前のトラックに、隣接トラックサーボ用スポットＳatsが追従するように対物レンズのトラッキングサーボ制御を行うというものである。
【００４１】
このようなＡＴＳによれば、トラックピッチは各スポットＳ間の距離で一定とできるので、偏芯等の影響によってトラックが重なってしまう（情報記録位置が重なってしまう）という問題は生じないようにできる。すなわち、上述のように偏芯等に起因する情報記録位置のずれを考慮してトラックピッチを余分に広げたり、或いはディスクを着脱不能とするシステムとするといった必要は無いものとできる。
【発明の概要】
【発明が解決しようとする課題】
【００４２】
しかしながら、ＡＴＳにおいて、隣接トラックサーボ用スポットＳatsを用いたトラッキングサーボを従来行われているトラッキングサーボの手法と同様の手法で行った場合には、周回を重ねるごとにトラッキング誤差成分が次第に増大し、発散してしまうことが判明した。
以下、この点について説明する。
【００４３】
図３１は、ＡＴＳ制御系を伝達関数ブロックにより表している。
図３１において、Ｋ(ｚ)と示す伝達関数ブロックは、トラッキングサーボ系における制御器としてのサーボ演算器（サーボフィルタ）の離散系伝達関数を表すものであり、またＰ(ｚ)と示す伝達関数ブロックは、対物レンズを駆動するアクチュエータの離散系伝達関数を表している。
また、図中のｒは制御目標位置であり、ｅはトラッキングエラー信号を表す。ｕは制御器の出力（トラッキングドライブ信号に相当）、ｙsは隣接トラックサーボ用スポットＳatsの位置を表す。
ｄr-aは、記録用スポットＳrecと隣接トラックサーボ用スポットＳatsとの間の距離である。
【００４４】
図示するように、隣接トラックサーボ用スポットＳatsの位置ｙsと目標位置ｒとの差がエラー信号ｅである。一般的なトラッキングサーボ制御系と同様に、この場合のサーボ系においてもエラー信号ｅをゼロとするように制御器（Ｋ(ｚ)）が動作する。
【００４５】
ここで、先の図３０の説明からも理解されるように、ＡＴＳでは、１つ前のトラックを記録したときの記録用スポットＳrecの位置が、現記録対象のトラックを記録するときの目標位置ｒとなる。図３１ではこの前提を下に、目標位置ｒを、ディスク１周分の回転時間に相当する遅延時間要素ｚ-kと距離ｄr-aとを用いて表している。具体的に、目標位置ｒは、隣接トラックサーボ用スポットＳatsの位置ｙsに対して距離ｄr-aが加算されたものとして表すことのできる記録用スポットＳrecの位置ｙrが、上記遅延時間要素ｚ-kを介したものと表される。換言すれば、ディスク１回転分の時間だけ以前の記録用スポットＳrecの位置が、目標位置ｒということである。
【００４６】
この図３１に示す制御系における目標位置ｒから位置ｙsへの伝達特性は、一般には、図３２に示すような特性となる。
図３２において、図３２（ａ）は周波数−振幅特性、図３２（ｂ）は周波数−位相特性を示しているが、この図３２を参照して分かるように、目標位置ｒから位置ｙsへの伝達特性（つまりＡＴＳ制御系の伝達特性）としては、サーボ帯域近辺の帯域で伝達特性ゲインが０ｄＢよりも大きくなる。また位相については、サーボ帯域近辺にて遅れが生じる傾向となる。
【００４７】
上記のようにサーボ帯域近辺でゲインが０ｄＢより大となる特性から、当該サーボ帯域の成分がディスクの周回ごとに増幅されてしまい、その結果、隣接トラックサーボ用スポットＳatsの位置ｙsは、図３３に示すように時間と共に発散してしまう。
【００４８】
この点より、従来のＡＴＳでは、トラッキングサーボ制御を安定して行うことが非常に困難なものとなっている。
【課題を解決するための手段】
【００４９】
上記のような問題点に鑑み、本発明では記録装置として以下のように構成することとした。
すなわち、位置案内子が形成された基準面と当該基準面とは異なる深さ位置に形成された記録層とを有する光ディスク記録媒体に対して、上記記録層へのマーク記録を行うための記録光と、隣接トラックサーボ用のＡＴＳ光と、上記基準面に形成された上記位置案内子に基づく位置制御を行うための位置制御用光とを共通の対物レンズを介して照射するように構成されると共に、上記ＡＴＳ光の上記記録層からの反射光と、上記位置制御用光の上記基準面からの反射光とを個別に受光するように構成された光照射・受光部を備える。
また、上記対物レンズを上記光ディスク記録媒体の半径方向に平行な方向であるトラッキング方向に駆動するトラッキング機構を備える。
また、上記光照射・受光部により得られる上記位置制御用光についての受光信号に基づき、上記基準面に形成された位置案内子に対する上記位置制御用光の照射スポット位置の誤差を表す基準面側トラッキング誤差信号を生成する基準面側トラッキング誤差信号生成部を備える。
また、上記基準面側トラッキング誤差信号に対してトラッキングサーボのためのフィルタ処理を施して、上記基準面側トラッキング誤差信号が表すトラッキング誤差をキャンセルするための基準面側トラッキングサーボ信号を生成する基準面側トラッキングサーボ信号生成部を備える。
また、上記基準面側トラッキングサーボ信号に基づき上記トラッキング機構を駆動するトラッキング駆動部を備える。
また、上記光照射・受光部により得られる上記ＡＴＳ光についての受光信号に基づき、上記記録層に記録されたマーク列に対する上記ＡＴＳ光の照射スポット位置の誤差を表すＡＴＳ側トラッキング誤差信号を生成するＡＴＳ側トラッキング誤差信号生成部を備える。
また、上記ＡＴＳ側トラッキング誤差信号に対してトラッキングサーボのためのフィルタ処理を施して、上記ＡＴＳ側トラッキング誤差信号が表すトラッキング誤差をキャンセルするためのＡＴＳ制御信号を生成するＡＴＳ制御信号生成部を備える。
さらに、上記ＡＴＳ制御信号を、上記基準面側トラッキングサーボ信号生成部を含むトラッキングサーボループに対して与える信号付与部を備えるようにした。
【００５０】
上記のように本発明では、上記基準面側トラッキング誤差信号生成部と上記基準面側トラッキングサーボ信号生成部と上記トラッキング駆動部とを含み、上記基準面の位置案内子に基づくトラッキングサーボ制御を行う、基準面側トラッキングサーボ制御系が構成される。換言すれば、上記基準面の位置案内子に基づくトラッキングサーボ制御の行われるトラッキングサーボループが形成されるものである。
また、一方で本発明では、ＡＴＳ（Adjacent Track Servo：隣接トラックサーボ）としての、１周前のマーク列を対象としたトラッキングサーボを行うためのトラッキング誤差信号を得るための構成として、上記ＡＴＳ側トラッキング誤差信号生成部を備え、さらに当該ＡＴＳ側トラッキング誤差信号生成部が生成するＡＴＳ側トラッキング誤差信号からＡＴＳのための制御信号（ＡＴＳ制御信号）を生成するＡＴＳ制御信号生成部を備えるようにしている。
その上で本発明では、上記信号付与部によって、上記基準面の位置案内子に基づくトラッキングサーボ制御の行われるトラッキングサーボループに対し、上記ＡＴＳ制御信号を付与するものとしている。すなわち、ＡＴＳ制御系の出力を、上記基準面側のトラッキングサーボ制御系の目標値として与えるようにしているものである。これは、上記基準面側のトラッキングサーボループをマイナーループとし、当該マイナーループに対してＡＴＳ制御系の出力を目標値として入力していると表現することもできる。
このような構成とすることで、従来のＡＴＳ制御系単体とした場合に生じていた伝達特性ゲインのピークの発生を防止でき、トラッキングサーボループの伝達特性ゲインが全周波数帯域で０ｄＢを超えないようにすることができる。
【発明の効果】
【００５１】
本発明によれば、従来のＡＴＳ単体とした場合における、サーボ帯域近辺で伝達特性ゲインが０ｄＢよりも大となってしまうという特性を改善でき、結果、トラッキング誤差信号が時間と共に増大して発散してしまうといった事態の発生を防止できる。
これにより、記録マーク列の重なりや交差の発生を防止することのできるトラッキングサーボ制御を、従来のＡＴＳ単体とする場合よりも安定なものとして実現することができる。
【図面の簡単な説明】
【００５２】
【図１】実施の形態で記録対象とする光ディスク記録媒体の断面構造図である。
【図２】実施の形態の記録装置が備える主に光学系の構成について説明するための図である。
【図３】実施の形態の記録装置全体の内部構成について説明するための図である。
【図４】実施の形態のトラッキングサーボ制御系の伝達特性を示した図である。
【図５】実施の形態で用いるバルク型記録媒体の基準面の表面を一部拡大して示した平面図である。
【図６】基準面全体におけるピットの形成態様について説明するための図である。
【図７】アドレス情報のフォーマットについて説明するための図である。
【図８】バルク型記録媒体の回転駆動に伴い基準面上をサーボ用レーザ光のスポットが移動する様子と、その際に得られるｓｕｍ信号、ｓｕｍ微分信号、及びＰＰ（プッシュプル）信号の波形との関係を模式的に示した図である。
【図９】ピークポジション検出の具体的手法について説明するための図である。
【図１０】ピークタイミングを表すタイミング信号から生成されたクロックと、該クロックに基づき生成された各selector信号の波形と、基準面に形成された各ピット列（の一部）との関係を模式化して示した図である。
【図１１】チルトやレンズシフトに伴う反射光の受光スポット位置ずれについて説明するための図である。
【図１２】各トラッキングエラー信号の生成手法について説明するための図である。
【図１３】スポット位置が半径方向に変位する際に得られる各トラッキングエラー信号の波形を示した図である。
【図１４】線形トラッキング誤差信号の生成イメージ図である。
【図１５】線形トラッキング誤差信号の具体的な生成手法について説明するための図である。
【図１６】実施の形態の記録装置が備える信号生成部（基準面側トラッキング誤差信号生成部）の内部構成を主に示した図である。
【図１７】クロック生成回路の内部構成を示した図である。
【図１８】実施の形態の記録装置が備える各位相トラッキング誤差信号生成回路の内部構成を示した図である。
【図１９】スポット位置が半径方向に移動している際に得られる各トラッキングエラー信号の波形図である。
【図２０】レーザ光の照射スポットが所定のピット列上をトレースしている状態を示した図である。
【図２１】変形例としての線形トラッキング誤差信号の生成手法において生成する各トラッキング誤差信号の波形図である。
【図２２】変形例としての線形トラッキング誤差信号の生成手法について説明するための図である。
【図２３】変形例としての光記録媒体の断面構造を示した図である。
【図２４】変形例としての基準面の構造を示した図である。
【図２５】バルク記録方式について説明するための図である。
【図２６】基準面を備える実際のバルク型記録媒体の断面構造を例示した図である。
【図２７】バルク型記録媒体に対するマーク記録時の動作について説明するための図である。
【図２８】バルク型記録媒体に対して記録を行う従来例の記録装置の内部構成を示した図である。
【図２９】レンズシフトにより情報記録位置のトラッキング方向における位置ずれが発生する原理について説明するための図である。
【図３０】ＡＴＳについて説明するための図である。
【図３１】従来のＡＴＳ制御系を伝達関数ブロックにより表した図である。
【図３２】従来のＡＴＳ制御系の伝達特性を示した図である。
【図３３】従来のＡＴＳ制御系の時間経過に伴う出力特性を示した図である。
【発明を実施するための形態】
【００５３】
以下、発明を実施するための形態（以下実施の形態とする）について説明していく。
なお、説明は以下の順序で行うものとする。
＜１．実施の形態のサーボ制御手法の概要＞
［1-1．記録対象とする光ディスク記録媒体の例］
［1-2．実施の形態の記録装置の内部構成］
［1-3．サーボ制御手法］
＜２．１／２トラック幅以上のスポット位置ずれが生じる場合への対策＞
［2-1．スポット位置ずれに伴う問題点］
［2-2．基準面の構造］
［2-3．アドレス情報について］
［2-4．サーボ対象ピット列の選択手法］
［2-5．プッシュプル信号をサンプリングする手法の問題点とその対策］
［2-6．線形トラッキング誤差信号の生成手法］
[2-7．信号生成部の具体的構成例]
＜３．変形例＞
【００５４】
＜１．実施の形態のサーボ制御手法の概要＞
［1-1．記録対象とする光ディスク記録媒体の例］
図１は、実施の形態の記録装置が記録対象とする光ディスク記録媒体の断面構造図を示している。
実施の形態で記録対象とする光ディスク記録媒体は、いわゆるバルク記録型の光ディスク記録媒体とされ、以下、バルク型記録媒体１と称する。
光ディスク記録媒体としてのバルク型記録媒体１は、記録装置により回転駆動された状態にてレーザ光照射が行われてマーク記録（情報記録）が行われる。
なお、光ディスク記録媒体とは、光の照射により情報の記録（及び再生）が行われる円盤状の記録媒体を総称したものである。
【００５５】
図１に示されるように、バルク型記録媒体１には、上層側から順にカバー層２、選択反射膜３、中間層４、バルク層５が形成されている。
ここで、本明細書において「上層側」とは、後述する実施の形態としての記録装置（記録装置１０）側からのレーザ光が入射する面を上面としたときの上層側を指す。
【００５６】
また、本明細書においては「深さ方向」という語を用いるが、この「深さ方向」とは、上記「上層側」の定義に従った上下方向（縦方向）と一致する方向（すなわち記録装置側からのレーザ光の入射方向に平行な方向：フォーカス方向）を指すものである。
【００５７】
バルク型記録媒体１において、上記カバー層２は、例えばポリカーボネートやアクリルなどの樹脂で構成され、図示するようにその下面側には、記録位置を案内するための位置案内子が形成されている。
この場合、上記位置案内子としては、連続溝（グルーブ）又はピット列による案内溝が形成され、図のように凹凸の断面形状が与えられる。ここで本例の場合、位置案内子としての上記案内溝はスパイラル状に形成されているとする。
カバー層２は、このような案内溝（凹凸形状パターン）が形成されたスタンパを用いた射出成形などにより生成される。
【００５８】
また、上記案内溝が形成された上記カバー層２の下面側には、選択反射膜３が成膜される。
ここで、前述もした通り、バルク記録方式では、記録層としてのバルク層５に対してマーク記録を行うための記録光（記録用レーザ光）とは別に、上記のような案内溝に基づきトラッキングやフォーカスのエラー信号を得るためのサーボ光（位置制御用光、サーボ用レーザ光とも称する）を別途に照射するものとされている。
このとき、仮に、上記サーボ光がバルク層５に到達してしまうと、当該バルク層５内におけるマーク記録に悪影響を与える虞がある。このため、サーボ光は反射し、記録光は透過するという選択性を有する反射膜が必要とされている。
従来よりバルク記録方式では、記録光とサーボ光とはそれぞれ波長帯の異なるレーザ光を用いるようにされており、これに対応すべく、上記選択反射膜３としては、サーボ光と同一の波長帯の光は反射し、それ以外の波長帯による光は透過するという、波長選択性を有する選択反射膜が用いられる。
【００５９】
上記選択反射膜３の下層側には、例えばＵＶ硬化樹脂などの接着材料で構成された中間層４を介して、記録層としてのバルク層５が形成（接着）されている。
バルク層５の材料（記録材料)としては、例えば先に説明したポジ型マイクロホログラム方式やネガ型マイクロホログラム方式、ボイド記録方式など、採用するバルク記録の方式に応じて適宜最適なものが採用されればよい。
なお、本発明で対象とする光ディスク記録媒体に対するマーク記録方式は特に限定されるべきものではなく、バルク記録方式の範疇において任意の方式が採用されればよい。
以下、本例においては、ボイド記録方式が採用されるものとして説明を続ける。
【００６０】
ここで、上記のような構成を有するバルク型記録媒体１において、上述の案内溝の形成に伴い凹凸断面形状パターンの与えられた選択反射膜３は、後述もするようにサーボ用レーザ光に基づく記録用レーザ光の位置制御を行うにあたっての基準となる反射面となる。この意味で、選択反射膜３が形成された面を以下、基準面Ｒｅｆと称する。
【００６１】
先の図２７においても説明したように、バルク型の光記録媒体においては、バルク状の記録層内に多層記録を行うために、予め情報記録を行うべき各層位置（情報記録層位置Ｌ）が設定される。バルク型記録媒体１においても、情報記録層位置Ｌについては、先の図２７の場合と同様に、基準面Ｒｅｆからそれぞれ深さ方向に第１オフセットｏｆ-L1、第２オフセットｏｆ-L2、第３オフセットｏｆ-L3、第４オフセットｏｆ-L4、第５オフセットｏｆ-L5分だけ離間した第１情報記録層位置Ｌ、第２情報記録層位置Ｌ２、第３情報記録層位置Ｌ３、第４情報記録層位置Ｌ４、第５情報記録層位置Ｌ５が設定されているとする。
基準面Ｒｅｆからの各層位置Ｌへのオフセットｏｆ-Lの情報は、予め記録装置側に設定される。
【００６２】
なお、情報記録層位置Ｌの数は５に限定されるべきものではない。
【００６３】
［1-2．実施の形態の記録装置の内部構成］
図２は、図１に示したバルク型記録媒体１に対する記録を行う実施の形態としての記録装置が備える主に光学系の構成について説明するための図である。具体的には、記録装置が備える光学ピックアップＯＰの内部構成を主に示している。
【００６４】
図２において、記録装置に装填されたバルク型記録媒体１は、当該記録装置における所定位置においてそのセンターホールがクランプされるようにしてセットされ、図示を省略したスピンドルモータによる回転駆動が可能な状態に保持される。
光学ピックアップＯＰは、上記スピンドルモータにより回転駆動されるバルク型記録媒体１に対して記録用レーザ光、サーボ用レーザ光、及び隣接トラックサーボ用スポットＳats（図３０）を形成するためのＡＴＳ光を照射するために設けられる。
なお後の説明から明らかとなるように、本例の場合、ＡＴＳ光は、再生時においてはマークにより記録された信号の再生を行うための再生光として用いられることになる。
【００６５】
光学ピックアップＯＰ内には、マークによる信号記録を行うためのレーザ光の光源となる記録用レーザ１１ｒと、基準面Ｒｅｆに形成された位置案内子を利用した位置制御を行うための光としてのサーボ用レーザ光の光源であるサーボ用レーザ２４とが設けられる。さらに、記録時におけるＡＴＳ光の照射及び再生時における記録信号の読み出しを行うためのレーザ光を照射するための光源であるＡＴＳ・再生時用レーザ１１apが設けられる。
【００６６】
ここで、先に述べたように、記録用レーザ光とサーボ用レーザ光とはそれぞれ波長帯の異なる光を用いる。本例の場合、記録用レーザ光の波長はおよそ４０５ｎｍ程度（いわゆる青紫色レーザ光）、サーボ用レーザ光の波長はおよそ６５０ｎｍ程度（赤色レーザ光）とされているとする。
また、ＡＴＳ光や信号読み出しのための再生光として機能すべきＡＴＳ・再生時用レーザ１１apを光源とするレーザ光（以下、単にＡＴＳ光と称する）は、選択反射膜３を透過してバルク層５内に到達させる必要があり、なお且つ記録再生波長は同等とすべきことから、その波長は記録用レーザ光と同波長とする。
【００６７】
光学ピックアップＯＰ内には、記録用レーザ光、サーボ用レーザ光、及びＡＴＳ光のバルク型記録媒体１への共通の出力端となる対物レンズ２０が設けられる。
さらには、ＡＴＳ光のバルク型記録媒体１からの反射光を受光するための第１受光部２３と、サーボ用レーザ光のバルク型記録媒体１からの反射光を受光するための第２受光部２９とが設けられる。
【００６８】
その上で、光学ピックアップＯＰ内においては、記録用レーザ１１ｒより出射された記録用レーザ光及びＡＴＳ・再生時用レーザ１１apから出射されたＡＴＳ光を対物レンズ２０に導くと共に、当該対物レンズ２０に入射した上記バルク型記録媒体１からのＡＴＳ光の反射光を第１受光部２３に導くための光学系が形成される。
【００６９】
具体的に、記録用レーザ１１ｒより出射された記録用レーザ光、及びＡＴＳ・再生時用レーザ１１apから出射されたＡＴＳ光は、共にコリメーションレンズ１２を介して平行光となるようにされた後、偏光ビームスプリッタ１３に入射する。偏光ビームスプリッタ１３は、このように光源側から入射した記録用レーザ光・ＡＴＳ光については透過するように構成されている。
【００７０】
上記偏光ビームスプリッタ１３を透過した記録用レーザ光・ＡＴＳ光は、固定レンズ１４、可動レンズ１５、及びレンズ駆動部１６から成るエキスパンダに入射する。このエキスパンダは、光源に近い側が固定レンズ１４とされ、光源に遠い側に可動レンズ１５が配置され、レンズ駆動部１６によって上記可動レンズ１５が入射光の光軸に平行な方向に駆動されることで、記録用レーザ光・ＡＴＳ光について独立したフォーカス制御を行う。このエキスパンダは、前述した記録光用フォーカス機構に相当するものである。
後述もするように、当該記録光用フォーカス機構におけるレンズ駆動部１６は、図３に示すコントローラ４４によって、記録対象とする情報記録層位置Ｌに対応して設定されたオフセットｏｆ-Lの値に応じて駆動される。
【００７１】
上記記録光用フォーカス機構を構成する固定レンズ１４及び可動レンズ１５を介した各レーザ光は、図のようにミラー１７にて反射された後、１／４波長板１８を介してダイクロイックプリズム１９に入射する。
ダイクロイックプリズム１９は、その選択反射面が、記録用レーザ光・ＡＴＳ光と同波長帯の光は反射し、それ以外の波長による光は透過するように構成されている。従って上記のようにして入射した各レーザ光は、ダイクロイックプリズム１９にて反射される。
【００７２】
ダイクロイックプリズム１９で反射された各レーザ光は、図示するようにして対物レンズ２０を介してバルク型記録媒体１に対して照射される。
【００７３】
ここで、このように記録用レーザ光・ＡＴＳ光が対物レンズ２０を介して照射されることによっては、バルク層５内の対象とする情報記録層位置Ｌにおいて、先の図３０に示したような記録用スポットＳrec、隣接トラックサーボ用スポットＳatsが形成される。
この場合の光学系は、これら記録用スポットＳ_recと隣接トラックサーボ用スポットＳ_atsとの位置関係が、予め設定された位置関係で固定となるように設計されている。
本例において、記録用スポットＳ_recと隣接トラックサーボ用スポットＳ_atsとの半径方向における離間距離は、基準面Ｒｅｆに形成されたトラックのピッチ（スパイラルのピッチ）と一致するように設定されているとする。
【００７４】
対物レンズ２０に対しては、当該対物レンズ２０をフォーカス方向（バルク型記録媒体１に対して接離する方向）、及びトラッキング方向（上記フォーカス方向に直交する方向：バルク型記録媒体１の半径方向に平行な方向）に変位可能に保持する２軸アクチュエータ２１が設けられる。
この場合の２軸アクチュエータ２１には、フォーカスコイル、トラッキングコイルが備えられ、それぞれに駆動信号（後述する駆動信号ＦＤ、ＴＤ）が与えられることで、対物レンズ２０をフォーカス方向、トラッキング方向にそれぞれ変位させる。
【００７５】
ここで、記録時や再生時においては、上記のようにバルク型記録媒体１に対してＡＴＳ光が照射されることに応じて、バルク層５内のマーク列からの当該ＡＴＳ光の反射光が得られる。
このように得られたＡＴＳ光の反射光は、対物レンズ２０を介してダイクロイックプリズム１９に導かれ、当該ダイクロイックプリズム１９にて反射される。
ダイクロイックプリズム１９で反射されたＡＴＳ光の反射光は、１／４波長板１８→ミラー１７→記録光用フォーカス機構（可動レンズ１５→固定レンズ１４）を介した後、偏光ビームスプリッタ１３に入射する。
【００７６】
ここで、このように偏光ビームスプリッタ１３に入射するＡＴＳ光の反射光（復路光）は、１／４波長板１８による作用とバルク型記録媒体１での反射時の作用とにより、ＡＴＳ・再生時用レーザ１１ap側から偏光ビームスプリッタ１３に入射した光（往路光）とはその偏光方向が９０度異なるようにされる。この結果、上記のようにして入射したＡＴＳ光の反射光は、偏光ビームスプリッタ１３にて反射される。
【００７７】
このように偏光ビームスプリッタ１３にて反射されたＡＴＳ光の反射光は、集光レンズ２２を介して第１受光部２３の受光面上に集光する。
【００７８】
ここで、図示による説明は省略するが、第１受光部２３は複数の受光素子（この場合は４つであるとする）を備えて構成される。以下、第１受光部２３としての複数の受光素子で得られる受光信号については、これらを総括して受光信号ＤＴ-apと表記する。
【００７９】
また、光学ピックアップＯＰ内には、上記により説明した記録用レーザ光・ＡＴＳ光についての光学系の構成に加えて、サーボ用レーザ２４より出射されたサーボ用レーザ光を対物レンズ２０に導き且つ、上記対物レンズ２０に入射したバルク型記録媒体１からのサーボ用レーザ光の反射光を第２受光部２９に導くための光学系が形成される。
図示するようにサーボ用レーザ２４より出射されたサーボ用レーザ光は、コリメーションレンズ２５を介して平行光となるようにされた後、偏光ビームスプリッタ２６に入射する。偏光ビームスプリッタ２６は、このようにサーボ用レーザ２４側から入射したサーボ用レーザ光（往路光）は透過するように構成される。
【００８０】
偏光ビームスプリッタ２６を透過したサーボ用レーザ光は、１／４波長板２７を介してダイクロイックプリズム１９に入射する。
先に述べたように、ダイクロイックプリズム１９は、記録用レーザ光・ＡＴＳ光と同波長帯の光は反射し、それ以外の波長による光は透過するように構成されているため、上記サーボ用レーザ光はダイクロイックプリズム１９を透過し、対物レンズ２０を介してバルク型記録媒体１に照射される。
【００８１】
また、このようにバルク型記録媒体１にサーボ用レーザ光が照射されたことに応じて得られる当該サーボ用レーザ光の反射光（基準面Ｒｅｆからの反射光）は、対物レンズ２０を介した後ダイクロイックプリズム１９を透過し、１／４波長板２７を介して偏光ビームスプリッタ２６に入射する。
先のＡＴＳ光の場合と同様に、このようにバルク型記録媒体１側から入射したサーボ用レーザ光の反射光（復路光）は、１／４波長板２７の作用とバルク型記録媒体１での反射時の作用とにより、往路光とはその偏光方向が９０度異なるものとされ、従って復路光としてのサーボ用レーザ光の反射光は偏光ビームスプリッタ２６にて反射される。
【００８２】
偏光ビームスプリッタ２６にて反射されたサーボ用レーザ光の反射光は、集光レンズ２８を介して第２受光部２９の受光面上に集光する。
この第２受光部２９としても複数の受光素子（例えば４つ）を備え、以下、第２受光部２９としての複数の受光素子で得られる受光信号を総括して受光信号ＤＴ-svと表記する。
【００８３】
ここで、図示による説明は省略するが、実際において記録装置には、上記により説明した光学ピックアップＯＰ全体をトラッキング方向にスライド駆動するスライド駆動部が設けられ、当該スライド駆動部による光学ピックアップＯＰの駆動により、レーザ光の照射位置を広範囲に変位させることができるようにされている。
【００８４】
図３は、実施の形態の記録装置の全体的な内部構成を示している。
なお図３において、光学ピックアップＯＰの内部構成については、図２に示した構成のうち記録用レーザ１１ｒ、レンズ駆動部１６、２軸アクチュエータ２１のみを抽出して示している。
【００８５】
図３において、記録装置には、記録用レーザ光、ＡＴＳ光に係る信号処理系として、図中の記録処理部３１、マトリクス回路３２、再生処理部３３、再生時用サーボ回路３４、及びＡＴＳ側フィルタ３５が設けられている。
【００８６】
記録処理部３１には、バルク型記録媒体１に対して記録すべきデータ（記録データ）が入力される。記録処理部３１は、入力された記録データに対してエラー訂正符号の付加や所定の記録変調符号化、アドレス情報の付加を行うなどして、バルク型記録媒体１に実際に記録される例えば「０」「１」の２値データ列である記録変調データ列を得る。
そして、当該記録変調データ列に基づき生成した記録パルス信号ＲＣＰにより、光学ピックアップＯＰ内の録再用レーザ１１ｒを発光駆動する。
【００８７】
マトリクス回路３２には、前述した第１受光部２３からの受光信号ＤＴ-apが入力される。
マトリクス回路３２は、受光信号ＤＴ-apに基づき、マトリクス演算処理により必要な各種の信号を生成する。
【００８８】
ここで、本例の場合、バルク層５にマーク列により記録された信号の再生時（ユーザデータの再生時）には、ＡＴＳ光を、再生用のレーザ光として使用するものとしている。なお且つ再生時には、ＡＴＳ光の反射光に基づき既記録マーク列を対象としたフォーカスサーボ制御及びトラッキングサーボ制御を行うものとしている。
【００８９】
このことに対応してマトリクス回路３２では、受光信号ＤＴ-apに基づき、上述した記録変調データ列の再生信号に相当する高周波信号（和信号：以下、再生信号ＲＦとする）、フォーカスサーボ制御のためのフォーカスエラー信号ＦＥ-ap（マーク列に対するフォーカス誤差を表す信号）、トラッキングサーボ制御のためのトラッキングエラー信号ＴＥ-ap（隣接トラックサーボ用スポットＳatsの既記録マーク列に対する半径方向における位置誤差を表す信号）を生成するように構成される。
【００９０】
マトリクス回路３２にて生成された再生信号ＲＦは、再生処理部３４に供給される。
また、フォーカスエラー信号ＦＥ-apは、再生時用サーボ回路３４に対して供給される。
また、トラッキングエラー信号ＴＥ-apは、再生時用サーボ回路３４に対して供給されると共に、後述する記録時における位置制御に用いられるべく、ＡＴＳ側フィルタ３５に対しても供給される。
【００９１】
再生処理部３３は、再生信号ＲＦについて２値化処理や記録変調符号の復号化・エラー訂正処理など、上述した記録データを復元するための再生処理を行い、上記記録データを再生した再生データを得る。
また再生処理部３３はマーク列により記録されたデータ中に埋め込まれたアドレス情報の検出も行う。図示は省略しているが、検出されたアドレス情報はコントローラ４４に供給される。
【００９２】
再生時用サーボ回路３４は、コントローラ４４からの指示に応じて、フォーカスエラー信号ＦＥ-ap、トラッキングエラー信号ＴＥ-apのそれぞれに基づき、フォーカスサーボ信号ＦＳ-ap、トラッキングサーボ信号ＴＳ-apを生成する。ここでフォーカスサーボ信号ＦＳ-apは、ＡＴＳ光の合焦位置を再生対象とする情報記録層位置（マーク形成層位置）Ｌに追従させる（フォーカス誤差をキャンセルする）ための信号となる。またトラッキングサーボ信号ＴＳ-apは、ＡＴＳ光のスポット位置をマーク列に追従させる（トラッキング誤差をキャンセルする）ための信号となる。
これらフォーカスサーボ信号ＦＳ-ap、トラッキングエラー信号ＴＳ-apは、再生時において使用されるものである。
図示するようにフォーカスサーボ信号ＦＳ-apはセレクタ４０に供給され、トラッキングエラー信号ＴＳ-apはセレクタ４１に対して供給される。
【００９３】
ＡＴＳ側フィルタ３５は、コントローラ４４からの指示に応じて、トラッキングエラー信号ＴＥ-apに基づきトラッキングサーボ信号ＴＳ-atsを生成する。
具体的に、ＡＴＳ側フィルタ３５は、トラッキングエラー信号ＴＥ-apに対し位相補償等のトラッキングサーボのためのフィルタ処理を施して、上記トラッキングエラー信号ＴＥ-apが表すトラッキング誤差をキャンセルするための上記トラッキングサーボ信号ＴＳ-atsを生成する。
このとき、ＡＴＳ側フィルタ３５としては、例えば全積分や一次のＬＰＦ（ローパスフィルタ）など、ＡＴＳのループにピークを生じさせない構成とする。
図示するようにトラッキングサーボ信号ＴＥ-atsは、加算部３９に対して供給される。
【００９４】
また、記録装置には、サーボ用レーザ光の反射光についての信号処理系として、信号生成部３６、基準面側サーボフィルタ３７、及び記録時用フォーカスサーボ回路３８が設けられる。
