【課題】セメント硬化体中のひび割れ等の空隙部を、精度良く検出する方法を提供する。
【解決手段】セメント硬化体に存在する空隙部に、有機ハロゲン化合物を溶解又は混合した樹脂液を含浸させて硬化させた後、表面を研磨し、電子線マイクロアナライザーにより、該有機ハロゲン化合物由来のハロゲン原子の分布状態を分析することを特徴とするセメント硬化体中の空隙部を検出する方法。 （もっと読む）

【課題】液体試料を前処理して含有成分を蛍光Ｘ線分析するために用いられる蛍光Ｘ線分析用試料保持具ならびにそれを用いる蛍光Ｘ線分析方法および装置において、蛍光Ｘ線分析用試料保持具からの不純線をなくし、バックグラウンドを抑制して検出限界を向上させるとともに分析精度を向上させることを目的とする。
【解決手段】本発明の蛍光Ｘ線分析用試料保持具１は、液体試料Ｓを前処理して含有成分Ｓ１を蛍光Ｘ線分析するために用いられる蛍光Ｘ線分析用試料保持具１であって、輪状の台座２と、台座２に所定の張力で保持される周辺部３ａおよびＸ線を透過させるための透過部３ｂを有する厚さ１２μｍ以下の熱収縮性フィルム３とを備え、透過部３ｂに窪み３ｃが形成されており、透過部の窪み３ｃに液体試料Ｓが滴下されて乾燥されることにより、透過部３ｂが平坦になるとともに、含有成分Ｓ１を保持する。 （もっと読む）

【課題】長時間の連続運転における検出感度低下の影響を無効化する、Ｘ線検出を用いる臭素系難燃剤含有プラスチックの分別装置を提供することを目的とする。
【解決手段】本発明は、臭素系難燃剤含有プラスチックの分別装置に関し、Ｘ線を発生させるＸ線源と、プラスチック試料を保持する試料保持装置と、プラスチック試料を透過したＸ線を検出するＸ線検出器と、規定した濃度の臭素を含有する臭素含有物と、プラスチック試料と臭素含有物とから検出した透過Ｘ線の強度をデータ解析し、プラスチック試料中に含まれる臭素系難燃剤量を判別するデータ処理装置と、データ処理装置からの信号に基づいて臭素含有物の規定した濃度より高い臭素濃度を有するプラスチック試料を分別する分別機構とを有することを特徴とする。 （もっと読む）

【課題】シリコンウェーハ上に非検知元素よりなる疎水性膜２を設けた、液滴状分析試料の乾固を行う全反射蛍光Ｘ線分析用試料板の改良により、空実験でＳｉピークを確実に消滅させ、気相分解法と全反射蛍光Ｘ線分析を組み合わせる高感度化手法において、Ｓｉとエレルギー値の近いＰ，Ａｌ，Ｍｇ等も高感度化させる。
【解決手段】Ｓｉの特性Ｘ線が発生するのは、膜２の表面４で全反射するＸ線５が表面下８まで侵入し、この領域には微小欠陥群が存在してＸ線の散乱９が起こり膜界面のシリコンが励起する為と考え、試料板の試料乾固域の下方に十分の広さのシリコン欠如部分（凹部）を設けて、散乱Ｘ線９がシリコンと遭遇しないようにした。凹部の天井の乾固用膜は十分に薄く出来て不純物の絶対量が減るので、Ｓｉピークの消滅と同時に分析対象元素全般の空試験値も低減させ得る。 （もっと読む）

