説明

X線管及びX線分析装置

【課題】 X線管及びX線分析装置において、さらなる小型化及び軽量化を図ることができると共に、より効率的に蛍光X線等を検出して感度を高めること。
【解決手段】 内部が真空状態とされX線が透過可能なX線透過膜で形成された窓部1を有した真空筐体2と、真空筐体2内に設置され電子線eを出射する電子線源3と、電子線eが照射されて一次X線を発生すると共に該一次X線を窓部1を介して外部の試料Sに出射可能に窓部1の中央部上に設けられ窓部1よりも外径の小さなターゲットTと、試料Sから放出されて窓部1から入射する蛍光X線及び散乱X線を検出可能に真空筐体2内に配置され該蛍光X線及び散乱X線のエネルギー情報を含む信号を出力するX線検出素子4と、窓部1上の一部に設けられターゲットTから真空筐体2まで延在する金属製の熱・電気伝導部10と、を備えている。

【発明の詳細な説明】
【技術分野】
【0001】
本発明は、例えばエネルギー分散型の蛍光X線分析装置に用いるものであって、小型かつ軽量なハンディータイプ又はポータブルタイプに好適なX線管及びX線分析装置に関する。
【背景技術】
【0002】
蛍光X線分析は、X線源から出射された一次X線を試料に照射し、試料から放出される蛍光X線をX線検出器で検出することで、その蛍光X線のエネルギーからスペクトルを取得し、試料の定性分析又は定量分析を行うものである。この蛍光X線分析は、試料を非破壊で迅速に分析可能なため、工程・品質管理などで広く用いられている。
【0003】
この蛍光X線分析の分析手法としては、蛍光X線を分光結晶により分光し、X線の波長と強度を測定する波長分散方式や、分光せずに半導体検出素子で検出し、波高分析器でX線のエネルギーと強度とを測定するエネルギー分散方式などがある。
従来、例えば特許文献1では、蛍光X線の感度を高めるために、X線管球に内部に通過した蛍光X線を外部へ取り出す取り出し窓を設けて、X線管球及びX線分析器を試料に近づける試みがなされている。
また、特許文献2に記載されているように、X線管球及びX線分析器の小型化により、ハンディータイプのエネルギー分散型蛍光X線分析装置も普及している。
【0004】
【特許文献1】特開平8−115694号公報
【特許文献2】特許第3062685号公報
【発明の開示】
【発明が解決しようとする課題】
【0005】
上記従来の技術には、以下の課題が残されている。
例えば、特許文献1に記載のX線分析装置では、X線管球及びX線検出器を試料に近づけることによる検出感度を高める効果が大きいが、X線管球及びX線検出器がそれぞれ有限で一定以上の大きさを有しているために近接させるにも限界があった。
また、従来のハンディータイプのエネルギー分散型蛍光X線分析装置においては、さらなる小型化及び軽量化が要望されているが、装置構成としてX線管球とX線検出器とが体積及び質量の大半を占めるため、従来の形態ではより小型化及び軽量化を図るには限界があった。さらに、ハンディータイプでは、試料を密閉状態の試料室内に収納して分析するのではなく、大気中の試料に直接、一次X線を照射する開放型であるため、X線の安全上、X線管球からのX線発生量を制限することから、試料からの蛍光X線をより効率良く検出する必要があった。
【0006】
本発明は、前述の課題に鑑みてなされたもので、さらなる小型化及び軽量化を図ることができると共に、蛍光X線等を検出して感度を高めることができるX線管及びX線分析装置を提供することを目的とする。
【課題を解決するための手段】
【0007】
