発光装置、電子機器、発光パネルの検査装置、発光装置の電圧降下キャンセル方法及び発光パネルの検査方法
【課題】接触抵抗による輝度の低下を防止し、接触抵抗のばらつきによる輝度のばらつきをキャンセルする。
【解決手段】パネル部１のアノード電圧ＶaLはＰＣＢ部２０にフィードバックされ、ＰＣＢ部２０のバッファ回路２１は、アノード電圧ＶaLを電源回路１４のアノード電圧Ｖaに近づけるように電流Ｉacの電流量を制御する。これによって、配線Ｎafの接触抵抗Ｒpf_af，Ｒfg_afはキャンセルされる。パネル部１のカソード電圧ＶcLはＰＣＢ部２０にフィードバックされ、バッファ回路２２は、電源回路１４のカソード電圧Ｖcとカソード電圧ＶcLとが等しくなるように電流Ｉacの電流量を制御する。このため、配線Ｎcfの接触抵抗Ｒpf_cf，Ｒfg_cfがキャンセルされる。
【解決手段】パネル部１のアノード電圧ＶaLはＰＣＢ部２０にフィードバックされ、ＰＣＢ部２０のバッファ回路２１は、アノード電圧ＶaLを電源回路１４のアノード電圧Ｖaに近づけるように電流Ｉacの電流量を制御する。これによって、配線Ｎafの接触抵抗Ｒpf_af，Ｒfg_afはキャンセルされる。パネル部１のカソード電圧ＶcLはＰＣＢ部２０にフィードバックされ、バッファ回路２２は、電源回路１４のカソード電圧Ｖcとカソード電圧ＶcLとが等しくなるように電流Ｉacの電流量を制御する。このため、配線Ｎcfの接触抵抗Ｒpf_cf，Ｒfg_cfがキャンセルされる。
【発明の詳細な説明】
【技術分野】
【０００１】
本発明は、発光装置、電子機器、発光パネルの検査装置、発光装置の電圧降下キャンセル方法及び発光パネルの検査方法に関するものである。
【背景技術】
【０００２】
有機エレクトロルミネッセンス素子（有機ＥＬ素子）は、電場を加えることによって発光する蛍光性の有機化合物によって形成されたものであり、これを用いた有機発光ダイオード（Organic Light Emitting Diode：以下、有機ＥＬと記す）素子を各画素に有してなる表示パネルを備えた発光装置は次世代ディスプレイデバイスとして注目されている（例えば、特許文献１参照）。
【０００３】
有機ＥＬ素子は、有機化合物に注入された電子と正孔との再結合によって生じた励起子によって発光する現象を利用して発光する電流制御型の発光素子（表示素子）である。有機ＥＬ素子は、アノードとカソードとを有し、アノードに供給された電流がカソードへと流れ、供給された電流の電流値に対応する輝度で発光する。
【０００４】
発光装置は、図９に示すように、有機ＥＬパネル１１とゲートドライバ１２とデータドライバ１３と電源回路１４とを備える。
【０００５】
有機ＥＬパネル１１は複数の有機ＥＬ素子を有し、各有機ＥＬ素子が表示データに基づく表示画像の１つ１つの画素に対応するように行列配置されたものであり、各有機ＥＬ素子は、ゲートドライバ１２とデータドライバ１３と電源回路１４とによって駆動され、発光する。
【０００６】
ゲートドライバ１２は、有機ＥＬパネル１１の行毎に配列されたゲートライン選択用のドライバである。データドライバ１３は、列毎に配列されたデータラインを介して、表示データの階調値に対応するデータ電流を供給するためのドライバである。
【０００７】
電源回路１４は、行毎に配列された複数のアノードラインを介して各有機ＥＬ素子にアノード電位を与え、電流を供給するためのドライバである。尚、すべての有機ＥＬ素子のカソードは複数のカソードラインに接続され、各画素のカソードは共通電極となっている。
【０００８】
