【課題】直流電源装置及び負荷装置を停止することなく、制御回路及び直流電源装置の不具合を容易に発見することができる制御回路点検装置及び制御回路点検方法を提供すること。
【解決手段】制御回路点検装置１は、電源電流Ｉ０’が定常時電源電流Ｉ０と試験電流Ｉ２との和と一致すると判定されたタイミングｔ３における直流電源装置３側の試験時電源電圧Ｖ０’及び負荷装置４側の試験時負荷電圧Ｖ２’を測定し、試験時電源電圧Ｖ０’、試験時負荷電圧Ｖ２’及び制御回路の抵抗（抵抗Ｒｐ及び抵抗Ｒｎ）に基づいて、制御回路及び直流電源装置３が正常に動作しているか否かを判定する。 （もっと読む）

【課題】電気コンタクトを監視するための方法及びシステムを提供する。
【解決手段】一方法では、電気コンタクトに印加された電気信号と前記電気コンタクトを通った後の被測定電気信号とに基づいて、前記電気コンタクトのインピーダンスを計算する段階を含む。該方法はまた、前記計算されたインピーダンスを用いて前記電気コンタクトの状態を決定する段階を含む。 （もっと読む）

【課題】負荷側回路の動作に影響を与えない接点検査装置、接点検査方法及び接点検査システムを提供する。
【解決手段】一次回路は検査信号を入力し、二次回路は出力回路から入力された電気信号を通過又は遮断する接点が、前記電気信号を遮断する場合、前記一次回路とインピーダンスが整合し、判定部は前記一次回路から反射した検査信号と、前記接点に対して前記電気信号を通過するか否かを制御する接点制御信号に基づいて前記接点の機能を判定する判定部とを備える。 （もっと読む）

【課題】構成がきわめて簡単でありながら、コンタクトチェック、充電チェックおよび絶縁抵抗チェックを確実に行うことができるようにする。
【解決手段】充電ステップでコンデンサＣを規定電圧で充電したのち、検査ステップで、直流電源Ｅより一対のプローブＰを介してコンデンサＣに所定の直流電圧を印加した状態で、電流計１１にてコンデンサＣに流れる電流（漏れ電流）値を測定してコンデンサの良否を検査するにあたって、一対のプローブＰ間に電圧計１２を接続するとともに、直流電源Ｅにスイッチ１３を設け、スイッチ１３をオフとして電圧計１２にて測定される電圧測定値により、コンタクトチェックと充電チェックとを行い、ともに良好である場合に、スイッチ１３をオンとして絶縁抵抗チェックを行う。 （もっと読む）

【課題】電子部品の電極に対して十分に接触することができ、プローブの交換頻度が少なく、かつプローブを容易に交換することができる電子部品の特性測定装置および特性測定方法を提供する。
【解決手段】電子部品の特性測定装置１２Ａは、導電性線材１２ｓをコイル状に巻付けてなるコイル部１２ａと、コイル部１２ａの中空部に充填された導電性接着剤１２ｄとを含むプローブ１２と、プローブ１２を支持するインピーダンスコントロール基板Ｃ１と、インピーダンスコントロール基板Ｃ１上に載置されプローブ１２を収納する収納孔１３ａを有する位置決めプレート１３とを備えている。位置決めプレート１３上には、プローブ１２の一部が外方へ突出する開口１４ａを有する抜け止めプレート１４が設けられている。コイル部１２ａの一対の端部１２ｓ_１、１２ｓ_２は抜け止めプレート１４に当接する。 （もっと読む）

【課題】工具等を用いることなく、分解または組立てを容易に行うことができること。
【解決手段】スライダー２８Ａおよび２８Ｂが操作されることによって、一対のプランジャーピン２２Ａおよび２２Ｂの先端がベースプレート１０における側壁部１０ＳＷの透孔１０ｂに対し挿抜可能とされることにより、クランププレート１４は、ベースプレート１０に脱着可能とされるとともに、ガイドプレート１８および電極付基板１２相互間における相対位置がベースプレート１０に設けられる位置決めピン１６により位置決めされるもの。 （もっと読む）