本発明は、前記課題を解決するために以下の構成を採用した。すなわち、本発明のX線管は、内部が真空状態とされX線が透過可能なX線透過膜で形成された窓部を有した真空筐体と、前記真空筐体内に設置され電子線を出射する電子線源と、前記電子線が照射されて一次X線を発生すると共に該一次X線を前記窓部を介して外部の試料に出射可能に前記窓部の中央部上に設けられ前記窓部よりも外径の小さなターゲットと、前記試料から放出されて前記窓部から入射する蛍光X線及び散乱X線を検出可能に前記真空筐体内に配置され該蛍光X線及び散乱X線のエネルギー情報を含む信号を出力するX線検出素子と、前記窓部上の一部に設けられ前記ターゲットから前記真空筐体まで延在する金属製の熱・電気伝導部と、を備えていることを特徴とする。
【0008】
このX線管では、X線検出器の構成要素であるX線検出素子が窓部から入射する蛍光X線及び散乱X線を検出可能に真空筐体内に配置されているので、X線検出素子がX線管球の構成要素である電子線源及びターゲットと共に真空筐体内に一体的に収納されて装置全体をさらに小型化及び軽量化することができる。また、X線検出素子が真空筐体内に配されており、一次X線を発生するターゲットと共に試料に近接させて検出を行うことができるので、非常に効率良く励起及び検出を行うことが可能になる。さらに、開放型のハンディータイプに適用すれば、効率的な検出が可能なので、X線発生量をより抑制しても高い感度で検出することができ、高い安全性を得ることができる。
また、従来、Be窓に近接させたターゲット材に対して電子ビームを照射し、ターゲット材から発生するX線を、Be窓を通して外部に出力される透過型のX線管球がある。この透過型のX線管球では、ターゲット材がBe窓のほぼ全面に蒸着法などで形成されているが、これは表面が酸化し易いBeのみであると、電気伝導性及び熱伝導性が低いためである。すなわち、Be窓全面に形成したターゲット材により、ターゲットでチャージした電荷や発生した熱を筐体に逃がす必要があるためである。しかしながら、Be窓全面にターゲット材が蒸着されていると、試料からの蛍光X線の透過率が大幅に低下してしまい、高精度な検出が困難であった。
このため、本発明では、金属製の熱・電気伝導部を、窓部上の一部に設け、ターゲットから真空筐体まで例えば帯状又は棒状に延在させているので、窓部中央のターゲットでチャージされた電荷や発生した熱が熱・電気伝導部を伝わって真空筐体に逃げると共に、ターゲット及び熱・電気伝導部に覆われていない窓部から蛍光X線等が高い透過率で透過されて内部のX線検出素子で検出することができる。したがって、熱・電気伝導部でターゲットの温度上昇の抑制及びチャージ低減を図ることができると共に、ターゲット及び熱・電気伝導部に覆われていない窓部から蛍光X線等を高効率に検出することができる。
【0009】
また、本発明のX線管は、前記熱・電気伝導部が、前記窓部上に前記ターゲットと同材料で形成されていることを特徴とする。すなわち、このX線管では、熱・電気伝導部が、窓部上にターゲットと同材料で形成されているので、熱・電気伝導部として別材料を用意する必要が無く、部材コストを低減することができる。
【0010】
さらに、本発明のX線管は、前記熱・電気伝導部が、前記ターゲットよりも厚く形成されていることを特徴とする。すなわち、このX線管では、ターゲットよりも厚い熱・電気伝導部を採用するので、厚い熱・電気伝導部により高い電気伝導性及び熱伝導性を得ると共に薄いターゲットで効率的にX線を発生させることができる。
【0011】
本発明のX線分析装置は、上記本発明のX線管と、前記信号を分析する分析器と、前記分析器の分析結果を表示する表示部と、を備えていることを特徴とする。すなわち、このX線分析装置では、上記本発明のX線管を備えているので、装置全体を小型化することができる。
【0012】
また、本発明のX線分析装置は、前記分析器及び前記表示部を前記真空筐体に設けて可搬型としたことを特徴とする。すなわち、このX線分析装置では、真空筐体に分析器と表示部とが一体に搭載された可搬型とされるので、分析器と表示部とにより分析結果をその場で確認可能で、かつ小型で軽量なハンディータイプとすることができる。
【発明の効果】
【0013】
本発明によれば、以下の効果を奏する。