中型以上の発光装置は、電源回路１４から各有機ＥＬ素子に流れる電流が比較的大きい為、図９に示すようにパネル部１とＰＣＢ（Printed Circuit Board）部２とＦＰＣ（Flexible Printed Circuits）部３とに分割されている。
【０００９】
有機ＥＬパネルは、ガラス製のパネル部１に実装され、ゲートドライバ１２、データドライバ１３も、このパネル部１に実装される。そして、電源回路１４のみがＰＣＢ部２に実装される。
【００１０】
パネル部１のガラス基板上には、各ゲートライン、各データライン、各アノードライン、カソードラインがメタル配線され、ＰＣＢ部２の各端子とパネル部１のメタル配線とは、ＦＰＣ部３を介して接続される。
【００１１】
尚、図９に示す配線Ｎaは、電源回路１４と各アノードラインとの間の配線を示し、配線Ｎcは、電源回路１４と各カソードラインとの間の配線を示す。
【先行技術文献】
【特許文献】
【００１２】
【特許文献１】特開２００６−２７６７１３号公報
【発明の概要】
【発明が解決しようとする課題】
【００１３】
このように構成された発光装置において、図９に示すＰＣＢ部２とＦＰＣ部３との間の接合面Ｊ[pf]、ＦＰＣ部３とパネル部１との間の接合面Ｊ[fg]には、図１０に示すような接触抵抗Ｒpf_a，Ｒfg_a，Ｒpf_c，Ｒfg_cが存在する。
【００１４】
接触抵抗Ｒpf_aは、配線Ｎaの接合面Ｊ[pf]における接触抵抗を示し、接触抵抗Ｒfg_aは、配線Ｎaの接合面Ｊ[fg]における接触抵抗を示す。また、接触抵抗Ｒpf_cは、配線Ｎcの接合面Ｊ[pf]における接触抵抗を示し、接触抵抗Ｒfg_cは配線Ｎcの接合面Ｊ[fg]における接触抵抗を示す。
【００１５】
有機ＥＬ素子を用いた高精細の発光装置では、複数のアノードラインと複数のカソードライン間に流れる電流が数百ｍＡ〜数Ａの比較的大きい電流となることがある。
【００１６】
この場合、接触抵抗Ｒpf_a，Ｒfg_a，Ｒpf_c，Ｒfg_cの抵抗値が数オーム程度の低抵抗値であっても配線Ｎa，Ｎcにおいて大きな電圧降下が発生する。この大きな電圧降下の発生により、有機ＥＬパネル１１の輝度は低下する。また、接触抵抗Ｒpf_a，Ｒfg_a，Ｒpf_c，Ｒfg_cにばらつきがあると輝度もパネル部１毎にばらついてしまう。
【００１７】
従来、接触抵抗Ｒpf_a，Ｒfg_a，Ｒpf_c，Ｒfg_cによる電圧降下を低減するため、図１１に示すように、配線Ｎa，Ｎcの配線本数を増やすことによって、接触抵抗Ｒpf_a，Ｒfg_a，Ｒpf_c，Ｒfg_cの抵抗値を下げる工夫を行っている。しかし、配線Ｎa，Ｎcの配線本数を増やすとしてもスペース上の制限がある。
【００１８】
この接触抵抗は、発光装置の出荷前の検査工程においても問題となる。この検査工程では、パネル部１とＰＣＢ部２とをＦＰＣ部３で接続する前、図１２に示すように、検査回路４３が、検査用コンタクトプローブ４１、フラットケーブル４２を介してパネル部１に接続されて、有機ＥＬ素子の点灯検査が行われる。
【００１９】
この検査用コンタクトプローブ４１は、図１３に示すように、プローブ接触部４１ａが備えられ、このプローブ接触部４１ａの先端部分には、パネル部１のメタル配線に接触する検査針（図示せず）が備えられている。
【００２０】
プローブ接触部４１ａの検査針はバネでメタル配線に押し当てられて、パネル部１と検査回路４３とが電気的に接続される。この検査回路４３は、電源回路１４を備えており、電源回路１４から各アノードラインに電流を供給して、有機ＥＬ素子の点灯検査が行われる。
