【課題】 分析精度の高いエネルギー分散型蛍光Ｘ線装置、蛍光Ｘ線分析方法、およびプログラムを提供する。
【解決手段】 本発明にかかるエネルギー分散型蛍光Ｘ線装置１００は、試料にＸ線を照射することにより発生する蛍光Ｘ線に基づいて前記試料を分析するエネルギー分散型蛍光Ｘ線装置であって、前記試料から発生した蛍光Ｘ線を検出する検出部１４と、前記検出部が検出した前記蛍光Ｘ線のスペクトルを作成するスペクトル作成部２２と、前記スペクトル作成部によって作成された前記スペクトルが、鉛元素に対応する複数のエネルギー位置のすべてにピークを有する場合に、前記試料が鉛を含有すると判断する鉛同定部２４と、を含む。 （もっと読む）

【課題】本発明は、固形状測定対象物質断面における検出成分分布濃度を測定するための方法を提供することを目的とする。
【解決手段】本発明は、固形状測定対象物質断面における検出成分分布濃度を測定するための方法において、
検出成分を含まない粉末状試料と粉末状の検出成分を、濃度を変えて混合及び成形して検出成分濃度の異なる検量線作成用試料を複数個用意する工程と、
上記各検量線作成用試料の検出成分特異元素のＸ線強度を測定する工程と、
上記各検量線作成用試料中の検出成分濃度と前記Ｘ線強度から前記検出成分特異元素の測定値についての検量線を作成する工程と、
前記固形状測定対象物質の断面の任意の直線上の各位置における検出成分特異元素のＸ線強度を測定し、前記検量線によって検出成分の濃度に換算することによって、上記固形状測定対象物質断面における検出成分分布濃度を測定する工程からなることを特徴とする固形状測定対象物質断面における検出成分の分布濃度測定方法を提供する。 （もっと読む）

【課題】本発明が解決しようとする問題点は、分析器の真空系と分析室の真空系を隔壁を用いて遮断した場合、低エネルギーのＸ線の検出が困難であったという点である。
【解決手段】試料を収容する真空に保持された分析室と、１次ビームを前記試料に照射する１次ビーム照射手段と、前記１次ビームにより前記試料から発生するＸ線を集束する集光手段と、前記Ｘ線の集束点に位置し、前記集束したＸ線を通過させるアパーチャと、前記アパーチャを通過したＸ線を分光・検出する真空に保持された分光手段と、を備える表面分析装置であって、前記分析室と前記分光手段を仕切る前記アパーチャにより前記分光手段内の真空度と異なる分析室内の真空度を保持することを特徴とする表面分析装置。 （もっと読む）

複数の個別のコンポーネントを有するプリント配線アセンブリにおいてマイクロ蛍光Ｘ線分光分析法を用いて有害物質を識別する方法に関する。検出分析計としてマイクロ蛍光Ｘ線分光分析法（μ−ＸＲＦ）及びＸ線吸収微細構造（ＸＡＦＳ）分光を用いて、電子デバイスにおいて問題の材料を識別する。検査されるデバイス又はアセンブリは、参照データベースにおける情報に応じて、プローブ下、そのデバイス又はアセンブリをＸ，Ｙ，Ｚ方向へ移動させ、アセンブリ上の選択された位置の元素組成を決定することによって分析される。プローブは分析のための各選択位置から最適な分析距離に位置する。各選択位置の決定された元素組成は参照データベースと関連付けられ、検出された元素はアセンブリにおける様々なコンポーネントに対し割り当てられる。
（もっと読む）

【課題】 成形品に形成された気孔に、特定のマーカー元素を分子内に有する樹脂を含有する樹脂組成物を充填した後、その形状を実質的に維持した状態で固形化して、このマーカー元素を検出することにより、成形品の表面や内部における気孔の分布を精度よく分析する方法を提供する。
【解決手段】 樹脂材料又は樹脂成形材料の成形品に形成された気孔の分布状態を分析する方法であって、
（ａ）ホウ素、窒素、フッ素、ケイ素、リン、硫黄、塩素、臭素、ヨウ素から選ばれるマーカー元素を分子内に有する樹脂を含有する樹脂組成物を、上記気孔内に充填する第１の工程と、
（ｂ）上記気孔内に充填された樹脂組成物を、その形状を実質的に維持して固形化する第２の工程と、
（ｃ）上記固形化した樹脂組成物中のマーカー元素を検出することにより、上記成形品に形成された気孔の分布状態を分析する第３の工程と、
を有することを特徴とする、成形品の気孔分布の分析方法。 （もっと読む）

【課題】 フェノール樹脂成形品中に含有されているフェノール樹脂の分散状態を正確に確認することができるフェノール樹脂の分析方法を提供することにある。
【解決手段】 フェノール樹脂を含有する組成物もしくはその硬化物中におけるフェノール樹脂の分散状態を分析する方法であって、前記フェノール樹脂にホウ素、窒素、フッ素、ケイ素、リン、硫黄、塩素、臭素、ヨウ素から選ばれる元素を有する官能基を導入し、該元素の分散状態を検出することにより、フェノール樹脂の分散状態を分析することを特徴とするフェノール樹脂の分析方法。 （もっと読む）