すなわち、本発明に係るX線管及びX線分析装置によれば、X線検出素子が窓部から入射する蛍光X線及び散乱X線を検出可能に真空筐体内に配置されているので、装置全体をさらに小型化及び軽量化することができると共に、より効率良く励起及び検出を行うことが可能になる。また、金属製の熱・電気伝導部を、窓部上の一部に設け、ターゲットから真空筐体まで延在させているので、ターゲットの温度上昇の抑制及びチャージ低減を図ることができると共に、ターゲット及び熱・電気伝導部に覆われていない窓部から蛍光X線等を高効率に検出することができる。したがって、本発明を開放型のハンディータイプのX線分析装置に適用すれば、X線発生量をより抑制しても高い感度で検出することができ、高い安全性を得ることができる。
【発明を実施するための最良の形態】
【0014】
以下、本発明に係るX線管及びX線分析装置の第1実施形態を、図1及び図2を参照しながら説明する。なお、以下の説明に用いる各図面では、各部材を認識可能又は認識容易な大きさとするために縮尺を適宜変更している。
【0015】
本実施形態のX線分析装置は、可搬型(ハンディータイプ)のエネルギー分散型の蛍光X線分析装置であって、図1に示すように、内部の一部が真空状態とされX線が透過可能なX線透過膜で形成された窓部1を有した真空筐体2と、真空筐体2内に設置され電子線eを出射する電子線源3と、電子線eが照射されて一次X線X1を発生すると共に該一次X線X1を窓部1を介して外部の試料Sに出射可能に窓部1の中央部上に設けられ窓部1よりも外径の小さなターゲットTと、試料Sから放出されて窓部1から入射する蛍光X線及び散乱X線X2を検出可能に真空筐体2内に配置され該蛍光X線及び散乱X線X2のエネルギー情報を含む信号を出力するX線検出素子4と、窓部1上の一部に設けられターゲットTから真空筐体2まで延在する金属製の熱・電気伝導部10と、上記信号を分析する分析器5と、分析器5の分析結果を表示する表示部6とを備えている。なお、上記真空筐体2、電子線源3、ターゲットT及びX線検出素子4を主な構成として、X線管が構成されている。
【0016】
上記真空筐体2は、内部が真空状態とされた前部収納部2aと、この前部収納部2aと隔壁2cで隔てられ内部が大気圧状態とされた後部収納部2bとで構成されている。
上記窓部1は、X線透過膜として例えばBe(ベリリウム)箔で形成されている。なお、窓部1の前面に、試料Sに応じて選択されたCu(銅)、Zr(ジルコニウム)、Mo等の金属薄膜又は金属薄板である1次フィルタを取り付けても構わない。また、窓部1及びターゲットTは、グランド電位又はプラス電位に設定されている。
【0017】
上記熱・電気伝導部10は、Ta(タンタル)、Cu(銅)等の板材で形成され、図2に示すように、ターゲットTから真空筐体2まで帯状に2本延在して窓部1の内面に接着して設けられている。なお、図2において、熱・電気伝導部10は、分かりやすいようにハッチングを施している。この熱・電気伝導部10は、ターゲットTの外径とほぼ同じ幅の帯状とされ、ターゲットTに一端を接触固定させていると共にターゲットTを中心に左右に延びて真空筐体2の内面に他端が固定されている。
【0018】
上記電子線源3は、陰極とされるフィラメント7と、陽極とされるターゲットTとの間の電圧(管電流)及び電子線eの電流(管電流)を制御する電流電圧制御部8とを備えている。この電子線源3は、陰極とされたフィラメント7から発生した熱電子(電子線)がフィラメント7と陽極とされたターゲットTとの間に印加された電圧により加速されターゲットTに衝突して発生したX線を1次X線として発生させるものである。
また、陰極としてフィラメント7ではなく、カーボンナノチューブを採用しても構わない。
【0019】
上記ターゲットTは、例えばW(タングステン)、Mo(モリブデン)、Cr(クロム)、Rh(ロジウム)などが採用される。このターゲットTは、窓部1に近接又は接触されて配されている。