【課題】高周波数領域（２０ｋHz以上）を計測するには、高周波領域用の振動センサやAEセンサが必要である。しかし、ＡＥセンサは高価であるので診断装置のコストアップにつながる。高価なＡＥセンサ等を使わずに、機器内部の異物による振動や、締結ネジの緩みによる振動を低コストで診断する装置が要求されている。
【解決手段】従来、ノイズが多いとされていた低周波数領域（２０ｋＨｚ以下）にて機器内部の異物等による振動を本考案で示すノイズ除去アルゴリズムを使用して計測することで、低周波数領域（２０ｋＨｚ以下）でもノイズの影響を受けることなく機器内部の異物等による振動を計測することが可能となる。このため、振動センサとＣＰＵの低コスト化により装置の低コスト化も実現できる。また、電源周波数（５０Ｈｚまたは６０Ｈｚ）の倍音成分に特徴的に現れる機器由来の振動が原因で起こる締結ネジの緩みなどの異常振動の計測も可能となる。 （もっと読む）

【課題】狭ピッチの部品でも、部品や基板の破壊発生がなく容易に目的のチップ状電子部品端子の信号にプローブを接触不良なく測定することが可能なチップ状電子部品及びチップ状電子部品の搭載方法を提供する。
【解決手段】電子回路基板に搭載するチップ状電子部品であって、チップ状電子部品の搭載面の反対面には、該搭載面と電気的に導通すると共に、一端が前記チップ状電子部品の側面に開放されて他端が壁部となっている彫り込み方向の溝部を有する。 （もっと読む）

【課題】組電池の結線緩みや、装置故障の発生を容易に判定することのできる電池システムを提供する。
【解決手段】複数の二次電池の電極端子と導電部材とが固定部材により結線され且つ固定された組電池と、組電池に接続される電力負荷と、複数の二次電池の各々の端子間電圧を測定する第１の電圧計と、組電池の電圧を測定する第２の電圧計と、電力負荷に流れる電流を測定する電流計と、第１の電圧計から上記各々の端子間電圧のそれぞれに相当する複数の端子間電圧パラメータ値を受け、第２の電圧計から全体電圧パラメータ値を受け、電流計から電流パラメータ値を受ける制御装置と、組電池の接触抵抗値と制御装置の誤差値と電流の閾値とを格納した記憶部とを有し、制御装置は電流パラメータ値が閾値より大きい場合、結線緩み判定を行い、電流パラメータ値が閾値より小さい場合、装置故障発生判定を行う。 （もっと読む）

【課題】Ｘ線イメージング・システムの検出器等のドッキング・コネクタが交換又はクリーニングの何れを必要としているのかを操作者が決定することを容易にする。
【解決手段】一対の電気コネクタ装置を介して伝達される電圧を監視する方法を提供する。一対の電気コネクタ装置（１２０）は、電源に結合される電源コネクタと、負荷に結合される負荷コネクタとを含んでおり、電源コネクタ（１６）は負荷コネクタ（２２）に結合されている。この方法は、負荷（７４）によって用いられる電圧を決定するステップと、電源（１４２）によって発生される電圧を決定するステップと、負荷によって利用される決定された電圧及び電源によって発生される電圧を用いて一対の電気コネクタ（１６、２２又は２２、３２）の電気抵抗を決定するステップとを含んでいる。また、コネクタ監視回路、及び該コネクタ監視回路を含む可搬型Ｘ線検出器を提供する。 （もっと読む）