【００９５】
信号生成部３６は、図２に示した第２受光部２９における複数の受光素子からの受光信号ＤＴ-svに基づき、必要な信号を生成する。
具体的に信号生成部３６は、受光信号ＤＴ-svに基づき、基準面Ｒｅｆに形成された位置案内子（トラック）に対するサーボ用レーザ光の照射スポット位置の半径方向における位置誤差を表すトラッキングエラー信号ＴＥ-svを生成する。
また信号生成部３６は、記録時におけるフォーカスサーボ制御を行うための信号として、基準面Ｒｅｆ（選択反射膜３）に対するサーボ用レーザ光のフォーカス誤差を表すフォーカスエラー信号ＦＥ-svを生成する。
【００９６】
なお、後の説明より明らかとなるように、本例の記録装置には、実際には、基準面Ｒｅｆに記録された位置情報を検出するための構成（図１６におけるselector信号選択回路５６、アドレス検出回路５７）が設けられ、これに対応して信号生成部３６は、位置情報検出用の信号も生成することになる。
図３では説明の便宜上、これら基準面Ｒｅｆの位置情報検出のための構成については省略しているが、その具体的説明については後に改めて行うこととする。
【００９７】
信号生成部３６により生成されたフォーカスエラー信号ＦＥ-svは、記録時用フォーカスサーボ回路３８に対して供給される。
記録時用フォーカスサーボ回路３８は、コントローラ４４からの指示に応じ、フォーカスエラー信号ＦＥ-svに基づいてフォーカスサーボ信号ＦＳ-svを生成し、これを上述したセレクタ４０に対して出力する。
【００９８】
ここで、セレクタ４０は、コントローラ４４から指示に応じて、記録時には記録時用フォーカスサーボ回路３８からのフォーカスサーボ信号ＦＳ-sv（つまりサーボ用レーザ光の焦点位置を基準面Ｒｅｆに追従させるためのサーボ制御信号）を選択するようにされ、再生時には、再生時用サーボ回路３５からのフォーカスサーボ信号ＦＳ-ap（ＡＴＳ光の焦点位置を再生対象とする情報記録層位置Ｌに追従させるためのサーボ制御信号）を選択するようにされる。
【００９９】
セレクタ４０により選択されたフォーカスサーボ信号ＦＳは、フォーカスドライバ４２に供給される。
フォーカスドライバ４２は、供給されたフォーカスサーボ信号ＦＳに基づき生成したフォーカス駆動信号ＦＤにより２軸アクチュエータ２１のフォーカスコイルを駆動する。
これにより、記録時に対応しては、対物レンズ２０が、サーボ用レーザ光の焦点位置を基準面Ｒｅｆに追従させるようにして駆動され、また再生時に対応しては、対物レンズ２０がＡＴＳ光の焦点位置を再生対象とする情報記録層位置Ｌに追従させるようにして駆動されるようになる。
なお、後述もするように、記録時におけるＡＴＳ光（及び記録用レーザ光）についてのフォーカス制御（記録対象とする情報記録層位置Ｌに合焦させるためのフォーカス制御）は、レンズ駆動部１６の制御により実現されるものである。
【０１００】
また、信号生成部３６により生成されたトラッキングエラー信号ＴＥ-svは、基準面側サーボフィルタ３７に供給される。
基準面側サーボフィルタ３７は、コントローラ４４からの指示に応じ、トラッキングエラー信号ＴＥ-svに基づいて、サーボ用レーザ光のスポット位置を基準面Ｒｅｆ上の位置案内子に追従させる（トラッキング誤差をキャンセルする）ためのトラッキングサーボ信号ＴＳ-svを生成する。
基準面側サーボフィルタ３７は、トラッキングエラー信号ＴＥ-svに対して位相補償等のトラッキングサーボのためのフィルタ処理を施して上記トラッキングサーボ信号ＴＳ-svを生成する。
【０１０１】
基準面側サーボフィルタ３７により生成されたトラッキングサーボ信号ＴＳ-svは、加算部３９に対して供給される。
加算部３９は、トラッキングサーボ信号ＴＳ-svと、前述のようにＡＴＳ側フィルタ３５から供給されるトラッキングサーボ信号ＴＳ-atsとを加算し、その結果をトラッキングサーボ信号ＴＳ-arfとしてセレクタ４１に出力する。
【０１０２】
セレクタ４１は、コントローラ４４からの指示に応じ、記録時には上記加算部３９からのトラッキングサーボ信号ＴＳ-arfを選択し、再生時には再生時用サーボ回路３５からのトラッキングサーボ信号ＴＳ-apを選択するようにされる。
【０１０３】
セレクタ４１により選択されたトラッキングサーボ信号ＴＳは、トラッキングドライバ４３に供給される。
トラッキングドライバ４３は、供給されたトラッキングサーボ信号ＴＳに基づき生成したトラッキング駆動信号ＴＤにより、２軸アクチュエータ２１のトラッキングコイルを駆動する。
これにより、再生時に対応しては、対物レンズ２０が上記トラッキングサーボ信号ＴＳ-apに基づき、ＡＴＳ光のスポット位置がマーク列に追従するように駆動されることとなる。
そして、記録時に対応しては、対物レンズ２０が、上記トラッキングサーボ信号ＴＳ-arfとしての、ＡＴＳ光のトラッキング誤差成分とサーボ用レーザ光のトラッキング誤差成分との双方を反映したサーボ制御信号に基づき駆動されることになる。
【０１０４】
コントローラ４４は、例えばＣＰＵ（Central Processing Unit）やＲＯＭ（Read Only Memory）、ＲＡＭ（Random Access Memory）などのメモリ（記憶装置）を備えたマイクロコンピュータで構成され、例えば上記ＲＯＭ等に記憶されたプログラムに従った制御・処理を実行することで、記録装置の全体制御を行う。
例えばコントローラ４４は、前述したように予め各層位置Ｌに対応して設定されたオフセットｏｆ-Lの値に基づいて、記録時における記録用レーザ光・ＡＴＳ光の合焦位置の制御（設定）を行う。具体的には、記録対象とする情報記録層位置Ｌに対応して設定されたオフセットｏｆ-Lの値に基づき、光学ピックアップＯＰ内のレンズ駆動部１６を駆動することで、深さ方向における記録位置及びＡＴＳ光の合焦位置の選択を行う。
【０１０５】
また、コントローラ４４は、記録時と再生時とで、それぞれ対応する手法でのフォーカスサーボ、トラッキングサーボが行われるようにするための制御を行う。
具体的に、フォーカスサーボ側については、記録時において、サーボ用レーザ光の反射光に基づき対物レンズ２０のフォーカスサーボ制御が実行されるように、記録時用フォーカスサーボ回路３８にフォーカスサーボ信号ＦＳ-svを生成させ且つ、セレクタ４０により当該フォーカスサーボ信号ＦＳ-svを選択させる。
また再生時には、ＡＴＳ光のマーク列からの反射光に基づき対物レンズ２０のフォーカスサーボ制御を実行させるべく、再生時用サーボ回路３４にフォーカスサーボ信号ＦＳ-apを生成させ且つ、セレクタ４０により当該フォーカスサーボ信号ＦＳ-apを選択させる。
【０１０６】
また、トラッキングサーボについては、記録時には、サーボ用レーザ光の反射光とＡＴＳ光の反射光とに基づく対物レンズ２０のトラッキングサーボ制御が実行されるように、基準面側サーボフィルタ３７、ＡＴＳ側フィルタ３５にトラッキングサーボ信号ＴＳ-sv、トラッキングサーボ信号ＴＳ-atsの生成をそれぞれ実行させ且つ、セレクタ４１に、これらの合成成分としてのトラッキングエラーＴＳ-arfを選択させる。
また再生時には、ＡＴＳ光の反射光に基づく対物レンズ２０のトラッキングサーボ制御が実行させるべく、再生時用サーボ回路３４にトラッキングサーボ信号ＴＳ-apを生成させ且つ、セレクタ４１に当該トラッキングサーボ信号ＴＳ-apを選択させる。
【０１０７】
［1-3．サーボ制御手法］
ここで、上記により説明した実施の形態の記録装置では、信号生成部３６と、基準面側サーボフィルタ３７と、トラッキングドライバ４３とを有することで、基準面Ｒｅｆに形成された位置案内子に基づき対物レンズ２０のトラッキングサーボ制御を行うサーボ制御系（基準面側サーボ制御系）が構成されている。つまりは、基準面Ｒｅｆの位置案内子に基づくトラッキングサーボ制御の行われるトラッキングサーボループが形成されているものである。
そして、本実施の形態では、記録時におけるトラッキングサーボ制御系として、このような基準面側サーボ制御系と共に、ＡＴＳによるサーボ制御系が構成されるようにしている。具体的には、ＡＴＳ光の反射光に基づき当該ＡＴＳ光のマーク列に対するトラッキング誤差を表すトラッキングエラー信号ＴＥ-apを生成するマトリクス回路３２と、トラッキングエラー信号ＴＥ-apからトラッキングサーボ信号ＴＳ-atsを生成するＡＴＳ側フィルタ３５とを設けた上で、当該ＡＴＳ側フィルタ３５により生成されたトラッキングサーボ信号ＴＳ-atsを、加算部３９によって、上記基準面側のトラッキングサーボループに対して与えるようにしている。
これは、上記トラッキングサーボ信号ＴＳ-atsを、上記基準面側サーボ制御系の目標値（制御目標値）として与えるように構成しているものである。或いは、上記基準面側サーボ制御系としてのトラッキングサーボループをマイナーループとして、上記トラッキングサーボ信号ＴＳ-atsを当該マイナーループの目標値として入力していると換言することもできる。
【０１０８】
このような構成とした場合、ＡＴＳ制御系のトラッキング誤差は、主に、対物レンズ２０のレンズシフト等によって生じる先の図２９にて説明したようなスポット位置ずれ（この場合はサーボ用レーザ光とＡＴＳ光との間のスポット位置ずれとなる）に起因して生じることになる。
そして、このようなＡＴＳ側のトラッキング誤差情報が、上記基準面側サーボ制御系の制御目標値として与えられることで、ＡＴＳ光のスポット位置が、マーク列に追従するように対物レンズ２０が駆動されることになる。
このことからも理解されるように、本実施の形態のトラッキングサーボ制御手法としても、ＡＴＳ単体とする場合と同様に、記録マーク列が隣接マーク列に重なったり交差するといった事態の発生を防止できるものとなる。
【０１０９】
ここで、上記説明からも理解されるように、基準面側サーボフィルタ３７を含む上記基準面側サーボ制御系は、主に、通常の外乱成分（つまり上記のようなレンズシフト等に伴うスポット位置ずれの要因となるディスク偏芯成分等よりも高い周波数の外乱成分）に追従する機能を担わせるべきとなる。
この意味で、上記基準面側サーボ制御系の制御帯域は、通常のサーボ制御系とする場合と同等の制御帯域に設定する。具体的に本例の場合、上記基準面側サーボ制御系の制御帯域は１０ｋHz程度に設定するものとしている。
【０１１０】
一方、ＡＴＳ側フィルタ３５を含むＡＴＳ制御系については、上記通常の外乱成分への追従はさせるべきではないので、その制御帯域は、少なくとも上記基準面側サーボ制御系の制御帯域よりも低い周波数帯域に設定する。具体的に本例の場合、ＡＴＳ制御系の制御帯域（ＡＴＳ側フィルタ３５のカットオフ周波数）としては１ｋHz程度に設定している。
【０１１１】
上記のように基準面側サーボ制御系としてのトラッキングサーボループ（マイナーループ）に対してＡＴＳ制御系の制御信号としてのトラッキングサーボ信号ＴＳ-atsを付与するようにした実施の形態のトラッキングサーボ制御系によれば、従来のＡＴＳ制御系単体とした場合に生じていた、先の図３２に示したような伝達特性ゲインのピークの発生を防止することができる。
【０１１２】
図４は、実施の形態のトラッキングサーボ制御系の伝達特性についてのシミュレーション結果を示している。なお、図４（ａ）は周波数−振幅特性、図４（ｂ）は周波数−位相特性を示している。
この図４を参照して分かるように、実施の形態のトラッキングサーボ制御系においては、その伝達特性ゲインが、その制御帯域の全域で０ｄＢを超えないように抑制されるものとなる。つまりこれにより、従来のＡＴＳ制御系単体とした場合における伝達特性ゲインのピークの発生が防止されているものである。
【０１１３】
このように伝達特性ゲインのピークの発生が防止されることで、トラッキング誤差信号が時間と共に増大して発散してしまうといった事態の発生を防止でき、その結果、記録マーク列の重なりや交差の発生を防止することのできるトラッキングサーボ制御を、従来のＡＴＳ単体とする場合よりも安定なものとして実現することができる。
【０１１４】
［2-1．スポット位置ずれに伴う問題点］
ここで、上述もしたように、本実施の形態のトラッキングサーボ制御系では、ＡＴＳ側のトラッキング誤差情報が基準面側サーボ制御系の制御目標値として与えられることで、ＡＴＳ光のスポット位置がマーク列に対して追従するように制御されることになる。
すなわち、このことを裏返すと、基準面Ｒｅｆ上のサーボ用レーザ光のスポット位置は、上記ＡＴＳ側のトラッキング誤差情報としての、前述のスポット位置ずれ量に応じた分だけサーボ対象とするトラックからオフセットされる場合があるということになる。
【０１１５】
この場合において、上記スポット位置ずれ量は、場合によっては複数トラック幅分に及ぶ可能性がある。すなわち、例えばバルク型記録媒体１の作製精度が比較的低く、ディスク偏芯やディスクチルトの発生量が比較的大となる場合には、スポット位置ずれ量としてもその分大となり、これに伴って１トラック幅以上のスポット位置ずれが生じる可能性もある。
【０１１６】
このようにスポット位置ずれ量が大であると、基準面側サーボ制御系におけるエラー信号も大となり、これに伴ってトラッキングサーボが外れてしまう可能性がある。これは、例えばプッシュプル信号等の通常のトラッキングエラー信号では、スポット位置が対象とするトラックから１／２トラック分以上離間してしまうとその波形に折り返しが生じ、これに伴ってトラッキングサーボ制御を適正に行うことが不能となるためである。
【０１１７】
そこで本実施の形態では、スポット位置ずれ量が基準面Ｒｅｆ上のトラック幅換算で１／２トラック分以上に生じる場合にも、トラッキングサーボ制御状態を維持できるようにするための対策を施すものとしている。具体的には、トラッキングエラー信号ＴＥ-svとして、１／２トラック幅以上のトラッキング誤差が生じた場合にも波形の折り返しを生じさせずその誤差量を線形に表すことのできる、線形トラッキング誤差信号を生成するというものである。
【０１１８】
［2-2．基準面の構造］
先ず、線形トラッキング誤差信号の生成にあたっては、基準面Ｒｅｆに形成される位置案内子として、以下で説明するようなピット列を形成することになる。
図５及び図６を参照して、本例のバルク型記録媒体１の基準面Ｒｅｆ上におけるピット列の形成態様について説明する。
図５は、バルク型記録媒体１における基準面Ｒｅｆ（選択反射膜３）の表面を一部拡大した平面図である。
この図５においては、紙面の左側から右側に向かう方向をピット列の形成方向、つまりはトラックの形成方向（線方向）としている。この場合、サーボ用レーザ光の照射スポットは、バルク型記録媒体１の回転駆動に伴い、紙面の左側から右側に移動するものとする。
また、上記ピット列の形成方向と直交する方向（紙面の縦方向）は、バルク型記録媒体１の半径方向である。
【０１１９】
また図５において、図中の白丸で示すＡ〜Ｆは、ピットの形成可能位置を表す。すなわち、基準面Ｒｅｆにおいて、ピットは、当該ピットの形成可能位置においてのみ形成されるものであって、ピットの形成可能位置以外にはピットの形成が行われない。
また、図中のＡ〜Ｆの符号の別はピット列の別（半径方向において配列されるピット列の別）を表し、これらＡ〜Ｆの符号に付される数字はピット列上におけるピットの形成可能位置の別を表す。
【０１２０】
ここで、図中の黒太線で表す間隔は、従来のバルク型記録媒体１において実現可能な最小トラックピッチ（従来限界トラックピッチ）を表している。このことからも理解されるように、本実施の形態のバルク型記録媒体１では、Ａ〜Ｆの計６本のピット列が、従来限界の１トラック幅内に形成されている、すなわち半径方向における光学限界を超えるピッチで配列されていることになる。
【０１２１】
但し、従来限界の１トラック幅内にこれら複数のピット列を単純に配列したのみでは、ピット列形成方向においてピットの形成位置が重なってしまう虞があり、つまりはピット列形成方向におけるピットの間隔が光学限界を超えてしまう虞がある。
【０１２２】
そこで、本例においては、従来限界の１トラック幅内に配列される上記Ａ〜Ｆの複数のピット列間で、ピット列形成方向におけるピット同士の間隔が光学限界を超えないようにするべく、以下のような条件を定めている。
すなわち、
１）Ａ〜Ｆの各ピット列において、ピットの形成可能位置の間隔を所定の第１の間隔に制限する。
２）このようにピットの形成可能位置の間隔が制限されたＡ〜Ｆの各ピット列を、それぞれのピットの形成可能位置がピット列形成方向において所定の第２の間隔ずつずれたものとなるようにして配列する（つまり上記第２の間隔で各ピット列の位相をずらす）。
というものである。
【０１２３】
ここで、半径方向に配列されるＡ〜Ｆのピット列におけるそれぞれのピットの形成可能位置のピット列形成方向における間隔（上記第２の間隔）をｎとおく。このとき、上記２）の条件が満たされるようにＡ〜Ｆの各ピット列が配列されることで、ピット列Ａ−Ｂ、ピット列Ｂ−Ｃ、ピット列Ｃ−Ｄ、ピット列Ｄ−Ｅ、ピット列Ｅ−Ｆ、及びピット列Ｆ−Ａの各ピット形成可能位置間の間隔は、図示するように全てｎとなる。
また、Ａ〜Ｆの各ピット列におけるピット形成可能位置の間隔（上記第１の間隔）は、この場合はＡ〜Ｆまでの計６つのピット列位相を実現するものとしているので、６ｎとなる。
【０１２４】
本例において、基準面Ｒｅｆにおけるサーボ用レーザ光による情報再生及びサーボ制御は、ＤＶＤ（Digital Versatile Disc）の場合と同様の波長λ＝６５０nm程度、開口数ＮＡ＝０．６５程度の条件で行うものとしている。このことに対応して本例では、各ピット形成可能位置の区間長はＤＶＤにおける最短マークと同じ３Ｔ分（Ｔはチャネルビット）の区間長とし、またピット列形成方向におけるＡ〜Ｆの各ピット形成可能位置のエッジ間の間隔も、同様の３Ｔ分の長さに設定している。つまりこのことによると、ｎ＝６Ｔとなる。
この結果、上記１）２）の条件が満たされるものとなっている。
【０１２５】
ここで、基準面Ｒｅｆ全体におけるピットの形成態様について理解するために、図６を参照してより具体的なピット列の形成手法について説明する。
なお図６では、図示の都合上、ピット列の種類（位相）がＡ〜Ｃの３種のみとされた場合を例示している。
また図中において、黒丸はピット形成可能位置を表す。
【０１２６】
この図６を参照して分かるように、バルク型記録媒体１の基準面Ｒｅｆにおいては、それぞれ位相の異なる複数種のピット列（図６ではＡ〜Ｃの３種としているが実際にはＡ〜Ｆの６種となる）を１セットとし、該複数種のピット列の１セットがスパイラル状に形成されている。
このことで、上記複数種のピット列のうちの所要の１種のピット列を対象としたトラッキングサーボをかけ続けることで、スポット位置はスパイラル状の軌跡を描くことになる。
【０１２７】
また、基準面Ｒｅｆにおいて、ピットは、ＣＡＶ（Constant Angular Velocity）方式により形成されたものとなる。このことから、図示するように複数種のピット列の個々は、半径方向において、そのピットの形成位置（ピットの形成可能位置）が同じ角度位置に揃えられるものとなる。
【０１２８】
ここで、このように基準面ＲｅｆにてピットをＣＡＶ方式で記録するのは、ディスク上のどの領域においても図５に示したようなＡ〜Ｆの各ピット列の位相関係が保たれるようにするためである。
【０１２９】
［2-3．アドレス情報について］
続いて、図７により、基準面Ｒｅｆに記録されるアドレス情報のフォーマットの一例について説明する。
なお、以下、図１０までの説明においては、便宜上、トラッキングエラー信号（個々のトラッキングエラー信号）としてはプッシュプル信号に基づく信号を生成することを前提とする。後の説明により明らかとなるように、実際の構成では、トラッキングエラー信号としてｓｕｍ信号（和信号）に基づく信号を生成することになる。
【０１３０】
図７において、先ず図７（ａ）は、それぞれ異なるピット列位相を有するようにされた各ピット列（Ａ〜Ｆ）のピット形成可能位置の関係を模式化して示している。なお図７（ａ）においては「＊」マークによりピット形成可能位置を表している。
【０１３１】
ここで、後述もするように、実施の形態では、これらＡ〜Ｆのピット列のうちから１つのピット列を選択し、該選択した１つのピット列を対象としてトラッキングサーボをかけるようにされている。
但し、このとき問題となるのは、Ａ〜Ｆの各ピット列は半径方向において光学限界を超えたピッチで配列されているという点である。すなわち、この場合においてサーボ用レーザ光の照射スポットがトラック上を移動（走査）して得られるトラッキングエラー信号（プッシュプル信号）としては、Ａ〜Ｆの全てのピットを反映したものとなってしまうので、該トラッキングエラー信号に基づきトラッキングサーボをかけたとしても、選択した１つのピット列を追従することはできない。
このため、実施の形態では、選択したピット列におけるピット形成可能位置のタイミングにおけるトラッキングエラー信号をサンプルし、該サンプルしたトラッキングエラー信号の値に基づいて（いわば間欠的に）トラッキングサーボをかけるということをその基本概念とする。
【０１３２】
そして、これと同様に、アドレス情報を読む場合にも、選択したピット列に記録される情報のみが選択的に読み出されるように、該選択したピット列のピット形成可能位置のタイミングにおける和信号（ｓｕｍ信号）をサンプルし、その値に基づいてアドレス情報を検出するという手法を採る。
【０１３３】
このような情報検出の手法に対応するため、本例では、ピット形成可能位置におけるピットの形成有無により、チャネルビット（記録符号）の「０」「１」を表現するフォーマットを採用するものとしている。すなわち、１つのピット形成可能位置が、１チャネルビット分の情報を担うものである。
【０１３４】
その上で、このようなチャネルビットの複数個による「０」「１」のデータパターンにより、データビットの１ビットを表現するものとしている。
具体的に本例では、図７（ｂ）に示されるように、チャネルビット４つ分でデータビットの「０」「１」を表現するものとし、例えば４チャネルビットのパターン「１０１１」がデータビット「０」、４チャネルビットのパターン「１１０１」がデータビット「１」を表すものとしている。
【０１３５】
このとき重要であるのは、チャネルビット「０」が連続しないという点である。つまり、チャネルビット「０」が連続してしまうということは、上述のようにトラッキングエラー信号を間欠的に用いてサーボを行うということを基本としたときに、エラー信号が得られない期間が連続してしまうということ意味するので、これに伴い、トラッキングサーボの精度を確保することが非常に困難となってしまうためである。
このため本例では、例えば上記のようなデータビットの定義により、チャネルビット「０」が連続しないという条件が満たされるようにしている。すなわち上記のようなデータビットの定義により、トラッキングサーボの精度低下が最小限に抑えられるようにしているものである。
【０１３６】
図７（ｃ）は、シンクパターンの一例を示している。
例えばシンクパターンについては、図示するように１２チャネルビットで表現するものとし、前半の８ビットを上記データビットの定義に当てはまらないチャネルビットパターン「１１１１１１１１」とし、その後の４チャネルビットのパターンでシンクの別（種類）を表すものとしている。具体的に、上記８ビットに続く４チャネルビットのパターンが「１０１１」であればＳｙｎｃ１、「１１０１」であればＳｙｎｃ２としている。
【０１３７】
バルク型記録媒体１においては、アドレス情報が、上記のようなシンクの後に続けて記録されているものとする。
ここで前述もしたように、アドレス情報としては、ディスク上の絶対位置情報（半径位置の情報、及び回転角度情報）を記録する。
なお確認のために述べておくと、本例では従来限界の１トラック幅内にＡ〜Ｆの複数本のピット列を配列するものとしているが、アドレス情報の記録は、各ピット列の半径位置が個別に表されるように（各ピット列の識別が可能となるように）、ピット列ごとに個別の情報が割り振られるようにして行う。すなわち、従来限界の１トラック幅内に配列されるＡ〜Ｆの各ピット列に対し同じアドレス情報を記録するものではない。
【０１３８】
なお、図７の説明からも理解されるように、バルク型記録媒体１における基準面Ｒｅｆに対しては、ピットがポジション記録されていることになる。ポジション記録とは、ピット（或いはマーク）の形成部分をチャネルデータ「１」、それ以外の部分をチャネルデータ「０」とする記録手法を指すものである。
【０１３９】
［2-4．サーボ対象ピット列の選択手法］
上記のように従来の１トラック幅内に複数配列されるようにして形成されたピット列のうちから、任意のピット例を対象としてトラッキングサーボをかけるための手法は、具体的には以下で説明する手法をその基本とする。
【０１４０】
図８は、バルク型記録媒体１の回転駆動に伴い基準面Ｒｅｆ上をサーボ用レーザ光のスポットが移動する様子と、その際に得られるｓｕｍ信号、ｓｕｍ微分信号、及びプッシュプル信号ＰＰ（ＰＰ信号とも表記する）の波形との関係を模式的に示している。
上記ｓｕｍ信号は、図２に示した第２受光部２９としての複数の受光素子からの受光信号ＤＴ-svの和信号であり、上記ｓｕｍ微分信号はｓｕｍ信号を微分して得られる信号である。
ここで、この図では説明の便宜上、図中の各ピット形成可能位置の全てにピットが形成されているものとする。
【０１４１】
図示するようにして、バルク型記録媒体１の回転に伴いサーボ用レーザ光のビームスポットが移動することに伴っては、ｓｕｍ信号は、Ａ〜Ｆの各ピットのピット列形成方向における配置間隔に応じた周期でその信号レベルがピークを迎えることになる。つまりこのｓｕｍ信号は、Ａ〜Ｆの各ピットのピット列形成方向における間隔（形成周期）を表していることになる。
【０１４２】
ここで、この図の例ではサーボ用レーザ光のスポットがピット列Ａ上に沿って移動するものとしているので、上記ｓｕｍ信号は、ピット列形成方向におけるピットＡの形成位置の通過時にピーク値が最大（絶対値）となり、またピットＢ〜ピットＤの各形成位置にかけて徐々にピーク値が減少していく傾向となる。そしてその後、ピットＥの形成位置→ピットＦの形成位置の順でピーク値は上昇傾向に転じ、再びピットＡの形成位置に至ることでピーク値が最大となる。すなわち、ピット列形成方向における上記ピットＥ、Ｆの形成位置においては、外周側に隣接するピット列Ｅ、Ｆにおけるピットの影響を受けるので、ｓｕｍ信号のピーク値はピットＥ、Ｆの形成位置ごとで順に上昇することになる。
【０１４３】
また、上記ｓｕｍ信号を微分して生成されるｓｕｍ微分信号、及びトラッキング誤差信号としてのＰＰ信号としては、それぞれ図示するような波形が得られる。
上記ｓｕｍ微分信号は、各ピット列Ａ〜Ｆのピット形成位置（厳密にはピット形成可能位置である）のピット列形成方向における間隔に応じたクロックＣＬＫを生成するために用いられることになる。
【０１４４】
具体的に、クロックＣＬＫとしては、ｓｕｍ微分信号を用いることで、各ピットのセンター位置（ピークポジション）に相当する位置（タイミング）を立ち上がり位置（タイミング）とする信号を生成する。
クロックＣＬＫの生成手法としては、次の図９に示されるように、先ずは所定の閾値Ｔｈ１でｓｕｍ信号をスライスした信号と、同様に所定の閾値Ｔｈ２でｓｕｍ微分信号をスライスした信号とを生成する。そして、これらのＡＮＤをとることで、上記ピークポジションに相当する立ち上がりタイミングを有するタイミング信号を生成する。
クロックＣＬＫは、このように生成したタイミング信号を入力信号（参照信号）としたＰＬＬ（Phase Locked Loop）処理を行うことで生成する。
【０１４５】
図１０は、上記の手順により生成されたクロックＣＬＫと、該クロックＣＬＫに基づき生成された各selector信号の波形と、基準面Ｒｅｆに形成された各ピット列（の一部）との関係を模式化して示している。
この図からも明らかなように、クロックＣＬＫとしては、ピットＡ〜Ｆの形成間隔に応じた周期を有する信号となる。具体的には、ピットＡ〜Ｆのピークポジションにその立ち上がりタイミングを有する信号となる。
【０１４６】
このようなクロックＣＬＫから、Ａ〜Ｆの個々のピット形成可能位置のタイミングを表す６種のselector信号を生成する。
具体的にこれらselector信号としては、それぞれ上記クロックＣＬＫを１／６に分周して生成されたものとなっており、且つそれぞれの位相が１／６周期ずつずれたものとなっている。換言すれば、これら各selector信号は、それぞれの立ち上がりタイミングが１／６周期ずつずれたものとなるように、クロックＣＬＫをそれぞれのタイミングで１／６に分周して生成されるものである。
【０１４７】
これらselector信号は、それぞれ、Ａ〜Ｆの対応するピット列のピット形成可能位置のタイミングを表す信号となる。従って、これらselector信号を生成した上で、任意のselector信号を選択し、該選択したselector信号が表すタイミングでトラッキングエラー信号（プッシュプル信号）をサンプルホールドすることで、Ａ〜Ｆのうちの１つのピット列に追従するためのトラッキングエラー信号を得ることができる。すなわち、このように生成したトラッキングエラー信号に基づき対物レンズ２０についてのトラッキングサーボ制御を行うことで、Ａ〜Ｆのピット列のうちの任意のピット列（つまりトラック）上にサーボ用レーザ光のスポットをトレースさせることが可能となる。
【０１４８】
［2-5．プッシュプル信号をサンプリングする手法の問題点とその対策］
ここで、上記の説明では、サーボ対象として任意のピット列を選択するにあたり、そのためのトラッキングエラー信号としてプッシュプル信号をサンプルホールドした信号を用いるものとしたが、このようにプッシュプル信号を用いる場合には、いわゆるチルト（skew）や対物レンズ２０のレンズシフトに起因して、正確なトラッキング誤差情報を得ることができない虞がある。
【０１４９】
図１１は、チルトやレンズシフトに伴う反射光の受光スポット位置ずれについて説明するための図であり、図１１（ａ）はチルト・レンズシフトが生じていない理想状態における第２受光部２９上の反射光スポット（受光スポット）を示し、図１１（ｂ）はチルト・レンズシフトが生じた場合における第２受光部２９上の反射光スポットを示している。
なおこれら図１１（ａ）（ｂ）において、反射光スポット内に示した斜線部は、ディスク上に形成されたピットからの一次回折光成分の重畳領域（プッシュプル信号成分重畳領域）を表している。
【０１５０】
先ず前提として、プッシュプル信号（ＰＰ）は、図中の受光素子Ａ，Ｂの組及び受光素子Ｃ，Ｄの組がそれぞれディスクの半径方向に対応する方向に隣接する組であるとした場合、
ＰＰ＝（Ａi＋Ｂi）−（Ｃi＋Ｄi） ・・・［式１］
により計算されるものである。但し［式１］において、Ａi，Ｂi，Ｃi，Ｄiはそれぞれ受光素子Ａ，Ｂ，Ｃ，Ｄの受光信号である。
【０１５１】
ここで、サーボ用レーザ光の照射スポットは、対象とするピット列上を正確にトレースしていると仮定する。その場合において、チルト・レンズシフトが生じていない図１１（ａ）の理想状態であれば、上記[式１]に従って計算されるプッシュプル信号ＰＰの値は「０」となる。
これに対し、図１１（ｂ）に示すようなチルト・レンズシフトに伴う反射光スポット位置ずれが生じている場合、[式１]により計算されるプッシュプル信号ＰＰの値は、本来得られるべき「０」とは異なる値となってしまい、誤差が生じるものとなる。
【０１５２】
このことからも理解されるように、プッシュプル信号ＰＰには、チルトやレンズシフトに伴うオフセットが生じる。
【０１５３】
このようなチルトやレンズシフトに伴うオフセット成分が無視できる程度であれば、上記で説明したままのトラッキングエラー信号の生成手法は有効であるが、トラッキングサーボ制御の安定性の向上を図るにあたっては、トラッキングエラー信号には上記のようなオフセット成分が重畳しないことが望ましい。