上記X線検出素子4は、例えばpin構造ダイオードであるSi(シリコン)素子等の半導体検出素子である。このX線検出素子4は、X線光子1個が入射するとこのX線光子1個に対応する電流パルスが発生する。この電流パルスの瞬間的な電流値が、入射した蛍光X線のエネルギーに比例している。
【0020】
このX線検出素子4は、図1に示すように、電子線源3のフィラメント7とターゲットTとの間の領域に配され、電子線eが透過可能な透過孔4aを有している。また、ターゲットTは、透過孔4aの直下にかつ近接して配されており、X線検出素子4の受光面は、ターゲットTの周囲に配されている。
【0021】
また、上記X線検出素子4は、図示しない冷却機構(例えば、液化窒素を冷媒とした冷却機構やペルチェ素子を用いた冷却機構)によって一定温度に保持されるように設定されている。さらに、X線検出素子4の透過孔4a周囲には、一次X線X1や電子線eが受光面に入射しないように金属板等でガードされている。また、ターゲットTとX線検出素子4との間には、ターゲットTからの一次X線X1、二次電子や反射電子がX線検出素子4に入らないように金属ガード部材(図示略)を設けても構わない。
なお、X線検出素子4をマイナス電位に設定することで、熱電子(電子線e)がX線検出素子4に入射されることを抑制することができる。
これらフィラメント7、ターゲットT、X線検出素子4及び熱・電気伝導部10は、真空筐体2の前部収納部2a内に配置されている。
【0022】
上記分析器5は、X線信号処理部であって、X線検出素子4で発生した電流パルスを電圧パルスに変換、増幅し、信号とし、この信号から電圧パルスの波高を得てエネルギースペクトルを生成する波高分析器(マルチチャンネルパルスハイトアナライザー)である。
また、上記電流電圧制御部8及び分析器5は、CPU9に接続され、設定により種々の制御が行われる。
【0023】
上記表示部6は、例えば液晶表示装置であって、CPU9に接続され、エネルギースペクトル等の分析結果だけでなく、設定に応じて種々の画面表示が可能になっている。
また、分析器5、電流電圧制御部8及びCPU9は、真空筐体2の後部収納部2b内に設けられ、表示部6は、後部収納部2bの外面に表示面を配して設けられている。すなわち、分析器5及び表示部6は、真空筐体2に一体に設けられている。
なお、上記各構成のうち電力供給及び電位設定の必要なものは、いずれも図示しない電源部に接続されている。
【0024】
このように本実施形態では、X線検出素子4が窓部1から入射する蛍光X線及び散乱X線X2を検出可能に真空筐体2内に配置されているので、X線検出素子4が電子線源3及びターゲットTと共に真空筐体2内に一体的に収納されて装置全体をさらに小型化及び軽量化することができる。また、X線検出素子4が真空筐体2内に配されており、一次X線X1を発生するターゲットTと共に試料Sに近接させて検出を行うことができるので、非常に効率良く励起及び検出を行うことが可能になる。特に、開放型のハンディータイプに適用することにより、効率的な検出が可能なので、X線発生量をより抑制しても高い感度で検出することができ、高い安全性を得ることができる。
【0025】
また、X線検出素子4の受光面がターゲットTの周囲に配されているので、窓部1に試料Sを近接させた状態で分析を行う際に、ターゲットTからの一次X線X1によって試料Sから発生した蛍光X線等をターゲットT周囲(すなわち、窓部1近傍)に配されたX線検出素子4で効率的に検出することができる。
【0026】
また、金属製の熱・電気伝導部10を、窓部1上の一部に設け、ターゲットTから真空筐体2まで延在させているので、窓部1中央のターゲットTでチャージされた電荷や発生した熱が熱・電気伝導部10を伝わって真空筐体2に逃げると共に、ターゲットT及び熱・電気伝導部10に覆われていない窓部1から蛍光X線等が高い透過率で透過されて内部のX線検出素子4で検出することができる。したがって、熱・電気伝導部10でターゲットTの温度上昇の抑制及びチャージ低減を図ることができると共に、ターゲットT及び熱・電気伝導部10に覆われていない窓部1から蛍光X線等を高効率に検出することができる。
