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Fターム[2G011AA01]の内容

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Fターム[2G011AA01]に分類される特許

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【課題】ガイド部材にズレが生じてもプローブがスムーズに摺動可能なガイド部材によるプローブの保持構造を提供する。
【解決手段】電気的接触子がガイド部材によって保持された電気的接触子構造であり、電気的接触子は、先端にプランジャ、後端に支持部、さらにプランジャと支持部を接続するスプリングコイル、およびプランジャからスプリングコイル内へと延びる制動軸部を有し、スプリングコイルはプランジャに接続される可動部および支持部に接続され可動部よりも密に巻回されている固定部からなり、ガイド部材は、電気的接触子の先端側が挿入される第1のガイド穴が設けられた第1のガイド部材11と、電気的接触子の後端側が挿入される第2のガイド穴が設けられた第2のガイド部材12とが所定の間隔で配置されており、第1のガイド部材と第2のガイド部材との間で、スプリングコイルが湾曲するように、第1のガイド穴と第2のガイド穴が配置されている。 (もっと読む)


【課題】プランジャー体及びスリーブ体に格別の加工を施さなくともプランジャー体の回転後退を可能にする。
【解決手段】一端20を前記スリーブ体1の一端10から外方に突き出される接触端22とする第一プランジャー体2と、一端30を前記スリーブ体1の他端から外方に突き出される接触端32とする第二プランジャー体3と、スリーブ体1内にあってバネ一端40を第一プランジャー体2に固定させ、かつ、バネ他端41を第二プランジャー体3に固定させた圧縮コイルバネ4とを備える。バネ4のバネ一端40は、このバネ4の巻回中心軸yに対し偏心した位置にあると共に、第一プランジャー体2の中心軸xに対し偏心した位置において、この第一プランジャー体2に固定されている。 (もっと読む)


【課題】 可動電極の円滑な移動を確保することが可能な導電性コネクタの製造方法を提供することを目的とする。
【解決手段】 本発明にかかる導電性コネクタの製造方法の構成は、検査装置において検査対象である回路302の電極(端子304)に接触させて通電するための導電性コネクタ100の製造方法であって、絶縁性シート110に貫通孔112を形成し、貫通孔の内面にマスク層114を形成し、マスク層の内側に剛性導体(可動電極180)を形成し、導電性粒子192を混入した液状の高分子材料190を剛性導体に接触するように塗布し、高分子材料を硬化させて弾性物質とすることにより剛性導体に接合した異方導電性膜(第1異方導電性膜190a)を形成し、マスク層をエッチングによって除去することにより、剛性導体を絶縁性シートに対して移動可能な可動電極とすることを特徴とする。 (もっと読む)


【課題】被検査体の電極への影響を抑えつつ電極の微細ピッチ化及び微細領域化に対応して効率的に被検査体の検査を行うことができる低コストの検査用治具を提供する。
【解決手段】被検査体21の電極22に接触される導電性を有する複数の接触子33が微小電気機械システム技術によって基板32に形成された検査用プローブ31と、検査用プローブ31を支持するプローブブロック12とを備え、被検査体21に対して検査用プローブ31が垂直に配置され、検査用プローブ31の接触子33の先端側が基板32の表面に対して所定角度で屈曲され、プローブブロック12と被検査体21とが近接されることにより、被検査体21に対して垂直方向から近接されて接触子33の先端からなる接点35が被検査体21の電極22に接触される。 (もっと読む)


【課題】ピッチを狭小化し、繰り返しの使用による耐久性および耐熱性が高く、バネ性を有しながら、接触対象間で確実かつ良好な導通を得ることができるコンタクトプローブおよびプローブユニットを提供すること。
【解決手段】板厚が均一な略平板状をなし、異なる基板間を接続するコンタクトプローブ20と、コンタクトプローブ20を保持するプローブホルダ10と、を備えたプローブユニット1であって、コンタクトプローブ20は、一方の基板の電極と接触する第1接触部と、他方の基板の電極と接触する第2接触部と、第1および第2接触部を接続する接続部と、第1および第2接触部に加わる荷重によって弾性変形する弾性部と、弾性部の接続部との連結側と異なる側の端部に設けられ、第2接触部側と反対方向に突出してプローブホルダ10に取り付けられる取付部と、を有し、プローブホルダ10が、取付部を挟み込んで保持する。 (もっと読む)


【課題】微細かつ確実に対象点上の酸化膜等の除去が可能な接続端子を提供する。
【解決手段】対象点間を接続する接続治具に用いられる接続端子である。小径の導電部とそれを囲むように配置された大径の導電性の円筒形状部とを備え、大径の導電性の円筒形状部の筒壁面に長軸方向に収縮するばね部が形成され、小径の導電部の先端部が、大径の導電性の円筒形状部の先端部から突出し、小径の導電部の一部が、大径の導電性の円筒形状部のばね部が形成されていない部分の先端部に近い位置に電気的に接続されて接合されており、小径の導電部の先端部が対象点から押圧されて後退するのに伴いばね部が収縮しながら旋回して小径の導電部の先端部を対象点上で旋回させる。 (もっと読む)