【課題】遠隔監視制御装置の表示試験を安全かつ効率的に実施する。
【解決手段】遠隔監視制御装置の表示試験システム１において、電圧出力装置２は、ケーブルＣ３、Ｃ４及び端子台接続アダプタＡＤを通じて、遠隔監視制御装置ＴＣの端子に電圧を所定時間出力し、その電圧出力の開始及び停止の時に、当該端子のビット番号及び開始／停止の旨を音声出力し、当該端子のビット番号を表示する。遠隔監視制御装置ＴＣは、表示試験の対象であり、端子を設けた表示入力用端子台を備える。各端子の電圧状態は、電圧信号としてケーブルＣ５を介して親局模擬装置ＴＣＴに送信され、表示される。表示試験の際に、試験作業員は、電圧出力装置２を用いて遠隔監視制御装置ＴＣの端子に電圧を出力し、電圧出力装置２による音声出力及び表示をトリガとして、親局模擬装置ＴＣＴに表示された、遠隔監視制御装置ＴＣの当該端子の電圧状態を確認する。 （もっと読む）

【課題】接触抵抗による輝度の低下を防止し、接触抵抗のばらつきによる輝度のばらつきをキャンセルする。
【解決手段】パネル部１のアノード電圧ＶaLはＰＣＢ部２０にフィードバックされ、ＰＣＢ部２０のバッファ回路２１は、アノード電圧ＶaLを電源回路１４のアノード電圧Ｖaに近づけるように電流Ｉacの電流量を制御する。これによって、配線Ｎafの接触抵抗Ｒpf_af，Ｒfg_afはキャンセルされる。パネル部１のカソード電圧ＶcLはＰＣＢ部２０にフィードバックされ、バッファ回路２２は、電源回路１４のカソード電圧Ｖcとカソード電圧ＶcLとが等しくなるように電流Ｉacの電流量を制御する。このため、配線Ｎcfの接触抵抗Ｒpf_cf，Ｒfg_cfがキャンセルされる。 （もっと読む）

【課題】 検査に要する時間を短くするとともに、検査による判断の信頼性を高くすることができる電気機器の検査装置を提供する。
【解決手段】 検査装置１は、タッチパネル３を備える。タッチパネル２には、検査対象電気機器に関する情報がタッチパネル３表示されている。また、スピーカ４を備えており、スピーカ４によっても検査対象電気機器に関する情報を出力している。さらに、タッチパネル３やスピーカ４によってチェック項目等を出力する。また、制御部２０には検査者情報判断部２３および所属会社情報記憶部２４を備える入場管理システムが設けられている。 （もっと読む）

【課題】プローバフレームの面剛性を高め、歪みを少なくし、これにより、各プローブピンとＴＦＴパネル基板の電極との接触圧力を均一化する。
【解決手段】本発明の外フレームは、アルミニウム合金の板材を基材とし、このアルミニウム合金の板材に、ステンレス合金の板材と繊維強化樹脂の板材の少なくとも何れか一方の板材を層状に連結して層構造を構成する。この層構造とすることによって、外フレームの曲げ剛性を向上させる。 （もっと読む）

【課題】フライングキャパシタへの充電量を小さくでき、エネルギーロスを削減し、測定を高速化する電池電圧監視装置を提供する。
【解決手段】直列接続された複数の電池セルのうち、被測定対象電池セルの電圧をフライングキャパシタ（１２）にサンプルしフライングキャパシタ（１２）にサンプルした電圧を測定する回路（１０）が、過放電閾値よりも過充電検出閾値側に近い所定の電圧値を出力する基準電圧源（１７）と、フライングキャパシタ（１２）を基準電圧源からの電圧値に設定するリセット回路（１８）とを備え、フライングキャパシタ（１２）にサンプルした電圧を測定したのちリセット回路（１８）はフライングキャパシタ（１２）を基準電圧源（１７）からの電圧値に充電する。 （もっと読む）

【課題】感電等の危険な作業を伴うことなく、送電停止停解装置の開閉器の動作試験を容易に行う。
【解決手段】送電停止停解装置の開閉器３を位置決めして着脱可能に固定保持し、開閉器装着面３６の周囲に電源供給端子４５ａ，４５ｂを形成した開閉器保持具４と、開閉器保持具４に着脱自在に装着されて開閉器３の動作試験を行う動作試験治具５とを備え、動作試験治具５は、開閉器３の電線接続端子に弾性接触する第１の接触子５５Ｓａ〜５５Ｌｃと、開閉器３の計器接続端子に弾性接触する第２の接触子５８Ｓａ〜５８Ｌｃと、電源供給端子４５ａ，４５ｂに弾性接触する電源接触子６０ａ，６０ｂとを少なくとも有し、前記第１の接触子の電力供給側が前記電源接触子に電気的に接続され、当該第１の接触子の負荷側が開閉動作表示素子を介して電気的に接続され、前記第２の接触子の電力供給側と負荷側とが個別に電気的に接続された構成を有する。 （もっと読む）