【００２１】
この検査工程においても、同じように、検査用コンタクトプローブ４１とメタル配線間で発生する接触抵抗によって電圧降下が発生すると、有機ＥＬパネル１１の画面輝度が安定しなくなってしまうし、接触抵抗にばらつきがあると、画面輝度もパネル部１毎にばらついてしまう。
【００２２】
本発明は、このような従来の問題点に鑑みてなされたもので、接触抵抗による輝度の低下を防止し、接触抵抗のばらつきによる輝度のばらつきを抑制することが可能な発光装置、電子機器、発光パネルの検査装置、発光装置の電圧降下キャンセル方法及び発光パネルの検査方法を提供することを目的とする。
【課題を解決するための手段】
【００２３】
この目的を達成するため、本発明の第１の観点に係る発光装置は、
複数の発光素子が配列された発光パネルと、
駆動電圧と基準電圧とを供給する電源回路が実装された電源基板と、
を備え、
前記発光パネルは、第１の電流流入端子と、前記第１の電流流入端子に接続され、該第１の電流流入端子を介して前記各発光素子に駆動電流を供給する電流供給線と、前記電流供給線に接続されて、前記電流供給線の電圧値を第１の検出電圧として出力する第１の電圧出力端子と、を備え、
前記電源基板は、接続部材を介して前記発光パネルの前記第１の電流流入端子と接続されて、前記発光パネルに前記駆動電流を流出する第１の電流流出端子と、前記接続部材を介して前記第１の電圧出力端子と接続されて、前記第１の検出電圧を帰還させる第１の電圧検出用端子と、前記第１の検出電圧と前記駆動電圧とを比較し、前記第１の検出電圧を前記駆動電圧に近づけるように調整された第１の出力電圧を前記第１の電流流出端子に印加して、前記駆動電流を前記第１の電流流出端子から流出させる第１のバッファ回路と、を備えたことを特徴とする。
【００２４】
前記発光パネルは、前記各発光素子から前記駆動電流を出力させる電流出力線と、前記電流出力線に接続されて、前記電流出力線の前記駆動電流を流出させる第２の電流流出端子と、前記電流出力線に接続されて前記電流出力線の電圧値を第２の検出電圧として出力する第２の電圧出力端子と、を備え、
前記電源基板は、前記接続部材を介して前記発光パネルの前記第２の電流流出端子に接続されて、前記発光パネルから前記駆動電流が流入される第２の電流流入端子と、前記接続部材を介して前記第２の電圧出力端子と接続されて、前記第２の検出電圧を帰還させる第２の電圧検出用端子と、前記第２の検出電圧と前記基準電圧とを比較し、前記第２の検出電圧を前記基準電圧に近づけるように調整された第２の出力電圧を前記第２の電流流入端子に印加して、前記駆動電流を前記第２の電流流入端子から流入させる第２のバッファ回路と、を備えるようにしてもよい。
【００２５】
前記第１のバッファ回路は、前記第１の出力電圧を前記第１の電流流出端子に印加して、前記第１の検出電圧を前記駆動電圧に等しくし、
前記第２のバッファ回路は、前記第２の出力電圧を前記第２の電流流入端子に印加して、前記第２の検出電圧を前記基準電圧に等しくするようにしてもよい。
【００２６】
前記電源基板は、前記第１の電流流出端子から流出する前記駆動電流の第１の電流値を計測する第１の電流計測部と、前記第１の電流流出端子と前記第１の電圧検出用端子との間の第１の電圧を計測する第１の電圧計測部と、を備え、
前記第１の電流値と前記第１の電圧値とに基づく前記接続部材に係わる第１の抵抗値を取得し、該第１の抵抗値の値に基づいて、前記接続部材と前記発光パネル及び前記電源基板との接続状態の良否を判定する制御回路を備えるようにしてもよい。
【００２７】