【課題】成形用原料樹脂や樹脂成形品の内部に混入又はその表面に付着した異物が生体組織由来の異物であることを判別する方法を提供する。
【解決手段】成形用原料樹脂若しくは樹脂成形品の内部に混入又はその表面に付着した異物が生体組織由来か否かを判別する異物の判別方法であって、透過法又は反射法による異物への顕微赤外吸収スペクトル分析を実施したときに、得られる赤外吸収スペクトルの波数３，０００〜６５０ｃｍ^−１の範囲において、波数１，７００〜１，６００ｃｍ^−１の範囲に最も強い吸収のピーク（Ａ）が観測され、且つ、波数１，６００〜１，５００ｃｍ^−１の範囲にピーク（Ａ）に次ぐ強い吸収のピーク（Ｂ）が観測される異物について元素分析により酸素、硫黄、ナトリウム、カリウム及び塩素を検出する異物の判別方法。 （もっと読む）

【課題】スラグに含有される制限成分が許容値を超える高濃度スラグと、許容値以下である低濃度スラグとに、スラグを正確に分別することができるスラグ分別方法を提供する。
【解決手段】制限成分をスラグ中に投入して処理した後、同一の制限成分を投入しない次のチャージについてスラグを採取し、その採取したスラグの少なくとも９５％以上が球換算直径で５０μｍ以下となるようにスラグを粉砕し、圧力３０ｔ／ｃｍ^２以上で且つ２０秒以上プレスすることにより、厚さが２〜４ｍｍで分析面の凹凸が０．０５ｍｍ以下の試料を成形し、上記分析面に対し、電圧３０ｋＶ〜４０ｋＶ、電流５０〜７０ｍＡのＸ線を照射して制限成分含有量を分析し、分析によって得られた制限成分含有量Ｉと予め設定された制限成分許容値Ｐとを比較し、Ｉ＞Ｐの場合は制限成分高濃度含有スラグとして、また、Ｐ≧Ｉの場合は制限成分低濃度含有スラグとして分別することを特徴とする。 （もっと読む）

【課題】スラグ中の微量元素、特に揮発性微量元素を正確且つ迅速に分析することができるスラグ分析方法を提供する。
【解決手段】採取したスラグの少なくとも９５％以上が球換算直径で５０μｍ以下となるようにスラグを粉砕し、圧力３０ｔ／ｃｍ^２以上で且つ２０秒以上加圧プレスすることにより、厚さが２〜４ｍｍで分析面の凹凸が０．０５ｍｍ以下の試料を成形し、上記分析面に対し、電圧３０ｋＶ〜４０ｋＶ、電流５０〜７０ｍＡのＸ線を照射してスラグ中の揮発性微量元素の分析を行うことを特徴とする。 （もっと読む）

【課題】有害物質の含有量調査において目的とする有害物質の存在が確認できなかった場合でも、その含有量が規制値・管理値を超えている可能性があるか否かを分かり易く提示する。
【解決手段】目的元素が入力設定されると（Ｓ１）、各目的元素の特性Ｘ線位置におけるバックグラウンド強度から理論計算により検出下限が算出される（Ｓ１１〜Ｓ１４）。一方、蛍光Ｘ線スペクトルに対するピークサーチ処理から得られるピーク位置、ピーク強度に基づいて含有元素が同定され（Ｓ５）同定された元素が定量される（Ｓ６）。目的元素が同定されなかった場合（Ｓ７でＮ）、理論計算により求められた該当元素の検出下限が呼び出され（Ｓ８）、元素と定量値（又は検出下限）とが対応付けて表示される（Ｓ９）。これにより、存在が確認されなかった元素についての検出下限が規制値・管理値を超えているか否かを容易に確認することができる。 （もっと読む）

【課題】 大気中の浮遊粒子状物質を構成する元素種類を連続自動的に分析する装置を提供する。
【解決手段】 分級器２によって粒径２．５μｍを超える粗大粒子ＣＰの全量を含む空気と、ＰＭ２．５以下の微小粒子ＦＰを含む空気とに分級し、分級された空気中の浮遊粒子状物質をフィルタ３の第１および第２の位置３ａ，３ｂに捕集する。これらを各別に蛍光Ｘ線分析器１３によって元素分析する。 （もっと読む）

