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Fターム[2G028CG22]の内容

抵抗、インピーダンスの測定 (8,300) | 測定する値 (1,732) | 伝達関数、伝達特性 (35)

Fターム[2G028CG22]に分類される特許

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【課題】プリント基板同士をFFC又はFPCケーブルで接続したシステムをシミュレーションするにあたっての、FFCの伝送特性をモデル化するための手法を得る。
【解決手段】FFC及びFPCケーブルのTDR測定(隣接配線近端部Open/Short)から回路シミュレータの伝送線路モデルを用いてケーブルのTDR波形を再現するというモデリング手法である。また、TDT、TDR(Even/Odd)測定を実施し、モデリングを実施することで、より高精度なモデルを取得できる。 (もっと読む)


【課題】フィクスチャ基板の回路パラメータを簡単に測定する。
【解決手段】フットプリント相当パターン113i,113oとSMAコネクタ102と校正配線パターンと有する校正基板100を用いて、フィクスチャ基板の回路パラメータを測定する。フットプリント相当パターン113i,113oは、一組のフィクスチャ基板それぞれに設けられたフットプリントに対応する配線パターンである。SMAコネクタ102は、各フィクスチャ基板に搭載されたSMAコネクタと同一のものである。校正配線パターンは、各フィクスチャ基板の配線パターンに対応する、フットプリント相当パターン113i,113oとSMAコネクタ102とを接続する配線パターンである。そして、測定対象回路を介して接続されるフィクスチャ基板のフットプリントに相当するフットプリント相当パターン同士が直接接続されている。 (もっと読む)


【課題】本発明は、測定対象100が予め定められたジッタ伝達特性マスクに適合しているか否かの判定時間を短縮することのできるジッタ伝達特性試験装置及びジッタ伝達特性試験方法の提供を目的とする。
【解決手段】本願発明のジッタ伝達特性試験装置101は、指定された周波数F,F,F,F及びFの正弦波成分が含まれる合成正弦波Mfを用いて測定対象100のジッタ伝達特性Tの測定を行うジッタ伝達特性測定部13と、ジッタ伝達特性測定部13がジッタ伝達特性Tの測定を行う度に、ジッタ伝達特性測定部13が測定した周波数F,F,F,F及びFの正弦波成分とは異なる周波数F,F,F及びFの正弦波成分Mfを指定する正弦波指定部12と、を備える。 (もっと読む)


【課題】簡単な作業のみで高周波部品のSパラメータを補正することができる高周波部品のSパラメータを補正する方法、及び補正したSパラメータに基づいて高周波部品を搭載したモジュールの特性算出方法を提供することを目的とする。
【解決手段】全ての第1端子及び第2端子からの入射波に基づく反射波及び通過波を測定して高周波部品2のSパラメータである第1パラメータを取得する第1ステップと、第2端子を終端状態として、全ての第1端子からの入射波に基づく反射波及び通過波を測定して高周波部品2のSパラメータである第2パラメータを取得する第2ステップと、第1ステップで取得した第1パラメータの第1端子に関する各要素を、第2ステップで取得した第2パラメータの対応する各要素に基づいて補正する第3ステップとを含む。また、補正したSパラメータに基づいて高周波部品2をモジュール基板に実装したモジュールの高周波特性を算出する。 (もっと読む)


【課題】本発明は、トランスポンダが存在する端末の磁場内におけるトランスポンダと端末との結合係数を評価できる方法を提供する。
【解決手段】本発明に係る電磁トランスポンダと端末との結合係数を評価する方法によれば、前記トランスポンダの抵抗性負荷の2つの値に関して得られる前記トランスポンダの発振回路の電圧の比率を、一又は複数の閾値と比較し、比較結果に基づき、前記結合係数を評価する。更に本発明では、前記発振回路の両端間に設けられている整流器によって与えられる直流電圧を、前記抵抗性負荷の前記2つの値の夫々に関して測定する。 (もっと読む)