【課題】円筒形状部が抵抗溶接による固定の前後においてほぼ円形形状を維持している接続端子を提供する。
【解決手段】対象点間を接続する接続治具に用いられる接続端子は、小径の導電部とそれを囲むように配置された大径の円筒形状部とを備え、小径の導電部の先端部が、大径の円筒形状部の先端部から突出し、小径の導電部の一部が、大径の円筒形状部の一部に接合されており、小径の導電部に接合された大径の円筒形状部の部分を少なくとも含む円筒形状部の軸線の周りの帯状部分の一部に切欠き部が形成されている。 (もっと読む)


【課題】 十分な耐久性を確保することができ、薄膜化ひいては高周波特性の向上を図ることが可能な異方導電性膜、およびそれを用いた導電性コネクタを提供することを目的とする。
【解決手段】 本発明にかかる異方導電性膜の代表的な構成は、弾性高分子材料110中に導電性粒子120が分散され、厚み方向に異方導電性を示すシート状の異方導電性膜100において、導電性粒子の粒度累積分布の累積10%の粒径であるd10(小粒径導電性粒子124の粒径)は、累積90%の粒径であるd90(大粒径導電性粒子122の粒径)の半分以下であって、導電性粒子のd90は弾性高分子材料の平均厚さの70%〜90%であることを特徴とする。 (もっと読む)


【課題】
実施形態は、パッド部と接触容易なプローブ針を提供する。
【解決手段】
本実施形態のプローブ針100は、半導体装置の検査に用いられるプローブ針100であって、前記半導体装置内のパッドと接触する面を含む端子部10(10a、10b)と、前記端子部10(10a、10b)と一体に接続され、前記端子部を支持する支持部20とを備えることを特徴とする。
また、本実施形態のプローブ針100は、前記端子部20は第1の面及び第2の面を有し、前記第1の面は、前記第2の面と異なる方向に延びるようにしてもよい。 (もっと読む)


【課題】プローブで発生した熱を効率よく放散し、プローブの温度上昇を効果的に抑制することにある。
【解決手段】電気信号を通すプローブは、配線基板の接続電極に取り付けられる接続領域を有する外面を備えるプローブの本体部と、前記本体部に埋設され、前記本体部の前記外面から一部を露出する少なくとも1つの伝熱部と、前記伝熱部の露出する前記一部に接し、前記接続領域を除く前記外面の少なくとも一領域を覆う膜状の放熱部とを含む。前記本体部は導電性材料からなり、前記伝熱部及び前記放熱部は、前記導電性材料よりも伝熱性の高い材料からなる。 (もっと読む)


【課題】プローブ用パッドと外部接続端子とを接続する複数の表面配線を基板本体の同じ表面に容易に配設できると共に、設計および製造期間を短縮でき且つ容易に製造できる電子部品検査装置用配線基板およびその製造方法を提供する。
【解決手段】複数のセラミック層s1,s2を積層してなり、平面視が矩形の表面3および裏面4を有する基板本体2と、該基板本体2の表面3における中心側3aに形成され且つプローブ16が実装される複数のプローブ用パッド5と、基板本体2の表面3における周辺側3bで且つ複数のプローブ用パッド5の外側に形成された複数の外部接続端子6と、プローブ用パッド5と外部接続端子6との間を個別に接続し且つ基板本体2の表面3に形成された表面配線7、および基板本体2のセラミック層s1,s2間に形成された内部配線8,9と、を含み、上記内部配線8,9は、電源配線層8および接地配線層9の少なくとも一方である、電子部品検査装置用配線基板1。 (もっと読む)


【課題】被検体との低付着性を実現するとともに、長期間に亘って安定な導電性を保つことができ、特に、約85℃程度の高温での繰返し接触や、大気中で長期間放置された後も、被検体との低付着性を実現すると共に、接触抵抗の上昇を抑制し得、長期間に亘って安定な電気的接触を保つことのできる電気的接点部材を提供する。
【解決手段】電気的接点部材は、被検体に繰返し接触する電気的接点部材であって、被検体と接触する電気的接点部材の表面は、Pdを含有する炭素被膜で構成されている。 (もっと読む)


【課題】 弾性変形時における針圧や高周波特性を確保しつつ、耐電流性能を向上させることができる電気的接触子を提供する。
【解決手段】 コンタクトプローブ100は、弾性変形部1とコンタクト部2とからなり、弾性変形部1が、長尺方向の力によって弾性変形する細長い板状体10A,10Bと、板状体10A,10Bの長尺方向と交差するワーク対向面12w上にコンタクト部2が配置され、空隙10Sを介して主面を対向させた状態で板状体10A,10Bの一端を互いに結合させる針先結合部12と、板状体10A,10Bの他端を互いに結合させる針元結合部11とからなる。板状体10A,10Bは、第1の導電性金属からなる応力層101,103と、第1の導電性金属よりも比抵抗が小さい第2の導電性金属からなる電導層102とから形成され、第1の導電性金属の機械的強度が第2の導電性金属よりも高い。 (もっと読む)