【課題】比較的簡易な構成の試料を用いて、実際の配線構造に近似する状況で配線導電材料の不純物濃度を精度良く測定し、実際の配線構造に極めて近い不純物濃度の知見を得ることを可能とし、当該知見を実際の配線形成に反映させる。
【解決手段】シリコン基板１に配線溝１ａを形成し、配線溝１ａを配線導電材料３で埋めんで配線様構造４を形成し、試料１１を作製する。この試料１１を用いて、ＳＩＭＳ法により配線様構造４の配線導電材料３をＳＩＭＳ分析する。 （もっと読む）

【課題】コンクリート構造物におけるコンクリート劣化が表面化していない早期の段階で、該構造物の劣化の危険性を予測することが可能なコンクリート劣化の診断システムを提供する。
【解決手段】コンクリート構造物及びその周辺の環境調査を行い対象とするコンクリート構造物の構造や立地条件を把握してコンクリートにおける劣化因子の抽出と劣化発生箇所の予測をし、該箇所のコンクリート表面について簡易な劣化の予兆検査を行い、予兆のあった箇所から採取したサンプルについて機器分析により精密な劣化診断をし、診断結果から劣化の予測を行う。 （もっと読む）

【課題】微量元素の定性分析を正確に行う。
【解決手段】本発明の微量元素評価方法は、二次イオン質量分析法を用いて、試料に含有する微量元素を検出する微量元素評価方法であり、前記試料にイオンを注入し、前記試料の体積を増加させるステップと、体積が増加した前記試料にイオンビームを照射させ、前記微量元素の二次イオン質量分析を行うステップと、を有することを特徴とする。これにより、極浅領域での微量元素の検出量が向上し、その定性分析をより正確に行うことができる。 （もっと読む）

【課題】 本発明は、簡便に粉砕した熱可塑性の廃プラスチックに含まれる有害物質含有量の測定を行い、粉砕した熱可塑性の廃プラスチックの有害物質含有量基準が存在するプラスチック製品への再利用方法を提供することを目的とする。
【解決手段】 本発明は、粉砕した熱可塑性の廃プラスチック中に含まれる微量成分の測定方法であり、
・粉砕した廃プラスチックを均質化する工程（ｂ）、
・均質化した粉砕廃プラスチックより一部を抜き出し、加熱溶融混練して固形粒状物に変換する工程（ｃ）、
・固形粒状物より一部を抜き出し、固形粒状物に含まれる微量成分を分析する工程（ｅ１）、
を有することを特徴とする廃プラスチック中に含まれる微量成分の測定方法である。 （もっと読む）

【課題】高感度で小型化が容易であり、しかも放射線損傷が少ない一次元イメージセンサを提供する。
【解決手段】被検体を透過した放射線１の入射方向に延在し、多数の粒状、柱状あるいは針状構造のシンチレータ粒子をそれぞれに集積した構造体のシンチレータシート２と、放射線１の入射方向に対し直交する方向であってシンチレータシート２に隣接して配置された光学素子３と、光学素子３に隣接した受光素子４とを有する。これ等は、スリット状の開口部５を有する遮蔽体６に覆われる。開口部５の所定の箇所には、シンチレータシート２で発生するシンチレーション光の遮光膜７が取り付けられる。受光素子４の光電変換で生成した電気信号の出力を外部に伝送するケーブル８、電気回路９が取り付けられる。 （もっと読む）

【課題】 従来の飛行時間型二次イオン質量分析を利用した表面構造の解析方法では、試料が固体表面の有機化合物や分子結合性化合物の単層膜の場合に、試料表面から削っていくことが困難なために、厚さ方向の組成プロファイルを求めることが困難である。
【解決手段】 試料表面にサイズの異なる少なくとも２種類のイオンをそれぞれ照射する手段、前記試料表面から放出されるイオンの質量スペクトルを飛行時間型二次イオン質量分析器により計測する計測器、および計測された質量スペクトルから異なる種類のイオン照射で計測された２つの質量スペクトルの差を出力する情報処理装置を有することを特徴とする表面解析装置。 （もっと読む）