前記電源基板は、前記第２の電流流入端子と前記第２の電圧検出用端子との間の第２の電圧値を計測する第２の電圧計測回路と、を備え、
前記制御回路は、前記第１の電流値と前記第２の電圧値とに基づく前記接続部材に係わる第２の抵抗値を取得し、該第２の抵抗値の値に基づいて、前記接続部材と前記発光パネル及び前記電源基板との接続状態の良否を判定するようにしてもよい。
【００２８】
本発明の第２の観点に係る電子機器は、上述の発光装置を備えることを特徴とする。
【００２９】
本発明の第３の観点に係る発光パネルの検査装置は、
複数の発光素子が配列され、第１の電流流入端子と、該第１の電流流入端子を介して前記各発光素子に駆動電流を供給する電流供給線に接続され、前記電流供給線の電圧値を第１の検出電圧として出力する第１の電圧出力端子と、前記各発光素子から前記駆動電流を出力させる電流出力線に接続されて、前記電流出力線の前記駆動電流を流出させる第２の電流流出端子と、前記電流出力線に接続されて前記電流出力線の電圧値を第２の検出電圧として出力する第２の電圧出力端子と、を備える発光パネルの発光検査を行う、発光パネルの検査装置であって、
検査回路と、
該検査回路に接続され、少なくとも前記第１の電流流入端子及び前記第１の電圧出力端子に接触する検査端子部と、
を備え、
前記検査回路は、
駆動電圧と基準電圧とを供給する電源回路と、
前記検査端子部を介して前記発光パネルの前記第１の電流流入端子に接触して、前記発光パネルに前記駆動電流を流出する第１の電流流出端子と、
前記検査端子部を介して前記発光パネルの前記第１の電圧出力端子に接触して、前記第１の検出電圧を帰還させる第１の電圧検出用端子と、
前記第１の検出電圧と前記駆動電圧とを比較し、前記第１の検出電圧を前記駆動電圧に近づけるように調整された第１の出力電圧を前記第１の電流流出端子に印加して、前記駆動電流を前記第１の電流流出端子から流出させる第１のバッファ回路と、を備えたことを特徴とする。
【００３０】
前記検査端子部の前記各検査針は、前記第２の電流流出端子及び前記第２の電圧出力端子に接触し、
前記検査回路は、
前記検査端子部を介して前記発光パネルの前記第２の電流流出端子に接触し、前記発光パネルから前記駆動電流が流入される第２の電流流入端子と、
前記検査端子部を介して前記第２の電圧出力端子に接触し、前記第２の検出電圧を帰還させる第２の電圧検出用端子と、
前記第２の検出電圧と前記基準電圧とを比較し、前記第２の検出電圧を前記基準電圧に近づけるように調整された第２の出力電圧を前記第２の電流流入端子に印加して、前記駆動電流を前記第２の電流流入端子から流入させる第２のバッファ回路と、を備えるようにしてもよい。
【００３１】
前記第１のバッファ回路は、前記第１の出力電圧を前記第１の電流流出端子に印加して、前記第１の検出電圧を前記駆動電圧に等しくし、
前記第２のバッファ回路は、前記第２の出力電圧を前記第２の電流流入端子に印加して、前記第２の検出電圧を前記基準電圧に等しくするようにしてもよい。
【００３２】
前記検査回路は、前記第１の電流流出端子から流出する前記駆動電流の第１の電流値を計測する第１の電流計測部と、前記第１の電流流出端子と前記第１の電圧検出用端子との間の第１の電圧を計測する第１の電圧計測部と、を備え、
前記第１の電流値と前記第１の電圧値とに基づく前記検査端子部と前記発光パネル間の第１の接触抵抗値を取得し、該第１の接触抵抗値の値に基づいて、前記検査端子部と前記発光パネルとの接触不良の有無を判定する制御回路を備えるようにしてもよい。
【００３３】
