説明

パルステック工業株式会社により出願された特許

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【課題】 手術中に患者の位置に加えて皮膚の表面形状が変化しても、3次元表面形状スキャナによる測定により取得された3次元表面形状データと予め取得された3次元内部形状データとの位置合わせを比較的高速で精度良く行える手術支援システムを提供する。
【解決手段】 患者60の3次元表面形状を測定する3次元表面形状スキャナ20と、3次元表面形状スキャナからのデータを処理する演算装置40とを有する手術支援システム1であって、演算装置には予め3次元断層スキャナ30により取得された患者の3次元内部形状データが記憶されており、演算装置は、3次元内部形状データのうち骨格と皮膚表面との距離が小さい部位のデータと、この部位に対応する3次元表面形状データとにより、3次元内部形状データと3次元表面形状データとの位置合わせを行う手段を有する。 (もっと読む)


【課題】 加工対象物OBの加工領域全体にわたってピットを適正配置で形成できるようにする。
【解決手段】 テーブル21が1回転したときに形成されるピットの周方向の数をレーザ光の照射軌跡における隣接する内側の周と外側の周とで同一にするとともに、インデックス信号により基準回転位置が検出されてから次のインデックス信号により次の基準回転位置が検出されるまでのあいだとなるレーザ光の照射位置移動区間毎に、照射位置移動区間におけるレーザ光の照射位置の移動距離を予め設定した周方向ピット間隔Bwtで除算したときに余りが生じないように、周方向ピット間隔Bwtを補正する。そして、補正された補正周方向間隔Bwt(n)とレーザ光照射位置の線速度とに基づいて、レーザ駆動用パルス信号の周期を算出する。 (もっと読む)


【課題】測定対象物の表面の3次元形状を短時間で測定できるようにした3次元形状測定装置及び3次元形状測定方法を提供する。
【解決手段】測定対象物OBの表面にライン状のレーザ光を照射するレーザ照射装置と、測定対象物OBの表面に照射されたライン状のレーザ光における散乱光の一部である反射光を受光する複数の受光素子からなるエリアセンサとを有する測定カメラ20を備え、測定対象物OBの表面をライン状のレーザ光によって走査する。エリアセンサの各受光素子によって受光された反射光の受光強度をそれぞれ表す受光データは、ライン状のレーザ光の照射位置ごとに記憶され、エリアセンサにおけるライン状のレーザ光の反射光による直線状の受光ラインを設定して、受光ラインの両側においてエリアセンサの幅よりも狭い所定幅内に属する受光素子による受光データのみを抽出し、3次元形状データを測定する。 (もっと読む)


【課題】 位置および姿勢を定義する手段として複数の座標または複数の座標およびベクトルを定義する手段を備えた硬性内視鏡のような長軸部先端からの光軸を有する物体において、実際の光軸位置を遠方まで精度よく検出する。
【解決手段】 被測定物体10の長軸部11先端からの光軸と第1標識部12との3次元相対関係を測定する3次元相対関係測定装置であって、光軸が当たるターゲット23と3次元形状測定装置により測定可能な第2標識部22とを有する第1の較正用物体20と、3次元形状測定装置により測定可能な第3標識部を有する第2の較正用物体30と、第1の較正用物体を被測定物体10と相対的に移動させる移動手段とを有し、移動手段により第1の較正用物体20を移動させてターゲット23に長軸部11先端からの光軸が当たるようにした後、3次元形状測定装置で第1乃至第3標識部の3次元相対位置を測定することにより被測定物体10の光軸と第1標識部12との3次元相対関係を測定する。 (もっと読む)


【課題】ウェッジプリズムによりレーザ光を反射させて形成される干渉縞によりレーザ光の干渉性を評価するようにしても、レーザ光の光量損失が生ぜず、干渉縞を形成するための受光器や移動機構といった新たな設備を設ける必要がなくコストUPが抑制できるホログラム記録再生装置及びホログラム記録再生装置におけるレーザ光の干渉性評価方法を提供する。
【解決手段】レーザ照射装置からのレーザ光が照射されると共に反射したレーザ光がホログラム記録媒体に記録されたデータの再生で使用される受光器にて受光されるよう、テーブル又はテーブルの近傍に配置されたウェッジプリズムと、レーザ照射装置から出射されたレーザ光をウェッジプリズムに照射したとき、受光器が出力する受光器上に生成される干渉縞を表す信号に基づいて、レーザ照射装置の干渉性を評価するレーザ照射装置評価手段とを備える。 (もっと読む)