【課題】高周波デバイスや高周波ICのテスト精度向上が可能となるとともに、検査システムの複雑化を抑制可能な寄生成分測定装置及び寄生成分測定方法を提供する。
【解決手段】伝送路に既知のインダクタンス値を有する被測定インダクターを接続して形成される被測定回路のスミスチャートと、被測定インダクターと同じインダクタンス値を有する同値仮想インダクターと、同値仮想インダクターに接続され、且つ容量値を調整可能な可変仮想キャパシタンスを備える仮想等価回路のスミスチャートが合致するように、可変仮想キャパシタンスの容量値を調整し、被測定回路のスミスチャートと仮想等価回路のスミスチャートが合致した時の可変仮想キャパシタンスの容量値を伝送路の寄生キャパシタンスの容量値として算出して、伝送路の寄生キャパシタンスを測定する。 (もっと読む)


【課題】被試験回路の伝達特性を測定する。
【解決手段】被試験回路の入出力間の伝達特性を測定する伝達特性測定装置であって、予め定められた周波数のキャリア信号に予め定められた周波数とは異なる周波数の加算信号を加算した試験信号を生成して、被試験回路に入力する試験信号入力部と、被試験回路が出力する出力信号を測定した結果に基づいて、加算信号の周波数における被試験回路の伝達特性を測定する伝達特性測定部とを備える伝達特性測定装置を提供する。被試験回路は、半導体チップに形成されてもよい。被試験回路は、半導体チップに入力される信号を補正して出力し、半導体チップには、被試験回路の出力信号を、キャリア信号の周波数でサンプリングするサンプリング回路が更に形成されてもよい。 (もっと読む)


【課題】バイアス電圧を印加した状態で、誘電体の電気特性を測定する。
【解決手段】電気特性測定システム200では、まず、測定対象となる試料100を上部導体板106aと下部導体板106bで挟み、これを支持台108により安定させる。上部導体板106a、下部導体板106bには直流電源104が接続されており、これにより試料100には直流電圧が印加される。この状態で、ネットワークアナライザ102は、ケーブル110a、110bにより、試料100のSパラメータを測定し、直流電圧が印加された状態での試料100の比誘電率を測定する。 (もっと読む)


【課題】電力変換装置の実態に即したノイズ源を与えることで、ノイズフィルタの減衰特性の測定精度を向上させるようにする。
【解決手段】トラッキングジェネレータ11とスペクトラムアナライザ12との間にノイズフィルタ18を介在させることなく、コンデンサ15を介してトラッキングジェネレータ11とスペクトラムアナライザ12とを接続することで、ノイズフィルタ18がない時の出力電圧V1をスペクトラムアナライザ12にて測定した後、トラッキングジェネレータ11とスペクトラムアナライザ12との間にコンデンサ15を介してノイズフィルタ18を接続することで、ノイズフィルタ18がある時の出力電圧V2をスペクトラムアナライザ12にて測定し、ノイズフィルタ18がない時の出力電圧V1と、ノイズフィルタ18がある時の出力電圧V2との比を求める。 (もっと読む)


【課題】Sパラメータ・タッチストーン・ファイルに符号間干渉(ISI)スケーリングを行い、ダイレクト・デジタル・シンセシスで生成するシリアル・データ・パターンにISIスケーリングを発生させる。
【解決手段】
ユーザは、信号発生装置のユーザ・インタフェースを介して、シリアル・データ・パターンで要求されるデータ・レート、電圧振幅、エンコード方式のようなパラメータ・シートを設定する。ISIスケーリング値を選択し、伝送パスを表すSパラメータ・タッチストーン・ファイルに適用する。Sパラメータ・タッチストーン・ファイルと共に使用するシリアル・データ・パターン・パラメータ及びISIスケーリング値はコンパイルされて、デジタル・データの波形記録ファイルを生成する。デジタル波形記録ファイルを波形生成回路に加えることで、デジタル・データがISIスケーリング効果を伴うアナログ・シリアル・データ・パターンに変換される。 (もっと読む)