【課題】プローブの支持孔を所望の位置に高精度に形成することができるプローブ支持基板の製造方法を提供する。
【解決手段】本発明のプローブ支持基板の製造方法では、第1の金属薄板11にプローブ20より大径の孔11Aを複数のプローブ20の配列パターンに即して複数形成し、複数の大径孔11Aの互いに対応する大径孔11A同士をそれぞれ位置合わせして第1の金属薄板11を複数枚積層して第1の積層体12を得る。次いで、第1の積層体12の主面に第2の金属薄板13を積層して第2の積層体14を得た後、第2の積層体14を加熱、加圧して複数の第1の金属薄板11と第2の金属薄板13をそれぞれ互いに接合し、複数のプローブ20の位置決め孔13Aを、複数の大径孔11Aに対応させてプローブ20の外径に即した大きさで第2の金属薄板13に形成する。 (もっと読む)


【課題】プローブとプローブ支持基板との絶縁性を十分に確保すると共に経時的に安定化させることができるプローブ支持基板の製造方法を提供する。
【解決手段】本発明のプローブ支持基板10は、プローブ支持基板10は、複数の金属薄板11と第1、第2の金属薄板13、14が積層され且つ互いに接合された積層体と、積層体の上面に形成されて複数のプローブ20を積層体から電気的に絶縁する絶縁被膜16と、を備え、複数の金属薄板11、13、14のうちの第2の金属薄板13には、プローブ20のリード部20Cを摺動可能に支持し且つプローブ20の支持位置を決める位置決め孔17Aを有する絶縁性の支持薄板17が複数個所で一体化して形成されており、且つ、これらの支持薄板17がその両面に配置された第1、第3の金属薄板11、14によって挟持されていると共に位置決め孔17Aが貫通孔10A内に位置している。 (もっと読む)


【課題】コンタクト部などの試験装置治具の製作数量、及び、材料コストを低減することが可能な技術を提供することを目的とする。
【解決手段】コンタクトプローブは、樹脂封止型半導体装置15の端子16に離接自在に接触して電気的接続をとるプローブピン1を備えるコンタクトプローブであり、コンタクト部11と、段差構造12とを備える。コンタクト部11は、プローブピン1の先端位置に規定されている。段差構造12は、コンタクト部11コンタクト部に段差状に形成され、樹脂封止型半導体装置15の端子16との複数の接触面12a,12bを提供する。 (もっと読む)


【課題】 製造が容易で、壊れにくい電子部品用測定冶具を提供する。
【解決手段】 本発明の電子部品用測定冶具100は、絶縁基板1と、金属箔2と、ソルダーレジスト膜3と、複数の金属端子7を備え、ソルダーレジスト膜3は、ソルダーレジスト膜非形成部4aを有し、金属端子7は、単板からなり、測定する電子部品の端子電極が当接する当接部7aを金属箔2の形成されていない絶縁基板1上に延出させた状態で、金属箔2のソルダーレジスト膜非形成部4aにはんだ付けされ、金属箔2の厚みXが、金属端子7の厚みYに対し、X≧0.5Yの関係になるようにした。 (もっと読む)


【課題】異種金属からなる線材を接合して構成される検査用プローブにおける接合箇所の品質を向上した検査用プローブの製造方法を提供する。
【解決手段】少なくとも一方の先端部に検査用接触部が形成される第1の線材及び第2の線材を接合して構成される検査用プローブの製造方法を、第1の線材の端面と第2の線材の端面とを突き合わせた状態でこの突き合わせ部を筒状部材の内径側に配置し、筒状部材にレーザ光を照射することによって筒状部材を第1の線材及び第2の線材とそれぞれレーザ溶接した後に、溶接部の外周面を製品外径まで研磨する構成とする。 (もっと読む)


【課題】プラグ先端中央部を凹ませる形状とする事でプラグ長の短縮量を最小に抑え、また部品を追加せずにプラグの導電部分に触れることのない測定プローブを実現する。
【解決手段】測定プローブを構成する支持部に一端が固定され先端までの高さが所定の高さL1を有して形成された円筒状のスリーブと、
このスリーブの中の底部に一端が固定され前記先端よりも低い高さL2に形成されたプラグを有する測定プローブにおいて、前記プラグの先端を外径側から中心に向かって凹状に形成した。 (もっと読む)


【課題】プローブ装置の接触電極を被検査体の電極に確実に接続させることにある。
【解決手段】プローブ装置は、前後方向に延びるプローブブロックと、該プローブブロックの前部の下側に取り付けられた可撓性の配線シート支持体と、該配線シート支持体の下側に支持された配線シートとを含む。前記配線シート支持体は、前方ほど下方となる斜めの方向に伸びる延長部を備える。前記配線シートは、前記延長部の下側に支持された延在部を備える。また、前記配線シートは、シート状部材と、該シート状部材に形成された複数の配線と、各配線の前部に形成された接触電極とを備える。各接触電極は、前記配線から立ち下がる前端面と、前記斜めの方向に直線状又は弧状に延びる下面と、前記前端面及び前記下面により形成される角部とを有する。 (もっと読む)


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