前記検査回路は、前記第２の電流流入端子と前記第２の電圧検出用端子との間の第２の電圧値を計測する第２の電圧計測回路と、を備え、
前記制御回路は、前記第１の電流値と前記第２の電圧値とに基づく前記検査端子部と前記発光パネル間の第２の接触抵抗値を取得し、該第２の接触抵抗値の値に基づいて、前記検査端子部と前記発光パネルとの接触不良の有無を判定するようにしてもよい。
【００３４】
本発明の第４の観点に係る発光装置の電圧降下キャンセル方法は、
複数の発光素子が配列され、第１の電流流入端子と、該第１の電流流入端子を介して前記各発光素子に駆動電流を供給する電流供給線に接続され、前記電流供給線の電圧値を第１の検出電圧として出力する第１の電圧出力端子と、前記各発光素子から前記駆動電流を出力させる電流出力線に接続されて、前記電流出力線の前記駆動電流を流出させる第２の電流流出端子と、前記電流出力線に接続されて前記電流出力線の電圧値を第２の検出電圧として出力する第２の電圧出力端子と、を備える発光パネルに、駆動電圧と基準電圧とを供給する駆動電圧と基準電圧とを供給する電源回路が実装された電源基板が接続部材を介して接続された発光装置の、前記接続部材による電圧降下をキャンセルするための、発光装置の電圧降下キャンセル方法であって、
前記接続部材を介して、前記電源基板から前記発光パネルの前記第１の電流流入端子に第１の出力電圧を供給して、前記発光パネルに前記駆動電流を流入させる流入ステップと、
前記接続部材を介して、前記第１の検出電圧を、前記発光パネルの前記第１の電圧出力端子から前記電源基板に帰還させる第１の帰還ステップと、
前記第１の帰還ステップにより帰還された前記第１の検出電圧と前記駆動電圧とを比較して、前記第１の検出電圧が前記駆動電圧より低い電位であるときに、前記第１の出力電圧の電位を上昇させる第１の比較ステップと、
前記第１の帰還ステップにより帰還された前記第１の検出電圧と前記駆動電圧とを比較して、前記第１の検出電圧が前記駆動電圧より高い電位であるときに、前記第１の出力電圧の電位を低下させる第２の比較ステップと、
前記第１の比較ステップと前記第２の比較ステップとを、前記第１の検出電圧と前記駆動電圧との電位が等しくなるまで繰り返して実行して、前記第１の検出電圧と前記駆動電圧とが等しい電位となったときの前記第１の出力電圧を前記第１の電流流出端子に印加することにより、前記接続部材による前記電圧降下をキャンセルする第１のキャンセルステップと、
を含むことを特徴とする。
【００３５】
前記接続部材を介して、前記発光パネルの前記第２の電圧出力端子から前記電源基板に、前記第２の検出電圧を帰還させる第２の帰還ステップと、
前記第２の帰還ステップにより帰還された前記第２の検出電圧と前記基準電圧とを比較して、前記第２の検出電圧が前記基準電圧より低い電位であるときに、前記第２の出力電圧の電位を上昇させる第３の比較ステップと、
前記第２の帰還ステップにより帰還された前記第１の検出電圧と前記駆動電圧とを比較して、前記第１の検出電圧の電位が前記駆動電圧の電位より高いときに、前記第１の出力電圧の電位を低下させる第４の比較ステップと、
前記第３の比較ステップと前記第４の比較ステップとを、前記第２の検出電圧と前記基準電圧との電位が等しくなるまで繰り返し実行して、前記第２の検出電圧と前記基準電圧とが等しい電位となったときの前記第２の出力電圧を前記第２の電流流入端子に印加することにより、前記接続部材による前記電圧降下をキャンセルする第２のキャンセルステップと、
を含むようにしてもよい。
【００３６】
本発明の第５の観点に係る発光パネルの検査方法は、