【0027】
さらに、真空筐体2に分析器5と表示部6とが一体に搭載された可搬型とされるので、分析器5と表示部6とにより分析結果をその場で確認可能で、かつ小型で軽量なハンディータイプとすることができる。
【0028】
次に、本発明に係るX線管及びX線分析装置の第2実施形態について、図3を参照して以下に説明する。なお、以下の各実施形態の説明において、上記実施形態において説明した同一の構成要素には同一の符号を付し、その説明は省略する。
【0029】
第2実施形態と第1実施形態との異なる点は、第1実施形態では、窓部1の内面上にTa(タンタル)、Cu(銅)等の板材で形成された熱・電気伝導部10を配置しているのに対し、第2実施形態のX線管及びX線分析装置では、図3に示すように、ターゲットTと同じ材料、例えばW(タングステン)等で熱・電気伝導部20が形成されている点である。また、第2実施形態の熱・電気伝導部20は、ターゲットTよりも厚く形成されている。
【0030】
すなわち、第2実施形態では、例えばターゲットTと同材料で熱・電気伝導部20を略長方形状に形成した後、中央部分をエッチング等で薄くしてターゲットTを形成している。また、他の作製方法としては、窓部1上に電子線eがターゲットTに照射されることによりターゲットTから一次X線X1が効率よく発生するように、メタルマスクを用いて蒸着法またはスパッタリング法により薄膜のターゲットTを形成し、さらにターゲットTでチャージされた電荷や発生した熱が逃げやすいように、そのターゲットよりも少し狭い開口部を有する別のメタルマスクを用いて同様な成膜方法により厚膜の熱・電気伝導部20を形成する。このとき、厚膜の熱・電気伝導部20がターゲットTの円周部に一部重なるような構成になっている。さらに、他の作製方法としては、窓部1の中央部分にターゲットTを設置し、さらにその両側に、ターゲットTに一端が接触し他端が真空筐体2に達したターゲットTよりも厚い一対の帯板状部材の熱・電気伝導部20を設置しても構わない。
【0031】
このように第2実施形態では、熱・電気伝導部20が、窓部1上にターゲットTと同材料で形成されているので、熱・電気伝導部20として別材料を用意する必要が無く、部材コストを低減することができる。また、ターゲットTよりも厚い熱・電気伝導部20を採用するので、厚い熱・電気伝導部20により高い電気伝導性及び熱伝導性を得ると共に薄いターゲットTで効率的にX線を発生させることができる。
【0032】
次に、本発明に係るX線管及びX線分析装置の第3実施形態について、図4を参照して以下に説明する。
【0033】
第3実施形態と第1実施形態との異なる点は、第1実施形態では、帯状の板材で形成された熱・電気伝導部10が、窓部1の内面上に直接固定されて配されているのに対し、第3実施形態のX線管及びX線分析装置では、図4に示すように、熱・電気伝導部30が、ターゲットTに一端が固定されていると共にターゲットTから窓部1の内面に対して斜め方向に真空筐体2まで延在し、他端が真空筐体2に固定されている点である。
【0034】
すなわち、第3実施形態では、熱・電気伝導部30が、窓部1上であるが、他端側が斜め方向に浮いて配されている。なお、この熱・電気伝導部30は、帯状、線状又は棒状等であってもよく、ワイヤーボンディングによる金属線であっても構わない。
【0035】
なお、本発明の技術範囲は上記各実施形態に限定されるものではなく、本発明の趣旨を逸脱しない範囲において種々の変更を加えることが可能である。
【0036】