【課題】プローバフレームのコンタクトピンの設置位置と、プローバフレームの内部配線およびコンタクトピンとＴＦＴ基板の電極との導通とを同時に検査し、コンタクトピンの設置位置と、プローバフレームの内部配線およびコンタクトピンとＴＦＴ基板の電極との導通とが共に良であるか、あるいは少なくとも何れか一つが不良であるかを同時に検査する。
【解決手段】ＴＦＴ基板検査装置用プローバフレームのコンタクトピンを上方に向けて載置する検査ステージと、検査ステージと対向して配置される検査用センサヘッドと、一端を検査用センサヘッドに接続し、他端を検査ステージ上に載置したＴＦＴ基板検査装置用プローバフレームの内部配線に接続し、この接続端間の導通状態を検査する検査部と、検査用センサヘッドを、検査ステージに対してＸ軸方向、Ｙ軸方向、およびＺ軸方向の３次元方向にそれぞれ独立して移動自在とする駆動機構を備える。 （もっと読む）

【課題】メインチャンバーに対するプローバーフレームの位置を制御することによって、基板の電極とプローバーフレームのプローブピンとの正確な位置合わせを可能とし、基板電極とプローブピンとの接触不良を低減する。
【解決手段】メインチャンバー上に撮像手段を設置し、この撮像手段によってプローバーフレーム上に設けたアライメントマークを撮像することによって、メインチャンバーに対するプローバーフレームの位置制御を可能とするものである。メインチャンバーに対するプローバーフレームの位置を制御可能とすることで、基板の電極とプローバーフレームのプローブピンとの正確な位置合わせを可能し、これによって、基板電極とプローブピンとの接触不良を低減する。 （もっと読む）

【課題】コンタクト位置観察用テープを用いることなくプローブピンの接触位置が確認できるプローバフレームおよびＴＦＴアレイ検査装置を提供する。
【解決手段】プローバフレーム１０のプローブピンの近傍に撮像手段を設け、撮像手段で取得した撮像画像によってプローブピンと電極との接触状態を監視し、プローブピンの接触位置を確認する。プローバフレームは、プローバフレームの枠体を構成するフレーム材と、フレーム材においてＴＦＴ基板６と対向する対向面上に、ＴＦＴ基板上に設けられた電極と接触するための複数のプローブピンからなる少なくも一つのプローブピン配列、および、少なくとも一つのプローブピン配列に並置された撮像手段を備える。撮像手段は、並置されたプローブピン配列の少なくとも一つのプローブピンを撮像し、撮像画像によって電極配列に対するプローブピン配列の位置関係の撮像画像を取得する。 （もっと読む）

【課題】ＴＦＴ液晶基板検査装置において、従来のコンタクト位置観察用テープを用いることなくプローブピンの接触位置を確認する。
【解決手段】プローブピンの接触位置の確認を、ＴＦＴ液晶基板にプローブピンを接触した後にＳＥＭ像を取得し、このＳＥＭ像中のプローブピンの位置からプローブピンの接触位置を確認する。これによってコンタクト位置観察用テープを用いることなくプローブピンの接触位置を確認する。プローブピンをＴＦＴ液晶基板に接触した後、電子線をＴＦＴ液晶基板に照射して検出器によって二次電子を検出してＳＥＭ像を取得し、取得したＳＥＭ像からプローブピンの接触位置を求め、求めた接触位置とコンタクトパッドの位置との位置関係から位置ずれ方向および位置ずれ量を求める。 （もっと読む）