【課題】 薄膜と薄膜が形成されている基板の材料とが同じ材料を含んでいても、薄膜の微小領域における被覆率の測定を行うことができる薄膜の被覆率評価方法を提供する。
【解決手段】 検量線作成用の、シランカップリング膜２を形成したシリコン基板５をＳ−ＳＩＭＳ測定法で測定し、シランカップリング膜２に含まれる有機系のＰＦＰＥイオン強度値と、シリコンイオン強度値との検量線用イオン強度比（ＰＦＰＥイオン強度値／シリコンイオン強度値）を取得する。検量線用イオン強度比を基にして被覆率を求めるための検量線を作成する。次に、実際のシランカップリング膜２が形成されたシリコン基板５をＳ−ＳＩＭＳ測定法で測定し、シランカップリング膜２に含まれるＰＦＰＥイオンの強度値とシリコンイオン強度値の試料イオン強度比を取得する。作成した検量線を用いて、試料イオン強度比から被覆率を評価する。 （もっと読む）

本発明は、次の工程を含む未知組成物の精油所固形ファウラントの同定方法に関する。即ち、固形ファウラント試料を得る工程、捕捉された原料を、溶剤を用いて試料から除去して、不溶分試料を得る工程、不溶分試料を、走査電子顕微鏡およびエネルギー分散Ｘ線で走査する工程、不溶分試料について、灰分試験を含む熱重量分析を行って、高分子、コーク、および無機元素の存在を決定する工程、不溶分試料について、元素炭素、水素、硫黄、窒素、ハロゲン、および金属の元素分析を行なう工程、不溶分試料について、光学顕微鏡試験を行なって、ワックス、アスファルテン、異方性コーク、および等方性コークの存在を決定する工程および固形ファウラントを同定する工程である。 （もっと読む）

【課題】 高額・大型の設備が必要なく、小型、低コストの設備で軽元素を含む絶縁体材料の分析・評価を高感度・高精度に行うことができる新規な絶縁体中の軽元素分析・評価装置を提供する。
【解決手段】 この出願の発明による絶縁体試料中の軽元素分析・評価装置は、２から１００ｋｅＶの低エネルギーを有する正イオン２を、軽元素を含む絶縁体試料３に照射するイオン発生源１と、正イオンの照射により絶縁体試料３中に含まれる軽元素から発生する特性Ｘ線を検出するＸ線検出器５と、絶縁体試料３を配置するチャンバー４を備えていることを特徴とする。 （もっと読む）

【課題】 測定試料中の重金属元素分析で、１ｐｐｍ以下の微量元素を分析可能とする小型蛍光Ｘ線分析装置を提供する。
【解決手段】Ｓｉなどの軽元素から構成される１次フィルタで測定元素帯域のエネルギを吸収し、励起エネルギ帯域のエネルギを透過させ、励起Ｘ線強度を高める。また、測定元素毎に選択されるＴｅ，Ｍｏ，Ｃｏなどから構成される２次ターゲットを１次フィルタの周囲に配置し、２次ターゲットで発生した蛍光Ｘ線を励起線とする。また、試料から発生したバックグラウンド成分を２次フィルタで吸収し、測定領域のエネルギを透過させる。 （もっと読む）

【課題】 分析領域の特定を簡便に行うと共に正確な分析を行うことが可能な、２次イオン質量分析方法を提供することにある。
【解決手段】 試料２２の分析領域３０の近傍に溝４０を作成した後、試料断面を出してその切断面５０を分析対象面とし、切断面５０に表出した溝４０を目印として分析を行い、分析領域３０を特定する。 （もっと読む）

本発明は、廃棄物処理プラントの入口で、特定の化学物質（廃棄物中に検出された塩素）のレベルに従って、稼働状態で廃棄物を選別する装置及び方法である。装置は、好ましくは事前設定された限度に達するまで、廃棄物を秤量モジュールに提供する廃棄物入口を有する。次に、この廃棄物のコントロールボリュームが、コントロールボリューム中の特定の化学物質の含有量を決定するように最適化されたパルス中性子材料分析器に導入される。次に、コンピュータ等の制御手段が、廃棄物コントロールボリューム中の化学物質のレベルが事前設定されたしきい値より高いか低いかを判断し、その判断に従って廃棄物を２つのチャネルの何れかに導く。これらのチャネルの一方は、廃棄物処理チャンバに導入するために所定の化学物質の含有量が少ない廃棄物を受け入れる。他方のチャネルは廃棄物を貯蔵し、例えば、その廃棄物を含有量が十分に低い他の廃棄物と混合し、化学物質の全体量がしきい値より少なくなるようにする。 （もっと読む）