【課題】簡易かつ安価な構成で、入力信号と反射信号を分離して観測可能な応答特性測定装置を提供する。
【解決手段】本発明に係る応答特性測定装置1は、第1端51及び第2端52を有し、第1端51から入力される入力信号Sを所定の遅延時間だけ遅延させて第2端52から出力するとともに、第2端52から入力される反射信号Sを遅延時間だけ遅延させて第1端51から出力する遅延部5と、遅延部5の第2端52から出力される入力信号Sを供試体2に印加するとともに、供試体2からの反射信号Sを受け取って遅延部5の第2端52に向かって出力するプローブ部7とを備え、遅延部5の第1端51側に位置するC点において、入力信号Sと反射信号Sとを時間領域で分離して測定できるように構成したことを特徴とする。 (もっと読む)


【課題】フィルタの温度特性無依存を維持しつつ、簡単な回路構成でジッタ伝達特性を求めることができるジッタ伝達特性測定装置を提供する。
【解決手段】ジッタが付加されたクロック信号を被測定装置に出力するジッタ発生ブロック230と受信した出力信号のジッタを復調して解析する復調解析ブロック700とを備える。ジッタ発生ブロック230は、変調信号を発生する変調信号発生器210と、第1クロック信号発生器200と、ジッタ発生部220とを備え、復調解析ブロック700は、第2クロック信号発生器400と、ジッタ復調部410と、A/D変換器500と、変調信号の周波数成分のみを抽出するためのディジタル・フィルタ610と、抽出されたジッタ信号に対して変調信号の周波数成分を有する時間軸の評価関数をあてはめてジッタ信号の振幅を得る最尤推定部620と、得られた振幅からジッタ伝達特性を計算する伝達特性演算手段630とを備える。 (もっと読む)


【課題】 直交同期検波や位相検波器を介さずに、測定すべき正弦波信号の振幅と位相を標本化処理のみによって検出する方法を提供する。
【解決手段】 標本化信号で被測定正弦波信号を標本化する。得られた標本を□、△、■、▲とし、■、▲の極性を反転する。□と極性反転された■を加算して奇数番目の組の平均値を求める。△と極性反転された▲を加算して偶数番目の組の平均値を求める。前記奇数番目の組の平均値及び前記偶数番目の組の平均値に基づき予め定められた演算を行うことにより、前記被測定正弦波信号の振幅と位相を算出する。前記標本化信号の周期は、前記被測定正弦波信号の1以上の奇数周期について4分の1毎に設定されているとともに、前記被測定正弦波信号と前記標本化信号は互いに位相同期関係が保持されている。 (もっと読む)


【課題】電子校正装置とプローブとを接続することができ、同軸ケーブル及びプローブの校正に電子校正装置を利用することができる誤差基準値検出装置を提供する。
【解決手段】誤差基準値検出装置100は、電子校正装置40と、プローブ30の信号用探針31aに当接する信号パターン62及びグランド用探針31bに当接するグランドパターン63が誘電体基板61上にそれぞれ配設される伝送路基板60と、電子校正装置40に接続する同軸ケーブル22を固定する同軸コネクタ部51が配設されると共に、同軸コネクタ部51の内導体に対応するピン51cを伝送路基板60の信号パターン62に当接させ、同軸コネクタ部51の外導体に対応する外導体部51eを伝送路基板60のグランドパターン63に当接させ、信号パターン62及びグランドパターン63を露出した状態で伝送路基板60を係止する変換部52を配設されてなるアダプタ50と、を備える。 (もっと読む)


【課題】 デバイスの動特性の検査を行う際に、正常範囲を適切に設定して、適切な検査を行うことが可能な技術を提供する。
【解決手段】 本発明はデバイスの動特性を検査する方法として具現化される。その検査方法は、デバイスに入力信号を与える工程と、デバイスの出力信号の過渡的な変化を取得する工程と、デバイスの出力信号の過渡的な変化がデバイスの正常範囲に属するか否かを判断して、デバイスの動特性が正常であるか否かを判定する工程を備えている。その検査方法では、デバイスの正常範囲が、そのデバイスの代表的な出力信号の過渡的な変化と、同型のデバイスについての公差倍率に基いて設定される。 (もっと読む)