【０１５４】
従来、チルトやレンズシフトに伴うオフセットの影響を回避するためのトラッキングエラー検出手法としては、いわゆる３スポット法が知られているが、該３スポット法は、グレーティング等の光学部品の追加が必要であり、その分、部品コストや調整コストの増加を招く。
また、上記オフセットの影響を回避するためのトラッキングエラー検出手法としてはＤＰＰ（Differential Push Pull）法も知られているが、該ＤＰＰ法としても同様にグレーティング等の追加が必要であり、部品コスト、調整コストの増加を招く。
【０１５５】
これら従来のトラッキングエラー検出手法が有する問題点の解決を図りつつ、チルト・レンズシフトに伴うオフセット成分の影響を回避するために、本例では、以下で説明するようなｓｕｍ信号を用いる手法によりトラッキングエラー信号を生成するものとしている。
【０１５６】
図１２は、ピット列ごとの各トラッキングエラー信号の生成手法について説明するための図である。
なおこの図１２では、基準面Ｒｅｆに形成された各ピット列Ａ〜Ｆと、そのうちのピット列Ｄ上をトレースするようにトラッキングサーボがかけられている状態でのサーボ用レーザ光のスポット位置の移動軌跡（斜線部）と、該サーボ用レーザ光の移動に伴い得られるｓｕｍ信号の波形とを示している。
【０１５７】
例えばこの図１２に示されるように、サーボ用レーザ光のスポットがピット列Ｄ上を正確にトレースしている場合、ｓｕｍ信号の値としては、ピット列Ｄ上のピット形成位置と一致するタイミング（図中ｎ）において最小値をとり、該ピット列Ｄに対する位相差が大となるピット列ほど、そのピット形成位置での値が徐々に大となる傾向となる。
このとき、ｓｕｍ信号の値は、ピット列Ｄに対しそれぞれ隣接する（つまり同じ位相差を有する）ピット列Ｃ、ピット列Ｅのそれぞれのピット形成位置と一致するタイミング（図中ｎ−１、ｎ＋１）にて同じ値をとり、また、ピット列Ｄに対しそれぞれ同じ距離（半径方向における距離）だけ離間した（つまり同じ位相差を有する）ピット列Ｂ、ピット列Ｆのそれぞれのピット形成位置と一致するタイミング（図中ｎ−２、ｎ＋２）においても同じ値をとることになる。
【０１５８】
ここで、図中に示す状態とは異なり、サーボ用レーザ光のスポットがピット列Ｄ上から半径方向にずれた位置をトレースしたとすると、上記ピット列Ｄに対する位相差が等しいそれぞれのピット列の組における各ピット形成位置でのｓｕｍ信号の値には、ずれが生じることが分かる。
つまりこのことからも理解されるように、トラッキングサーボの対象とするピット列に対する位相差が等しい各ピット列の組における各ピット形成位置でのｓｕｍ信号の値は、上記トラッキングサーボの対象とするピット列に対するトラッキング方向の誤差を反映していることになる。具体的に、トラッキング誤差情報は、上記位相差が等しい各ピット列の組における各ピット形成位置でのｓｕｍ信号の値の差分を計算することで得ることができる。
【０１５９】
この点を踏まえ本例では、具体的に以下のようにしてｓｕｍ信号に基づくトラッキングエラー信号の生成を行う。
すなわち、先ずは、トラッキング誤差の検出対象としたいピット列に対して位相差が等しい２つのピット列を選出する。具体的に本例の場合は、対象とするピット列にそれぞれ隣接するピット列を選出するものとする。
その上で、これら選出した各ピット列のピット形成可能位置に対応するタイミング（図１２におけるｎ−１とｎ＋１が該当）で、ｓｕｍ信号の値をサンプリングし、それらサンプリングしたｓｕｍ信号の値の差分を計算する。該計算結果が、トラッキング誤差の検出対象としたいピット列についてのトラッキングエラー信号となる。
【０１６０】
［2-6．線形トラッキング誤差信号の生成手法］
上記のような手法により、ピット列Ａ〜Ｆの各ピット列ごとのトラッキングエラー信号を生成することができる。
ここで、本例では、これらピット列Ａ〜Ｆが従来の１トラック幅内に形成されていることから、ピット列Ａ〜Ｆとしての各位相のピット列ごとのトラッキングエラー信号は、同時並行的に生成することができる。つまり、ピット列Ａ〜Ｆの個々について、上記手法によるトラッキングエラー信号の生成を個々に行うトラッキングエラー信号生成部を設けることで、ピット列Ａ〜Ｆの個々についてのトラッキングエラー信号を同時並行して得ることができるものである。
以下、このように同時並行的に得ることのできる、ピット列Ａ,Ｂ,Ｃ,Ｄ,Ｅ,Ｆについての個々のトラッキングエラー信号のことを、それぞれトラッキングエラー信号ＴＥ_Ａ,ＴＥ_Ｂ,ＴＥ_Ｃ,ＴＥ_Ｄ,ＴＥ_Ｅ,ＴＥ_Ｆと表記する。
【０１６１】
本実施の形態では、これらトラッキングエラー信号ＴＥ_Ａ〜ＴＥ_Ｆを同時並行的に得るようにした上で、前述したスポット位置ずれに伴ってサーボ用レーザ光のスポット位置が半径方向に変位する際に、これらトラッキングエラー信号ＴＥ_Ａ〜ＴＥ_Ｆのゼロクロス点近傍の波形を順次繋ぎ合わせるようにすることで、線形トラッキング誤差信号を得る。
【０１６２】
図１３は、サーボ用レーザ光のスポット位置が半径方向に変位する際に得られるトラッキングエラー信号ＴＥ_Ａ〜ＴＥ_Ｆの各波形を示している。
この図１３を参照して分かるように、前述したスポット位置ずれに起因してサーボ用レーザ光のスポット位置が半径方向に変位される際には、トラッキングエラー信号ＴＥ_Ａ〜ＴＥ_Ｆの個々は、正弦波状に変化する。この場合、ピット列は１トラック幅内に６つ配列されるので、これらトラッキングエラー信号ＴＥ_Ａ〜ＴＥ_Ｆの位相は、図のように６０°ずつずれた関係となる。
【０１６３】
ここで、仮に、ピット列Ａを対象としたトラッキングサーボがかけられているとすると、スポット位置は、図中に示すトラッキングエラー信号ＴＥ_Ａ上において、その負→正のゼロクロス点にあると表現することができる。
そしてその状態から、前述のスポット位置ずれに伴う制御目標値の変化によりスポット位置が徐々に半径方向に変位していくとすると、トラッキングエラー信号ＴＥ_Ａの振幅が徐々に上昇していくことになる。
このとき、図中時点ｔ１としての、スポット位置がピット列Ａ上から１／１２トラック分（３０°）移動した時点では、ピット列Ａに隣接するピット列Ｂに対するトラッキング誤差を表すトラッキングエラー信号ＴＥ_Ｂの振幅値（絶対値）が、トラッキングエラー信号ＴＥ_Ａの振幅値（絶対値）と一致することが分かる。つまりこの時点ｔ１は、スポット位置が、半径方向におけるピット列Ａとピット列Ｂとの中間点に至った時点となる。
以降も同様に、図中の時点ｔ２はピット列Ｂとピット列Ｃとの中間点、時点ｔ３はピット列Ｃとピット列Ｄとの中間点、時点ｔ４はピット列Ｄとピット列Ｅとの中間点、時点ｔ５はピット列Ｅとピット列Ｆとの中間点、時点ｔ６はピット列Ｆとピット列Ａとの中間点を表すものとなる。
【０１６４】
この点からも理解されるように、スポット位置が半径方向に変位していく状態では、図中の黒太線で表すように、スポット位置が各エラー信号ＴＥ_Ａ〜ＴＥ_Ｆの直線区間（ゼロクロス点近傍の区間）を順次通過していくことになる。
【０１６５】
本実施の形態ではこの点に着目して、次の図１４に示すように、スポット位置が半径方向に移動していく際の各トラッキングエラー信号ＴＥ_Ａ〜ＴＥ_Ｆのゼロクロス点近傍の波形を繋ぎ合わせることで、１／２トラック幅以上のトラッキング誤差を線形に表すことのできる線形トラッキング誤差信号を生成する。
なお、図１４では、最初にサーボＯＮとしたピット列（つまりサーボ対象とするピット列）がピット列Ｄとされた場合での線形トラッキング誤差信号の生成イメージを示している。
【０１６６】
図１５は、図１４に示したような線形トラッキング誤差信号（以下、リニアエラー信号とも称する）の具体的な生成手法について説明するための図である。
なお、この図１５においては、サーボ用レーザ光のスポット位置が半径方向に移動している際に得られるトラッキングエラー信号ＴＥ_Ａ〜ＴＥ_Ｆの波形を示している。
【０１６７】
先ず、図１５を参照して分かるように、スポット位置が半径方向に移動することに応じては、時間経過と共に、トラッキングエラー信号ＴＥ_Ａ〜ＴＥ_Ｆの振幅の大小関係に変化が生じる。
リニアエラー信号の生成にあたっては、予め、これらトラッキングエラー信号ＴＥ_Ａ〜ＴＥ_Ｆの振幅の大小関係の別ごとにｃａｓｅ分けをしておく。具体的にこの場合は、ピット列位相が６種とされることに応じ、ｃａｓｅとしてはｃａｓｅ１〜ｃａｓｅ１２に分けられることになる。
これらｃａｓｅ１〜ｃａｓｅ１２の定義は、トラッキングエラー信号ＴＥ_Ａ〜ＴＥ_Ｆの振幅をＡ〜Ｆとすると、以下に表すものとなる。
ｃａｓｅ１：Ｅ＜Ｆ＜Ｄ＜Ａ＜Ｃ＜Ｂ
ｃａｓｅ２：Ｅ＜Ｄ＜Ｆ＜Ｃ＜Ａ＜Ｂ
ｃａｓｅ３：Ｄ＜Ｅ＜Ｃ＜Ｆ＜Ｂ＜Ａ
ｃａｓｅ４：Ｄ＜Ｃ＜Ｅ＜Ｂ＜Ｆ＜Ａ
ｃａｓｅ５：Ｃ＜Ｄ＜Ｂ＜Ｅ＜Ａ＜Ｆ
ｃａｓｅ６：Ｃ＜Ｂ＜Ｄ＜Ａ＜Ｅ＜Ｆ
ｃａｓｅ７：Ｂ＜Ｃ＜Ａ＜Ｄ＜Ｆ＜Ｅ
ｃａｓｅ８：Ｂ＜Ａ＜Ｃ＜Ｆ＜Ｄ＜Ｅ
ｃａｓｅ９：Ａ＜Ｂ＜Ｆ＜Ｃ＜Ｅ＜Ｄ
ｃａｓｅ１０：Ａ＜Ｆ＜Ｂ＜Ｅ＜Ｃ＜Ｄ
ｃａｓｅ１１：Ｆ＜Ａ＜Ｅ＜Ｂ＜Ｄ＜Ｃ
ｃａｓｅ１２：Ｆ＜Ｅ＜Ａ＜Ｄ＜Ｂ＜Ｃ
【０１６８】
本例では、各トラッキングエラー信号ＴＥ_Ａ〜ＴＥ_Ｆの振幅を逐次モニタし、上記のように定義される各ｃａｓｅの別を判定する。そして、このように判定したｃａｓｅごとに、以下で示す計算を行うことにより、リニアエラー信号を生成する。
なお、以下で示す計算例は、図１５に示されるように最初にサーボＯＮとしたピット列がピット列Ｄとされた場合を前提としている。換言すれば、当該ピット列Ｄ上にスポットが位置している状態がリニアエラー信号のゼロ点であることを前提としている。
ここで、下記計算例において、Ｐ(ｎ)は各時刻におけるリニアエラー信号の出力値を表し、Ａ〜Ｆはそれぞれトラッキングエラー信号ＴＥ_Ａ〜ＴＥ_Ｆの振幅値を表す。
また、Ｐprevは、直前のｃａｓｅからの切り替わりタイミングにおける、当該直前のｃａｓｅで選択されていたトラッキングエラー信号ＴＥ（ＴＥ_Ａ〜ＴＥ_Ｆの何れか）の振幅値を表すものである。
さらに、ＨＰＫは、ｃａｓｅの切り替わりタイミングにおける、当該ｃａｓｅの切り替わりに応じて新たに選択されたトラッキングエラー信号ＴＥ（ＴＥ_Ａ〜ＴＥ_Ｆの何れか）の振幅値を表すものである。
ｃａｓｅ１・・・Ｐ(ｎ)＝Ｐprev＋Ｄ
ｃａｓｅ２・・・Ｐ(ｎ)＝Ｐprev−ＨＰＫ＋Ｃ
ｃａｓｅ３・・・Ｐ(ｎ)＝Ｐprev＋Ｃ
ｃａｓｅ４・・・Ｐ(ｎ)＝Ｐprev−ＨＰＫ＋Ｂ
ｃａｓｅ５・・・Ｐ(ｎ)＝Ｐprev＋Ｂ
ｃａｓｅ６・・・Ｐ(ｎ)＝Ｐprev−ＨＰＫ＋Ａ
ｃａｓｅ７・・・Ｐ(ｎ)＝Ｐprev＋Ａ
ｃａｓｅ８・・・Ｐ(ｎ)＝Ｐprev−ＨＰＫ＋Ｆ
ｃａｓｅ９・・・Ｐ(ｎ)＝Ｐprev＋Ｆ
ｃａｓｅ１０・・・Ｐ(ｎ)＝Ｐprev−ＨＰＫ＋Ｅ
ｃａｓｅ１１・・・Ｐ(ｎ)＝Ｐprev＋Ｅ
ｃａｓｅ１２・・・Ｐ(ｎ)＝Ｐprev−ＨＰＫ＋Ｄ
【０１６９】
この計算例を参照して分かるように、本実施の形態では、スポット位置が半径方向に移動する際の各位相のトラッキング誤差信号ＴＥ_Ａ〜ＴＥ_Ｆの振幅の大小関係が変化する所定のタイミングごとに、スポット位置の移動方向側に隣接するピット列についてのトラッキング誤差信号ＴＥを順次繋ぎ合わせていくことで、リニアエラー信号を生成するようにされている。
具体的に、本例では、上記所定のタイミングが、ｃａｓｅ１／ｃａｓｅ２の切り替わりタイミング、ｃａｓｅ３／ｃａｓｅ４の切り替わりタイミング、ｃａｓｅ５／ｃａｓｅ６の切り替わりタイミング、ｃａｓｅ７／ｃａｓｅ８の切り替わりタイミング、ｃａｓｅ９／ｃａｓｅ１０の切り替わりタイミング、ｃａｓｅ１１／ｃａｓｅ１２の切り替わりタイミングとされた上で、これら所定のタイミングごとに、スポット位置の移動方向側に隣接するピット列についてのトラッキングエラー信号ＴＥを順次選択するようにされる。そしてこれと共に、上記所定のタイミングごとに、その時点でリニアエラー信号として出力していた値（Ｐprev）から新たに選択したトラッキングエラー信号ＴＥの上記所定のタイミングでの値（ＨＰＫ）を減算して得た値を基準値（Ｐprev−ＨＰＫ）とし、当該基準値に対して、上記新たに選択したトラッキングエラー信号の値を加算して得た値（Ｐ(ｎ)）を、リニアエラー信号の値として順次出力するようにされている。
【０１７０】
このような手法によって、スポット位置が半径方向（外周方向、内周方向の双方）に移動している状態において、先の図１４に示したような各位相のトラッキングエラー信号ＴＥのゼロクロス点近傍の波形を繋ぎ合わせたものとしてのリニアエラー信号を生成することができる。換言すれば、サーボＯＮしたピット列（トラック）からのトラッキング誤差量が、トラッキングエラー信号ＴＥの折り返しが生じるような誤差量であっても、そのトラッキング誤差量をほぼ線形な形で表すトラッキング誤差信号を生成できるものである。
【０１７１】
このようなリニアエラー信号（トラッキングエラー信号ＴＥ-sv）に基づくトラッキングサーボ制御が行われることで、前述のスポット位置ずれが１／２トラック幅以上に生じるような場合でも、トラッキングサーボが外れないようにすることができる。
【０１７２】
[2-7．信号生成部の具体的構成例]
図１６は、実施の形態の記録装置が備える信号生成部３６の内部構成を主に示した図である。
なお図１６では、先に述べた位置情報（アドレス情報）検出のために実施の形態の記録装置に備えられる構成として、selector信号選択回路５６とアドレス検出回路５７を併せて示している。また、図３に示したコントローラ４４も併せて示している。
【０１７３】
図示するように信号生成部３６内には、マトリスク回路５０、クロック生成回路５１、selector信号生成回路５２、エラー信号生成回路５３、ｃａｓｅ判定回路５４、及びリニアエラー信号生成回路５５が設けられている。
【０１７４】
マトリスク回路５０は、図２に示した第２受光部２９における複数の受光素子からの受光信号ＤＴ-svに基づき、前述したフォーカスエラー信号ＦＥ-sv、及び和信号としてのｓｕｍ信号を生成する。
先に説明したように、フォーカスエラー信号ＦＥ-svは記録時用フォーカスサーボ回路３８に対して供給される。
ｓｕｍ信号は、図示するようにクロック生成回路５１、エラー信号生成回路５３、及びアドレス検出回路５７に対して供給される。
【０１７５】
クロック生成回路５１は、先に説明した手順に従ってクロックＣＬＫを生成する。
図１７は、クロック生成回路５１の内部構成を示している。
図１７において、クロック生成回路５１内にはスライス回路５１Ａ、ｓｕｍ微分回路５１Ｂ、スライス回路５１Ｃ、ＡＮＤゲート回路５１Ｄ、及びＰＬＬ回路５１Ｅが設けられる。
ｓｕｍ信号は、図示するようにスライス回路５１Ａとｓｕｍ微分回路５１Ａとに入力される。スライス回路５１Ａは、設定された閾値Ｔｈ１に基づき上記ｓｕｍ信号をスライスし、その結果を上記ＡＮＤゲート回路５１Ｄに出力する。
上記ｓｕｍ微分回路５１Ｂは、ｓｕｍ信号を微分して先に説明したｓｕｍ微分信号を生成する。上記スライス回路５１Ｃは、設定された閾値Ｔｈ２に基づき、上記ｓｕｍ微分回路５１Ｂにより生成されたｓｕｍ微分信号をスライスし、その結果を上記ＡＮＤゲート回路５１Ｄに出力する。
ＡＮＤゲート回路５１Ｄは、上記スライス回路５１Ａからの出力と上記スライス回路５１Ｃからの出力とのＡＮＤをとり、これによって先に説明したタイミング信号を生成する。
ＰＬＬ回路５１Ｅは、このようにＡＮＤゲート回路５１Ｄで得られたタイミング信号を入力信号としてＰＬＬ処理を行って、クロックＣＬＫを生成する。
【０１７６】
図１６に戻り、クロック生成回路５１により生成されたクロックＣＬＫは、selector信号生成回路５２に対して供給される。
selector信号生成回路５２は、クロックＣＬＫに基づき、Ａ〜Ｆの各ピット列のそれぞれのピット形成可能位置のタイミングを表す６種のselector信号を生成する。具体的にselector信号生成回路５２は、クロックＣＬＫを１／６に分周した信号として、それぞれ位相が１／６周期ずつずれた信号を生成することで、上記６種のselector信号を得る。
以下、これら６種のselector信号についてはそれぞれselector信号Ｓ_Ａ,Ｓ_Ｂ,Ｓ_Ｃ,Ｓ_Ｄ,Ｓ_Ｅ,Ｓ_Ｆと表記する。
【０１７７】
selector信号Ｓ_Ａ〜Ｓ_Ｆは、エラー信号生成回路５３に供給されると共に、selector信号選択回路５６に対しても供給される。
【０１７８】
エラー信号生成回路５３は、上記selector信号Ｓ_Ａ〜Ｓ_Ｆとｓｕｍ信号とに基づき、ピット列Ａ〜Ｆのそれぞれについてのトラッキングエラー信号ＴＥ（ＴＥ_Ａ〜ＴＥ_Ｆ）を生成する。
【０１７９】
図１８は、エラー信号生成回路５３の内部構成を示している。
この図１８を参照して分かるように、エラー信号生成回路５３内には、トラッキングエラー信号ＴＥ_Ａ〜ＴＥ_Ｆとしての６種のエラー信号ＴＥを生成するために、２つのサンプルホールド回路と減算部とによるエラー信号生成部がｓｕｍ信号に対して６つ並列に設けられている。
具体的には、サンプルホールド回路ＳＨ-A1とサンプルホールド回路ＳＨ-A2と減算部５３Ａとによりトラッキングエラー信号ＴＥ_Ａを生成するエラー信号生成部と、サンプルホールド回路ＳＨ-B1とサンプルホールド回路ＳＨ-B2と減算部５３Ｂとによりトラッキングエラー信号ＴＥ_Ｂを生成するエラー信号生成部と、サンプルホールド回路ＳＨ-C1とサンプルホールド回路ＳＨ-C2と減算部５３Ｃとによりトラッキングエラー信号ＴＥ_Ｃを生成するエラー信号生成部と、サンプルホールド回路ＳＨ-D1とサンプルホールド回路ＳＨ-D2と減算部５３Ｄとによりトラッキングエラー信号ＴＥ_Ｄを生成するエラー信号生成部と、サンプルホールド回路ＳＨ-E1とサンプルホールド回路ＳＨ-E2と減算部５３Ｅとによりトラッキングエラー信号ＴＥ_Ｅを生成するエラー信号生成部と、サンプルホールド回路ＳＨ-F1とサンプルホールド回路ＳＨ-F2と減算部５３Ｆとによりトラッキングエラー信号ＴＥ_Ｆを生成するエラー信号生成部とが設けられている。
【０１８０】
サンプルホールド回路ＳＨ-A1はselector信号Ｓ_Ｆが表すタイミングでｓｕｍ信号をサンプルホールドし、サンプルホールド回路ＳＨ-A2はselector信号Ｓ_Ｂが表すタイミングでｓｕｍ信号をサンプルホールドし、減算部５３Ａはサンプルホールド回路ＳＨ-A1の出力からサンプルホールド回路ＳＨ-A2の出力を減算することで、トラッキングエラー信号ＴＥ_Ａを生成する。
また、サンプルホールド回路ＳＨ-B1はselector信号Ｓ_Ａが表すタイミングでｓｕｍ信号をサンプルホールドし、サンプルホールド回路ＳＨ-B2はselector信号Ｓ_Ｃが表すタイミングでｓｕｍ信号をサンプルホールドし、減算部５３Ｂはサンプルホールド回路ＳＨ-B1の出力からサンプルホールド回路ＳＨ-B2の出力を減算することで、トラッキングエラー信号ＴＥ_Ｂを生成する。
また、サンプルホールド回路ＳＨ-C1はselector信号Ｓ_Ｂが表すタイミングでｓｕｍ信号をサンプルホールドし、サンプルホールド回路ＳＨ-C2はselector信号Ｓ_Ｄが表すタイミングでｓｕｍ信号をサンプルホールドし、減算部５３Ｃはサンプルホールド回路ＳＨ-C1の出力からサンプルホールド回路ＳＨ-C2の出力を減算することで、トラッキングエラー信号ＴＥ_Ｃを生成する。
また、サンプルホールド回路ＳＨ-D1はselector信号Ｓ_Ｃが表すタイミングでｓｕｍ信号をサンプルホールドし、サンプルホールド回路ＳＨ-C2はselector信号Ｓ_Ｅが表すタイミングでｓｕｍ信号をサンプルホールドし、減算部５３Ｄはサンプルホールド回路ＳＨ-D1の出力からサンプルホールド回路ＳＨ-D2の出力を減算することで、トラッキングエラー信号ＴＥ_Ｄを生成する。
また、サンプルホールド回路ＳＨ-E1はselector信号Ｓ_Ｄが表すタイミングでｓｕｍ信号をサンプルホールドし、サンプルホールド回路ＳＨ-E2はselector信号Ｓ_Ｆが表すタイミングでｓｕｍ信号をサンプルホールドし、減算部５３Ｅはサンプルホールド回路ＳＨ-E1の出力からサンプルホールド回路ＳＨ-E2の出力を減算することで、トラッキングエラー信号ＴＥ_Ｅを生成する。
また、サンプルホールド回路ＳＨ-F1はselector信号Ｓ_Ｅが表すタイミングでｓｕｍ信号をサンプルホールドし、サンプルホールド回路ＳＨ-F2はselector信号Ｓ_Ａが表すタイミングでｓｕｍ信号をサンプルホールドし、減算部５３Ｆはサンプルホールド回路ＳＨ-F1の出力からサンプルホールド回路ＳＨ-F2の出力を減算することで、トラッキングエラー信号ＴＥ_Ｆを生成する。
【０１８１】
説明を図１６に戻す。
エラー信号生成回路５３により生成されたトラッキングエラー信号ＴＥ_Ａ〜ＴＥ_Ｆは、ｃａｓｅ判定回路５４に供給されると共に、リニアエラー信号生成回路５５にも供給される。
【０１８２】
ｃａｓｅ判定回路５４は、トラッキングエラー信号ＴＥ_Ａ〜ＴＥ_Ｆに基づき、先に説明したｃａｓｅ１〜ｃａｓｅ１２の別を判定し、その判定結果を表す判定信号Ｄｃｓをリニアエラー信号生成回路５５、及びselector信号選択回路５６に供給する。
具体的にこの場合は、各ｃａｓｅの切り替わりタイミングを検出し、上記判定信号Ｄｃｓとしてはｃａｓｅの切り替わりタイミングとｃａｓｅの別とを表す信号を生成・出力する。
【０１８３】
リニアエラー信号生成回路５５は、トラッキングエラー信号ＴＥ_Ａ〜ＴＥ_Ｆと判定信号Ｄｃｓとに基づき、前述したリニアエラー信号を生成する。具体的には、先に計算例として示した各ｃａｓｅごとの計算式のうち、上記判定信号Ｄｃｓが表すｃａｓｅに対応する計算式に従った計算を行うことで、リニアエラー信号としてのトラッキングエラー信号ＴＥ-svを生成する。
なお、リニアエラー信号生成回路５５に対しては、コントローラ４４より、基準面側サーボ制御系のトラッキングサーボがＯＮとされるタイミングに応じてリセット信号が与えられ、リニアエラー信号生成回路５５は当該リセット信号に応じて、上記リニアエラー信号としてのトラッキングエラー信号ＴＥ-svの値を０リセットする。
リニアエラー信号生成回路５５により生成されたトラッキングエラー信号ＴＥ-svは、図３に示される基準面側サーボフィルタ３７に供給される。
【０１８４】
selector信号選択回路５６は、selector信号生成回路５２から供給されるselector信号Ｓ_Ａ〜Ｓ_Ｆのうちから、判定信号Ｄｃｓに基づく１つのselector信号をselector信号Ｓ_Adとして選択し、当該selector信号Ｓ_Adをアドレス検出回路５７に出力する。
具体的に、selector信号選択回路５６は、判定信号Ｄｃｓにより表されるｃａｓｅ１〜ｃａｓｅ１２についての各切り替わりタイミングのうちの所定のタイミングで、selector信号Ｓ_Adとして出力するselector信号Ｓを、それまで出力していたselector信号Ｓに隣接するselector信号Ｓ（つまりそれまで出力していたselector信号Ｓがそのピット形成可能位置のタイミングを表すピット列に対して、スポットの移動方向側に隣接するピット列に対応するselector信号Ｓ）に切り替える。つまり本例の場合は、ｃａｓｅ１／ｃａｓｅ２の切り替わりタイミング、ｃａｓｅ３／ｃａｓｅ４の切り替わりタイミング、ｃａｓｅ５／ｃａｓｅ６の切り替わりタイミング、ｃａｓｅ７／ｃａｓｅ８の切り替わりタイミング、ｃａｓｅ９／ｃａｓｅ１０の切り替わりタイミング、及びｃａｓｅ１１／ｃａｓｅ１２の切り替わりタイミングにおいて、selector信号Ｓ_Adとして出力するselector信号Ｓを、それまで出力していたselector信号Ｓに隣接するselector信号Ｓに切り替える。
【０１８５】
アドレス検出回路５７は、selector信号Ｓ_Adが表すピット形成可能位置のタイミング（この場合はselector信号Ｓ_AdがＨレベルの区間）で、ｓｕｍ信号の値をサンプリングした結果に基づき、基準面Ｒｅｆに記録されたアドレス情報を検出する。
ここで、先の図７を参照して説明したように、本例の場合、各ピット列のアドレス情報は、そのピット列におけるピット形成可能位置でのピット形成有無を１チャネルビットの情報として記録されるものである。これに応じアドレス検出回路５７は、上記selector信号Ｓ_Adの立ち上がりタイミングでｓｕｍ信号の値を識別することで、１チャネルビットの「０」「１」のデータ識別を行い、その結果に基づき、先の図７で説明したフォーマットに従ったアドレスデコード処理を行うことで、記録されたアドレス情報の検出（再生）を行う。
アドレス検出回路５７で検出されたアドレス情報は、コントローラ４４に対して供給される。
【０１８６】
ここで、上記のselector信号選択回路５６の動作によれば、selector信号Ｓ_Adとしては、スポット位置に最寄りのピット列についてのselector信号Ｓが選択されることになる。
これによりアドレス検出回路５７は、スポット位置に最寄りのピット列に記録されたアドレス情報を適正に検出することができる。
【０１８７】
コントローラ４４は、上記のような信号処理部３６の構成に対応して、以下の処理も行うようにされる。
すなわち、コントローラ４４は、サーボ用レーザ光についてのトラッキングサーボに関して、サーボ対象とするピット列をピット列Ａ〜Ｆの何れかに選択する（つまりサーボＯＮとするピット列を選択する）としたときは、リニアエラー信号生成回路５５に対し、トラッキングエラー信号ＴＥ_Ａ〜ＴＥ_Ｆのうちサーボ対象とすべきとして選択したピット列についてのトラッキングエラー信号ＴＥを選択出力するように指示を行う。
また、前述もしたように、このように或るピット列を対象にサーボＯＮしたことに応じては、リニアエラー信号（ＴＥ-sv）の振幅を０リセットするための指示をリニアエラー信号生成回路５５に対して行うことになる。
【０１８８】
上記のような構成により、基準面側サーボ制御系によるトラッキングサーボ制御が、線形トラッキング誤差信号に基づき行われるようにすることができる。これにより、前述したレンズシフト等に伴うサーボ用レーザ光とＡＴＳ光とのスポット位置ずれが１／２トラック幅以上に生じるような場合でもトラッキングサーボが外れないようにできる。つまりこれにより、偏芯等の抑制のために要求されるバルク型記録媒体１の作製精度の緩和が図られるようにでき、その結果、バルク型記録媒体１の製品コストの削減を図ることができる。
【０１８９】
＜３．変形例＞
以上、本発明の実施の形態について説明したが、本発明としてはこれまでで説明した具体例に限定されるべきものではない。
例えばこれまでの説明では、基準面Ｒｅｆに図５や図６に示したようなピット列を形成する場合において、ｓｋｅｗや対物レンズ２０のレンズシフトへの対策として、ｓｕｍ信号のサンプルホールド値の差分によるトラッキングエラー信号ＴＥを生成するものとしたが、ｓｋｅｗやレンズシフトに伴うスポット位置ずれの補正手段を設けるなど、ｓｋｅｗやレンズシフトに伴う影響が無視できるような場合には、トラッキングエラー信号ＴＥとしてプッシュプル信号をサンプルホールドした信号を用いるようにもできる。
【０１９０】
また、これまでの説明では、リニアエラー信号の生成にあたり、先の図１４に示したようにトラッキングエラー信号ＴＥ_Ａ〜ＴＥ_Ｆをそのまま用いる場合を例示したが、リニアエラー信号の生成手法としては、以下のような変形例としての手法も可能である。
【０１９１】
図１９〜図２２は、変形例としてのリニアエラー信号の生成手法について説明するための図である。
先ず、図１９では、スポット位置が半径方向に移動している際に得られるトラッキングエラー信号ＴＥ_Ａ〜ＴＥ_Ｆの波形を示すと共に、該波形図上でピット列Ａの真上にスポットが位置するタイミングとしての時点ｔＡ、及びピット列Ｄの真上にスポットが位置するタイミングとしての時点ｔＤをそれぞれ示している。
また、図２０では、基準面Ｒｅｆ上においてスポットがピット列Ａ上をトレースしている様子（図２０（ａ））とピット列Ｄ上をトレースしている様子（図２０（ｂ））とを示している。
ここで、図２０に示すように、線方向（ピット列形成方向）においてスポットがピット列Ａ上のピット形成可能位置に一致するタイミングをｔｓ１とおく。同様に、線方向においてスポットがピット列Ｂ上、ピット列Ｃ上、ピット列Ｄ上、ピット列Ｅ上、ピット列Ｆ上のピット形成可能位置にそれぞれ一致するタイミングをｔｓ２、ｔｓ２、ｔｓ３、ｔｓ４、ｔｓ５、ｔｓ６とおく。
【０１９２】
先ず、図１９を参照すると、ピット列Ａについてのトラッキングエラー信号ＴＥ_Ａとピット列Ｄについてのトラッキングエラー信号ＴＥ_Ｄとは、その位相が反転した関係、換言すればその極性が逆転した関係となっていることが分かる。すなわち、常にＡ＝−Ｄの関係が得られている。
本変形例は、トラッキングエラー信号ＴＥ_Ａ〜ＴＥ_Ｆのうちに、このように互いの極性が逆の関係となるトラッキングエラー信号ＴＥの組が存在することを利用した手法となる。
【０１９３】
ここで、図２０（ａ）に示すスポットがピット列Ａ上をトレースする状態は、図１９に当て嵌めれば、時点ｔＡでのスポット位置が該当することになる。同様に図２０（ｂ）に示すスポットがピット列Ｄ上をトレースする状態は、図１９における時点ｔＤでのスポット位置が該当する。
つまりこのことからも理解されるように、スポット位置が半径方向に移動することに伴っては、図２０（ａ）に示すスポット位置の状態から図２０（ｂ）に示すスポット位置の状態への遷移（或いは逆の遷移）が生じることになる。
【０１９４】
この点を踏まえた上で、図１９における時点ｔＡ、すなわち図２０（ａ）の状態に相当する状態では、トラッキングエラー信号ＴＥ_Ａは、対象とするピットＡの真上を通過するスポットの反射光に基づき生成されるものとなる。しかしながら、スポット位置が半径方向に移動して時点ｔＤ、つまり図２０（ｂ）に相当する状態となったときは、トラッキングエラー信号ＴＥ_Ａは、対象とするピットＡから最も離れたところにスポットが位置する状態で生成されることになる。
トラッキングエラー信号ＴＥ_Ｄについても同様のことが言え、図１９における時点ｔＤ（図２０（ｂ）に相当する状態）では対象とするピットＤの真上を通過するスポットの反射光に基づき生成できるが、時点ｔＡ（図２０（ａ）に相当する状態）では対象とするピットＤから最も離れたところにスポットが位置する状態で生成されることになる。
【０１９５】
このようにトラッキングエラー信号ＴＥは、スポットが半径方向に変位される状況下では、スポット位置がその対象ピット列から遠ざかると当該対象ピット列から離れたスポットの反射光に基づき生成されるものである。そしてこのとき、対象ピット列から離れた区間では、その値の信頼性が低くなる虞がある。
【０１９６】
ここで、トラッキングエラー信号ＴＥ_Ａ,ＴＥ_Ｄの関係性について見ると、トラッキングエラー信号ＴＥ_Ａは、スポット位置が対象ピット列から最も遠ざかる時点ｔＤにおいて、トラッキングエラー信号ＴＥ_Ｄが対象とするピット列Ｄの真上にスポット位置があることになる。
この点と、上述のようにトラッキングエラー信号ＴＥ_Ａ、ＴＥ_Ｄが逆位相の関係（Ａ＝−Ｄ）である点とを考慮すると、トラッキングエラー信号ＴＥ_Ａについては、対象とするピット列Ａの近傍にスポット位置がある状態ではトラッキングエラー信号ＴＥ_Ａをそのまま使用し、ピット列Ａからスポット位置が遠ざかった状態ではトラッキングエラー信号ＴＥ_Ｄの反転値を使用することとすれば、結果として、トラッキングエラー信号ＴＥ_Ａと同等の波形による信号を、常に、対象ピット列の近傍にスポットがある状態で生成した信号により得ることができる。
【０１９７】