例えば、上記各実施形態では、帯状又は棒状の熱・電気伝導部10、20、30を2本設置しているが、1本又は3本以上設けても構わない。また、複数の帯状又は棒状の熱・電気伝導部を交差させたり、格子状に配置しても構わない。
また、上記各実施形態は、エネルギー分散型の蛍光X線分析装置であるが、他の分析方式、例えば波長分散型の蛍光X線分析装置に適用しても構わない。
【0037】
さらに、本発明は、上記各実施形態のようにハンディータイプのX線分析装置に好適であるが、据え置き型のX線分析装置に適用しても構わない。例えば、上記真空筐体2、電子線源3、ターゲットT及びX線検出素子4により構成されるX線管と、分析器5や制御系及び表示部6等とを別体に設けて構成した据え置き型X線分析装置としても構わない。
【図面の簡単な説明】
【0038】
【図1】本発明に係るX線分析装置の第1実施形態において、X線分析装置を示す概略的な全体構成図である。
【図2】第1実施形態において、窓部とターゲットと熱・電気伝導部との位置関係を示す真空筐体内要部の正面図である。
【図3】本発明に係るX線分析装置の第2実施形態において、X線分析装置を示す概略的な要部断面図である。
【図4】本発明に係るX線分析装置の第3実施形態において、X線分析装置を示す概略的な要部断面図である。
【符号の説明】
【0039】
1…窓部、2…真空筐体、3…電子線源、4…X線検出素子、4a…透過孔、5…分析器、6…表示部、10、20、30…熱・電気伝導部、e…電子線、X1…一次X線、X2…蛍光X線及び散乱X線、S…試料、T…ターゲット

【特許請求の範囲】
【請求項1】
内部が真空状態とされX線が透過可能なX線透過膜で形成された窓部を有した真空筐体と、
前記真空筐体内に設置され電子線を出射する電子線源と、
前記電子線が照射されて一次X線を発生すると共に該一次X線を前記窓部を介して外部の試料に出射可能に前記窓部の中央部上に設けられ前記窓部よりも外径の小さなターゲットと、
前記試料から放出されて前記窓部から入射する蛍光X線及び散乱X線を検出可能に前記真空筐体内に配置され該蛍光X線及び散乱X線のエネルギー情報を含む信号を出力するX線検出素子と、
前記窓部上の一部に設けられ前記ターゲットから前記真空筐体まで延在する金属製の熱・電気伝導部と、を備えていることを特徴とするX線管。
【請求項2】
請求項1に記載のX線管において、
前記熱・電気伝導部が、前記窓部上に前記ターゲットと同材料で形成されていることを特徴とするX線管。
【請求項3】
請求項2に記載のX線管において、
前記熱・電気伝導部が、前記ターゲットよりも厚く形成されていることを特徴とするX線管。
【請求項4】
請求項1から3のいずれか一項に記載のX線管と、
前記信号を分析する分析器と、
前記分析器の分析結果を表示する表示部と、を備えていることを特徴とするX線分析装置。
【請求項5】
請求項4に記載のX線分析装置において、
前記分析器及び前記表示部を前記真空筐体に設けて可搬型としたことを特徴とするX線分析装置。

【図1】
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【図2】
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【図3】
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【図4】
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【公開番号】特開2009−31167(P2009−31167A)
【公開日】平成21年2月12日(2009.2.12)
【国際特許分類】
【出願番号】特願2007−196817(P2007−196817)
【出願日】平成19年7月28日(2007.7.28)
【出願人】(503460323)エスアイアイ・ナノテクノロジー株式会社 (330)
【Fターム(参考)】