【課題】 測定対象物が発熱して溶解するという不具合がなく、精度良く接触抵抗を測定する。
【解決手段】 コンデンサ22に充電した電荷により放電回路20に通電し、電圧検出用アナログ積分回路61により測定対象抵抗Aの両端電圧Vin1を時間積分し、電流検出用アナログ積分回路62により標準抵抗21の両端電圧Vin2を時間積分する。アナログ除算回路70は、両端電圧Vin1の積分値を両端電圧Vin2の積分値で除算した値に相当する電圧Vdivをホールド回路80に出力する。ホールド回路80の出力電圧Vholdは、測定対象抵抗Aの抵抗値Rxと相関関係を有する電圧となるため、この電圧を測定して抵抗値Rxを求める。 (もっと読む)


【課題】 レーザ光を輪帯光にする遮光フィルタにおいて、遮光域で反射したレーザ光の影響を低減する。
【解決手段】 遮光フィルタ10は、円盤状の透明ガラス平板からなる透明基板11と、透明基板11の中央部に接着される半円球状の遮光部材12とから構成される。遮光部材12は、半球形状物体の表面に遮光材料13をコーティングして形成される。遮光部材12が遮光域15を形成し、遮光域15の周囲が輪帯状の透光域16を形成する。遮光域15におけるレーザ光の入射面は、レーザ光の光軸と直交する平面を有しないため、遮光域15で反射したレーザ光はレーザ光源に入射しなくなる。 (もっと読む)


【課題】 バランス調整時に加工ヘッド30に触れにくく、また、バランス調整にかかる時間を短縮する。
【解決手段】 レーザ加工に先だってバランス調整を行うとき、治具回転装置20を加工ヘッド30から離れた第2吸着固定台72にまで移動させ、エアー吸引により治具回転装置20を吸着固定する。加工対象物OBを固定治具10にセットした状態で、治具回転装置20により固定治具10を回転させて振動センサ93によりアンバランス量を測定する。続いて、固定治具10に試しおもりを取り付けて、同様にアンバランス量を測定する。そして、試しおもりを取り付ける前後のアンバランス量と、試しおもりの取付位置および質量とから、追加おもりの取付位置と質量を作業者に指示する。 (もっと読む)


【課題】 加工対象物OBを固定治具10にセットしやすく、かつ、治具回転装置20の固定が容易で、固定の際に塵が発生しないようにする。
【解決手段】 レーザ加工装置1は、固定治具10を着脱可能に保持する治具回転装置20と、治具回転装置20を水平移動させる離隔変更装置50および昇降移動させる昇降装置60を備える。レーザ加工を行うときには、治具回転装置20を第1吸着固定台71に載置してエアー吸引により吸着固定する。レーザ加工を行う前に、加工対象物OBを固定治具10にセットするとき、あるいは、加工対象物OBがセットされた固定治具を治具回転装置20に装着するときには、治具回転装置20を加工ヘッド30から離れた第2吸着固定台72にまで移動させて吸着固定する。 (もっと読む)


【課題】
対物レンズと立上げミラーを一体にせずとも、対物レンズが駆動しても対物レンズとレーザ光の光軸位置の関係を一定に保つことが可能であり、また装置に大がかりな駆動機構を設けずコストUPを抑制できるホログラム記録装置及びホログラム再生装置を提供する。
【解決手段】
情報レーザ光の光路上で対物レンズの入射瞳面の手前に設置され、駆動により情報レーザ光の光軸位置を変化させる、屈折率が空気とは異なる板状物体と、情報レーザ光の光路上で対物レンズの入射瞳面の手前に設置され、駆動により情報レーザ光の光路長を可変する光路長可変用光学部品と、トラッキングサーボ手段による対物レンズのホログラム記録媒体の半径方向の中立位置からの駆動量を検出する駆動量検出手段と、検出した駆動量により板状物体を駆動する光軸位置可変手段と、検出した駆動量により光路長可変用光学部品を駆動する光路長可変手段とを備える。 (もっと読む)


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