同様のことが、トラッキングエラー信号ＴＥ_Ｃ，ＴＥ_Ｅについても言える。すなわち、トラッキングエラー信号ＴＥ_Ｃについては、これと逆位相の関係となるトラッキングエラー信号ＴＥ_Ｆをペアとして、対象とするピット列Ｃの近傍にスポット位置がある状態ではトラッキングエラー信号ＴＥ_Ｃをそのまま出力し、ピット列Ｃからスポット位置が或る程度遠ざかった状態ではトラッキングエラー信号ＴＥ_Ｆの反転値を出力する。
また、トラッキングエラー信号ＴＥ_Ｅについてはこれと逆位相の関係となるトラッキングエラー信号ＴＥ_Ｂをペアとして、対象とするピット列Ｅの近傍にスポット位置がある状態ではトラッキングエラー信号ＴＥ_Ｅをそのまま出力し、ピット列Ｅからスポット位置が或る程度遠ざかった状態ではトラッキングエラー信号ＴＥ_Ｂの反転値を出力する。
【０１９８】
ここで、上記のようにトラッキングエラー信号ＴＥ_Ａ，ＴＥ_Ｄの組、トラッキングエラー信号ＴＥ_Ｅ,ＴＥ_Ｂの組、トラッキングエラー信号ＴＥ_Ｃ，ＴＥ_Ｆの組をそれぞれ用いて生成するトラッキングエラー信号ＴＥを、それぞれトラッキングエラー信号ＴＥ_ｐ、ＴＥ_ｑ、ＴＥ_ｒとおく。
これらの波形は、図２１に示すものとなる。
【０１９９】
これらトラッキングエラー信号ＴＥ_ｐ、ＴＥ_ｑ、ＴＥ_ｒの具体的な生成手法を以下に示す。
なお下記の計算式において、ｓ１〜ｓ６は、図２０に示したタイミングｔｓ１〜ｔｓ６でのｓｕｍ信号の振幅値を表す。
また、Ａはトラッキングエラー信号ＴＥ_Ａの振幅値、Ｄはトラッキングエラー信号ＴＥ_Ｄの振幅値である。同様にＥ、Ｂ、Ｃ、Ｆはトラッキングエラー信号ＴＥ_Ｅ、ＴＥ_Ｂ、ＴＥ_Ｃ、ＴＥ_Ｆの振幅値をそれぞれ表す。
ｓ１＜ｓ４ → ＴＥ_ｐ＝Ａ
ｓ１≧ｓ４ → ＴＥ_ｐ＝−Ｄ
ｓ５＜ｓ２ → ＴＥ_ｑ＝Ｅ
ｓ５≧ｓ２ → ＴＥ_ｑ＝−Ｂ
ｓ３＜ｓ６ → ＴＥ_ｒ＝Ｃ
ｓ３≧ｓ６ → ＴＥ_ｒ＝−Ｆ
【０２００】
なお、トラッキングエラー信号ＴＥ_ｐ、ＴＥ_ｑ、ＴＥ_ｒの生成手法は上記に限定されるものでなく、例えば、
ｓ６＋ｓ２＜ｓ３＋ｓ５ → ＴＥ_ｐ＝Ａ
ｓ６＋ｓ２≧ｓ３＋ｓ５ → ＴＥ_ｐ＝−Ｄ
などのようにすることもできる。
【０２０１】
図２２は、トラッキングエラー信号ＴＥ_ｐ、ＴＥ_ｑ、ＴＥ_ｒを用いた変形例としてのリニアエラー信号の具体的生成手法について説明するための図である。
先ず、この場合も各エラー信号ＴＥの振幅大小関係の別ごとにｃａｓｅ分けを行う。具体的にこの場合は、使用するエラー信号ＴＥの位相の種類が３つとされることに応じ、ｃａｓｅとしてはｃａｓｅ２１〜ｃａｓｅ２６の６つに分けられることになる。
これらｃａｓｅ２１〜ｃａｓｅ２６の定義は、トラッキングエラー信号ＴＥ_ｐ、ＴＥ_ｑ、ＴＥ_ｒの振幅をそれぞれｐ、ｑ、ｒとすると以下のようになる。
ｃａｓｅ２１：ｐ＜ｑ＜ｒ
ｃａｓｅ２２：ｑ＜ｐ＜ｒ
ｃａｓｅ２３：ｑ＜ｒ＜ｐ
ｃａｓｅ２４：ｒ＜ｑ＜ｐ
ｃａｓｅ２５：ｒ＜ｐ＜ｑ
ｃａｓｅ２６：ｐ＜ｒ＜ｑ
【０２０２】
本変形例では、トラッキングエラー信号ＴＥ_ｐ、ＴＥ_ｑ、ＴＥ_ｒの振幅を逐次モニタして上記定義による各ｃａｓｅの判定を行う。そして、このように判定したｃａｓｅごとに以下で示す計算を行うことで、リニアエラー信号を生成する。
なお、以下の計算例においては、最初にサーボＯＮとしたピット列がピット列Ｅとされ、当該ピット列Ｅ上にスポットが位置している状態がリニアエラー信号のゼロ点に設定される場合を前提としている。
また下記計算例において、Ｐ(ｎ)、Ｐprev、及びＨＰＫの定義については実施の形態の場合と同様である。
ｃａｓｅ２１・・・Ｐ(ｎ)＝Ｐprev＋ｑ
ｃａｓｅ２２・・・Ｐ(ｎ)＝Ｐprev−ＨＰＫ−ｐ
ｃａｓｅ２３・・・Ｐ(ｎ)＝Ｐprev−ＨＰＫ＋ｒ
ｃａｓｅ２４・・・Ｐ(ｎ)＝Ｐprev−ＨＰＫ−ｑ
ｃａｓｅ２５・・・Ｐ(ｎ)＝Ｐprev−ＨＰＫ＋ｐ
ｃａｓｅ２６・・・Ｐ(ｎ)＝Ｐprev−ＨＰＫ−ｒ
【０２０３】
このようにして変形例のリニアエラー信号生成手法としても、スポット位置が半径方向に移動する際の各位相のトラッキング誤差信号ＴＥの振幅の大小関係が変化する所定のタイミングごとに、スポット位置の移動方向側に隣接するピット列についてのトラッキング誤差信号ＴＥを順次繋ぎ合わせていくことでリニアエラー信号を生成する手法であることが分かる。
具体的に、変形例の場合は、スポット位置が半径方向に移動する際の各位相のトラッキング誤差信号ＴＥの振幅の大小関係の変化が生じるごとに、スポット位置の移動方向側に隣接するピット列についてのトラッキングエラー信号ＴＥ（ＴＥ_ｑはピット列Ｅ、ＴＥ_ｒはピット列Ｃ、ＴＥ_ｐはピット列Ａをそれぞれ対象とするものである）を順次選択するものとしている。そしてこれと共に、上記振幅の大小関係の変化が生じるタイミング（上記所定のタイミング）ごとに、その時点でリニアエラー信号として出力していた値（Ｐprev）から新たに選択したトラッキングエラー信号ＴＥの上記所定のタイミングでの値（ＨＰＫ）を減算して得た値を基準値（Ｐprev−ＨＰＫ）とし、当該基準値に対して、上記新たに選択したトラッキングエラー信号ＴＥの値を加算して得た値（Ｐ(ｎ)）を、リニアエラー信号の値として順次出力するようにされている。
【０２０４】
なおこのような変形例としてのリニアエラー信号の生成手法について、図２２と先の図１４とを対比すると、ｃａｓｅ２１で選択されるトラッキングエラー信号ＴＥ_ｑはトラッキングエラー信号ＴＥ_Ｅに相当し、ｃａｓｅ２４で選択されるトラッキングエラー信号ＴＥ_ｑはトラッキングエラー信号ＴＥ_Ｂに相当するものであることが分かる。また、ｃａｓｅ２２で選択されるトラッキングエラー信号ＴＥ_ｐはトラッキングエラー信号ＴＥ_Ｄに相当しｃａｓｅ２５で選択されるトラッキングエラー信号ＴＥ_ｐはトラッキングエラー信号ＴＥ_Ａに相当するものであり、さらに、ｃａｓｅ２３で選択されるトラッキングエラー信号ＴＥ_ｒはトラッキングエラー信号ＴＥ_Ｃに相当しｃａｓｅ２６で選択されるトラッキングエラー信号ＴＥ_ｒはトラッキングエラー信号ＴＥ_Ｆに相当するものであることが分かる。
このことからも理解されるように、変形例のリニアエラー信号生成手法としても、基準面Ｒｅｆに形成された各位相のピット列Ａ〜Ｆのそれぞれ対応するトラッキングエラー信号ＴＥ_Ａ〜ＴＥ_Ｆの、それぞれのゼロクロス点近傍の波形を繋ぎ合わせる手法に該当するものである。
【０２０５】
上記により説明した変形例としてのエラー信号生成手法によれば、トラッキングエラー信号ＴＥとしてプッシュプル信号をサンプルホールドした信号を用いる場合に、各トラッキングエラー信号ＴＥとしてより対象ピット列に近い位置にスポットがある状態でサンプルホールドした信号を用いることができるので、アドレス変調によってピットの無い部分が生じる場合にもより信頼性の高いトラッキングエラー信号ＴＥを得ることができる。
【０２０６】
また、これまでの説明では、基準面Ｒｅｆにおいて各ピット列がそれぞれ従来の１トラック幅によるピッチでスパイラル状に形成されることに対応して、或るピット列を対象としたトラッキングサーボをかけ続けることで、スポット位置がスパイラル状に移動されるようにする場合を例示したが、例えば以下で説明するような手法を採ることで、スポット位置を任意のピッチによるスパイラル状に移動させることもできる。
すなわち、所定の傾きを有するオフセット信号を、基準面側サーボ制御系のトラッキングサーボループに対して付与することで、スポット位置を半径方向に徐々に変位させていくというものである。このとき、上記オフセット信号の傾きの設定により、スパイラルピッチを任意に設定できる。
なおこのことは、基準面Ｒｅｆにおける各ピット列を、スパイラル状でなく同心円状に形成しても、バルク層５内にマーク列をスパイラル状に記録できるということを意味する。
【０２０７】
また、これまでの説明では、それぞれが異なるピット列位相を有する複数のピット列として、Ａ〜Ｆの計６つを設定するものとし、半径方向においてはこれら６つのパターン（ピット列位相）によるピット列が繰り返し形成されるものとしたが、上記複数のピット列の数は６つに限定されるべきものではなく、より多くの本数、或いはより少ない本数とすることもできる。
【０２０８】
また、ピット列における各ピット形成可能位置の区間長は３Ｔ分の区間長とし、またピット列形成方向における各ピット形成可能位置のエッジ間の間隔も同様の３Ｔ分の長さに設定する（つまりｎ＝６Ｔに設定する）場合を例示したが、これらはあくまで一例を示したものに過ぎない。これら各ピット形成可能位置の区間長、及びピット列形成方向における各ピット形成可能位置のエッジ間の間隔については、先に挙げた１）２）の条件が満たされるようにして設定されればよいものである。
【０２０９】
またこれまでの説明では、それぞれが異なるピット列位相を有する複数のピット列に関して、外周側ほどピット列位相が進み内周側ほどピット列位相が遅れるようにピット列を配列したが、例えば逆に内周側ほどピット列位相が進み外周側ほどピット列位相が遅れるようにピット列を配列するなど、上記複数のピット列の配列パターンは、ピット列形成方向において光学限界を超えないという条件の下で様々なパターンの設定が可能である。
【０２１０】
また、これまでの説明では言及しなかったが、本例では基準面ＲｅｆにＣＡＶ方式でピット列が記録され、これに対応してバルク型記録媒体１を一定回転速度で回転駆動するようにされる。このため、この場合における記録層では、外周側となるほど記録密度が疎となってしまうが、これを対策するため、例えば半径位置に応じて連続的に記録クロック周波数を変化させるなど、記録密度を一定（或いは一定と見なすことのできる状態）とするための構成を付加することもできる。
【０２１１】
また、これまでの説明では、記録時における記録用レーザ光・ＡＴＳ光の合焦位置を記録対象とする情報記録層位置Ｌ（つまり記録済みマーク列）に一致させるために、サーボ用レーザ光が基準面Ｒｅｆに合焦するように対物レンズ２０位置を制御しつつ、レンズ駆動部１６をオフセットｏｆ-Lに基づき駆動するものとしたが、記録時における記録用レーザ光・ＡＴＳ光の合焦位置制御（フォーカス制御）は、ＡＴＳ光のマーク列からの反射光に基づいてレンズ駆動部１６を駆動することで行うこともできる。すなわち、記録時のＡＴＳが行われる際にはＡＴＳ光の記録済みマーク列からの反射光が得られるので、当該反射光を受光して生成したフォーカスサーボ信号ＦＳ-apに基づき、レンズ駆動部１６を駆動制御するように構成することで、記録用レーザ光・ＡＴＳ光を記録対象の情報記録層位置Ｌに合焦させるフォーカスサーボ制御が行われるようにすることもできる。
【０２１２】
また、これまでの説明では、本発明において記録対象とする光記録媒体がバルク型の光記録媒体とされる場合を例示したが、本発明としては、バルク層５ではなく、例えば次の図２３に示されるような複数の記録膜が形成された多層構造を有する記録層が設けられた光記録媒体（多層記録媒体６０とする）に対しても好適に適用できる。
図２３において、多層記録媒体６０は、上層側から順にカバー層２、選択反射膜３、及び中間層４が形成される点は図１に示したバルク型記録媒体１と同様となるが、この場合はバルク層５に代えて、図のように半透明記録膜６１と中間層４とが所定回数繰り返し積層された層構造を有する記録層が積層される。図のように最下層に形成された半透明記録膜６１は、基板６２上に積層されている。なお、最下層に形成される記録膜については全反射記録膜を用いることができる。
ここで、注意すべきは、上記半透明記録膜６１には、ピット列の形成に伴う位置案内子が形成されていないという点である。つまりこの多層記録媒体６０としても、スパイラル状又は同心円状の位置案内子は、基準面Ｒｅｆとしての１つの層位置に対してのみ形成されているものである。
【０２１３】
このような多層記録媒体６０の記録層においては、反射膜として機能する半透明記録膜６１が形成されているため、マークが未記録状態であっても反射光を得ることができる。
【０２１４】
また、これまでの説明では、ピット列がスパイラル状に形成される場合の例として、先の図６のようにＡ〜Ｆの各位相のピット列がそれぞれ独立したスパイラルで形成される場合（多重スパイラル構造）を例示したが、ピット列は、次の図２４に示すように１本のスパイラルで形成されるようにすることもできる（シングルスパイラル構造）。なお、この図２４においても図示の都合上、ピット列の位相はＡ〜Ｃの３種のみを示している。
図のように、この場合はディスク上の或る回転角度位置を基準位置として定めておき、当該基準位置を基準として定まる各周回ごとに、ピット列の位相を順次変化させていく。例えば先の図５のように外周側から内周側に向けてピット列Ａ→Ｂ→Ｃ→・・・が配列される（つまり外周側となるにつれて徐々にピット列位相を進ませる）フォーマットとする場合には、図のようにｎ周回目はピット列Ａの位相、ｎ＋１周回目はピット列Ｃの位相、ｎ＋２周回目はピット列Ｂの位相・・・という具合に、周回ごとに徐々にピット列の位相を進ませるようにしてピットを形成していく。
先の図６と対比して分かるように、このようなシングルスパイラル構造とすることによっても、半径方向において配列される各ピット列の位相関係としては図６の場合と同様とすることができる。
【０２１５】
ここで、図６に示されるような多重スパイラル構造によるディスクを作成するにあたっては、Ａ〜Ｆの各ピット列のカッティングを同一原盤に対してそれぞれ個別に行うという手法を採ることが考えられるが、この場合には、個々のピット列のカッティングをその開始位置を半径方向に僅かにずらしながら順次行うこととなり、精度の面で困難性を伴う虞がある。
これに対し図２４のようなシングルスパイラル構造とすれば、カッティングの回数は１度で済み、また精度の面においてもピットの形成タイミングを正確にコントロールしさえすれば良く、技術的困難性は格段に低くできる。
【０２１６】
なお、図２４に示すようなシングルスパイラル構造とした場合、或る位相のピット列を対象としたトラッキングサーボを１周以上かけ続けるということはできない。そこでこの場合には、所定の傾きによるオフセット信号をトラッキングサーボループに対して与えることで、記録層に対する記録が所定ピッチのスパイラル状に行われるようにする。
【０２１７】
また、これまでの説明では、ピット列が形成される基準面は、記録層の上層側に対して設けるものとしたが、基準面は記録層の下層側に設けることもできる。
【０２１８】
またこれまでの説明では、本発明が光ディスク記録媒体（記録層）に対する記録及び再生の双方を行う記録再生装置に適用される場合を例示したが、本発明は光ディスク記録媒体（記録層）に対する記録のみが可能とされた記録専用装置（記録装置）にも好適に適用できる。
【符号の説明】
【０２１９】
１ バルク型記録媒体、２ カバー層、３ 選択反射膜、Ｒｅｆ 基準面、４ 中間層、５ バルク層、Ｌ マーク形成層位置（情報記録層位置）、ＯＰ 光学ピックアップ、１１ｒ 記録用レーザ、１１ap ＡＴＳ・再生時用レーザ、１２,２５ コリメーションレンズ、１３,２６ 偏光ビームスプリッタ、１４ 固定レンズ、１５ 可動レンズ、１６ レンズ駆動部、１７ ミラー、１８,２７ １／４波長板、１９ ダイクロイックプリズム、２０ 対物レンズ、２１ ２軸アクチュエータ、２２,２８ 集光レンズ、２３ 第１受光部、２４ サーボ用レーザ、２９ 第２受光部、３１ 記録処理部、３２,５０ マトリクス回路、３３ 再生処理部、３４ 再生時用サーボ回路、３５ ＡＴＳ側フィルタ、３６ 信号生成部、３７ 基準面側サーボフィルタ、３８ 記録時用フォーカスサーボ回路、３９ 加算部、４０,４１ セレクタ、４２ フォーカスドライバ、４３ トラッキングドライバ、４４ コントローラ、５１ クロック生成回路、５１Ａ,５１Ｃ スライス回路、５１Ｂ ｓｕｍ微分回路、５１Ｄ ＡＮＤゲート回路、５１Ｅ ＰＬＬ回路、５２ selector信号生成回路、５３ エラー信号生成回路、ＳＨ-A1〜ＳＨ-F2 サンプルホールド回路、５３Ａ〜５３Ｆ 減算部、５４ ｃａｓｅ判定回路、５５ リニアエラー信号生成回路、５６ selector信号選択回路、５７ アドレス検出回路、６０ 多層記録媒体、６１ 半透明記録膜、６２ 基板
【技術分野】
【０００１】
本発明は、位置案内子が形成された基準面と当該基準面とは異なる深さ位置に形成された記録層とを有する光ディスク記録媒体に対して記録を行う記録装置に関する。
【先行技術文献】
【特許文献】
【０００２】
【特許文献１】特開２００８−１３５１４４号公報
【特許文献２】特開２００８−１７６９０２号公報
【背景技術】
【０００３】
光の照射により信号の記録／再生が行われる光ディスク記録媒体（光ディスク）として、例えばＣＤ（Compact Disc）、ＤＶＤ（Digital Versatile Disc）、ＢＤ（Blu-ray Disc：登録商標）などが普及している。
【０００４】
これらＣＤ、ＤＶＤ、ＢＤなど現状において普及している光ディスクの次世代を担うべき光ディスクに関して、先に本出願人は、上記特許文献１や上記特許文献２に記載されるようないわゆるバルク記録型のものを提案している。
【０００５】
ここで、バルク記録とは、例えば図２５に示すようにして少なくともカバー層１０１とバルク層（記録層）１０２とを有する光記録媒体（バルク型記録媒体１００）に対し、逐次焦点位置を変えてレーザ光照射を行ってバルク層１０２内に多層記録を行うことで、大記録容量化を図る技術である。
【０００６】
このようなバルク記録に関して、上記特許文献１には、いわゆるマイクロホログラム方式と呼ばれる記録技術が開示されている。
マイクロホログラム方式では、バルク層１０２の記録材料として、いわゆるホログラム記録材料が用いられる。ホログラム記録材料としては、例えば光重合型フォトポリマ等が広く知られている。
【０００７】
マイクロホログラム方式は、ポジ型マイクロホログラム方式とネガ型マイクロホログラム方式とに大別される。
ポジ型マイクロホログラム方式は、対向する２つの光束（光束Ａ、光束Ｂ）を同位置に集光して微細な干渉縞（ホログラム）を形成し、これを記録マークとする手法である。
また、ネガ型マイクロホログラム方式は、ポジ型マイクロホログラム方式とは逆の発想で、予め形成しておいた干渉縞をレーザ光照射により消去して、当該消去部分を記録マークとする手法である。具体的に、ネガ型マイクロホログラム方式では、記録動作を行う前に、予めバルク層１０２に対して干渉縞を形成するための初期化処理を行う。すなわち、平行光による光束Ｃ，Ｄを対向して照射し、それらの干渉縞をバルク層１０２の全体に形成しておくものである。そして、このように初期化処理により予め干渉縞を形成しておいた上で、消去マークの形成による情報記録を行う。具体的には、任意の層位置にフォーカスを合わせた状態で記録すべき情報に応じたレーザ光照射を行うことで、消去マークによる情報記録を行うものである。
【０００８】
また、本出願人は、マイクロホログラム方式とは異なるバルク記録の手法として、例えば特許文献２に開示されるようなボイド（空孔、空包）を記録マークとして形成する記録手法も提案している。
ボイド記録方式は、例えば光重合型フォトポリマなどの記録材料で構成されたバルク層１０２に対して、比較的高パワーでレーザ光照射を行い、上記バルク層１０２内に空孔を記録する手法である。特許文献２に記載されるように、このように形成された空孔部分は、バルク層１０２内における他の部分と屈折率が異なる部分となり、それらの境界部分で光の反射率が高められることになる。従って上記空孔部分は記録マークとして機能し、これによって空孔マークの形成による情報記録が実現される。
【０００９】
このようなボイド記録方式は、ホログラムを形成するものではないため、記録にあたっては片側からの光照射を行えば済むものとできる。すなわち、ポジ型マイクロホログラム方式の場合のように２つの光束を同位置に集光して記録マークを形成する必要は無いものとできる。
また、ネガ型マイクロホログラム方式との比較では、初期化処理を不要にできるというメリットがある。
なお、特許文献２には、ボイド記録を行うにあたり記録前のプリキュア光の照射を行う例が示されているが、このようなプリキュア光の照射は省略してもボイドの記録は可能である。
【００１０】
ところで、上記のような各種の記録手法が提案されているバルク記録型（単にバルク型とも称する）の光記録媒体であるが、このようなバルク型の光記録媒体の記録層（バルク層）は、例えば反射膜が複数形成されるという意味での明示的な多層構造を有するものではない。すなわち、バルク層１０２においては、通常の多層ディスクが備えているような記録層ごとの反射膜、及び案内溝は設けられていない。
従って、先の図２５に示したバルク型記録媒体１００の構造のままでは、マークが未形成である記録時において、フォーカスサーボやトラッキングサーボを行うことができないことになる。
【００１１】
このため実際において、バルク型記録媒体１００に対しては、次の図２６に示すような案内溝を有する基準となる反射面（基準面Ｒｅｆ）を設けるようにされている。
具体的には、カバー層１０１の下面側にピットやグルーブによる案内溝（位置案内子）が形成され、そこに選択反射膜１０３が成膜される。そして、このように選択反射膜１０３が成膜されたカバー層１０２の下層側に対し、図中の中間層１０４としての、例えばＵＶ硬化樹脂などの接着材料を介してバルク層１０２が積層される。
【００１２】
また、このような媒体構造とした上で、バルク型記録媒体１００に対しては、次の図２７に示されるようにしてマークの記録用のレーザ光（記録用レーザ光）とは別途に、位置制御用のレーザ光としてのサーボ用レーザ光を照射するようにされる。
図示するようにこれら記録用レーザ光とサーボ用レーザ光とは、共通の対物レンズを介してバルク型記録媒体１００に照射される。
【００１３】
このとき、仮に、サーボ用レーザ光がバルク層１０２に到達してしまうと、当該バルク層１０２内におけるマーク記録に悪影響を与える虞がある。このため、従来よりバルク記録方式では、サーボ用レーザ光として、記録用レーザ光とは波長帯の異なるレーザ光を用いるものとした上で、案内溝形成面（基準面Ｒｅｆ）に形成される反射膜としては、サーボ用レーザ光は反射し、記録用レーザ光は透過するという波長選択性を有する選択反射膜１０３を設けるものとしている。
【００１４】
以上の前提を踏まえた上で、図２７を参照し、バルク型記録媒体１００に対するマーク記録時の動作について説明する。
先ず、案内溝や反射膜の形成されていないバルク層１０２に対して多層記録を行うとしたときには、バルク層１０２内の深さ方向においてマークを記録する層位置を何れの位置とするかを予め設定しておくことになる。図中では、バルク層１０２内においてマークを形成する層位置（マーク形成層位置：情報記録層位置とも呼ぶ）として、第１情報記録層位置Ｌ１〜第５情報記録層位置Ｌ５の計５つの情報記録層位置Ｌが設定された場合を例示している。図示するように第１情報記録層位置Ｌ１は、案内溝が形成された選択反射膜１０３（基準面Ｒｅｆ）からフォーカス方向（深さ方向）に第１オフセットｏｆ-L1分だけ離間した位置として設定される。また、第２情報記録層位置Ｌ２、第３情報記録層位置Ｌ３、第４情報記録層位置Ｌ４、第５情報記録層位置Ｌ５は、それぞれ基準面Ｒｅｆから第２オフセットｏｆ-L2分、第３オフセットｏｆ-L3分、第４オフセットｏｆ-L4分、第５オフセットｏｆ-L5分だけ離間した位置として設定される。
【００１５】
マークが未だ形成されていない記録時においては、記録用レーザ光の反射光に基づいてバルク層１０２内の各層位置Ｌを対象としたフォーカスサーボ、トラッキングサーボを行うことはできない。従って、記録時における対物レンズのフォーカスサーボ制御、トラッキングサーボ制御は、位置制御用光としてのサーボ用レーザ光の反射光に基づき、当該サーボ用レーザ光のスポット位置が基準面Ｒｅｆ上において案内溝に追従するようにして行うことになる。
【００１６】
但し、記録用レーザ光は、マーク記録のために選択反射膜１０３よりも下層側に形成されたバルク層１０２に到達させる必要がある。このため、この場合の光学系には、対物レンズのフォーカス機構とは別途に、記録用レーザ光の合焦位置を独立して調整するためのフォーカス機構が設けられることになる。
【００１７】
ここで、このような記録用レーザ光の合焦位置を独立して調整するための機構を含めた、バルク型記録媒体１００の記録装置の内部構成例を図２８に示しておく。
図２８において、図中にＬＤ１と示す第１レーザダイオード１１１は、記録用レーザ光の光源であり、ＬＤ２と示す第２レーザダイオード１１９はサーボ用レーザ光の光源である。先の説明からも理解されるように、これら第１レーザダイオード１１１と第２レーザダイオード１１９はそれぞれ異なる波長帯によるレーザ光を発光するように構成されている。
【００１８】
図示するように第１レーザダイオード１１１より出射した記録用レーザ光は、コリメーションレンズ１１２を介して固定レンズ１１３・可動レンズ１１４・レンズ駆動部１１５から成るフォーカス機構に入射する。上記レンズ駆動部１１５によって上記可動レンズ１１４が記録用レーザ光の光軸に平行な方向に駆動されることで、図中の対物レンズ１１７に入射する記録用レーザ光のコリメーション状態（収束／平行／発散の状態）が変化し、記録用レーザ光の合焦位置を対物レンズ１１７の駆動による合焦位置の変化とは独立して調整することができる。
なお、この意味で、当該フォーカス機構については、記録光用フォーカス機構とも表記する。
【００１９】
上記記録光用フォーカス機構を介した記録用レーザ光は、当該記録用レーザ光と同波長帯による光を透過しそれ以外の波長帯による光は反射するように構成されたダイクロイックミラー１１６に入射する。
図示するようにダイクロイックミラー１１６を透過した記録用レーザ光は、対物レンズ１１７を介してバルク型記録媒体１００に対して照射される。対物レンズ１１７は、２軸アクチュエータ１１８によりフォーカス方向及びトラッキング方向に変位可能に保持されている。
【００２０】
また、第２レーザダイオード１１９より出射されたサーボ用レーザ光は、コリメーションレンズ１２０を介した後、ビームスプリッタ１２１を透過し、上述したダイクロイックミラー１１６に入射する。サーボ用レーザ光は、当該ダイクロイックミラー１１７にて反射され、その光軸がダイクロイックミラー１１６を透過した記録用レーザ光の光軸と一致するようにして対物レンズ１１７に入射する。
対物レンズ１１７に入射したサーボ用レーザ光は、後述するサーボ回路１２５によるフォーカスサーボ制御によって２軸アクチュエータ１１８が駆動されることで、バルク型記録媒体１００の選択反射膜１０３上（基準面Ｒｅｆ）に合焦するようにされている。また同時に、サーボ用レーザ光のトラッキング方向における位置は、サーボ回路１２５によるトラッキングサーボ制御によって２軸アクチュエータ１１８が駆動されることで、選択反射膜１０３に形成された案内溝に沿うようにされる。
【００２１】
選択反射膜１０３からのサーボ用レーザ光の反射光は、対物レンズ１１７を介しダイクロイックミラー１１６で反射された後、ビームスプリッタ１２１にて反射される。ビームスプリッタ１２１にて反射されたサーボ用レーザ光の反射光は、集光レンズ１２２を介してフォトディテクタ１２３の検出面上に集光する。
【００２２】
マトリクス回路１２４は、フォトディテクタ１２３による受光信号に基づきフォーカス、トラッキングの各エラー信号を生成し、それらの各エラー信号はサーボ回路１２５に供給される。
【００２３】
サーボ回路１２５は上記各エラー信号からフォーカスサーボ信号、トラッキングサーボ信号を生成する。これらフォーカスサーボ信号、トラッキングエラー信号に基づき上述した２軸アクチュエータ１１８が駆動されることで、対物レンズ１１７のフォーカスサーボ制御、トラッキングサーボ制御が実現される。
【００２４】
ここで、バルク型記録媒体１００について予め設定された各情報記録層位置Ｌのうちから所要の情報記録層位置Ｌを対象としたマーク記録を行うとしたときには、レンズ駆動部１１５を駆動制御して、記録用レーザ光の合焦位置を、選択した情報記録層位置Ｌに対応するオフセットｏｆに応じた分だけ変化させる。
具体的にこのような情報記録位置の設定制御は、例えば記録装置の全体制御を行うコントローラ１２６により行われる。すなわち、当該コントローラ１２６により、対象とする情報記録層位置Ｌｘに応じて予め設定されたオフセット量ｏｆ-Lxに基づいてレンズ駆動部１１５を駆動制御することで、記録用レーザ光による情報記録位置（合焦位置）を、上記対象とする情報記録層位置Ｌｘに合わせるものである。
【００２５】
また、記録時における記録用レーザ光のトラッキングサーボに関しては、上述のようにサーボ回路１２５がサーボ用レーザ光の反射光に基づいて対物レンズ１１７のトラッキングサーボ制御を行うことで、自動的に行われるものとなる。具体的に、記録用レーザ光のトラッキング方向におけるスポット位置は、基準面Ｒｅｆに形成された案内溝の直下となるように制御される。
【００２６】
ちなみに、マーク記録が既に行われたバルク型記録媒体１００について再生を行う際は、記録時のように対物レンズ１１７の位置を基準面Ｒｅｆからのサーボ用レーザ光の反射光に基づいて制御する必要はない。すなわち再生時においては、再生対象とする情報記録層位置Ｌに形成されたマーク列を対象として、再生用のレーザ光の照射を行うことで、当該再生用のレーザ光の反射光に基づいて対物レンズ１１７のフォーカスサーボ制御、トラッキングサーボ制御を行うことができる。
【００２７】
上記により説明したようにバルク記録方式においては、バルク型記録媒体１００に対し、マークの記録光としての記録用レーザ光と、位置制御用光としてのサーボ用レーザ光とを、共通の対物レンズ１１７を介して（同一光軸上に合成して）照射するようにされている。その上で、サーボ用レーザ光の反射光に基づいて対物レンズ１１７のフォーカスサーボ制御、トラッキングサーボ制御を行うことで、バルク層１０２内に案内溝やそれが形成された反射面が形成されていなくとも、記録用レーザ光のフォーカスサーボ、トラッキングサーボを行うことができるように図られている。
【００２８】
しかしながら、上記により説明したようなサーボ制御手法を採る場合には、バルク型記録媒体１００の偏芯や光学ピックアップのスライド機構のガタ等に起因して生じる対物レンズ１１７のレンズシフトによって、トラッキング方向における情報記録位置のずれが生じてしまうという問題がある。
確認のため述べておくと、スライド機構のガタに伴うレンズシフトとは、スライドサーボ制御中において、当該スライド機構におけるメカ機構的なガタの発生に起因して光学ピックアップの位置が急激（瞬間的に）に変位したことに伴って、トラッキングサーボ制御中の対物レンズ１１７の位置がその変位の吸収ためにシフトされることを意味する。
【００２９】
図２９は、上記のようなレンズシフトに伴う情報記録位置のずれが生じる原理について説明するための図である。
図２９において、図２９（ａ）は、バルク型記録媒体１００に偏芯やスライド機構のガタが無く対物レンズ１１７のレンズシフトが生じていない理想的な状態を、また図２９（ｂ）は紙面左方向（外周方向であるとする）のレンズシフトが生じた場合（＋方向の偏芯と称する）、図２９（ｃ）は紙面右方向（内周方向であるとする）のレンズシフトが生じた場合（−方向の偏芯と称する）をそれぞれ示している。
【００３０】
先ず、図中の中心軸ｃは、光学系を設計する上で設定された中心軸であり、図２９（ａ）に示す理想状態においては、対物レンズ１１７の中心は当該中心軸ｃに一致する。
【００３１】
これに対し、図２９（ｂ）に示すような＋方向のレンズシフトが生じた場合は、対物レンズ１１７の中心が光学系の中心軸ｃに対して＋方向にシフトする。