複数の発光素子が配列され、第１の電流流入端子と、該第１の電流流入端子を介して前記各発光素子に駆動電流を供給する電流供給線に接続され、前記電流供給線の電圧値を第１の検出電圧として出力する第１の電圧出力端子と、前記各発光素子から前記駆動電流を出力させる電流出力線に接続されて、前記電流出力線の前記駆動電流を流出させる第２の電流流出端子と、前記電流出力線に接続されて前記電流出力線の電圧値を第２の検出電圧として出力する第２の電圧出力端子と、を備える発光パネルの発光検査を行う、発光パネルの検査方法であって、
検査端子部の検査針を前記発光パネルの前記第１の電流流入端子及び前記第１の電圧出力端子に接触させる接触ステップと、
前記検査端子部を介して、駆動電圧と基準電圧とを供給する電源回路を有する検査回路から前記発光パネルの前記第１の電流流入端子に第１の出力電圧を供給して、前記発光パネルに前記駆動電流を流入させる流入ステップと、
前記検査端子部を介して、前記発光パネルの前記第１の電圧出力端子から前記検査回路に前記第１の検出電圧を帰還させる第１の帰還ステップと、
帰還された前記第１の検出電圧と前記駆動電圧とを比較して、前記第１の検出電圧が前記駆動電圧より低い電位であるときに、前記第１の出力電圧の電位を上昇させる第１の比較ステップと、
前記第１の帰還ステップにより帰還された前記第１の検出電圧と前記駆動電圧とを比較して、前記第１の検出電圧が前記駆動電圧より高い電位であるときに、前記第１の出力電圧の電位を低下させる第２の比較ステップと、
前記第１の比較ステップと前記第２の比較ステップとを、前記第１の検出電圧と前記駆動電圧との電位が等しくなるまで繰り返して実行して、前記第１の検出電圧と前記駆動電圧とが等しい電位となったときの前記第１の出力電圧を前記第１の電流流出端子に印加する第１の印加ステップと、
を含むことを特徴とする。
【００３７】
前記検査端子部を介して、前記発光パネルの前記第２の電圧出力端子から前記検査回路に、前記第２の検出電圧を帰還させる第２の帰還ステップと、
前記第２の帰還ステップにより帰還された前記第２の検出電圧と前記基準電圧とを比較して、前記第２の検出電圧が前記基準電圧より低い電位であるときに、前記第２の出力電圧の電位を上昇させる第３の比較ステップと、
前記第２の帰還ステップにより帰還された前記第１の検出電圧と前記駆動電圧とを比較して、前記第１の検出電圧の電位が前記駆動電圧の電位より高いときに、前記第１の出力電圧の電位を低下させる第４の比較ステップと、
前記第３の比較ステップと前記第４の比較ステップとを、前記第２の検出電圧と前記基準電圧との電位が等しくなるまで繰り返し実行して、前記第２の検出電圧と前記基準電圧とが等しい電位となったときの前記第２の出力電圧を前記第２の電流流入端子に印加する第２の印加ステップと、
を含むようにしてもよい。
【００３８】
前記発光パネルの前記第１の電流流入端子に流入する前記駆動電流の第１の電流値を計測するステップと、
前記検査回路の、前記検査端子部を介して前記発光パネルの前記第１の電流流入端子に接続される第１の電流流出端子と、前記検査端子部を介して前記発光パネルの前記第１の電圧出力端子に接続される前記第１の電圧検出用端子と、の間の第１の電圧を計測するステップと、
前記第１の電流値と前記第１の電圧値とに基づいて、前記検査端子部と前記発光パネル間の第１の接触抵抗値を取得し、該第１の接触抵抗値の値に基づいて、前記検査端子部と前記発光パネルとの接触不良の有無を判定するステップと、
を含むようにしてもよい。
【００３９】