【課題】 深さ方向元素分析方法に関し、簡単な構成によりエレクトロポジティブな元素とエレクトロネガティブな元素とを同時に高感度で検出する。
【解決手段】 イオンビーム照射によるスパッタエッチングによって試料１の表面から放出される二次イオンを検出し、試料１中に含まれる元素の深さ方向分布を測定する際に、試料１をエレクトロネガティブな元素雰囲気４に曝した状態でイオンビームを照射して、エレクトロネガティブな元素２と試料１中に含まれるエレクトロポジティブな元素３との負の複合分子イオン６を検出する。 （もっと読む）

【課題】測定試料中の臭素化合物の同定を高精度、非破壊で迅速に行なうための臭素化合物の分析方法および分析装置を提供する。
【解決手段】測定試料のＸ線吸収スペクトルを測定し、Ｂｒ−Ｋ吸収端近傍での吸収端の立ち上がりピークＡと該立ち上がりピークＡよりも高エネルギー側に現れるピークＢとのエネルギー間隔ΔＥならびに該立ち上がりピークＡおよび該ピークＢの強度比Ａ／Ｂを検出する測定ステップと、エネルギー間隔ΔＥの値と強度比Ａ／Ｂの値との組み合わせで測定試料に含まれる臭素化合物の構成元素の結合状態を特定する解析ステップとを含む臭素化合物の分析方法である。 （もっと読む）

【課題】集積回路パッケージとプリント配線板の接合状態をより精度よく良否判定する検査方法を提供することを目的とする。
【解決手段】
はんだ接合検査方法は、ＢＧＡパッケージ１０の表面に配置された複数のはんだボール５と、プリント配線板１１に設けられたランド１２とのはんだ接合を検査するはんだ接合検査方法であって、検出工程Ｓ１０１〜Ｓ１０２と、判定工程Ｓ１０３〜Ｓ１０８とを備えている。検出工程Ｓ１０１〜Ｓ１０２は、はんだ接合される部分にＸ線を照射することにより得られる情報から、ランド１２上に塗布されたはんだペースト１６に含まれ、かつ、はんだボール５に含まれない元素の分布を検出する。判定工程Ｓ１０３〜Ｓ１０８は、検出された元素の分布に基づいて、はんだ接合の良否を判定する。 （もっと読む）

本発明は、次のような校正用の標準セットに関する。すなわちこの標準セットは、少なくとも３つの校正標準を含み、これらの校正標準は、元素Ｃｄ、Ｃｒ、Ｐｂ、ＨｇおよびＢｒを含む熱可塑性ポリマーからなる成形体から構成される。この場合、これら３つの校正標準のいずれにおいても、ＣｒとＰｂとＨｇとＢｒとＣｄの比が異なる。本発明は、これら校正標準を製造する方法と、Ｘ線蛍光分析のためにこれら校正標準を使用することにも関する。 （もっと読む）

【課題】 湾曲分光結晶を用いるＸ線分光器において、分光結晶の有効回折領域のみを使用するようにして、分析に用いる特性Ｘ線の波長分解能、特性Ｘ線対バックグランド比の向上を図る。
【解決手段】 湾曲分光結晶３の表面位置からローランド円の内側方向に起立するＸ線遮蔽板Ａを設け、Ｘ線発生点Ｓから湾曲分光結晶３に向かう入射Ｘ線及び湾曲分光結晶３によって回折されＸ線検出器に向かう回折Ｘ線の一部をＸ線遮蔽板Ａにより遮蔽する。遮蔽される領域は入射Ｘ線の入射角θに応じて変化し、常に最適又はそれに近い湾曲分光結晶３上の有効回折領域を用いることができる。 （もっと読む）