このとき、サーボ用レーザ光（図中の柄付きの光線）に関しては、対物レンズ１１７に対して平行光により入射するので、上記のような対物レンズ１１７の中心軸ｃからのシフトが生じても、その焦点位置のトラッキング方向における位置に変化は生じない。これに対し、記録用レーザ光（図中の白抜きの光線）は、前述のように、基準面Ｒｅｆよりも下層側のバルク層１０２内の所要の情報記録層位置Ｌに合焦させるために、対物レンズ１１７に対して非平行光により入射されるので、上記のような＋方向への対物レンズ１１７のシフトに対しては、図のように、記録用レーザ光の焦点位置（情報記録位置）が、レンズシフト量に応じた分だけ＋方向に変化してしまうこととなる（図中、ずれ量＋ｄ）。
【００３２】
また、図２９（ｃ）に示すような−方向のレンズシフトが生じた場合には、記録用レーザ光による情報記録位置は、図のようにレンズシフト量に応じた分だけ−方向に変化することとなる（図中ずれ量−ｄ）。
【００３３】
このようにして，先の図２８にて説明したバルク型記録媒体１００についての記録装置の構成、すなわち、
・記録用レーザ光とサーボ用レーザ光とを共通の対物レンズ１１７を介して照射する
・対物レンズ１１７のフォーカスサーボ制御を、サーボ用レーザ光がバルク型記録媒体１００の基準面Ｒｅｆに合焦するようにして行う
・記録用レーザ光の焦点位置（情報記録位置）を対物レンズ１１７に入射する記録用レーザ光のコリメーション状態を変化させて調整する
・対物レンズ１１７のトラッキングサーボ制御を、サーボ用レーザ光の焦点位置が基準面Ｒｅｆに形成された案内溝に沿うようにして行う
という構成においては、ディスクの偏芯やスライド機構のガタ等に起因して、記録用レーザ光による情報記録位置がトラッキング方向にずれてしまうという問題が生じる。
このとき、偏芯の大きさ等やトラックピッチ（案内溝の形成間隔）の設定によっては、隣接する案内溝同士で情報記録位置が重なってしまうこともある。このようであると、正しく記録信号を再生することはできなくなる。
【００３４】
なお、上記では情報記録位置のずれの要因として対物レンズ１１７のレンズシフトを主なものとして説明したが、情報記録位置のずれは、ディスクチルトによっても同様に生じるものである。
【００３５】
上記のような情報記録位置ずれの問題を回避するための１つの対策としては、情報記録位置の変動以上にトラックピッチを広げておくということを挙げることができる。
しかしながら、この手法では、レンズシフト等の最大発生量が不確定であるため、どの程度トラックピッチを広げるかも不確定であるという問題がある。また、何よりトラックピッチの拡大により記録容量の低下を招いてしまうことが問題となる。
【００３６】
また、情報記録位置ずれを回避するための他の手法としては、ディスクを着脱不能なシステムとすることが挙げられる。
ここで、偏芯の原因としては、ディスク内径とスピンドルモータへのクランプ径との誤差が挙げられる。加工上、両者の誤差を完全にゼロにすることは不可能であるので偏芯は不可避である。また仮に、両者の誤差をゼロにできたとしても、ディスクの基準面における記録信号中心と記録装置のスピンドル軸中心とが同一になるとは限らないので、この面でもやはり偏芯が生じる。そこで、ディスクの着脱を不能としたシステムにすれば、偏芯による影響が同じとなるので、記録位置が重なる問題を回避できる。そしてこのことで、トラックピッチを詰めることができ、その分、記録容量の増大を図ることができる。
【００３７】
しかしながら、当然、この手法ではディスクの交換が一切できないので、例えばディスク不良時にディスクだけを交換するといったことができなくなる。さらには、或る記録装置で記録したデータを別の記録装置で読み出すといったこともできない。つまりこれらの点で、利便性が損なわれる結果となる。
【００３８】
そこで、これらの問題を回避するための有効な手法として、いわゆるＡＴＳ（Adjacent Track Servo：隣接トラックサーボ）の手法を採ることが考えられる。このＡＴＳは、元々はハードディスクドライブにおけるセルフサーボトラックライタ（ＳＳＴＷ）として検討されていたものである。
【００３９】
図３０は、ＡＴＳについて説明するための図である。
図のようにＡＴＳでは、記録用スポットＳrecと隣接トラックサーボ用スポットＳatsとを記録媒体上に形成するようにされる。これらスポットＳrecとスポットＳatsは、それぞれその元となる光線を共通の対物レンズを介して記録媒体に照射することで形成される。このとき、スポット間の距離は固定にする。
【００４０】
ＡＴＳでは、記録用スポットＳrecを先行スポット（つまり記録の進行方向が内周→外周である場合には外周側）とし、隣接トラックサーボ用スポットＳatsを後行スポットとして、記録用スポットＳrecによって形成したマーク列を対象として、隣接トラックサーボ用スポットＳatsによりトラッキングサーボをかける。つまりは、記録用スポットＳrecが形成した１本前のトラックに、隣接トラックサーボ用スポットＳatsが追従するように対物レンズのトラッキングサーボ制御を行うというものである。
【００４１】
このようなＡＴＳによれば、トラックピッチは各スポットＳ間の距離で一定とできるので、偏芯等の影響によってトラックが重なってしまう（情報記録位置が重なってしまう）という問題は生じないようにできる。すなわち、上述のように偏芯等に起因する情報記録位置のずれを考慮してトラックピッチを余分に広げたり、或いはディスクを着脱不能とするシステムとするといった必要は無いものとできる。
【発明の概要】
【発明が解決しようとする課題】
【００４２】
しかしながら、ＡＴＳにおいて、隣接トラックサーボ用スポットＳatsを用いたトラッキングサーボを従来行われているトラッキングサーボの手法と同様の手法で行った場合には、周回を重ねるごとにトラッキング誤差成分が次第に増大し、発散してしまうことが判明した。
以下、この点について説明する。
【００４３】
図３１は、ＡＴＳ制御系を伝達関数ブロックにより表している。
図３１において、Ｋ(ｚ)と示す伝達関数ブロックは、トラッキングサーボ系における制御器としてのサーボ演算器（サーボフィルタ）の離散系伝達関数を表すものであり、またＰ(ｚ)と示す伝達関数ブロックは、対物レンズを駆動するアクチュエータの離散系伝達関数を表している。
また、図中のｒは制御目標位置であり、ｅはトラッキングエラー信号を表す。ｕは制御器の出力（トラッキングドライブ信号に相当）、ｙsは隣接トラックサーボ用スポットＳatsの位置を表す。
ｄr-aは、記録用スポットＳrecと隣接トラックサーボ用スポットＳatsとの間の距離である。
【００４４】
図示するように、隣接トラックサーボ用スポットＳatsの位置ｙsと目標位置ｒとの差がエラー信号ｅである。一般的なトラッキングサーボ制御系と同様に、この場合のサーボ系においてもエラー信号ｅをゼロとするように制御器（Ｋ(ｚ)）が動作する。
【００４５】
ここで、先の図３０の説明からも理解されるように、ＡＴＳでは、１つ前のトラックを記録したときの記録用スポットＳrecの位置が、現記録対象のトラックを記録するときの目標位置ｒとなる。図３１ではこの前提を下に、目標位置ｒを、ディスク１周分の回転時間に相当する遅延時間要素ｚ-kと距離ｄr-aとを用いて表している。具体的に、目標位置ｒは、隣接トラックサーボ用スポットＳatsの位置ｙsに対して距離ｄr-aが加算されたものとして表すことのできる記録用スポットＳrecの位置ｙrが、上記遅延時間要素ｚ-kを介したものと表される。換言すれば、ディスク１回転分の時間だけ以前の記録用スポットＳrecの位置が、目標位置ｒということである。
【００４６】
この図３１に示す制御系における目標位置ｒから位置ｙsへの伝達特性は、一般には、図３２に示すような特性となる。
図３２において、図３２（ａ）は周波数−振幅特性、図３２（ｂ）は周波数−位相特性を示しているが、この図３２を参照して分かるように、目標位置ｒから位置ｙsへの伝達特性（つまりＡＴＳ制御系の伝達特性）としては、サーボ帯域近辺の帯域で伝達特性ゲインが０ｄＢよりも大きくなる。また位相については、サーボ帯域近辺にて遅れが生じる傾向となる。
【００４７】
上記のようにサーボ帯域近辺でゲインが０ｄＢより大となる特性から、当該サーボ帯域の成分がディスクの周回ごとに増幅されてしまい、その結果、隣接トラックサーボ用スポットＳatsの位置ｙsは、図３３に示すように時間と共に発散してしまう。
【００４８】
この点より、従来のＡＴＳでは、トラッキングサーボ制御を安定して行うことが非常に困難なものとなっている。
【課題を解決するための手段】
【００４９】
上記のような問題点に鑑み、本発明では記録装置として以下のように構成することとした。
すなわち、位置案内子が形成された基準面と当該基準面とは異なる深さ位置に形成された記録層とを有する光ディスク記録媒体に対して、上記記録層へのマーク記録を行うための記録光と、隣接トラックサーボ用のＡＴＳ光と、上記基準面に形成された上記位置案内子に基づく位置制御を行うための位置制御用光とを共通の対物レンズを介して照射するように構成されると共に、上記ＡＴＳ光の上記記録層からの反射光と、上記位置制御用光の上記基準面からの反射光とを個別に受光するように構成された光照射・受光部を備える。
また、上記対物レンズを上記光ディスク記録媒体の半径方向に平行な方向であるトラッキング方向に駆動するトラッキング機構を備える。
また、上記光照射・受光部により得られる上記位置制御用光についての受光信号に基づき、上記基準面に形成された位置案内子に対する上記位置制御用光の照射スポット位置の誤差を表す基準面側トラッキング誤差信号を生成する基準面側トラッキング誤差信号生成部を備える。
また、上記基準面側トラッキング誤差信号に対してトラッキングサーボのためのフィルタ処理を施して、上記基準面側トラッキング誤差信号が表すトラッキング誤差をキャンセルするための基準面側トラッキングサーボ信号を生成する基準面側トラッキングサーボ信号生成部を備える。
また、上記基準面側トラッキングサーボ信号に基づき上記トラッキング機構を駆動するトラッキング駆動部を備える。
また、上記光照射・受光部により得られる上記ＡＴＳ光についての受光信号に基づき、上記記録層に記録されたマーク列に対する上記ＡＴＳ光の照射スポット位置の誤差を表すＡＴＳ側トラッキング誤差信号を生成するＡＴＳ側トラッキング誤差信号生成部を備える。
また、上記ＡＴＳ側トラッキング誤差信号に対してトラッキングサーボのためのフィルタ処理を施して、上記ＡＴＳ側トラッキング誤差信号が表すトラッキング誤差をキャンセルするためのＡＴＳ制御信号を生成するＡＴＳ制御信号生成部を備える。
さらに、上記ＡＴＳ制御信号を、上記基準面側トラッキングサーボ信号生成部を含むトラッキングサーボループに対して与える信号付与部を備えるようにした。
【００５０】
上記のように本発明では、上記基準面側トラッキング誤差信号生成部と上記基準面側トラッキングサーボ信号生成部と上記トラッキング駆動部とを含み、上記基準面の位置案内子に基づくトラッキングサーボ制御を行う、基準面側トラッキングサーボ制御系が構成される。換言すれば、上記基準面の位置案内子に基づくトラッキングサーボ制御の行われるトラッキングサーボループが形成されるものである。
また、一方で本発明では、ＡＴＳ（Adjacent Track Servo：隣接トラックサーボ）としての、１周前のマーク列を対象としたトラッキングサーボを行うためのトラッキング誤差信号を得るための構成として、上記ＡＴＳ側トラッキング誤差信号生成部を備え、さらに当該ＡＴＳ側トラッキング誤差信号生成部が生成するＡＴＳ側トラッキング誤差信号からＡＴＳのための制御信号（ＡＴＳ制御信号）を生成するＡＴＳ制御信号生成部を備えるようにしている。
その上で本発明では、上記信号付与部によって、上記基準面の位置案内子に基づくトラッキングサーボ制御の行われるトラッキングサーボループに対し、上記ＡＴＳ制御信号を付与するものとしている。すなわち、ＡＴＳ制御系の出力を、上記基準面側のトラッキングサーボ制御系の目標値として与えるようにしているものである。これは、上記基準面側のトラッキングサーボループをマイナーループとし、当該マイナーループに対してＡＴＳ制御系の出力を目標値として入力していると表現することもできる。
このような構成とすることで、従来のＡＴＳ制御系単体とした場合に生じていた伝達特性ゲインのピークの発生を防止でき、トラッキングサーボループの伝達特性ゲインが全周波数帯域で０ｄＢを超えないようにすることができる。
【発明の効果】
【００５１】
本発明によれば、従来のＡＴＳ単体とした場合における、サーボ帯域近辺で伝達特性ゲインが０ｄＢよりも大となってしまうという特性を改善でき、結果、トラッキング誤差信号が時間と共に増大して発散してしまうといった事態の発生を防止できる。
これにより、記録マーク列の重なりや交差の発生を防止することのできるトラッキングサーボ制御を、従来のＡＴＳ単体とする場合よりも安定なものとして実現することができる。
【図面の簡単な説明】
【００５２】
【図１】実施の形態で記録対象とする光ディスク記録媒体の断面構造図である。
【図２】実施の形態の記録装置が備える主に光学系の構成について説明するための図である。
【図３】実施の形態の記録装置全体の内部構成について説明するための図である。
【図４】実施の形態のトラッキングサーボ制御系の伝達特性を示した図である。
【図５】実施の形態で用いるバルク型記録媒体の基準面の表面を一部拡大して示した平面図である。
【図６】基準面全体におけるピットの形成態様について説明するための図である。
【図７】アドレス情報のフォーマットについて説明するための図である。
【図８】バルク型記録媒体の回転駆動に伴い基準面上をサーボ用レーザ光のスポットが移動する様子と、その際に得られるｓｕｍ信号、ｓｕｍ微分信号、及びＰＰ（プッシュプル）信号の波形との関係を模式的に示した図である。
【図９】ピークポジション検出の具体的手法について説明するための図である。
【図１０】ピークタイミングを表すタイミング信号から生成されたクロックと、該クロックに基づき生成された各selector信号の波形と、基準面に形成された各ピット列（の一部）との関係を模式化して示した図である。
【図１１】チルトやレンズシフトに伴う反射光の受光スポット位置ずれについて説明するための図である。
【図１２】各トラッキングエラー信号の生成手法について説明するための図である。
【図１３】スポット位置が半径方向に変位する際に得られる各トラッキングエラー信号の波形を示した図である。
【図１４】線形トラッキング誤差信号の生成イメージ図である。
【図１５】線形トラッキング誤差信号の具体的な生成手法について説明するための図である。
【図１６】実施の形態の記録装置が備える信号生成部（基準面側トラッキング誤差信号生成部）の内部構成を主に示した図である。
【図１７】クロック生成回路の内部構成を示した図である。
【図１８】実施の形態の記録装置が備える各位相トラッキング誤差信号生成回路の内部構成を示した図である。
【図１９】スポット位置が半径方向に移動している際に得られる各トラッキングエラー信号の波形図である。
【図２０】レーザ光の照射スポットが所定のピット列上をトレースしている状態を示した図である。
【図２１】変形例としての線形トラッキング誤差信号の生成手法において生成する各トラッキング誤差信号の波形図である。
【図２２】変形例としての線形トラッキング誤差信号の生成手法について説明するための図である。
【図２３】変形例としての光記録媒体の断面構造を示した図である。
【図２４】変形例としての基準面の構造を示した図である。
【図２５】バルク記録方式について説明するための図である。
【図２６】基準面を備える実際のバルク型記録媒体の断面構造を例示した図である。
【図２７】バルク型記録媒体に対するマーク記録時の動作について説明するための図である。
【図２８】バルク型記録媒体に対して記録を行う従来例の記録装置の内部構成を示した図である。
【図２９】レンズシフトにより情報記録位置のトラッキング方向における位置ずれが発生する原理について説明するための図である。
【図３０】ＡＴＳについて説明するための図である。
【図３１】従来のＡＴＳ制御系を伝達関数ブロックにより表した図である。
【図３２】従来のＡＴＳ制御系の伝達特性を示した図である。
【図３３】従来のＡＴＳ制御系の時間経過に伴う出力特性を示した図である。
【発明を実施するための形態】
【００５３】
以下、発明を実施するための形態（以下実施の形態とする）について説明していく。
なお、説明は以下の順序で行うものとする。
＜１．実施の形態のサーボ制御手法の概要＞
［1-1．記録対象とする光ディスク記録媒体の例］
［1-2．実施の形態の記録装置の内部構成］
［1-3．サーボ制御手法］
＜２．１／２トラック幅以上のスポット位置ずれが生じる場合への対策＞
［2-1．スポット位置ずれに伴う問題点］
［2-2．基準面の構造］
［2-3．アドレス情報について］
［2-4．サーボ対象ピット列の選択手法］
［2-5．プッシュプル信号をサンプリングする手法の問題点とその対策］
［2-6．線形トラッキング誤差信号の生成手法］
[2-7．信号生成部の具体的構成例]
＜３．変形例＞
【００５４】
＜１．実施の形態のサーボ制御手法の概要＞
［1-1．記録対象とする光ディスク記録媒体の例］
図１は、実施の形態の記録装置が記録対象とする光ディスク記録媒体の断面構造図を示している。
実施の形態で記録対象とする光ディスク記録媒体は、いわゆるバルク記録型の光ディスク記録媒体とされ、以下、バルク型記録媒体１と称する。
光ディスク記録媒体としてのバルク型記録媒体１は、記録装置により回転駆動された状態にてレーザ光照射が行われてマーク記録（情報記録）が行われる。
なお、光ディスク記録媒体とは、光の照射により情報の記録（及び再生）が行われる円盤状の記録媒体を総称したものである。
【００５５】
図１に示されるように、バルク型記録媒体１には、上層側から順にカバー層２、選択反射膜３、中間層４、バルク層５が形成されている。
ここで、本明細書において「上層側」とは、後述する実施の形態としての記録装置（記録装置１０）側からのレーザ光が入射する面を上面としたときの上層側を指す。
【００５６】
また、本明細書においては「深さ方向」という語を用いるが、この「深さ方向」とは、上記「上層側」の定義に従った上下方向（縦方向）と一致する方向（すなわち記録装置側からのレーザ光の入射方向に平行な方向：フォーカス方向）を指すものである。
【００５７】
バルク型記録媒体１において、上記カバー層２は、例えばポリカーボネートやアクリルなどの樹脂で構成され、図示するようにその下面側には、記録位置を案内するための位置案内子が形成されている。
この場合、上記位置案内子としては、連続溝（グルーブ）又はピット列による案内溝が形成され、図のように凹凸の断面形状が与えられる。ここで本例の場合、位置案内子としての上記案内溝はスパイラル状に形成されているとする。
カバー層２は、このような案内溝（凹凸形状パターン）が形成されたスタンパを用いた射出成形などにより生成される。
【００５８】
また、上記案内溝が形成された上記カバー層２の下面側には、選択反射膜３が成膜される。
ここで、前述もした通り、バルク記録方式では、記録層としてのバルク層５に対してマーク記録を行うための記録光（記録用レーザ光）とは別に、上記のような案内溝に基づきトラッキングやフォーカスのエラー信号を得るためのサーボ光（位置制御用光、サーボ用レーザ光とも称する）を別途に照射するものとされている。
このとき、仮に、上記サーボ光がバルク層５に到達してしまうと、当該バルク層５内におけるマーク記録に悪影響を与える虞がある。このため、サーボ光は反射し、記録光は透過するという選択性を有する反射膜が必要とされている。
従来よりバルク記録方式では、記録光とサーボ光とはそれぞれ波長帯の異なるレーザ光を用いるようにされており、これに対応すべく、上記選択反射膜３としては、サーボ光と同一の波長帯の光は反射し、それ以外の波長帯による光は透過するという、波長選択性を有する選択反射膜が用いられる。
【００５９】
上記選択反射膜３の下層側には、例えばＵＶ硬化樹脂などの接着材料で構成された中間層４を介して、記録層としてのバルク層５が形成（接着）されている。
バルク層５の材料（記録材料)としては、例えば先に説明したポジ型マイクロホログラム方式やネガ型マイクロホログラム方式、ボイド記録方式など、採用するバルク記録の方式に応じて適宜最適なものが採用されればよい。
なお、本発明で対象とする光ディスク記録媒体に対するマーク記録方式は特に限定されるべきものではなく、バルク記録方式の範疇において任意の方式が採用されればよい。
以下、本例においては、ボイド記録方式が採用されるものとして説明を続ける。
【００６０】
ここで、上記のような構成を有するバルク型記録媒体１において、上述の案内溝の形成に伴い凹凸断面形状パターンの与えられた選択反射膜３は、後述もするようにサーボ用レーザ光に基づく記録用レーザ光の位置制御を行うにあたっての基準となる反射面となる。この意味で、選択反射膜３が形成された面を以下、基準面Ｒｅｆと称する。
【００６１】
先の図２７においても説明したように、バルク型の光記録媒体においては、バルク状の記録層内に多層記録を行うために、予め情報記録を行うべき各層位置（情報記録層位置Ｌ）が設定される。バルク型記録媒体１においても、情報記録層位置Ｌについては、先の図２７の場合と同様に、基準面Ｒｅｆからそれぞれ深さ方向に第１オフセットｏｆ-L1、第２オフセットｏｆ-L2、第３オフセットｏｆ-L3、第４オフセットｏｆ-L4、第５オフセットｏｆ-L5分だけ離間した第１情報記録層位置Ｌ、第２情報記録層位置Ｌ２、第３情報記録層位置Ｌ３、第４情報記録層位置Ｌ４、第５情報記録層位置Ｌ５が設定されているとする。
基準面Ｒｅｆからの各層位置Ｌへのオフセットｏｆ-Lの情報は、予め記録装置側に設定される。
【００６２】
なお、情報記録層位置Ｌの数は５に限定されるべきものではない。
【００６３】
［1-2．実施の形態の記録装置の内部構成］
図２は、図１に示したバルク型記録媒体１に対する記録を行う実施の形態としての記録装置が備える主に光学系の構成について説明するための図である。具体的には、記録装置が備える光学ピックアップＯＰの内部構成を主に示している。
【００６４】
図２において、記録装置に装填されたバルク型記録媒体１は、当該記録装置における所定位置においてそのセンターホールがクランプされるようにしてセットされ、図示を省略したスピンドルモータによる回転駆動が可能な状態に保持される。
光学ピックアップＯＰは、上記スピンドルモータにより回転駆動されるバルク型記録媒体１に対して記録用レーザ光、サーボ用レーザ光、及び隣接トラックサーボ用スポットＳats（図３０）を形成するためのＡＴＳ光を照射するために設けられる。
なお後の説明から明らかとなるように、本例の場合、ＡＴＳ光は、再生時においてはマークにより記録された信号の再生を行うための再生光として用いられることになる。
【００６５】
光学ピックアップＯＰ内には、マークによる信号記録を行うためのレーザ光の光源となる記録用レーザ１１ｒと、基準面Ｒｅｆに形成された位置案内子を利用した位置制御を行うための光としてのサーボ用レーザ光の光源であるサーボ用レーザ２４とが設けられる。さらに、記録時におけるＡＴＳ光の照射及び再生時における記録信号の読み出しを行うためのレーザ光を照射するための光源であるＡＴＳ・再生時用レーザ１１apが設けられる。
【００６６】
ここで、先に述べたように、記録用レーザ光とサーボ用レーザ光とはそれぞれ波長帯の異なる光を用いる。本例の場合、記録用レーザ光の波長はおよそ４０５ｎｍ程度（いわゆる青紫色レーザ光）、サーボ用レーザ光の波長はおよそ６５０ｎｍ程度（赤色レーザ光）とされているとする。
また、ＡＴＳ光や信号読み出しのための再生光として機能すべきＡＴＳ・再生時用レーザ１１apを光源とするレーザ光（以下、単にＡＴＳ光と称する）は、選択反射膜３を透過してバルク層５内に到達させる必要があり、なお且つ記録再生波長は同等とすべきことから、その波長は記録用レーザ光と同波長とする。
【００６７】
光学ピックアップＯＰ内には、記録用レーザ光、サーボ用レーザ光、及びＡＴＳ光のバルク型記録媒体１への共通の出力端となる対物レンズ２０が設けられる。
さらには、ＡＴＳ光のバルク型記録媒体１からの反射光を受光するための第１受光部２３と、サーボ用レーザ光のバルク型記録媒体１からの反射光を受光するための第２受光部２９とが設けられる。
【００６８】
その上で、光学ピックアップＯＰ内においては、記録用レーザ１１ｒより出射された記録用レーザ光及びＡＴＳ・再生時用レーザ１１apから出射されたＡＴＳ光を対物レンズ２０に導くと共に、当該対物レンズ２０に入射した上記バルク型記録媒体１からのＡＴＳ光の反射光を第１受光部２３に導くための光学系が形成される。
【００６９】
具体的に、記録用レーザ１１ｒより出射された記録用レーザ光、及びＡＴＳ・再生時用レーザ１１apから出射されたＡＴＳ光は、共にコリメーションレンズ１２を介して平行光となるようにされた後、偏光ビームスプリッタ１３に入射する。偏光ビームスプリッタ１３は、このように光源側から入射した記録用レーザ光・ＡＴＳ光については透過するように構成されている。
【００７０】
上記偏光ビームスプリッタ１３を透過した記録用レーザ光・ＡＴＳ光は、固定レンズ１４、可動レンズ１５、及びレンズ駆動部１６から成るエキスパンダに入射する。このエキスパンダは、光源に近い側が固定レンズ１４とされ、光源に遠い側に可動レンズ１５が配置され、レンズ駆動部１６によって上記可動レンズ１５が入射光の光軸に平行な方向に駆動されることで、記録用レーザ光・ＡＴＳ光について独立したフォーカス制御を行う。このエキスパンダは、前述した記録光用フォーカス機構に相当するものである。
後述もするように、当該記録光用フォーカス機構におけるレンズ駆動部１６は、図３に示すコントローラ４４によって、記録対象とする情報記録層位置Ｌに対応して設定されたオフセットｏｆ-Lの値に応じて駆動される。
【００７１】
上記記録光用フォーカス機構を構成する固定レンズ１４及び可動レンズ１５を介した各レーザ光は、図のようにミラー１７にて反射された後、１／４波長板１８を介してダイクロイックプリズム１９に入射する。
ダイクロイックプリズム１９は、その選択反射面が、記録用レーザ光・ＡＴＳ光と同波長帯の光は反射し、それ以外の波長による光は透過するように構成されている。従って上記のようにして入射した各レーザ光は、ダイクロイックプリズム１９にて反射される。
【００７２】
ダイクロイックプリズム１９で反射された各レーザ光は、図示するようにして対物レンズ２０を介してバルク型記録媒体１に対して照射される。
【００７３】
ここで、このように記録用レーザ光・ＡＴＳ光が対物レンズ２０を介して照射されることによっては、バルク層５内の対象とする情報記録層位置Ｌにおいて、先の図３０に示したような記録用スポットＳrec、隣接トラックサーボ用スポットＳatsが形成される。
この場合の光学系は、これら記録用スポットＳ_recと隣接トラックサーボ用スポットＳ_atsとの位置関係が、予め設定された位置関係で固定となるように設計されている。
本例において、記録用スポットＳ_recと隣接トラックサーボ用スポットＳ_atsとの半径方向における離間距離は、基準面Ｒｅｆに形成されたトラックのピッチ（スパイラルのピッチ）と一致するように設定されているとする。
【００７４】
対物レンズ２０に対しては、当該対物レンズ２０をフォーカス方向（バルク型記録媒体１に対して接離する方向）、及びトラッキング方向（上記フォーカス方向に直交する方向：バルク型記録媒体１の半径方向に平行な方向）に変位可能に保持する２軸アクチュエータ２１が設けられる。
この場合の２軸アクチュエータ２１には、フォーカスコイル、トラッキングコイルが備えられ、それぞれに駆動信号（後述する駆動信号ＦＤ、ＴＤ）が与えられることで、対物レンズ２０をフォーカス方向、トラッキング方向にそれぞれ変位させる。
【００７５】
ここで、記録時や再生時においては、上記のようにバルク型記録媒体１に対してＡＴＳ光が照射されることに応じて、バルク層５内のマーク列からの当該ＡＴＳ光の反射光が得られる。
このように得られたＡＴＳ光の反射光は、対物レンズ２０を介してダイクロイックプリズム１９に導かれ、当該ダイクロイックプリズム１９にて反射される。
ダイクロイックプリズム１９で反射されたＡＴＳ光の反射光は、１／４波長板１８→ミラー１７→記録光用フォーカス機構（可動レンズ１５→固定レンズ１４）を介した後、偏光ビームスプリッタ１３に入射する。
【００７６】
ここで、このように偏光ビームスプリッタ１３に入射するＡＴＳ光の反射光（復路光）は、１／４波長板１８による作用とバルク型記録媒体１での反射時の作用とにより、ＡＴＳ・再生時用レーザ１１ap側から偏光ビームスプリッタ１３に入射した光（往路光）とはその偏光方向が９０度異なるようにされる。この結果、上記のようにして入射したＡＴＳ光の反射光は、偏光ビームスプリッタ１３にて反射される。
【００７７】
このように偏光ビームスプリッタ１３にて反射されたＡＴＳ光の反射光は、集光レンズ２２を介して第１受光部２３の受光面上に集光する。
【００７８】
ここで、図示による説明は省略するが、第１受光部２３は複数の受光素子（この場合は４つであるとする）を備えて構成される。以下、第１受光部２３としての複数の受光素子で得られる受光信号については、これらを総括して受光信号ＤＴ-apと表記する。
【００７９】
また、光学ピックアップＯＰ内には、上記により説明した記録用レーザ光・ＡＴＳ光についての光学系の構成に加えて、サーボ用レーザ２４より出射されたサーボ用レーザ光を対物レンズ２０に導き且つ、上記対物レンズ２０に入射したバルク型記録媒体１からのサーボ用レーザ光の反射光を第２受光部２９に導くための光学系が形成される。
図示するようにサーボ用レーザ２４より出射されたサーボ用レーザ光は、コリメーションレンズ２５を介して平行光となるようにされた後、偏光ビームスプリッタ２６に入射する。偏光ビームスプリッタ２６は、このようにサーボ用レーザ２４側から入射したサーボ用レーザ光（往路光）は透過するように構成される。
【００８０】
偏光ビームスプリッタ２６を透過したサーボ用レーザ光は、１／４波長板２７を介してダイクロイックプリズム１９に入射する。
先に述べたように、ダイクロイックプリズム１９は、記録用レーザ光・ＡＴＳ光と同波長帯の光は反射し、それ以外の波長による光は透過するように構成されているため、上記サーボ用レーザ光はダイクロイックプリズム１９を透過し、対物レンズ２０を介してバルク型記録媒体１に照射される。
【００８１】
また、このようにバルク型記録媒体１にサーボ用レーザ光が照射されたことに応じて得られる当該サーボ用レーザ光の反射光（基準面Ｒｅｆからの反射光）は、対物レンズ２０を介した後ダイクロイックプリズム１９を透過し、１／４波長板２７を介して偏光ビームスプリッタ２６に入射する。
先のＡＴＳ光の場合と同様に、このようにバルク型記録媒体１側から入射したサーボ用レーザ光の反射光（復路光）は、１／４波長板２７の作用とバルク型記録媒体１での反射時の作用とにより、往路光とはその偏光方向が９０度異なるものとされ、従って復路光としてのサーボ用レーザ光の反射光は偏光ビームスプリッタ２６にて反射される。
【００８２】
偏光ビームスプリッタ２６にて反射されたサーボ用レーザ光の反射光は、集光レンズ２８を介して第２受光部２９の受光面上に集光する。
この第２受光部２９としても複数の受光素子（例えば４つ）を備え、以下、第２受光部２９としての複数の受光素子で得られる受光信号を総括して受光信号ＤＴ-svと表記する。
【００８３】
ここで、図示による説明は省略するが、実際において記録装置には、上記により説明した光学ピックアップＯＰ全体をトラッキング方向にスライド駆動するスライド駆動部が設けられ、当該スライド駆動部による光学ピックアップＯＰの駆動により、レーザ光の照射位置を広範囲に変位させることができるようにされている。
【００８４】
図３は、実施の形態の記録装置の全体的な内部構成を示している。