前記検査回路の、前記検査端子部を介して前記発光パネルの前記第２の電流流出端子に接続される第２の電流流入端子と、前記検査端子部を介して前記発光パネルの前記第２の電圧出力端子に接続される第２の電圧検出用端子と、の間の第２の電圧値を計測するステップと、
前記第１の電流値と前記第２の電圧値とに基づく前記検査端子部と前記発光パネル間の第２の接触抵抗値を取得し、該第２の接触抵抗値の値に基づいて、前記検査端子部と前記発光パネルとの接触不良の有無を判定するステップと、
を含むようにしてもよい。
【発明の効果】
【００４０】
本発明によれば、接触抵抗による輝度の低下を防止し、接触抵抗のばらつきによる輝度のばらつきを抑制することができる。
【図面の簡単な説明】
【００４１】
【図１】本発明の実施形態１に係る発光装置が組み込まれる電子機器（デジタルカメラ）を示す図である。
【図２】実施形態１に係る発光装置が組み込まれる発光装置が組み込まれる電子機器（コンピュータ）を示す図である。
【図３】実施形態１に係る発光装置が組み込まれる発光装置が組み込まれる電子機器（携帯電話）を示す図である。
【図４】本発明の実施形態１に係る発光装置の構成を示す図である。
【図５】画素回路の構成の一例を示す図である。
【図６】図４に示すバッファ回路の構成、及びＰＣＢ部とＦＰＣ部とパネル部との間の接続関係を示す図である。
【図７】本発明の実施形態２に係るＰＣＢ部の構成、及びＰＣＢ部とＦＰＣ部とパネル部との間の接続関係を示す図である。
【図８】本発明の実施形態３に係る検査装置の構成、及び検査装置と検査用コンタクトプローブとパネル部との接続関係を示す図である。
【図９】ＰＣＢ部とＦＰＣ部とパネル部とが接続された発光装置を示す図である。
【図１０】図９に示す発光装置の接続関係を示す概略図である。
【図１１】図１０に示すＰＣＢ部とパネル部とを複数の配線で接続した従来の例を示す図である。
【図１２】検査装置を、検査用コンタクトプローブを介してパネル部に接続する例を示す図である。
【図１３】図１２に示すパネル部と検査装置と検査用コンタクトプローブとの接続状態を示す側面図である。
【発明を実施するための形態】
【００４２】
以下、本発明の実施形態に係る発光装置、電子機器、発光装置の検査装置を、図面を参照して説明する。尚、実施形態１は、発光装置１０、電子機器に関するものであり、実施形態３は、発光装置の検査装置に関するものである。
（実施形態１）
【００４３】
発光装置１０は、図１に示すようなデジタルカメラ２００、図２に示すようなコンピュータ２１０、図３に示すような携帯電話等の電子機器２２０に組み込まれる。
【００４４】
デジタルカメラ２００は、図１（ａ）及び（ｂ）に示すように、レンズ部２０１と操作部２０２と表示部２０３とファインダー２０４とを備える。この表示部２０３に発光装置１０が用いられる。
【００４５】
図２に示すコンピュータ２１０は、表示部２１１と操作部２１２とを備え、この表示部２１１に発光装置１０が用いられる。
【００４６】
図３に示す携帯電話２２０は、表示部２２１と、操作部２２２と、受話部２２３と送話部２２４とを備え、この表示部２２１に発光装置１０が用いられる。
【００４７】
発光装置１０は、図４に示すように、有機ＥＬパネル１１と、ゲートドライバ１２と、データドライバ１３と、電源回路１４と、バッファ回路２１，２２と、を備える。
【００４８】