【課題】 実測値に基づく伝送線路のモデル化に際し、伝送線路特性を計測する特定の計測器が有する固有の誤差、ノイズ等の影響を抑制し、モデルを実際の伝送線路特性にフィッティングさせるために、従来のような試行錯誤によるモデル化作業の長時間化を解消した伝送線路特性のモデル化方法およびそのモデル化装置を提供することにある。
【解決手段】 実測値と伝送線路特性のシミュレーション結果とを比較しながら、伝送線路特性を実測値に近づけるフィッティング手法を用いて伝送線路特性の決定を行う。 (もっと読む)


【課題】高価な校正基板を利用せずに、プローブの校正を行うことができる高周波特性測定用プローブの校正方法。
【解決手段】平面伝送路を有する校正基板10を測定器16の1つの測定ポートに接続し、校正基板10を利用した誤差補正方法により、校正基板10の所定の校正面から測定器16までの誤差を導出する。 プローブ20を測定器16の他の測定ポートに接続し、校正基板10の校正面にプローブ20の先端を接触させ、その電気特性を測定器16により測定する。この測定値から、校正基板10の誤差を取り除くことで、測定器16からプローブ20の先端までの誤差を導出し、プローブ20の先端を校正面とする。 このプローブ20を用いて被測定電子デバイス30の高周波電気特性を測定すれば、その真値を高精度に求めることができる。 (もっと読む)


【課題】ポート間で信号の漏洩がある治具を用いても、精度の良い相対補正が可能である測定誤差の補正方法及び電子部品特性測定装置を提供する。
【解決手段】独立ポート1、2について、ポート間の信号の漏洩を無視して試験治具測定値と基準治具測定値とを関連付ける第1の数式を決定する。非独立ポート3、4と独立ポート1、2とが電気的に接続されたスルーデバイスを基準治具と試験治具に実装し、独立ポート及び非独立ポートについて測定し、第1の数式を用い、ポート間の信号の漏洩を考慮して非独立ポート3、4について試験治具測定値と基準治具測定値とを関連付ける第2の数式を決定する。任意の電子部品を試験治具に実装した状態で非独立ポートについて電気特性を測定し、第2の数式を用いて基準治具測定値を算出する。 (もっと読む)


【課題】伝搬特性の時間的変化を容易かつ確実に把握できるようにする。
【解決手段】信号処理部16は、被測定信号から伝搬路の伝搬特性を算出する。表示部17では、信号処理部16で算出された伝搬特性の表示を行う。この伝搬特性の表示では、二次元座標で表示を行うものとして、二次元座標の1つの座標軸を経過時間として、伝搬特性の算出結果を二次元座標上における色又は輝度で表現する。例えば周波数と経過時間を座標軸とした二次元座標上で、電力又は位相を、色又は輝度で表現することにより、伝達関数の表示を行う。遅延時間と経過時間を座標軸とした二次元座標上で、信号の振幅を色又は輝度で表現することにより、遅延プロファイルの表示を行う。 (もっと読む)


加入者伝送線路の線路挿入損失(IL(f))の推定を提供する。相当数の異なる基準伝送線路に対して、相当数の周波数について実験室の両端線路試験で線路損失が測定され、挿入損失値(L11…L14、…、L51…L54)が得られる。同じ基準伝送線路に対して、片端実験室試験が行われ、遠端TDR反射の振幅を表わす校正量(PV1…PV5)が、伝送線路につき一つ得られる。周波数(f1…f4)につき一つの直線(Lf1…Lf4)で示される関係が、損失値(L11L54)と校正量(PV1…PV5)との間に形成される。未知である加入者伝送線路に対して、現場で片端線路試験が行われ、校正量(PVX)が得られる。挿入損失(IL(f))は、様々な周波数(f1…f4)に対する値(LX1…LX4)として読み取られる。校正量(PV1…PV5;PVX)は、ラインカードを介してまたは伝送線路に接続して測定されてもよい。一つの伝送線路に対して、伝送線路の終端インピーダンスに応じて様々な関係が設定されてもよい。正確な加入者伝送線路挿入損失が生成される。 (もっと読む)


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