なお図３において、光学ピックアップＯＰの内部構成については、図２に示した構成のうち記録用レーザ１１ｒ、レンズ駆動部１６、２軸アクチュエータ２１のみを抽出して示している。
【００８５】
図３において、記録装置には、記録用レーザ光、ＡＴＳ光に係る信号処理系として、図中の記録処理部３１、マトリクス回路３２、再生処理部３３、再生時用サーボ回路３４、及びＡＴＳ側フィルタ３５が設けられている。
【００８６】
記録処理部３１には、バルク型記録媒体１に対して記録すべきデータ（記録データ）が入力される。記録処理部３１は、入力された記録データに対してエラー訂正符号の付加や所定の記録変調符号化、アドレス情報の付加を行うなどして、バルク型記録媒体１に実際に記録される例えば「０」「１」の２値データ列である記録変調データ列を得る。
そして、当該記録変調データ列に基づき生成した記録パルス信号ＲＣＰにより、光学ピックアップＯＰ内の録再用レーザ１１ｒを発光駆動する。
【００８７】
マトリクス回路３２には、前述した第１受光部２３からの受光信号ＤＴ-apが入力される。
マトリクス回路３２は、受光信号ＤＴ-apに基づき、マトリクス演算処理により必要な各種の信号を生成する。
【００８８】
ここで、本例の場合、バルク層５にマーク列により記録された信号の再生時（ユーザデータの再生時）には、ＡＴＳ光を、再生用のレーザ光として使用するものとしている。なお且つ再生時には、ＡＴＳ光の反射光に基づき既記録マーク列を対象としたフォーカスサーボ制御及びトラッキングサーボ制御を行うものとしている。
【００８９】
このことに対応してマトリクス回路３２では、受光信号ＤＴ-apに基づき、上述した記録変調データ列の再生信号に相当する高周波信号（和信号：以下、再生信号ＲＦとする）、フォーカスサーボ制御のためのフォーカスエラー信号ＦＥ-ap（マーク列に対するフォーカス誤差を表す信号）、トラッキングサーボ制御のためのトラッキングエラー信号ＴＥ-ap（隣接トラックサーボ用スポットＳatsの既記録マーク列に対する半径方向における位置誤差を表す信号）を生成するように構成される。
【００９０】
マトリクス回路３２にて生成された再生信号ＲＦは、再生処理部３４に供給される。
また、フォーカスエラー信号ＦＥ-apは、再生時用サーボ回路３４に対して供給される。
また、トラッキングエラー信号ＴＥ-apは、再生時用サーボ回路３４に対して供給されると共に、後述する記録時における位置制御に用いられるべく、ＡＴＳ側フィルタ３５に対しても供給される。
【００９１】
再生処理部３３は、再生信号ＲＦについて２値化処理や記録変調符号の復号化・エラー訂正処理など、上述した記録データを復元するための再生処理を行い、上記記録データを再生した再生データを得る。
また再生処理部３３はマーク列により記録されたデータ中に埋め込まれたアドレス情報の検出も行う。図示は省略しているが、検出されたアドレス情報はコントローラ４４に供給される。
【００９２】
再生時用サーボ回路３４は、コントローラ４４からの指示に応じて、フォーカスエラー信号ＦＥ-ap、トラッキングエラー信号ＴＥ-apのそれぞれに基づき、フォーカスサーボ信号ＦＳ-ap、トラッキングサーボ信号ＴＳ-apを生成する。ここでフォーカスサーボ信号ＦＳ-apは、ＡＴＳ光の合焦位置を再生対象とする情報記録層位置（マーク形成層位置）Ｌに追従させる（フォーカス誤差をキャンセルする）ための信号となる。またトラッキングサーボ信号ＴＳ-apは、ＡＴＳ光のスポット位置をマーク列に追従させる（トラッキング誤差をキャンセルする）ための信号となる。
これらフォーカスサーボ信号ＦＳ-ap、トラッキングエラー信号ＴＳ-apは、再生時において使用されるものである。
図示するようにフォーカスサーボ信号ＦＳ-apはセレクタ４０に供給され、トラッキングエラー信号ＴＳ-apはセレクタ４１に対して供給される。
【００９３】
ＡＴＳ側フィルタ３５は、コントローラ４４からの指示に応じて、トラッキングエラー信号ＴＥ-apに基づきトラッキングサーボ信号ＴＳ-atsを生成する。
具体的に、ＡＴＳ側フィルタ３５は、トラッキングエラー信号ＴＥ-apに対し位相補償等のトラッキングサーボのためのフィルタ処理を施して、上記トラッキングエラー信号ＴＥ-apが表すトラッキング誤差をキャンセルするための上記トラッキングサーボ信号ＴＳ-atsを生成する。
このとき、ＡＴＳ側フィルタ３５としては、例えば全積分や一次のＬＰＦ（ローパスフィルタ）など、ＡＴＳのループにピークを生じさせない構成とする。
図示するようにトラッキングサーボ信号ＴＥ-atsは、加算部３９に対して供給される。
【００９４】
また、記録装置には、サーボ用レーザ光の反射光についての信号処理系として、信号生成部３６、基準面側サーボフィルタ３７、及び記録時用フォーカスサーボ回路３８が設けられる。
【００９５】
信号生成部３６は、図２に示した第２受光部２９における複数の受光素子からの受光信号ＤＴ-svに基づき、必要な信号を生成する。
具体的に信号生成部３６は、受光信号ＤＴ-svに基づき、基準面Ｒｅｆに形成された位置案内子（トラック）に対するサーボ用レーザ光の照射スポット位置の半径方向における位置誤差を表すトラッキングエラー信号ＴＥ-svを生成する。
また信号生成部３６は、記録時におけるフォーカスサーボ制御を行うための信号として、基準面Ｒｅｆ（選択反射膜３）に対するサーボ用レーザ光のフォーカス誤差を表すフォーカスエラー信号ＦＥ-svを生成する。
【００９６】
なお、後の説明より明らかとなるように、本例の記録装置には、実際には、基準面Ｒｅｆに記録された位置情報を検出するための構成（図１６におけるselector信号選択回路５６、アドレス検出回路５７）が設けられ、これに対応して信号生成部３６は、位置情報検出用の信号も生成することになる。
図３では説明の便宜上、これら基準面Ｒｅｆの位置情報検出のための構成については省略しているが、その具体的説明については後に改めて行うこととする。
【００９７】
信号生成部３６により生成されたフォーカスエラー信号ＦＥ-svは、記録時用フォーカスサーボ回路３８に対して供給される。
記録時用フォーカスサーボ回路３８は、コントローラ４４からの指示に応じ、フォーカスエラー信号ＦＥ-svに基づいてフォーカスサーボ信号ＦＳ-svを生成し、これを上述したセレクタ４０に対して出力する。
【００９８】
ここで、セレクタ４０は、コントローラ４４から指示に応じて、記録時には記録時用フォーカスサーボ回路３８からのフォーカスサーボ信号ＦＳ-sv（つまりサーボ用レーザ光の焦点位置を基準面Ｒｅｆに追従させるためのサーボ制御信号）を選択するようにされ、再生時には、再生時用サーボ回路３５からのフォーカスサーボ信号ＦＳ-ap（ＡＴＳ光の焦点位置を再生対象とする情報記録層位置Ｌに追従させるためのサーボ制御信号）を選択するようにされる。
【００９９】
セレクタ４０により選択されたフォーカスサーボ信号ＦＳは、フォーカスドライバ４２に供給される。
フォーカスドライバ４２は、供給されたフォーカスサーボ信号ＦＳに基づき生成したフォーカス駆動信号ＦＤにより２軸アクチュエータ２１のフォーカスコイルを駆動する。
これにより、記録時に対応しては、対物レンズ２０が、サーボ用レーザ光の焦点位置を基準面Ｒｅｆに追従させるようにして駆動され、また再生時に対応しては、対物レンズ２０がＡＴＳ光の焦点位置を再生対象とする情報記録層位置Ｌに追従させるようにして駆動されるようになる。
なお、後述もするように、記録時におけるＡＴＳ光（及び記録用レーザ光）についてのフォーカス制御（記録対象とする情報記録層位置Ｌに合焦させるためのフォーカス制御）は、レンズ駆動部１６の制御により実現されるものである。
【０１００】
また、信号生成部３６により生成されたトラッキングエラー信号ＴＥ-svは、基準面側サーボフィルタ３７に供給される。
基準面側サーボフィルタ３７は、コントローラ４４からの指示に応じ、トラッキングエラー信号ＴＥ-svに基づいて、サーボ用レーザ光のスポット位置を基準面Ｒｅｆ上の位置案内子に追従させる（トラッキング誤差をキャンセルする）ためのトラッキングサーボ信号ＴＳ-svを生成する。
基準面側サーボフィルタ３７は、トラッキングエラー信号ＴＥ-svに対して位相補償等のトラッキングサーボのためのフィルタ処理を施して上記トラッキングサーボ信号ＴＳ-svを生成する。
【０１０１】
基準面側サーボフィルタ３７により生成されたトラッキングサーボ信号ＴＳ-svは、加算部３９に対して供給される。
加算部３９は、トラッキングサーボ信号ＴＳ-svと、前述のようにＡＴＳ側フィルタ３５から供給されるトラッキングサーボ信号ＴＳ-atsとを加算し、その結果をトラッキングサーボ信号ＴＳ-arfとしてセレクタ４１に出力する。
【０１０２】
セレクタ４１は、コントローラ４４からの指示に応じ、記録時には上記加算部３９からのトラッキングサーボ信号ＴＳ-arfを選択し、再生時には再生時用サーボ回路３５からのトラッキングサーボ信号ＴＳ-apを選択するようにされる。
【０１０３】
セレクタ４１により選択されたトラッキングサーボ信号ＴＳは、トラッキングドライバ４３に供給される。
トラッキングドライバ４３は、供給されたトラッキングサーボ信号ＴＳに基づき生成したトラッキング駆動信号ＴＤにより、２軸アクチュエータ２１のトラッキングコイルを駆動する。
これにより、再生時に対応しては、対物レンズ２０が上記トラッキングサーボ信号ＴＳ-apに基づき、ＡＴＳ光のスポット位置がマーク列に追従するように駆動されることとなる。
そして、記録時に対応しては、対物レンズ２０が、上記トラッキングサーボ信号ＴＳ-arfとしての、ＡＴＳ光のトラッキング誤差成分とサーボ用レーザ光のトラッキング誤差成分との双方を反映したサーボ制御信号に基づき駆動されることになる。
【０１０４】
コントローラ４４は、例えばＣＰＵ（Central Processing Unit）やＲＯＭ（Read Only Memory）、ＲＡＭ（Random Access Memory）などのメモリ（記憶装置）を備えたマイクロコンピュータで構成され、例えば上記ＲＯＭ等に記憶されたプログラムに従った制御・処理を実行することで、記録装置の全体制御を行う。
例えばコントローラ４４は、前述したように予め各層位置Ｌに対応して設定されたオフセットｏｆ-Lの値に基づいて、記録時における記録用レーザ光・ＡＴＳ光の合焦位置の制御（設定）を行う。具体的には、記録対象とする情報記録層位置Ｌに対応して設定されたオフセットｏｆ-Lの値に基づき、光学ピックアップＯＰ内のレンズ駆動部１６を駆動することで、深さ方向における記録位置及びＡＴＳ光の合焦位置の選択を行う。
【０１０５】
また、コントローラ４４は、記録時と再生時とで、それぞれ対応する手法でのフォーカスサーボ、トラッキングサーボが行われるようにするための制御を行う。
具体的に、フォーカスサーボ側については、記録時において、サーボ用レーザ光の反射光に基づき対物レンズ２０のフォーカスサーボ制御が実行されるように、記録時用フォーカスサーボ回路３８にフォーカスサーボ信号ＦＳ-svを生成させ且つ、セレクタ４０により当該フォーカスサーボ信号ＦＳ-svを選択させる。
また再生時には、ＡＴＳ光のマーク列からの反射光に基づき対物レンズ２０のフォーカスサーボ制御を実行させるべく、再生時用サーボ回路３４にフォーカスサーボ信号ＦＳ-apを生成させ且つ、セレクタ４０により当該フォーカスサーボ信号ＦＳ-apを選択させる。
【０１０６】
また、トラッキングサーボについては、記録時には、サーボ用レーザ光の反射光とＡＴＳ光の反射光とに基づく対物レンズ２０のトラッキングサーボ制御が実行されるように、基準面側サーボフィルタ３７、ＡＴＳ側フィルタ３５にトラッキングサーボ信号ＴＳ-sv、トラッキングサーボ信号ＴＳ-atsの生成をそれぞれ実行させ且つ、セレクタ４１に、これらの合成成分としてのトラッキングエラーＴＳ-arfを選択させる。
また再生時には、ＡＴＳ光の反射光に基づく対物レンズ２０のトラッキングサーボ制御が実行させるべく、再生時用サーボ回路３４にトラッキングサーボ信号ＴＳ-apを生成させ且つ、セレクタ４１に当該トラッキングサーボ信号ＴＳ-apを選択させる。
【０１０７】
［1-3．サーボ制御手法］
ここで、上記により説明した実施の形態の記録装置では、信号生成部３６と、基準面側サーボフィルタ３７と、トラッキングドライバ４３とを有することで、基準面Ｒｅｆに形成された位置案内子に基づき対物レンズ２０のトラッキングサーボ制御を行うサーボ制御系（基準面側サーボ制御系）が構成されている。つまりは、基準面Ｒｅｆの位置案内子に基づくトラッキングサーボ制御の行われるトラッキングサーボループが形成されているものである。
そして、本実施の形態では、記録時におけるトラッキングサーボ制御系として、このような基準面側サーボ制御系と共に、ＡＴＳによるサーボ制御系が構成されるようにしている。具体的には、ＡＴＳ光の反射光に基づき当該ＡＴＳ光のマーク列に対するトラッキング誤差を表すトラッキングエラー信号ＴＥ-apを生成するマトリクス回路３２と、トラッキングエラー信号ＴＥ-apからトラッキングサーボ信号ＴＳ-atsを生成するＡＴＳ側フィルタ３５とを設けた上で、当該ＡＴＳ側フィルタ３５により生成されたトラッキングサーボ信号ＴＳ-atsを、加算部３９によって、上記基準面側のトラッキングサーボループに対して与えるようにしている。
これは、上記トラッキングサーボ信号ＴＳ-atsを、上記基準面側サーボ制御系の目標値（制御目標値）として与えるように構成しているものである。或いは、上記基準面側サーボ制御系としてのトラッキングサーボループをマイナーループとして、上記トラッキングサーボ信号ＴＳ-atsを当該マイナーループの目標値として入力していると換言することもできる。
【０１０８】
このような構成とした場合、ＡＴＳ制御系のトラッキング誤差は、主に、対物レンズ２０のレンズシフト等によって生じる先の図２９にて説明したようなスポット位置ずれ（この場合はサーボ用レーザ光とＡＴＳ光との間のスポット位置ずれとなる）に起因して生じることになる。
そして、このようなＡＴＳ側のトラッキング誤差情報が、上記基準面側サーボ制御系の制御目標値として与えられることで、ＡＴＳ光のスポット位置が、マーク列に追従するように対物レンズ２０が駆動されることになる。
このことからも理解されるように、本実施の形態のトラッキングサーボ制御手法としても、ＡＴＳ単体とする場合と同様に、記録マーク列が隣接マーク列に重なったり交差するといった事態の発生を防止できるものとなる。
【０１０９】
ここで、上記説明からも理解されるように、基準面側サーボフィルタ３７を含む上記基準面側サーボ制御系は、主に、通常の外乱成分（つまり上記のようなレンズシフト等に伴うスポット位置ずれの要因となるディスク偏芯成分等よりも高い周波数の外乱成分）に追従する機能を担わせるべきとなる。
この意味で、上記基準面側サーボ制御系の制御帯域は、通常のサーボ制御系とする場合と同等の制御帯域に設定する。具体的に本例の場合、上記基準面側サーボ制御系の制御帯域は１０ｋHz程度に設定するものとしている。
【０１１０】
一方、ＡＴＳ側フィルタ３５を含むＡＴＳ制御系については、上記通常の外乱成分への追従はさせるべきではないので、その制御帯域は、少なくとも上記基準面側サーボ制御系の制御帯域よりも低い周波数帯域に設定する。具体的に本例の場合、ＡＴＳ制御系の制御帯域（ＡＴＳ側フィルタ３５のカットオフ周波数）としては１ｋHz程度に設定している。
【０１１１】
上記のように基準面側サーボ制御系としてのトラッキングサーボループ（マイナーループ）に対してＡＴＳ制御系の制御信号としてのトラッキングサーボ信号ＴＳ-atsを付与するようにした実施の形態のトラッキングサーボ制御系によれば、従来のＡＴＳ制御系単体とした場合に生じていた、先の図３２に示したような伝達特性ゲインのピークの発生を防止することができる。
【０１１２】
図４は、実施の形態のトラッキングサーボ制御系の伝達特性についてのシミュレーション結果を示している。なお、図４（ａ）は周波数−振幅特性、図４（ｂ）は周波数−位相特性を示している。
この図４を参照して分かるように、実施の形態のトラッキングサーボ制御系においては、その伝達特性ゲインが、その制御帯域の全域で０ｄＢを超えないように抑制されるものとなる。つまりこれにより、従来のＡＴＳ制御系単体とした場合における伝達特性ゲインのピークの発生が防止されているものである。
【０１１３】
このように伝達特性ゲインのピークの発生が防止されることで、トラッキング誤差信号が時間と共に増大して発散してしまうといった事態の発生を防止でき、その結果、記録マーク列の重なりや交差の発生を防止することのできるトラッキングサーボ制御を、従来のＡＴＳ単体とする場合よりも安定なものとして実現することができる。
【０１１４】
［2-1．スポット位置ずれに伴う問題点］
ここで、上述もしたように、本実施の形態のトラッキングサーボ制御系では、ＡＴＳ側のトラッキング誤差情報が基準面側サーボ制御系の制御目標値として与えられることで、ＡＴＳ光のスポット位置がマーク列に対して追従するように制御されることになる。
すなわち、このことを裏返すと、基準面Ｒｅｆ上のサーボ用レーザ光のスポット位置は、上記ＡＴＳ側のトラッキング誤差情報としての、前述のスポット位置ずれ量に応じた分だけサーボ対象とするトラックからオフセットされる場合があるということになる。
【０１１５】
この場合において、上記スポット位置ずれ量は、場合によっては複数トラック幅分に及ぶ可能性がある。すなわち、例えばバルク型記録媒体１の作製精度が比較的低く、ディスク偏芯やディスクチルトの発生量が比較的大となる場合には、スポット位置ずれ量としてもその分大となり、これに伴って１トラック幅以上のスポット位置ずれが生じる可能性もある。
【０１１６】
このようにスポット位置ずれ量が大であると、基準面側サーボ制御系におけるエラー信号も大となり、これに伴ってトラッキングサーボが外れてしまう可能性がある。これは、例えばプッシュプル信号等の通常のトラッキングエラー信号では、スポット位置が対象とするトラックから１／２トラック分以上離間してしまうとその波形に折り返しが生じ、これに伴ってトラッキングサーボ制御を適正に行うことが不能となるためである。
【０１１７】
そこで本実施の形態では、スポット位置ずれ量が基準面Ｒｅｆ上のトラック幅換算で１／２トラック分以上に生じる場合にも、トラッキングサーボ制御状態を維持できるようにするための対策を施すものとしている。具体的には、トラッキングエラー信号ＴＥ-svとして、１／２トラック幅以上のトラッキング誤差が生じた場合にも波形の折り返しを生じさせずその誤差量を線形に表すことのできる、線形トラッキング誤差信号を生成するというものである。
【０１１８】
［2-2．基準面の構造］
先ず、線形トラッキング誤差信号の生成にあたっては、基準面Ｒｅｆに形成される位置案内子として、以下で説明するようなピット列を形成することになる。
図５及び図６を参照して、本例のバルク型記録媒体１の基準面Ｒｅｆ上におけるピット列の形成態様について説明する。
図５は、バルク型記録媒体１における基準面Ｒｅｆ（選択反射膜３）の表面を一部拡大した平面図である。
この図５においては、紙面の左側から右側に向かう方向をピット列の形成方向、つまりはトラックの形成方向（線方向）としている。この場合、サーボ用レーザ光の照射スポットは、バルク型記録媒体１の回転駆動に伴い、紙面の左側から右側に移動するものとする。
また、上記ピット列の形成方向と直交する方向（紙面の縦方向）は、バルク型記録媒体１の半径方向である。
【０１１９】
また図５において、図中の白丸で示すＡ〜Ｆは、ピットの形成可能位置を表す。すなわち、基準面Ｒｅｆにおいて、ピットは、当該ピットの形成可能位置においてのみ形成されるものであって、ピットの形成可能位置以外にはピットの形成が行われない。
また、図中のＡ〜Ｆの符号の別はピット列の別（半径方向において配列されるピット列の別）を表し、これらＡ〜Ｆの符号に付される数字はピット列上におけるピットの形成可能位置の別を表す。
【０１２０】
ここで、図中の黒太線で表す間隔は、従来のバルク型記録媒体１において実現可能な最小トラックピッチ（従来限界トラックピッチ）を表している。このことからも理解されるように、本実施の形態のバルク型記録媒体１では、Ａ〜Ｆの計６本のピット列が、従来限界の１トラック幅内に形成されている、すなわち半径方向における光学限界を超えるピッチで配列されていることになる。
【０１２１】
但し、従来限界の１トラック幅内にこれら複数のピット列を単純に配列したのみでは、ピット列形成方向においてピットの形成位置が重なってしまう虞があり、つまりはピット列形成方向におけるピットの間隔が光学限界を超えてしまう虞がある。
【０１２２】
そこで、本例においては、従来限界の１トラック幅内に配列される上記Ａ〜Ｆの複数のピット列間で、ピット列形成方向におけるピット同士の間隔が光学限界を超えないようにするべく、以下のような条件を定めている。
すなわち、
１）Ａ〜Ｆの各ピット列において、ピットの形成可能位置の間隔を所定の第１の間隔に制限する。
２）このようにピットの形成可能位置の間隔が制限されたＡ〜Ｆの各ピット列を、それぞれのピットの形成可能位置がピット列形成方向において所定の第２の間隔ずつずれたものとなるようにして配列する（つまり上記第２の間隔で各ピット列の位相をずらす）。
というものである。
【０１２３】
ここで、半径方向に配列されるＡ〜Ｆのピット列におけるそれぞれのピットの形成可能位置のピット列形成方向における間隔（上記第２の間隔）をｎとおく。このとき、上記２）の条件が満たされるようにＡ〜Ｆの各ピット列が配列されることで、ピット列Ａ−Ｂ、ピット列Ｂ−Ｃ、ピット列Ｃ−Ｄ、ピット列Ｄ−Ｅ、ピット列Ｅ−Ｆ、及びピット列Ｆ−Ａの各ピット形成可能位置間の間隔は、図示するように全てｎとなる。
また、Ａ〜Ｆの各ピット列におけるピット形成可能位置の間隔（上記第１の間隔）は、この場合はＡ〜Ｆまでの計６つのピット列位相を実現するものとしているので、６ｎとなる。
【０１２４】
本例において、基準面Ｒｅｆにおけるサーボ用レーザ光による情報再生及びサーボ制御は、ＤＶＤ（Digital Versatile Disc）の場合と同様の波長λ＝６５０nm程度、開口数ＮＡ＝０．６５程度の条件で行うものとしている。このことに対応して本例では、各ピット形成可能位置の区間長はＤＶＤにおける最短マークと同じ３Ｔ分（Ｔはチャネルビット）の区間長とし、またピット列形成方向におけるＡ〜Ｆの各ピット形成可能位置のエッジ間の間隔も、同様の３Ｔ分の長さに設定している。つまりこのことによると、ｎ＝６Ｔとなる。
この結果、上記１）２）の条件が満たされるものとなっている。
【０１２５】
ここで、基準面Ｒｅｆ全体におけるピットの形成態様について理解するために、図６を参照してより具体的なピット列の形成手法について説明する。
なお図６では、図示の都合上、ピット列の種類（位相）がＡ〜Ｃの３種のみとされた場合を例示している。
また図中において、黒丸はピット形成可能位置を表す。
【０１２６】
この図６を参照して分かるように、バルク型記録媒体１の基準面Ｒｅｆにおいては、それぞれ位相の異なる複数種のピット列（図６ではＡ〜Ｃの３種としているが実際にはＡ〜Ｆの６種となる）を１セットとし、該複数種のピット列の１セットがスパイラル状に形成されている。
このことで、上記複数種のピット列のうちの所要の１種のピット列を対象としたトラッキングサーボをかけ続けることで、スポット位置はスパイラル状の軌跡を描くことになる。
【０１２７】
また、基準面Ｒｅｆにおいて、ピットは、ＣＡＶ（Constant Angular Velocity）方式により形成されたものとなる。このことから、図示するように複数種のピット列の個々は、半径方向において、そのピットの形成位置（ピットの形成可能位置）が同じ角度位置に揃えられるものとなる。
【０１２８】
ここで、このように基準面ＲｅｆにてピットをＣＡＶ方式で記録するのは、ディスク上のどの領域においても図５に示したようなＡ〜Ｆの各ピット列の位相関係が保たれるようにするためである。
【０１２９】
［2-3．アドレス情報について］
続いて、図７により、基準面Ｒｅｆに記録されるアドレス情報のフォーマットの一例について説明する。
なお、以下、図１０までの説明においては、便宜上、トラッキングエラー信号（個々のトラッキングエラー信号）としてはプッシュプル信号に基づく信号を生成することを前提とする。後の説明により明らかとなるように、実際の構成では、トラッキングエラー信号としてｓｕｍ信号（和信号）に基づく信号を生成することになる。
【０１３０】
図７において、先ず図７（ａ）は、それぞれ異なるピット列位相を有するようにされた各ピット列（Ａ〜Ｆ）のピット形成可能位置の関係を模式化して示している。なお図７（ａ）においては「＊」マークによりピット形成可能位置を表している。
【０１３１】
ここで、後述もするように、実施の形態では、これらＡ〜Ｆのピット列のうちから１つのピット列を選択し、該選択した１つのピット列を対象としてトラッキングサーボをかけるようにされている。
但し、このとき問題となるのは、Ａ〜Ｆの各ピット列は半径方向において光学限界を超えたピッチで配列されているという点である。すなわち、この場合においてサーボ用レーザ光の照射スポットがトラック上を移動（走査）して得られるトラッキングエラー信号（プッシュプル信号）としては、Ａ〜Ｆの全てのピットを反映したものとなってしまうので、該トラッキングエラー信号に基づきトラッキングサーボをかけたとしても、選択した１つのピット列を追従することはできない。
このため、実施の形態では、選択したピット列におけるピット形成可能位置のタイミングにおけるトラッキングエラー信号をサンプルし、該サンプルしたトラッキングエラー信号の値に基づいて（いわば間欠的に）トラッキングサーボをかけるということをその基本概念とする。
【０１３２】
そして、これと同様に、アドレス情報を読む場合にも、選択したピット列に記録される情報のみが選択的に読み出されるように、該選択したピット列のピット形成可能位置のタイミングにおける和信号（ｓｕｍ信号）をサンプルし、その値に基づいてアドレス情報を検出するという手法を採る。
【０１３３】
このような情報検出の手法に対応するため、本例では、ピット形成可能位置におけるピットの形成有無により、チャネルビット（記録符号）の「０」「１」を表現するフォーマットを採用するものとしている。すなわち、１つのピット形成可能位置が、１チャネルビット分の情報を担うものである。
【０１３４】
その上で、このようなチャネルビットの複数個による「０」「１」のデータパターンにより、データビットの１ビットを表現するものとしている。
具体的に本例では、図７（ｂ）に示されるように、チャネルビット４つ分でデータビットの「０」「１」を表現するものとし、例えば４チャネルビットのパターン「１０１１」がデータビット「０」、４チャネルビットのパターン「１１０１」がデータビット「１」を表すものとしている。
【０１３５】
このとき重要であるのは、チャネルビット「０」が連続しないという点である。つまり、チャネルビット「０」が連続してしまうということは、上述のようにトラッキングエラー信号を間欠的に用いてサーボを行うということを基本としたときに、エラー信号が得られない期間が連続してしまうということ意味するので、これに伴い、トラッキングサーボの精度を確保することが非常に困難となってしまうためである。
このため本例では、例えば上記のようなデータビットの定義により、チャネルビット「０」が連続しないという条件が満たされるようにしている。すなわち上記のようなデータビットの定義により、トラッキングサーボの精度低下が最小限に抑えられるようにしているものである。
【０１３６】
図７（ｃ）は、シンクパターンの一例を示している。
例えばシンクパターンについては、図示するように１２チャネルビットで表現するものとし、前半の８ビットを上記データビットの定義に当てはまらないチャネルビットパターン「１１１１１１１１」とし、その後の４チャネルビットのパターンでシンクの別（種類）を表すものとしている。具体的に、上記８ビットに続く４チャネルビットのパターンが「１０１１」であればＳｙｎｃ１、「１１０１」であればＳｙｎｃ２としている。
【０１３７】
バルク型記録媒体１においては、アドレス情報が、上記のようなシンクの後に続けて記録されているものとする。
ここで前述もしたように、アドレス情報としては、ディスク上の絶対位置情報（半径位置の情報、及び回転角度情報）を記録する。
なお確認のために述べておくと、本例では従来限界の１トラック幅内にＡ〜Ｆの複数本のピット列を配列するものとしているが、アドレス情報の記録は、各ピット列の半径位置が個別に表されるように（各ピット列の識別が可能となるように）、ピット列ごとに個別の情報が割り振られるようにして行う。すなわち、従来限界の１トラック幅内に配列されるＡ〜Ｆの各ピット列に対し同じアドレス情報を記録するものではない。
【０１３８】
なお、図７の説明からも理解されるように、バルク型記録媒体１における基準面Ｒｅｆに対しては、ピットがポジション記録されていることになる。ポジション記録とは、ピット（或いはマーク）の形成部分をチャネルデータ「１」、それ以外の部分をチャネルデータ「０」とする記録手法を指すものである。
【０１３９】
［2-4．サーボ対象ピット列の選択手法］
上記のように従来の１トラック幅内に複数配列されるようにして形成されたピット列のうちから、任意のピット例を対象としてトラッキングサーボをかけるための手法は、具体的には以下で説明する手法をその基本とする。
【０１４０】
図８は、バルク型記録媒体１の回転駆動に伴い基準面Ｒｅｆ上をサーボ用レーザ光のスポットが移動する様子と、その際に得られるｓｕｍ信号、ｓｕｍ微分信号、及びプッシュプル信号ＰＰ（ＰＰ信号とも表記する）の波形との関係を模式的に示している。
上記ｓｕｍ信号は、図２に示した第２受光部２９としての複数の受光素子からの受光信号ＤＴ-svの和信号であり、上記ｓｕｍ微分信号はｓｕｍ信号を微分して得られる信号である。
ここで、この図では説明の便宜上、図中の各ピット形成可能位置の全てにピットが形成されているものとする。
【０１４１】
図示するようにして、バルク型記録媒体１の回転に伴いサーボ用レーザ光のビームスポットが移動することに伴っては、ｓｕｍ信号は、Ａ〜Ｆの各ピットのピット列形成方向における配置間隔に応じた周期でその信号レベルがピークを迎えることになる。つまりこのｓｕｍ信号は、Ａ〜Ｆの各ピットのピット列形成方向における間隔（形成周期）を表していることになる。
【０１４２】
ここで、この図の例ではサーボ用レーザ光のスポットがピット列Ａ上に沿って移動するものとしているので、上記ｓｕｍ信号は、ピット列形成方向におけるピットＡの形成位置の通過時にピーク値が最大（絶対値）となり、またピットＢ〜ピットＤの各形成位置にかけて徐々にピーク値が減少していく傾向となる。そしてその後、ピットＥの形成位置→ピットＦの形成位置の順でピーク値は上昇傾向に転じ、再びピットＡの形成位置に至ることでピーク値が最大となる。すなわち、ピット列形成方向における上記ピットＥ、Ｆの形成位置においては、外周側に隣接するピット列Ｅ、Ｆにおけるピットの影響を受けるので、ｓｕｍ信号のピーク値はピットＥ、Ｆの形成位置ごとで順に上昇することになる。
【０１４３】
また、上記ｓｕｍ信号を微分して生成されるｓｕｍ微分信号、及びトラッキング誤差信号としてのＰＰ信号としては、それぞれ図示するような波形が得られる。
上記ｓｕｍ微分信号は、各ピット列Ａ〜Ｆのピット形成位置（厳密にはピット形成可能位置である）のピット列形成方向における間隔に応じたクロックＣＬＫを生成するために用いられることになる。
【０１４４】
具体的に、クロックＣＬＫとしては、ｓｕｍ微分信号を用いることで、各ピットのセンター位置（ピークポジション）に相当する位置（タイミング）を立ち上がり位置（タイミング）とする信号を生成する。
クロックＣＬＫの生成手法としては、次の図９に示されるように、先ずは所定の閾値Ｔｈ１でｓｕｍ信号をスライスした信号と、同様に所定の閾値Ｔｈ２でｓｕｍ微分信号をスライスした信号とを生成する。そして、これらのＡＮＤをとることで、上記ピークポジションに相当する立ち上がりタイミングを有するタイミング信号を生成する。
クロックＣＬＫは、このように生成したタイミング信号を入力信号（参照信号）としたＰＬＬ（Phase Locked Loop）処理を行うことで生成する。
【０１４５】
図１０は、上記の手順により生成されたクロックＣＬＫと、該クロックＣＬＫに基づき生成された各selector信号の波形と、基準面Ｒｅｆに形成された各ピット列（の一部）との関係を模式化して示している。
この図からも明らかなように、クロックＣＬＫとしては、ピットＡ〜Ｆの形成間隔に応じた周期を有する信号となる。具体的には、ピットＡ〜Ｆのピークポジションにその立ち上がりタイミングを有する信号となる。
【０１４６】
このようなクロックＣＬＫから、Ａ〜Ｆの個々のピット形成可能位置のタイミングを表す６種のselector信号を生成する。
具体的にこれらselector信号としては、それぞれ上記クロックＣＬＫを１／６に分周して生成されたものとなっており、且つそれぞれの位相が１／６周期ずつずれたものとなっている。換言すれば、これら各selector信号は、それぞれの立ち上がりタイミングが１／６周期ずつずれたものとなるように、クロックＣＬＫをそれぞれのタイミングで１／６に分周して生成されるものである。
【０１４７】
これらselector信号は、それぞれ、Ａ〜Ｆの対応するピット列のピット形成可能位置のタイミングを表す信号となる。従って、これらselector信号を生成した上で、任意のselector信号を選択し、該選択したselector信号が表すタイミングでトラッキングエラー信号（プッシュプル信号）をサンプルホールドすることで、Ａ〜Ｆのうちの１つのピット列に追従するためのトラッキングエラー信号を得ることができる。すなわち、このように生成したトラッキングエラー信号に基づき対物レンズ２０についてのトラッキングサーボ制御を行うことで、Ａ〜Ｆのピット列のうちの任意のピット列（つまりトラック）上にサーボ用レーザ光のスポットをトレースさせることが可能となる。
【０１４８】
［2-5．プッシュプル信号をサンプリングする手法の問題点とその対策］
ここで、上記の説明では、サーボ対象として任意のピット列を選択するにあたり、そのためのトラッキングエラー信号としてプッシュプル信号をサンプルホールドした信号を用いるものとしたが、このようにプッシュプル信号を用いる場合には、いわゆるチルト（skew）や対物レンズ２０のレンズシフトに起因して、正確なトラッキング誤差情報を得ることができない虞がある。
【０１４９】
図１１は、チルトやレンズシフトに伴う反射光の受光スポット位置ずれについて説明するための図であり、図１１（ａ）はチルト・レンズシフトが生じていない理想状態における第２受光部２９上の反射光スポット（受光スポット）を示し、図１１（ｂ）はチルト・レンズシフトが生じた場合における第２受光部２９上の反射光スポットを示している。
なおこれら図１１（ａ）（ｂ）において、反射光スポット内に示した斜線部は、ディスク上に形成されたピットからの一次回折光成分の重畳領域（プッシュプル信号成分重畳領域）を表している。
【０１５０】
先ず前提として、プッシュプル信号（ＰＰ）は、図中の受光素子Ａ，Ｂの組及び受光素子Ｃ，Ｄの組がそれぞれディスクの半径方向に対応する方向に隣接する組であるとした場合、
ＰＰ＝（Ａi＋Ｂi）−（Ｃi＋Ｄi） ・・・［式１］
により計算されるものである。但し［式１］において、Ａi，Ｂi，Ｃi，Ｄiはそれぞれ受光素子Ａ，Ｂ，Ｃ，Ｄの受光信号である。
【０１５１】
ここで、サーボ用レーザ光の照射スポットは、対象とするピット列上を正確にトレースしていると仮定する。その場合において、チルト・レンズシフトが生じていない図１１（ａ）の理想状態であれば、上記[式１]に従って計算されるプッシュプル信号ＰＰの値は「０」となる。
これに対し、図１１（ｂ）に示すようなチルト・レンズシフトに伴う反射光スポット位置ずれが生じている場合、[式１]により計算されるプッシュプル信号ＰＰの値は、本来得られるべき「０」とは異なる値となってしまい、誤差が生じるものとなる。
【０１５２】
このことからも理解されるように、プッシュプル信号ＰＰには、チルトやレンズシフトに伴うオフセットが生じる。
【０１５３】
このようなチルトやレンズシフトに伴うオフセット成分が無視できる程度であれば、上記で説明したままのトラッキングエラー信号の生成手法は有効であるが、トラッキングサーボ制御の安定性の向上を図るにあたっては、トラッキングエラー信号には上記のようなオフセット成分が重畳しないことが望ましい。
【０１５４】
従来、チルトやレンズシフトに伴うオフセットの影響を回避するためのトラッキングエラー検出手法としては、いわゆる３スポット法が知られているが、該３スポット法は、グレーティング等の光学部品の追加が必要であり、その分、部品コストや調整コストの増加を招く。
また、上記オフセットの影響を回避するためのトラッキングエラー検出手法としてはＤＰＰ（Differential Push Pull）法も知られているが、該ＤＰＰ法としても同様にグレーティング等の追加が必要であり、部品コスト、調整コストの増加を招く。
【０１５５】
これら従来のトラッキングエラー検出手法が有する問題点の解決を図りつつ、チルト・レンズシフトに伴うオフセット成分の影響を回避するために、本例では、以下で説明するようなｓｕｍ信号を用いる手法によりトラッキングエラー信号を生成するものとしている。
【０１５６】
図１２は、ピット列ごとの各トラッキングエラー信号の生成手法について説明するための図である。
なおこの図１２では、基準面Ｒｅｆに形成された各ピット列Ａ〜Ｆと、そのうちのピット列Ｄ上をトレースするようにトラッキングサーボがかけられている状態でのサーボ用レーザ光のスポット位置の移動軌跡（斜線部）と、該サーボ用レーザ光の移動に伴い得られるｓｕｍ信号の波形とを示している。
【０１５７】
例えばこの図１２に示されるように、サーボ用レーザ光のスポットがピット列Ｄ上を正確にトレースしている場合、ｓｕｍ信号の値としては、ピット列Ｄ上のピット形成位置と一致するタイミング（図中ｎ）において最小値をとり、該ピット列Ｄに対する位相差が大となるピット列ほど、そのピット形成位置での値が徐々に大となる傾向となる。
このとき、ｓｕｍ信号の値は、ピット列Ｄに対しそれぞれ隣接する（つまり同じ位相差を有する）ピット列Ｃ、ピット列Ｅのそれぞれのピット形成位置と一致するタイミング（図中ｎ−１、ｎ＋１）にて同じ値をとり、また、ピット列Ｄに対しそれぞれ同じ距離（半径方向における距離）だけ離間した（つまり同じ位相差を有する）ピット列Ｂ、ピット列Ｆのそれぞれのピット形成位置と一致するタイミング（図中ｎ−２、ｎ＋２）においても同じ値をとることになる。
【０１５８】
ここで、図中に示す状態とは異なり、サーボ用レーザ光のスポットがピット列Ｄ上から半径方向にずれた位置をトレースしたとすると、上記ピット列Ｄに対する位相差が等しいそれぞれのピット列の組における各ピット形成位置でのｓｕｍ信号の値には、ずれが生じることが分かる。
つまりこのことからも理解されるように、トラッキングサーボの対象とするピット列に対する位相差が等しい各ピット列の組における各ピット形成位置でのｓｕｍ信号の値は、上記トラッキングサーボの対象とするピット列に対するトラッキング方向の誤差を反映していることになる。具体的に、トラッキング誤差情報は、上記位相差が等しい各ピット列の組における各ピット形成位置でのｓｕｍ信号の値の差分を計算することで得ることができる。
【０１５９】
この点を踏まえ本例では、具体的に以下のようにしてｓｕｍ信号に基づくトラッキングエラー信号の生成を行う。
すなわち、先ずは、トラッキング誤差の検出対象としたいピット列に対して位相差が等しい２つのピット列を選出する。具体的に本例の場合は、対象とするピット列にそれぞれ隣接するピット列を選出するものとする。
その上で、これら選出した各ピット列のピット形成可能位置に対応するタイミング（図１２におけるｎ−１とｎ＋１が該当）で、ｓｕｍ信号の値をサンプリングし、それらサンプリングしたｓｕｍ信号の値の差分を計算する。該計算結果が、トラッキング誤差の検出対象としたいピット列についてのトラッキングエラー信号となる。
【０１６０】
［2-6．線形トラッキング誤差信号の生成手法］
上記のような手法により、ピット列Ａ〜Ｆの各ピット列ごとのトラッキングエラー信号を生成することができる。
ここで、本例では、これらピット列Ａ〜Ｆが従来の１トラック幅内に形成されていることから、ピット列Ａ〜Ｆとしての各位相のピット列ごとのトラッキングエラー信号は、同時並行的に生成することができる。つまり、ピット列Ａ〜Ｆの個々について、上記手法によるトラッキングエラー信号の生成を個々に行うトラッキングエラー信号生成部を設けることで、ピット列Ａ〜Ｆの個々についてのトラッキングエラー信号を同時並行して得ることができるものである。
以下、このように同時並行的に得ることのできる、ピット列Ａ,Ｂ,Ｃ,Ｄ,Ｅ,Ｆについての個々のトラッキングエラー信号のことを、それぞれトラッキングエラー信号ＴＥ_Ａ,ＴＥ_Ｂ,ＴＥ_Ｃ,ＴＥ_Ｄ,ＴＥ_Ｅ,ＴＥ_Ｆと表記する。
【０１６１】
本実施の形態では、これらトラッキングエラー信号ＴＥ_Ａ〜ＴＥ_Ｆを同時並行的に得るようにした上で、前述したスポット位置ずれに伴ってサーボ用レーザ光のスポット位置が半径方向に変位する際に、これらトラッキングエラー信号ＴＥ_Ａ〜ＴＥ_Ｆのゼロクロス点近傍の波形を順次繋ぎ合わせるようにすることで、線形トラッキング誤差信号を得る。
【０１６２】
図１３は、サーボ用レーザ光のスポット位置が半径方向に変位する際に得られるトラッキングエラー信号ＴＥ_Ａ〜ＴＥ_Ｆの各波形を示している。
この図１３を参照して分かるように、前述したスポット位置ずれに起因してサーボ用レーザ光のスポット位置が半径方向に変位される際には、トラッキングエラー信号ＴＥ_Ａ〜ＴＥ_Ｆの個々は、正弦波状に変化する。この場合、ピット列は１トラック幅内に６つ配列されるので、これらトラッキングエラー信号ＴＥ_Ａ〜ＴＥ_Ｆの位相は、図のように６０°ずつずれた関係となる。
【０１６３】
ここで、仮に、ピット列Ａを対象としたトラッキングサーボがかけられているとすると、スポット位置は、図中に示すトラッキングエラー信号ＴＥ_Ａ上において、その負→正のゼロクロス点にあると表現することができる。
そしてその状態から、前述のスポット位置ずれに伴う制御目標値の変化によりスポット位置が徐々に半径方向に変位していくとすると、トラッキングエラー信号ＴＥ_Ａの振幅が徐々に上昇していくことになる。
このとき、図中時点ｔ１としての、スポット位置がピット列Ａ上から１／１２トラック分（３０°）移動した時点では、ピット列Ａに隣接するピット列Ｂに対するトラッキング誤差を表すトラッキングエラー信号ＴＥ_Ｂの振幅値（絶対値）が、トラッキングエラー信号ＴＥ_Ａの振幅値（絶対値）と一致することが分かる。つまりこの時点ｔ１は、スポット位置が、半径方向におけるピット列Ａとピット列Ｂとの中間点に至った時点となる。
以降も同様に、図中の時点ｔ２はピット列Ｂとピット列Ｃとの中間点、時点ｔ３はピット列Ｃとピット列Ｄとの中間点、時点ｔ４はピット列Ｄとピット列Ｅとの中間点、時点ｔ５はピット列Ｅとピット列Ｆとの中間点、時点ｔ６はピット列Ｆとピット列Ａとの中間点を表すものとなる。
【０１６４】
この点からも理解されるように、スポット位置が半径方向に変位していく状態では、図中の黒太線で表すように、スポット位置が各エラー信号ＴＥ_Ａ〜ＴＥ_Ｆの直線区間（ゼロクロス点近傍の区間）を順次通過していくことになる。
【０１６５】
本実施の形態ではこの点に着目して、次の図１４に示すように、スポット位置が半径方向に移動していく際の各トラッキングエラー信号ＴＥ_Ａ〜ＴＥ_Ｆのゼロクロス点近傍の波形を繋ぎ合わせることで、１／２トラック幅以上のトラッキング誤差を線形に表すことのできる線形トラッキング誤差信号を生成する。
なお、図１４では、最初にサーボＯＮとしたピット列（つまりサーボ対象とするピット列）がピット列Ｄとされた場合での線形トラッキング誤差信号の生成イメージを示している。
【０１６６】
図１５は、図１４に示したような線形トラッキング誤差信号（以下、リニアエラー信号とも称する）の具体的な生成手法について説明するための図である。
なお、この図１５においては、サーボ用レーザ光のスポット位置が半径方向に移動している際に得られるトラッキングエラー信号ＴＥ_Ａ〜ＴＥ_Ｆの波形を示している。
【０１６７】
先ず、図１５を参照して分かるように、スポット位置が半径方向に移動することに応じては、時間経過と共に、トラッキングエラー信号ＴＥ_Ａ〜ＴＥ_Ｆの振幅の大小関係に変化が生じる。
リニアエラー信号の生成にあたっては、予め、これらトラッキングエラー信号ＴＥ_Ａ〜ＴＥ_Ｆの振幅の大小関係の別ごとにｃａｓｅ分けをしておく。具体的にこの場合は、ピット列位相が６種とされることに応じ、ｃａｓｅとしてはｃａｓｅ１〜ｃａｓｅ１２に分けられることになる。
これらｃａｓｅ１〜ｃａｓｅ１２の定義は、トラッキングエラー信号ＴＥ_Ａ〜ＴＥ_Ｆの振幅をＡ〜Ｆとすると、以下に表すものとなる。
ｃａｓｅ１：Ｅ＜Ｆ＜Ｄ＜Ａ＜Ｃ＜Ｂ
ｃａｓｅ２：Ｅ＜Ｄ＜Ｆ＜Ｃ＜Ａ＜Ｂ
ｃａｓｅ３：Ｄ＜Ｅ＜Ｃ＜Ｆ＜Ｂ＜Ａ
ｃａｓｅ４：Ｄ＜Ｃ＜Ｅ＜Ｂ＜Ｆ＜Ａ
ｃａｓｅ５：Ｃ＜Ｄ＜Ｂ＜Ｅ＜Ａ＜Ｆ
ｃａｓｅ６：Ｃ＜Ｂ＜Ｄ＜Ａ＜Ｅ＜Ｆ
ｃａｓｅ７：Ｂ＜Ｃ＜Ａ＜Ｄ＜Ｆ＜Ｅ
ｃａｓｅ８：Ｂ＜Ａ＜Ｃ＜Ｆ＜Ｄ＜Ｅ
ｃａｓｅ９：Ａ＜Ｂ＜Ｆ＜Ｃ＜Ｅ＜Ｄ
ｃａｓｅ１０：Ａ＜Ｆ＜Ｂ＜Ｅ＜Ｃ＜Ｄ
ｃａｓｅ１１：Ｆ＜Ａ＜Ｅ＜Ｂ＜Ｄ＜Ｃ
ｃａｓｅ１２：Ｆ＜Ｅ＜Ａ＜Ｄ＜Ｂ＜Ｃ
【０１６８】
本例では、各トラッキングエラー信号ＴＥ_Ａ〜ＴＥ_Ｆの振幅を逐次モニタし、上記のように定義される各ｃａｓｅの別を判定する。そして、このように判定したｃａｓｅごとに、以下で示す計算を行うことにより、リニアエラー信号を生成する。
なお、以下で示す計算例は、図１５に示されるように最初にサーボＯＮとしたピット列がピット列Ｄとされた場合を前提としている。換言すれば、当該ピット列Ｄ上にスポットが位置している状態がリニアエラー信号のゼロ点であることを前提としている。
ここで、下記計算例において、Ｐ(ｎ)は各時刻におけるリニアエラー信号の出力値を表し、Ａ〜Ｆはそれぞれトラッキングエラー信号ＴＥ_Ａ〜ＴＥ_Ｆの振幅値を表す。
また、Ｐprevは、直前のｃａｓｅからの切り替わりタイミングにおける、当該直前のｃａｓｅで選択されていたトラッキングエラー信号ＴＥ（ＴＥ_Ａ〜ＴＥ_Ｆの何れか）の振幅値を表すものである。
さらに、ＨＰＫは、ｃａｓｅの切り替わりタイミングにおける、当該ｃａｓｅの切り替わりに応じて新たに選択されたトラッキングエラー信号ＴＥ（ＴＥ_Ａ〜ＴＥ_Ｆの何れか）の振幅値を表すものである。
ｃａｓｅ１・・・Ｐ(ｎ)＝Ｐprev＋Ｄ
ｃａｓｅ２・・・Ｐ(ｎ)＝Ｐprev−ＨＰＫ＋Ｃ
ｃａｓｅ３・・・Ｐ(ｎ)＝Ｐprev＋Ｃ
ｃａｓｅ４・・・Ｐ(ｎ)＝Ｐprev−ＨＰＫ＋Ｂ
ｃａｓｅ５・・・Ｐ(ｎ)＝Ｐprev＋Ｂ
ｃａｓｅ６・・・Ｐ(ｎ)＝Ｐprev−ＨＰＫ＋Ａ
ｃａｓｅ７・・・Ｐ(ｎ)＝Ｐprev＋Ａ
ｃａｓｅ８・・・Ｐ(ｎ)＝Ｐprev−ＨＰＫ＋Ｆ
ｃａｓｅ９・・・Ｐ(ｎ)＝Ｐprev＋Ｆ
ｃａｓｅ１０・・・Ｐ(ｎ)＝Ｐprev−ＨＰＫ＋Ｅ
ｃａｓｅ１１・・・Ｐ(ｎ)＝Ｐprev＋Ｅ
ｃａｓｅ１２・・・Ｐ(ｎ)＝Ｐprev−ＨＰＫ＋Ｄ
【０１６９】
この計算例を参照して分かるように、本実施の形態では、スポット位置が半径方向に移動する際の各位相のトラッキング誤差信号ＴＥ_Ａ〜ＴＥ_Ｆの振幅の大小関係が変化する所定のタイミングごとに、スポット位置の移動方向側に隣接するピット列についてのトラッキング誤差信号ＴＥを順次繋ぎ合わせていくことで、リニアエラー信号を生成するようにされている。
具体的に、本例では、上記所定のタイミングが、ｃａｓｅ１／ｃａｓｅ２の切り替わりタイミング、ｃａｓｅ３／ｃａｓｅ４の切り替わりタイミング、ｃａｓｅ５／ｃａｓｅ６の切り替わりタイミング、ｃａｓｅ７／ｃａｓｅ８の切り替わりタイミング、ｃａｓｅ９／ｃａｓｅ１０の切り替わりタイミング、ｃａｓｅ１１／ｃａｓｅ１２の切り替わりタイミングとされた上で、これら所定のタイミングごとに、スポット位置の移動方向側に隣接するピット列についてのトラッキングエラー信号ＴＥを順次選択するようにされる。そしてこれと共に、上記所定のタイミングごとに、その時点でリニアエラー信号として出力していた値（Ｐprev）から新たに選択したトラッキングエラー信号ＴＥの上記所定のタイミングでの値（ＨＰＫ）を減算して得た値を基準値（Ｐprev−ＨＰＫ）とし、当該基準値に対して、上記新たに選択したトラッキングエラー信号の値を加算して得た値（Ｐ(ｎ)）を、リニアエラー信号の値として順次出力するようにされている。
【０１７０】
このような手法によって、スポット位置が半径方向（外周方向、内周方向の双方）に移動している状態において、先の図１４に示したような各位相のトラッキングエラー信号ＴＥのゼロクロス点近傍の波形を繋ぎ合わせたものとしてのリニアエラー信号を生成することができる。換言すれば、サーボＯＮしたピット列（トラック）からのトラッキング誤差量が、トラッキングエラー信号ＴＥの折り返しが生じるような誤差量であっても、そのトラッキング誤差量をほぼ線形な形で表すトラッキング誤差信号を生成できるものである。
【０１７１】
このようなリニアエラー信号（トラッキングエラー信号ＴＥ-sv）に基づくトラッキングサーボ制御が行われることで、前述のスポット位置ずれが１／２トラック幅以上に生じるような場合でも、トラッキングサーボが外れないようにすることができる。
【０１７２】
[2-7．信号生成部の具体的構成例]
図１６は、実施の形態の記録装置が備える信号生成部３６の内部構成を主に示した図である。
なお図１６では、先に述べた位置情報（アドレス情報）検出のために実施の形態の記録装置に備えられる構成として、selector信号選択回路５６とアドレス検出回路５７を併せて示している。また、図３に示したコントローラ４４も併せて示している。
【０１７３】
図示するように信号生成部３６内には、マトリスク回路５０、クロック生成回路５１、selector信号生成回路５２、エラー信号生成回路５３、ｃａｓｅ判定回路５４、及びリニアエラー信号生成回路５５が設けられている。
【０１７４】
マトリスク回路５０は、図２に示した第２受光部２９における複数の受光素子からの受光信号ＤＴ-svに基づき、前述したフォーカスエラー信号ＦＥ-sv、及び和信号としてのｓｕｍ信号を生成する。
先に説明したように、フォーカスエラー信号ＦＥ-svは記録時用フォーカスサーボ回路３８に対して供給される。
ｓｕｍ信号は、図示するようにクロック生成回路５１、エラー信号生成回路５３、及びアドレス検出回路５７に対して供給される。
【０１７５】
クロック生成回路５１は、先に説明した手順に従ってクロックＣＬＫを生成する。
図１７は、クロック生成回路５１の内部構成を示している。
図１７において、クロック生成回路５１内にはスライス回路５１Ａ、ｓｕｍ微分回路５１Ｂ、スライス回路５１Ｃ、ＡＮＤゲート回路５１Ｄ、及びＰＬＬ回路５１Ｅが設けられる。
ｓｕｍ信号は、図示するようにスライス回路５１Ａとｓｕｍ微分回路５１Ａとに入力される。スライス回路５１Ａは、設定された閾値Ｔｈ１に基づき上記ｓｕｍ信号をスライスし、その結果を上記ＡＮＤゲート回路５１Ｄに出力する。
上記ｓｕｍ微分回路５１Ｂは、ｓｕｍ信号を微分して先に説明したｓｕｍ微分信号を生成する。上記スライス回路５１Ｃは、設定された閾値Ｔｈ２に基づき、上記ｓｕｍ微分回路５１Ｂにより生成されたｓｕｍ微分信号をスライスし、その結果を上記ＡＮＤゲート回路５１Ｄに出力する。
ＡＮＤゲート回路５１Ｄは、上記スライス回路５１Ａからの出力と上記スライス回路５１Ｃからの出力とのＡＮＤをとり、これによって先に説明したタイミング信号を生成する。
ＰＬＬ回路５１Ｅは、このようにＡＮＤゲート回路５１Ｄで得られたタイミング信号を入力信号としてＰＬＬ処理を行って、クロックＣＬＫを生成する。
【０１７６】
図１６に戻り、クロック生成回路５１により生成されたクロックＣＬＫは、selector信号生成回路５２に対して供給される。
selector信号生成回路５２は、クロックＣＬＫに基づき、Ａ〜Ｆの各ピット列のそれぞれのピット形成可能位置のタイミングを表す６種のselector信号を生成する。具体的にselector信号生成回路５２は、クロックＣＬＫを１／６に分周した信号として、それぞれ位相が１／６周期ずつずれた信号を生成することで、上記６種のselector信号を得る。
以下、これら６種のselector信号についてはそれぞれselector信号Ｓ_Ａ,Ｓ_Ｂ,Ｓ_Ｃ,Ｓ_Ｄ,Ｓ_Ｅ,Ｓ_Ｆと表記する。
【０１７７】
selector信号Ｓ_Ａ〜Ｓ_Ｆは、エラー信号生成回路５３に供給されると共に、selector信号選択回路５６に対しても供給される。
【０１７８】
エラー信号生成回路５３は、上記selector信号Ｓ_Ａ〜Ｓ_Ｆとｓｕｍ信号とに基づき、ピット列Ａ〜Ｆのそれぞれについてのトラッキングエラー信号ＴＥ（ＴＥ_Ａ〜ＴＥ_Ｆ）を生成する。
【０１７９】
図１８は、エラー信号生成回路５３の内部構成を示している。
この図１８を参照して分かるように、エラー信号生成回路５３内には、トラッキングエラー信号ＴＥ_Ａ〜ＴＥ_Ｆとしての６種のエラー信号ＴＥを生成するために、２つのサンプルホールド回路と減算部とによるエラー信号生成部がｓｕｍ信号に対して６つ並列に設けられている。
具体的には、サンプルホールド回路ＳＨ-A1とサンプルホールド回路ＳＨ-A2と減算部５３Ａとによりトラッキングエラー信号ＴＥ_Ａを生成するエラー信号生成部と、サンプルホールド回路ＳＨ-B1とサンプルホールド回路ＳＨ-B2と減算部５３Ｂとによりトラッキングエラー信号ＴＥ_Ｂを生成するエラー信号生成部と、サンプルホールド回路ＳＨ-C1とサンプルホールド回路ＳＨ-C2と減算部５３Ｃとによりトラッキングエラー信号ＴＥ_Ｃを生成するエラー信号生成部と、サンプルホールド回路ＳＨ-D1とサンプルホールド回路ＳＨ-D2と減算部５３Ｄとによりトラッキングエラー信号ＴＥ_Ｄを生成するエラー信号生成部と、サンプルホールド回路ＳＨ-E1とサンプルホールド回路ＳＨ-E2と減算部５３Ｅとによりトラッキングエラー信号ＴＥ_Ｅを生成するエラー信号生成部と、サンプルホールド回路ＳＨ-F1とサンプルホールド回路ＳＨ-F2と減算部５３Ｆとによりトラッキングエラー信号ＴＥ_Ｆを生成するエラー信号生成部とが設けられている。
【０１８０】
サンプルホールド回路ＳＨ-A1はselector信号Ｓ_Ｆが表すタイミングでｓｕｍ信号をサンプルホールドし、サンプルホールド回路ＳＨ-A2はselector信号Ｓ_Ｂが表すタイミングでｓｕｍ信号をサンプルホールドし、減算部５３Ａはサンプルホールド回路ＳＨ-A1の出力からサンプルホールド回路ＳＨ-A2の出力を減算することで、トラッキングエラー信号ＴＥ_Ａを生成する。
また、サンプルホールド回路ＳＨ-B1はselector信号Ｓ_Ａが表すタイミングでｓｕｍ信号をサンプルホールドし、サンプルホールド回路ＳＨ-B2はselector信号Ｓ_Ｃが表すタイミングでｓｕｍ信号をサンプルホールドし、減算部５３Ｂはサンプルホールド回路ＳＨ-B1の出力からサンプルホールド回路ＳＨ-B2の出力を減算することで、トラッキングエラー信号ＴＥ_Ｂを生成する。
また、サンプルホールド回路ＳＨ-C1はselector信号Ｓ_Ｂが表すタイミングでｓｕｍ信号をサンプルホールドし、サンプルホールド回路ＳＨ-C2はselector信号Ｓ_Ｄが表すタイミングでｓｕｍ信号をサンプルホールドし、減算部５３Ｃはサンプルホールド回路ＳＨ-C1の出力からサンプルホールド回路ＳＨ-C2の出力を減算することで、トラッキングエラー信号ＴＥ_Ｃを生成する。
また、サンプルホールド回路ＳＨ-D1はselector信号Ｓ_Ｃが表すタイミングでｓｕｍ信号をサンプルホールドし、サンプルホールド回路ＳＨ-C2はselector信号Ｓ_Ｅが表すタイミングでｓｕｍ信号をサンプルホールドし、減算部５３Ｄはサンプルホールド回路ＳＨ-D1の出力からサンプルホールド回路ＳＨ-D2の出力を減算することで、トラッキングエラー信号ＴＥ_Ｄを生成する。
また、サンプルホールド回路ＳＨ-E1はselector信号Ｓ_Ｄが表すタイミングでｓｕｍ信号をサンプルホールドし、サンプルホールド回路ＳＨ-E2はselector信号Ｓ_Ｆが表すタイミングでｓｕｍ信号をサンプルホールドし、減算部５３Ｅはサンプルホールド回路ＳＨ-E1の出力からサンプルホールド回路ＳＨ-E2の出力を減算することで、トラッキングエラー信号ＴＥ_Ｅを生成する。
また、サンプルホールド回路ＳＨ-F1はselector信号Ｓ_Ｅが表すタイミングでｓｕｍ信号をサンプルホールドし、サンプルホールド回路ＳＨ-F2はselector信号Ｓ_Ａが表すタイミングでｓｕｍ信号をサンプルホールドし、減算部５３Ｆはサンプルホールド回路ＳＨ-F1の出力からサンプルホールド回路ＳＨ-F2の出力を減算することで、トラッキングエラー信号ＴＥ_Ｆを生成する。
【０１８１】
説明を図１６に戻す。
エラー信号生成回路５３により生成されたトラッキングエラー信号ＴＥ_Ａ〜ＴＥ_Ｆは、ｃａｓｅ判定回路５４に供給されると共に、リニアエラー信号生成回路５５にも供給される。
【０１８２】
ｃａｓｅ判定回路５４は、トラッキングエラー信号ＴＥ_Ａ〜ＴＥ_Ｆに基づき、先に説明したｃａｓｅ１〜ｃａｓｅ１２の別を判定し、その判定結果を表す判定信号Ｄｃｓをリニアエラー信号生成回路５５、及びselector信号選択回路５６に供給する。
具体的にこの場合は、各ｃａｓｅの切り替わりタイミングを検出し、上記判定信号Ｄｃｓとしてはｃａｓｅの切り替わりタイミングとｃａｓｅの別とを表す信号を生成・出力する。
【０１８３】
リニアエラー信号生成回路５５は、トラッキングエラー信号ＴＥ_Ａ〜ＴＥ_Ｆと判定信号Ｄｃｓとに基づき、前述したリニアエラー信号を生成する。具体的には、先に計算例として示した各ｃａｓｅごとの計算式のうち、上記判定信号Ｄｃｓが表すｃａｓｅに対応する計算式に従った計算を行うことで、リニアエラー信号としてのトラッキングエラー信号ＴＥ-svを生成する。
なお、リニアエラー信号生成回路５５に対しては、コントローラ４４より、基準面側サーボ制御系のトラッキングサーボがＯＮとされるタイミングに応じてリセット信号が与えられ、リニアエラー信号生成回路５５は当該リセット信号に応じて、上記リニアエラー信号としてのトラッキングエラー信号ＴＥ-svの値を０リセットする。
リニアエラー信号生成回路５５により生成されたトラッキングエラー信号ＴＥ-svは、図３に示される基準面側サーボフィルタ３７に供給される。
【０１８４】
selector信号選択回路５６は、selector信号生成回路５２から供給されるselector信号Ｓ_Ａ〜Ｓ_Ｆのうちから、判定信号Ｄｃｓに基づく１つのselector信号をselector信号Ｓ_Adとして選択し、当該selector信号Ｓ_Adをアドレス検出回路５７に出力する。
具体的に、selector信号選択回路５６は、判定信号Ｄｃｓにより表されるｃａｓｅ１〜ｃａｓｅ１２についての各切り替わりタイミングのうちの所定のタイミングで、selector信号Ｓ_Adとして出力するselector信号Ｓを、それまで出力していたselector信号Ｓに隣接するselector信号Ｓ（つまりそれまで出力していたselector信号Ｓがそのピット形成可能位置のタイミングを表すピット列に対して、スポットの移動方向側に隣接するピット列に対応するselector信号Ｓ）に切り替える。つまり本例の場合は、ｃａｓｅ１／ｃａｓｅ２の切り替わりタイミング、ｃａｓｅ３／ｃａｓｅ４の切り替わりタイミング、ｃａｓｅ５／ｃａｓｅ６の切り替わりタイミング、ｃａｓｅ７／ｃａｓｅ８の切り替わりタイミング、ｃａｓｅ９／ｃａｓｅ１０の切り替わりタイミング、及びｃａｓｅ１１／ｃａｓｅ１２の切り替わりタイミングにおいて、selector信号Ｓ_Adとして出力するselector信号Ｓを、それまで出力していたselector信号Ｓに隣接するselector信号Ｓに切り替える。
【０１８５】
アドレス検出回路５７は、selector信号Ｓ_Adが表すピット形成可能位置のタイミング（この場合はselector信号Ｓ_AdがＨレベルの区間）で、ｓｕｍ信号の値をサンプリングした結果に基づき、基準面Ｒｅｆに記録されたアドレス情報を検出する。
ここで、先の図７を参照して説明したように、本例の場合、各ピット列のアドレス情報は、そのピット列におけるピット形成可能位置でのピット形成有無を１チャネルビットの情報として記録されるものである。これに応じアドレス検出回路５７は、上記selector信号Ｓ_Adの立ち上がりタイミングでｓｕｍ信号の値を識別することで、１チャネルビットの「０」「１」のデータ識別を行い、その結果に基づき、先の図７で説明したフォーマットに従ったアドレスデコード処理を行うことで、記録されたアドレス情報の検出（再生）を行う。
アドレス検出回路５７で検出されたアドレス情報は、コントローラ４４に対して供給される。
【０１８６】
ここで、上記のselector信号選択回路５６の動作によれば、selector信号Ｓ_Adとしては、スポット位置に最寄りのピット列についてのselector信号Ｓが選択されることになる。
これによりアドレス検出回路５７は、スポット位置に最寄りのピット列に記録されたアドレス情報を適正に検出することができる。
【０１８７】
コントローラ４４は、上記のような信号処理部３６の構成に対応して、以下の処理も行うようにされる。
すなわち、コントローラ４４は、サーボ用レーザ光についてのトラッキングサーボに関して、サーボ対象とするピット列をピット列Ａ〜Ｆの何れかに選択する（つまりサーボＯＮとするピット列を選択する）としたときは、リニアエラー信号生成回路５５に対し、トラッキングエラー信号ＴＥ_Ａ〜ＴＥ_Ｆのうちサーボ対象とすべきとして選択したピット列についてのトラッキングエラー信号ＴＥを選択出力するように指示を行う。
また、前述もしたように、このように或るピット列を対象にサーボＯＮしたことに応じては、リニアエラー信号（ＴＥ-sv）の振幅を０リセットするための指示をリニアエラー信号生成回路５５に対して行うことになる。
【０１８８】
上記のような構成により、基準面側サーボ制御系によるトラッキングサーボ制御が、線形トラッキング誤差信号に基づき行われるようにすることができる。これにより、前述したレンズシフト等に伴うサーボ用レーザ光とＡＴＳ光とのスポット位置ずれが１／２トラック幅以上に生じるような場合でもトラッキングサーボが外れないようにできる。つまりこれにより、偏芯等の抑制のために要求されるバルク型記録媒体１の作製精度の緩和が図られるようにでき、その結果、バルク型記録媒体１の製品コストの削減を図ることができる。
【０１８９】
＜３．変形例＞
以上、本発明の実施の形態について説明したが、本発明としてはこれまでで説明した具体例に限定されるべきものではない。
例えばこれまでの説明では、基準面Ｒｅｆに図５や図６に示したようなピット列を形成する場合において、ｓｋｅｗや対物レンズ２０のレンズシフトへの対策として、ｓｕｍ信号のサンプルホールド値の差分によるトラッキングエラー信号ＴＥを生成するものとしたが、ｓｋｅｗやレンズシフトに伴うスポット位置ずれの補正手段を設けるなど、ｓｋｅｗやレンズシフトに伴う影響が無視できるような場合には、トラッキングエラー信号ＴＥとしてプッシュプル信号をサンプルホールドした信号を用いるようにもできる。
【０１９０】
また、これまでの説明では、リニアエラー信号の生成にあたり、先の図１４に示したようにトラッキングエラー信号ＴＥ_Ａ〜ＴＥ_Ｆをそのまま用いる場合を例示したが、リニアエラー信号の生成手法としては、以下のような変形例としての手法も可能である。
【０１９１】
図１９〜図２２は、変形例としてのリニアエラー信号の生成手法について説明するための図である。
先ず、図１９では、スポット位置が半径方向に移動している際に得られるトラッキングエラー信号ＴＥ_Ａ〜ＴＥ_Ｆの波形を示すと共に、該波形図上でピット列Ａの真上にスポットが位置するタイミングとしての時点ｔＡ、及びピット列Ｄの真上にスポットが位置するタイミングとしての時点ｔＤをそれぞれ示している。
また、図２０では、基準面Ｒｅｆ上においてスポットがピット列Ａ上をトレースしている様子（図２０（ａ））とピット列Ｄ上をトレースしている様子（図２０（ｂ））とを示している。
ここで、図２０に示すように、線方向（ピット列形成方向）においてスポットがピット列Ａ上のピット形成可能位置に一致するタイミングをｔｓ１とおく。同様に、線方向においてスポットがピット列Ｂ上、ピット列Ｃ上、ピット列Ｄ上、ピット列Ｅ上、ピット列Ｆ上のピット形成可能位置にそれぞれ一致するタイミングをｔｓ２、ｔｓ２、ｔｓ３、ｔｓ４、ｔｓ５、ｔｓ６とおく。
【０１９２】
先ず、図１９を参照すると、ピット列Ａについてのトラッキングエラー信号ＴＥ_Ａとピット列Ｄについてのトラッキングエラー信号ＴＥ_Ｄとは、その位相が反転した関係、換言すればその極性が逆転した関係となっていることが分かる。すなわち、常にＡ＝−Ｄの関係が得られている。
本変形例は、トラッキングエラー信号ＴＥ_Ａ〜ＴＥ_Ｆのうちに、このように互いの極性が逆の関係となるトラッキングエラー信号ＴＥの組が存在することを利用した手法となる。
【０１９３】
ここで、図２０（ａ）に示すスポットがピット列Ａ上をトレースする状態は、図１９に当て嵌めれば、時点ｔＡでのスポット位置が該当することになる。同様に図２０（ｂ）に示すスポットがピット列Ｄ上をトレースする状態は、図１９における時点ｔＤでのスポット位置が該当する。
つまりこのことからも理解されるように、スポット位置が半径方向に移動することに伴っては、図２０（ａ）に示すスポット位置の状態から図２０（ｂ）に示すスポット位置の状態への遷移（或いは逆の遷移）が生じることになる。
【０１９４】
この点を踏まえた上で、図１９における時点ｔＡ、すなわち図２０（ａ）の状態に相当する状態では、トラッキングエラー信号ＴＥ_Ａは、対象とするピットＡの真上を通過するスポットの反射光に基づき生成されるものとなる。しかしながら、スポット位置が半径方向に移動して時点ｔＤ、つまり図２０（ｂ）に相当する状態となったときは、トラッキングエラー信号ＴＥ_Ａは、対象とするピットＡから最も離れたところにスポットが位置する状態で生成されることになる。
トラッキングエラー信号ＴＥ_Ｄについても同様のことが言え、図１９における時点ｔＤ（図２０（ｂ）に相当する状態）では対象とするピットＤの真上を通過するスポットの反射光に基づき生成できるが、時点ｔＡ（図２０（ａ）に相当する状態）では対象とするピットＤから最も離れたところにスポットが位置する状態で生成されることになる。
【０１９５】
このようにトラッキングエラー信号ＴＥは、スポットが半径方向に変位される状況下では、スポット位置がその対象ピット列から遠ざかると当該対象ピット列から離れたスポットの反射光に基づき生成されるものである。そしてこのとき、対象ピット列から離れた区間では、その値の信頼性が低くなる虞がある。
【０１９６】
ここで、トラッキングエラー信号ＴＥ_Ａ,ＴＥ_Ｄの関係性について見ると、トラッキングエラー信号ＴＥ_Ａは、スポット位置が対象ピット列から最も遠ざかる時点ｔＤにおいて、トラッキングエラー信号ＴＥ_Ｄが対象とするピット列Ｄの真上にスポット位置があることになる。
この点と、上述のようにトラッキングエラー信号ＴＥ_Ａ、ＴＥ_Ｄが逆位相の関係（Ａ＝−Ｄ）である点とを考慮すると、トラッキングエラー信号ＴＥ_Ａについては、対象とするピット列Ａの近傍にスポット位置がある状態ではトラッキングエラー信号ＴＥ_Ａをそのまま使用し、ピット列Ａからスポット位置が遠ざかった状態ではトラッキングエラー信号ＴＥ_Ｄの反転値を使用することとすれば、結果として、トラッキングエラー信号ＴＥ_Ａと同等の波形による信号を、常に、対象ピット列の近傍にスポットがある状態で生成した信号により得ることができる。
【０１９７】
同様のことが、トラッキングエラー信号ＴＥ_Ｃ，ＴＥ_Ｅについても言える。すなわち、トラッキングエラー信号ＴＥ_Ｃについては、これと逆位相の関係となるトラッキングエラー信号ＴＥ_Ｆをペアとして、対象とするピット列Ｃの近傍にスポット位置がある状態ではトラッキングエラー信号ＴＥ_Ｃをそのまま出力し、ピット列Ｃからスポット位置が或る程度遠ざかった状態ではトラッキングエラー信号ＴＥ_Ｆの反転値を出力する。
また、トラッキングエラー信号ＴＥ_Ｅについてはこれと逆位相の関係となるトラッキングエラー信号ＴＥ_Ｂをペアとして、対象とするピット列Ｅの近傍にスポット位置がある状態ではトラッキングエラー信号ＴＥ_Ｅをそのまま出力し、ピット列Ｅからスポット位置が或る程度遠ざかった状態ではトラッキングエラー信号ＴＥ_Ｂの反転値を出力する。
【０１９８】
ここで、上記のようにトラッキングエラー信号ＴＥ_Ａ，ＴＥ_Ｄの組、トラッキングエラー信号ＴＥ_Ｅ,ＴＥ_Ｂの組、トラッキングエラー信号ＴＥ_Ｃ，ＴＥ_Ｆの組をそれぞれ用いて生成するトラッキングエラー信号ＴＥを、それぞれトラッキングエラー信号ＴＥ_ｐ、ＴＥ_ｑ、ＴＥ_ｒとおく。
これらの波形は、図２１に示すものとなる。
【０１９９】
これらトラッキングエラー信号ＴＥ_ｐ、ＴＥ_ｑ、ＴＥ_ｒの具体的な生成手法を以下に示す。
なお下記の計算式において、ｓ１〜ｓ６は、図２０に示したタイミングｔｓ１〜ｔｓ６でのｓｕｍ信号の振幅値を表す。
また、Ａはトラッキングエラー信号ＴＥ_Ａの振幅値、Ｄはトラッキングエラー信号ＴＥ_Ｄの振幅値である。同様にＥ、Ｂ、Ｃ、Ｆはトラッキングエラー信号ＴＥ_Ｅ、ＴＥ_Ｂ、ＴＥ_Ｃ、ＴＥ_Ｆの振幅値をそれぞれ表す。
ｓ１＜ｓ４ → ＴＥ_ｐ＝Ａ
ｓ１≧ｓ４ → ＴＥ_ｐ＝−Ｄ
ｓ５＜ｓ２ → ＴＥ_ｑ＝Ｅ
ｓ５≧ｓ２ → ＴＥ_ｑ＝−Ｂ
ｓ３＜ｓ６ → ＴＥ_ｒ＝Ｃ
ｓ３≧ｓ６ → ＴＥ_ｒ＝−Ｆ
【０２００】
なお、トラッキングエラー信号ＴＥ_ｐ、ＴＥ_ｑ、ＴＥ_ｒの生成手法は上記に限定されるものでなく、例えば、
ｓ６＋ｓ２＜ｓ３＋ｓ５ → ＴＥ_ｐ＝Ａ
ｓ６＋ｓ２≧ｓ３＋ｓ５ → ＴＥ_ｐ＝−Ｄ
などのようにすることもできる。
【０２０１】
図２２は、トラッキングエラー信号ＴＥ_ｐ、ＴＥ_ｑ、ＴＥ_ｒを用いた変形例としてのリニアエラー信号の具体的生成手法について説明するための図である。
先ず、この場合も各エラー信号ＴＥの振幅大小関係の別ごとにｃａｓｅ分けを行う。具体的にこの場合は、使用するエラー信号ＴＥの位相の種類が３つとされることに応じ、ｃａｓｅとしてはｃａｓｅ２１〜ｃａｓｅ２６の６つに分けられることになる。
これらｃａｓｅ２１〜ｃａｓｅ２６の定義は、トラッキングエラー信号ＴＥ_ｐ、ＴＥ_ｑ、ＴＥ_ｒの振幅をそれぞれｐ、ｑ、ｒとすると以下のようになる。
ｃａｓｅ２１：ｐ＜ｑ＜ｒ
ｃａｓｅ２２：ｑ＜ｐ＜ｒ
ｃａｓｅ２３：ｑ＜ｒ＜ｐ
ｃａｓｅ２４：ｒ＜ｑ＜ｐ
ｃａｓｅ２５：ｒ＜ｐ＜ｑ
ｃａｓｅ２６：ｐ＜ｒ＜ｑ
【０２０２】
本変形例では、トラッキングエラー信号ＴＥ_ｐ、ＴＥ_ｑ、ＴＥ_ｒの振幅を逐次モニタして上記定義による各ｃａｓｅの判定を行う。そして、このように判定したｃａｓｅごとに以下で示す計算を行うことで、リニアエラー信号を生成する。
なお、以下の計算例においては、最初にサーボＯＮとしたピット列がピット列Ｅとされ、当該ピット列Ｅ上にスポットが位置している状態がリニアエラー信号のゼロ点に設定される場合を前提としている。
また下記計算例において、Ｐ(ｎ)、Ｐprev、及びＨＰＫの定義については実施の形態の場合と同様である。
ｃａｓｅ２１・・・Ｐ(ｎ)＝Ｐprev＋ｑ
ｃａｓｅ２２・・・Ｐ(ｎ)＝Ｐprev−ＨＰＫ−ｐ
ｃａｓｅ２３・・・Ｐ(ｎ)＝Ｐprev−ＨＰＫ＋ｒ
ｃａｓｅ２４・・・Ｐ(ｎ)＝Ｐprev−ＨＰＫ−ｑ
ｃａｓｅ２５・・・Ｐ(ｎ)＝Ｐprev−ＨＰＫ＋ｐ
ｃａｓｅ２６・・・Ｐ(ｎ)＝Ｐprev−ＨＰＫ−ｒ
【０２０３】
このようにして変形例のリニアエラー信号生成手法としても、スポット位置が半径方向に移動する際の各位相のトラッキング誤差信号ＴＥの振幅の大小関係が変化する所定のタイミングごとに、スポット位置の移動方向側に隣接するピット列についてのトラッキング誤差信号ＴＥを順次繋ぎ合わせていくことでリニアエラー信号を生成する手法であることが分かる。
具体的に、変形例の場合は、スポット位置が半径方向に移動する際の各位相のトラッキング誤差信号ＴＥの振幅の大小関係の変化が生じるごとに、スポット位置の移動方向側に隣接するピット列についてのトラッキングエラー信号ＴＥ（ＴＥ_ｑはピット列Ｅ、ＴＥ_ｒはピット列Ｃ、ＴＥ_ｐはピット列Ａをそれぞれ対象とするものである）を順次選択するものとしている。そしてこれと共に、上記振幅の大小関係の変化が生じるタイミング（上記所定のタイミング）ごとに、その時点でリニアエラー信号として出力していた値（Ｐprev）から新たに選択したトラッキングエラー信号ＴＥの上記所定のタイミングでの値（ＨＰＫ）を減算して得た値を基準値（Ｐprev−ＨＰＫ）とし、当該基準値に対して、上記新たに選択したトラッキングエラー信号ＴＥの値を加算して得た値（Ｐ(ｎ)）を、リニアエラー信号の値として順次出力するようにされている。
【０２０４】
なおこのような変形例としてのリニアエラー信号の生成手法について、図２２と先の図１４とを対比すると、ｃａｓｅ２１で選択されるトラッキングエラー信号ＴＥ_ｑはトラッキングエラー信号ＴＥ_Ｅに相当し、ｃａｓｅ２４で選択されるトラッキングエラー信号ＴＥ_ｑはトラッキングエラー信号ＴＥ_Ｂに相当するものであることが分かる。また、ｃａｓｅ２２で選択されるトラッキングエラー信号ＴＥ_ｐはトラッキングエラー信号ＴＥ_Ｄに相当しｃａｓｅ２５で選択されるトラッキングエラー信号ＴＥ_ｐはトラッキングエラー信号ＴＥ_Ａに相当するものであり、さらに、ｃａｓｅ２３で選択されるトラッキングエラー信号ＴＥ_ｒはトラッキングエラー信号ＴＥ_Ｃに相当しｃａｓｅ２６で選択されるトラッキングエラー信号ＴＥ_ｒはトラッキングエラー信号ＴＥ_Ｆに相当するものであることが分かる。
このことからも理解されるように、変形例のリニアエラー信号生成手法としても、基準面Ｒｅｆに形成された各位相のピット列Ａ〜Ｆのそれぞれ対応するトラッキングエラー信号ＴＥ_Ａ〜ＴＥ_Ｆの、それぞれのゼロクロス点近傍の波形を繋ぎ合わせる手法に該当するものである。
【０２０５】
上記により説明した変形例としてのエラー信号生成手法によれば、トラッキングエラー信号ＴＥとしてプッシュプル信号をサンプルホールドした信号を用いる場合に、各トラッキングエラー信号ＴＥとしてより対象ピット列に近い位置にスポットがある状態でサンプルホールドした信号を用いることができるので、アドレス変調によってピットの無い部分が生じる場合にもより信頼性の高いトラッキングエラー信号ＴＥを得ることができる。
【０２０６】
また、これまでの説明では、基準面Ｒｅｆにおいて各ピット列がそれぞれ従来の１トラック幅によるピッチでスパイラル状に形成されることに対応して、或るピット列を対象としたトラッキングサーボをかけ続けることで、スポット位置がスパイラル状に移動されるようにする場合を例示したが、例えば以下で説明するような手法を採ることで、スポット位置を任意のピッチによるスパイラル状に移動させることもできる。
すなわち、所定の傾きを有するオフセット信号を、基準面側サーボ制御系のトラッキングサーボループに対して付与することで、スポット位置を半径方向に徐々に変位させていくというものである。このとき、上記オフセット信号の傾きの設定により、スパイラルピッチを任意に設定できる。
なおこのことは、基準面Ｒｅｆにおける各ピット列を、スパイラル状でなく同心円状に形成しても、バルク層５内にマーク列をスパイラル状に記録できるということを意味する。
【０２０７】
また、これまでの説明では、それぞれが異なるピット列位相を有する複数のピット列として、Ａ〜Ｆの計６つを設定するものとし、半径方向においてはこれら６つのパターン（ピット列位相）によるピット列が繰り返し形成されるものとしたが、上記複数のピット列の数は６つに限定されるべきものではなく、より多くの本数、或いはより少ない本数とすることもできる。
【０２０８】
また、ピット列における各ピット形成可能位置の区間長は３Ｔ分の区間長とし、またピット列形成方向における各ピット形成可能位置のエッジ間の間隔も同様の３Ｔ分の長さに設定する（つまりｎ＝６Ｔに設定する）場合を例示したが、これらはあくまで一例を示したものに過ぎない。これら各ピット形成可能位置の区間長、及びピット列形成方向における各ピット形成可能位置のエッジ間の間隔については、先に挙げた１）２）の条件が満たされるようにして設定されればよいものである。
【０２０９】
またこれまでの説明では、それぞれが異なるピット列位相を有する複数のピット列に関して、外周側ほどピット列位相が進み内周側ほどピット列位相が遅れるようにピット列を配列したが、例えば逆に内周側ほどピット列位相が進み外周側ほどピット列位相が遅れるようにピット列を配列するなど、上記複数のピット列の配列パターンは、ピット列形成方向において光学限界を超えないという条件の下で様々なパターンの設定が可能である。
【０２１０】
また、これまでの説明では言及しなかったが、本例では基準面ＲｅｆにＣＡＶ方式でピット列が記録され、これに対応してバルク型記録媒体１を一定回転速度で回転駆動するようにされる。このため、この場合における記録層では、外周側となるほど記録密度が疎となってしまうが、これを対策するため、例えば半径位置に応じて連続的に記録クロック周波数を変化させるなど、記録密度を一定（或いは一定と見なすことのできる状態）とするための構成を付加することもできる。
【０２１１】
また、これまでの説明では、記録時における記録用レーザ光・ＡＴＳ光の合焦位置を記録対象とする情報記録層位置Ｌ（つまり記録済みマーク列）に一致させるために、サーボ用レーザ光が基準面Ｒｅｆに合焦するように対物レンズ２０位置を制御しつつ、レンズ駆動部１６をオフセットｏｆ-Lに基づき駆動するものとしたが、記録時における記録用レーザ光・ＡＴＳ光の合焦位置制御（フォーカス制御）は、ＡＴＳ光のマーク列からの反射光に基づいてレンズ駆動部１６を駆動することで行うこともできる。すなわち、記録時のＡＴＳが行われる際にはＡＴＳ光の記録済みマーク列からの反射光が得られるので、当該反射光を受光して生成したフォーカスサーボ信号ＦＳ-apに基づき、レンズ駆動部１６を駆動制御するように構成することで、記録用レーザ光・ＡＴＳ光を記録対象の情報記録層位置Ｌに合焦させるフォーカスサーボ制御が行われるようにすることもできる。
【０２１２】
また、これまでの説明では、本発明において記録対象とする光記録媒体がバルク型の光記録媒体とされる場合を例示したが、本発明としては、バルク層５ではなく、例えば次の図２３に示されるような複数の記録膜が形成された多層構造を有する記録層が設けられた光記録媒体（多層記録媒体６０とする）に対しても好適に適用できる。
図２３において、多層記録媒体６０は、上層側から順にカバー層２、選択反射膜３、及び中間層４が形成される点は図１に示したバルク型記録媒体１と同様となるが、この場合はバルク層５に代えて、図のように半透明記録膜６１と中間層４とが所定回数繰り返し積層された層構造を有する記録層が積層される。図のように最下層に形成された半透明記録膜６１は、基板６２上に積層されている。なお、最下層に形成される記録膜については全反射記録膜を用いることができる。
ここで、注意すべきは、上記半透明記録膜６１には、ピット列の形成に伴う位置案内子が形成されていないという点である。つまりこの多層記録媒体６０としても、スパイラル状又は同心円状の位置案内子は、基準面Ｒｅｆとしての１つの層位置に対してのみ形成されているものである。
【０２１３】
このような多層記録媒体６０の記録層においては、反射膜として機能する半透明記録膜６１が形成されているため、マークが未記録状態であっても反射光を得ることができる。
【０２１４】
また、これまでの説明では、ピット列がスパイラル状に形成される場合の例として、先の図６のようにＡ〜Ｆの各位相のピット列がそれぞれ独立したスパイラルで形成される場合（多重スパイラル構造）を例示したが、ピット列は、次の図２４に示すように１本のスパイラルで形成されるようにすることもできる（シングルスパイラル構造）。なお、この図２４においても図示の都合上、ピット列の位相はＡ〜Ｃの３種のみを示している。
図のように、この場合はディスク上の或る回転角度位置を基準位置として定めておき、当該基準位置を基準として定まる各周回ごとに、ピット列の位相を順次変化させていく。例えば先の図５のように外周側から内周側に向けてピット列Ａ→Ｂ→Ｃ→・・・が配列される（つまり外周側となるにつれて徐々にピット列位相を進ませる）フォーマットとする場合には、図のようにｎ周回目はピット列Ａの位相、ｎ＋１周回目はピット列Ｃの位相、ｎ＋２周回目はピット列Ｂの位相・・・という具合に、周回ごとに徐々にピット列の位相を進ませるようにしてピットを形成していく。
先の図６と対比して分かるように、このようなシングルスパイラル構造とすることによっても、半径方向において配列される各ピット列の位相関係としては図６の場合と同様とすることができる。
【０２１５】
ここで、図６に示されるような多重スパイラル構造によるディスクを作成するにあたっては、Ａ〜Ｆの各ピット列のカッティングを同一原盤に対してそれぞれ個別に行うという手法を採ることが考えられるが、この場合には、個々のピット列のカッティングをその開始位置を半径方向に僅かにずらしながら順次行うこととなり、精度の面で困難性を伴う虞がある。
これに対し図２４のようなシングルスパイラル構造とすれば、カッティングの回数は１度で済み、また精度の面においてもピットの形成タイミングを正確にコントロールしさえすれば良く、技術的困難性は格段に低くできる。
【０２１６】
なお、図２４に示すようなシングルスパイラル構造とした場合、或る位相のピット列を対象としたトラッキングサーボを１周以上かけ続けるということはできない。そこでこの場合には、所定の傾きによるオフセット信号をトラッキングサーボループに対して与えることで、記録層に対する記録が所定ピッチのスパイラル状に行われるようにする。
【０２１７】
また、これまでの説明では、ピット列が形成される基準面は、記録層の上層側に対して設けるものとしたが、基準面は記録層の下層側に設けることもできる。
【０２１８】
またこれまでの説明では、本発明が光ディスク記録媒体（記録層）に対する記録及び再生の双方を行う記録再生装置に適用される場合を例示したが、本発明は光ディスク記録媒体（記録層）に対する記録のみが可能とされた記録専用装置（記録装置）にも好適に適用できる。
【符号の説明】
【０２１９】
１ バルク型記録媒体、２ カバー層、３ 選択反射膜、Ｒｅｆ 基準面、４ 中間層、５ バルク層、Ｌ マーク形成層位置（情報記録層位置）、ＯＰ 光学ピックアップ、１１ｒ 記録用レーザ、１１ap ＡＴＳ・再生時用レーザ、１２,２５ コリメーションレンズ、１３,２６ 偏光ビームスプリッタ、１４ 固定レンズ、１５ 可動レンズ、１６ レンズ駆動部、１７ ミラー、１８,２７ １／４波長板、１９ ダイクロイックプリズム、２０ 対物レンズ、２１ ２軸アクチュエータ、２２,２８ 集光レンズ、２３ 第１受光部、２４ サーボ用レーザ、２９ 第２受光部、３１ 記録処理部、３２,５０ マトリクス回路、３３ 再生処理部、３４ 再生時用サーボ回路、３５ ＡＴＳ側フィルタ、３６ 信号生成部、３７ 基準面側サーボフィルタ、３８ 記録時用フォーカスサーボ回路、３９ 加算部、４０,４１ セレクタ、４２ フォーカスドライバ、４３ トラッキングドライバ、４４ コントローラ、５１ クロック生成回路、５１Ａ,５１Ｃ スライス回路、５１Ｂ ｓｕｍ微分回路、５１Ｄ ＡＮＤゲート回路、５１Ｅ ＰＬＬ回路、５２ selector信号生成回路、５３ エラー信号生成回路、ＳＨ-A1〜ＳＨ-F2 サンプルホールド回路、５３Ａ〜５３Ｆ 減算部、５４ ｃａｓｅ判定回路、５５ リニアエラー信号生成回路、５６ selector信号選択回路、５７ アドレス検出回路、６０ 多層記録媒体、６１ 半透明記録膜、６２ 基板
【特許請求の範囲】
【請求項１】
位置案内子が形成された基準面と当該基準面とは異なる深さ位置に形成された記録層とを有する光ディスク記録媒体に対して、上記記録層へのマーク記録を行うための記録光と、隣接トラックサーボ用のＡＴＳ光と、上記基準面に形成された上記位置案内子に基づく位置制御を行うための位置制御用光とを共通の対物レンズを介して照射するように構成されると共に、上記ＡＴＳ光の上記記録層からの反射光と、上記位置制御用光の上記基準面からの反射光とを個別に受光するように構成された光照射・受光部と、
上記対物レンズを上記光ディスク記録媒体の半径方向に平行な方向であるトラッキング方向に駆動するトラッキング機構と、
上記光照射・受光部により得られる上記位置制御用光についての受光信号に基づき、上記基準面に形成された位置案内子に対する上記位置制御用光の照射スポット位置の誤差を表す基準面側トラッキング誤差信号を生成する基準面側トラッキング誤差信号生成部と、
上記基準面側トラッキング誤差信号に対してトラッキングサーボのためのフィルタ処理を施して、上記基準面側トラッキング誤差信号が表すトラッキング誤差をキャンセルするための基準面側トラッキングサーボ信号を生成する基準面側トラッキングサーボ信号生成部と、
上記基準面側トラッキングサーボ信号に基づき上記トラッキング機構を駆動するトラッキング駆動部と、
上記光照射・受光部により得られる上記ＡＴＳ光についての受光信号に基づき、上記記録層に記録されたマーク列に対する上記ＡＴＳ光の照射スポット位置の誤差を表すＡＴＳ側トラッキング誤差信号を生成するＡＴＳ側トラッキング誤差信号生成部と、
上記ＡＴＳ側トラッキング誤差信号に対してトラッキングサーボのためのフィルタ処理を施して、上記ＡＴＳ側トラッキング誤差信号が表すトラッキング誤差をキャンセルするためのＡＴＳ制御信号を生成するＡＴＳ制御信号生成部と、
上記ＡＴＳ制御信号を、上記基準面側トラッキングサーボ信号生成部を含むトラッキングサーボループに対して与える信号付与部と
を備える記録装置。
【請求項２】
上記基準面側トラッキング誤差信号に基づくトラッキングサーボ制御を行う基準面側サーボ制御系の制御帯域が、上記ＡＴＳトラッキング誤差信号に基づくトラッキングサーボ制御を行うＡＴＳ制御系の制御帯域よりも高く設定されている
請求項１に記載の記録装置。
【請求項３】
上記光ディスク記録媒体における上記基準面は、
１周回におけるピットの形成可能位置の間隔が第１の間隔に制限されたピット列がスパイラル状又は同心円状に形成され、半径方向に配列されるピット列において上記ピットの形成可能位置のピット列形成方向における間隔が所定の第２の間隔ずつずれた位置に設定されて、複数のピット列位相を有するようにされており、
上記基準面側トラッキング誤差信号生成部は、
上記位置制御用光についての受光信号に基づき、上記ピットの形成可能位置の間隔に応じたクロックを生成するクロック生成回路と、
上記クロック生成回路により生成されたクロックに基づき、上記基準面に形成された各位相のピット列についての上記ピットの形成可能位置のタイミングをそれぞれ表す複数のタイミング選択信号を生成するタイミング選択信号生成回路と、
上記位置制御用光についての上記受光信号と、上記タイミング選択信号生成回路が生成した上記タイミング選択信号とに基づき、上記基準面に形成された各位相のピット列ごとのトラッキング誤差をそれぞれ表す複数のトラッキング誤差信号を生成する各位相トラッキング誤差信号生成回路とを有すると共に、
上記位置制御用光の照射スポットが半径方向に移動する際に得られる上記複数のトラッキング誤差信号のゼロクロス点近傍の区間の信号を順次繋ぎ合わせることで、上記基準面側トラッキング誤差信号として、トラッキング誤差量を線形に表す線形トラッキング誤差信号を生成する
請求項２に記載の記録装置。
【請求項４】
上記基準面側トラッキング誤差信号生成部は、
上記複数のトラッキング誤差信号の振幅の大小関係が変化する所定のタイミングごとに、上記照射スポットの移動方向側に隣接するピット列についてのトラッキング誤差信号を順次繋ぎ合わせることで、上記線形トラッキング誤差信号を生成する
請求項３に記載の記録装置。
【請求項５】
上記基準面側制御系の制御帯域が１０ｋHz程度、上記ＡＴＳ側制御系の制御帯域が１ｋHz程度に設定されている請求項２に記載の記録装置。
【請求項６】
上記光照射・受光部は、
上記記録層としてバルク状態の記録層を有する上記光ディスク記録媒体に対して上記記録光と上記ＡＴＳ光と上記位置制御用光とを照射する
請求項１に記載の記録装置。
【請求項７】
上記光照射・受光部は、
上記記録層として深さ方向の複数位置に記録膜が形成された多層構造を有する記録層を有する上記光ディスク記録媒体に対して上記記録光と上記ＡＴＳ光と上記位置制御用光とを照射する
請求項１に記載の記録装置。
【請求項１】
位置案内子が形成された基準面と当該基準面とは異なる深さ位置に形成された記録層とを有する光ディスク記録媒体に対して、上記記録層へのマーク記録を行うための記録光と、隣接トラックサーボ用のＡＴＳ光と、上記基準面に形成された上記位置案内子に基づく位置制御を行うための位置制御用光とを共通の対物レンズを介して照射するように構成されると共に、上記ＡＴＳ光の上記記録層からの反射光と、上記位置制御用光の上記基準面からの反射光とを個別に受光するように構成された光照射・受光部と、
上記対物レンズを上記光ディスク記録媒体の半径方向に平行な方向であるトラッキング方向に駆動するトラッキング機構と、
上記光照射・受光部により得られる上記位置制御用光についての受光信号に基づき、上記基準面に形成された位置案内子に対する上記位置制御用光の照射スポット位置の誤差を表す基準面側トラッキング誤差信号を生成する基準面側トラッキング誤差信号生成部と、
上記基準面側トラッキング誤差信号に対してトラッキングサーボのためのフィルタ処理を施して、上記基準面側トラッキング誤差信号が表すトラッキング誤差をキャンセルするための基準面側トラッキングサーボ信号を生成する基準面側トラッキングサーボ信号生成部と、
上記基準面側トラッキングサーボ信号に基づき上記トラッキング機構を駆動するトラッキング駆動部と、
上記光照射・受光部により得られる上記ＡＴＳ光についての受光信号に基づき、上記記録層に記録されたマーク列に対する上記ＡＴＳ光の照射スポット位置の誤差を表すＡＴＳ側トラッキング誤差信号を生成するＡＴＳ側トラッキング誤差信号生成部と、
上記ＡＴＳ側トラッキング誤差信号に対してトラッキングサーボのためのフィルタ処理を施して、上記ＡＴＳ側トラッキング誤差信号が表すトラッキング誤差をキャンセルするためのＡＴＳ制御信号を生成するＡＴＳ制御信号生成部と、
上記ＡＴＳ制御信号を、上記基準面側トラッキングサーボ信号生成部を含むトラッキングサーボループに対して与える信号付与部と
を備える記録装置。
【請求項２】
上記基準面側トラッキング誤差信号に基づくトラッキングサーボ制御を行う基準面側サーボ制御系の制御帯域が、上記ＡＴＳトラッキング誤差信号に基づくトラッキングサーボ制御を行うＡＴＳ制御系の制御帯域よりも高く設定されている
請求項１に記載の記録装置。
【請求項３】
上記光ディスク記録媒体における上記基準面は、
１周回におけるピットの形成可能位置の間隔が第１の間隔に制限されたピット列がスパイラル状又は同心円状に形成され、半径方向に配列されるピット列において上記ピットの形成可能位置のピット列形成方向における間隔が所定の第２の間隔ずつずれた位置に設定されて、複数のピット列位相を有するようにされており、
上記基準面側トラッキング誤差信号生成部は、
上記位置制御用光についての受光信号に基づき、上記ピットの形成可能位置の間隔に応じたクロックを生成するクロック生成回路と、
上記クロック生成回路により生成されたクロックに基づき、上記基準面に形成された各位相のピット列についての上記ピットの形成可能位置のタイミングをそれぞれ表す複数のタイミング選択信号を生成するタイミング選択信号生成回路と、
上記位置制御用光についての上記受光信号と、上記タイミング選択信号生成回路が生成した上記タイミング選択信号とに基づき、上記基準面に形成された各位相のピット列ごとのトラッキング誤差をそれぞれ表す複数のトラッキング誤差信号を生成する各位相トラッキング誤差信号生成回路とを有すると共に、
上記位置制御用光の照射スポットが半径方向に移動する際に得られる上記複数のトラッキング誤差信号のゼロクロス点近傍の区間の信号を順次繋ぎ合わせることで、上記基準面側トラッキング誤差信号として、トラッキング誤差量を線形に表す線形トラッキング誤差信号を生成する
請求項２に記載の記録装置。
【請求項４】
上記基準面側トラッキング誤差信号生成部は、
上記複数のトラッキング誤差信号の振幅の大小関係が変化する所定のタイミングごとに、上記照射スポットの移動方向側に隣接するピット列についてのトラッキング誤差信号を順次繋ぎ合わせることで、上記線形トラッキング誤差信号を生成する
請求項３に記載の記録装置。
【請求項５】
上記基準面側制御系の制御帯域が１０ｋHz程度、上記ＡＴＳ側制御系の制御帯域が１ｋHz程度に設定されている請求項２に記載の記録装置。
【請求項６】
上記光照射・受光部は、
上記記録層としてバルク状態の記録層を有する上記光ディスク記録媒体に対して上記記録光と上記ＡＴＳ光と上記位置制御用光とを照射する
請求項１に記載の記録装置。
【請求項７】
上記光照射・受光部は、
上記記録層として深さ方向の複数位置に記録膜が形成された多層構造を有する記録層を有する上記光ディスク記録媒体に対して上記記録光と上記ＡＴＳ光と上記位置制御用光とを照射する
請求項１に記載の記録装置。
【図１】
【図２】
【図３】
【図４】
【図５】
【図６】
【図７】
【図８】
【図９】
【図１０】
【図１１】
【図１２】
【図１６】
【図１７】
【図１８】
【図２０】
【図２１】
【図２３】
【図２４】
【図２５】
【図２６】
【図２７】
【図２８】
【図２９】
【図３０】
【図３１】
【図３２】
【図３３】
【図１３】
【図１４】
【図１５】
【図１９】
【図２２】
【図２】
【図３】
【図４】
【図５】
【図６】
【図７】
【図８】
【図９】
【図１０】
【図１１】
【図１２】
【図１６】
【図１７】
【図１８】
【図２０】
【図２１】
【図２３】
【図２４】
【図２５】
【図２６】
【図２７】
【図２８】
【図２９】
【図３０】
【図３１】
【図３２】
【図３３】
【図１３】
【図１４】
【図１５】
【図１９】
【図２２】
【公開番号】特開２０１２−１０４１８７（Ｐ２０１２−１０４１８７Ａ）
【公開日】平成２４年５月３１日（２０１２．５．３１）
【国際特許分類】
【出願番号】特願２０１０−２５１５７３（Ｐ２０１０−２５１５７３）
【出願日】平成２２年１１月１０日（２０１０．１１．１０）
【出願人】（０００００２１８５）ソニー株式会社 (34,172)
【Ｆターム（参考）】
【公開日】平成２４年５月３１日（２０１２．５．３１）
【国際特許分類】
【出願日】平成２２年１１月１０日（２０１０．１１．１０）
【出願人】（０００００２１８５）ソニー株式会社 (34,172)
【Ｆターム（参考）】
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