有機ＥＬパネル１１は、行方向に形成された複数のゲートラインＬg、複数のアノードラインＬa及び複数のカソードラインＬcと、列方向に形成された複数のデータラインＬdと、各ゲートラインＬg、アノードラインＬa及びカソードラインＬcと各データラインＬdとの各交点近傍に形成された複数の画素回路１１０と、を備えたものである。各画素回路１１０は、表示画像の１画素に対応する表示画素である。各画素回路１１０は、有機ＥＬ素子１１１と、ＥＬ画素駆動回路１１２と、を備える。画素回路１１０の構成の一例を図５に示す。
【００４９】
ＥＬ画素駆動回路１１２は、有機ＥＬ素子１１１を駆動する回路であり、有機ＥＬ素子１１１に駆動電流を供給する駆動トランジスタＴ１と、スイッチトランジスタＴ２と、キャパシタＣｐと、を備える。この駆動トランジスタＴ１及びスイッチトランジスタＴ２は、例えばｎチャンネル型のＦＥＴ（Field Effect Transistor；電界効果トランジスタ）によって構成されたＴＦＴ（Thin Film Transistor）である。図５に示すＥＬ画素駆動回路１１２において、スイッチトランジスタＴ２のゲートはゲートラインＬgに接続され、スイッチトランジスタＴ２のドレインはデータラインＬdに接続され、スイッチトランジスタＴ２のソースはキャパシタＣｐの一方の電極及び駆動トランジスタＴ１のゲートに接続されている。スイッチトランジスタＴ２は、ゲートラインＬgの電圧がゲートドライバ１２によってハイレベルとなったとき、オン状態となる。キャパシタＣｐは、スイッチトランジスタＴ２のソースと駆動トランジスタＴ１のソースとの間に接続され、スイッチトランジスタＴ２がオン状態となったとき、データラインＬdに印加された電圧に対応する電荷を保持する。駆動トランジスタＴ１のドレインはアノードラインＬaに接続され、駆動トランジスタＴ１のソースはキャパシタＣｐの他方の電極及び有機ＥＬ素子１１１のアノードに接続され、有機ＥＬ素子１１１のカソードはカソードラインＬcに接続されている。駆動トランジスタＴ１はキャパシタＣｐに保持された電荷に応じて、アノードラインＬaから駆動電流を有機ＥＬ素子１１１に供給する。
【００５０】
ゲートドライバ１２は、有機ＥＬパネル１１の各行の画素回路１１０を、順次、選択するドライバであり、例えば、シフトレジスタによって構成される。ゲートドライバ１２は、各ゲートラインＬgを介して、各行の画素回路１１０に接続される。
【００５１】
データドライバ１３は、各ＥＬ画素駆動回路１１２に、表示データの階調値に対応する電圧の電圧信号を印加するドライバである。データドライバ１３は、各データラインＬdを介して、各列のＥＬ画素駆動回路１１２に接続される。
【００５２】
電源回路１４は、複数のアノードラインＬaを介して各ＥＬ画素駆動回路１１２に駆動電圧としてのアノード電圧を印加し、複数のアノードラインＬaにアノード−カソード電流（以後、「電流Ｉac」と記す。）を供給するドライバである。電流Ｉacは、複数の画素回路１１０の有機ＥＬ素子１１１に供給される駆動電流の総計である。
【００５３】
電源回路１４は、複数のアノードラインＬaを介して各ＥＬ画素駆動回路１１２に接続され、複数のカソードラインＬcを介して、各画素回路１１０の有機ＥＬ素子１１１のカソードに接続される。この複数のカソードラインＬcは、各有機ＥＬ素子１１１のカソードに共通に接続されている。
【００５４】
有機ＥＬパネル１１と、ゲートドライバ１２と、データドライバ１３とは、例えばガラス基板からなるパネル部１に実装される。電源回路１４とバッファ回路２１，２２とは、ＰＣＢ部（電源基板）２０に実装され、パネル部１とＰＣＢ部２０とはＦＰＣ部３を介して接続される。
【００５５】
パネル部１は、図６に示すように、端子Ｐgaf，Ｐgas，Ｐgcf，Ｐgcsを有する。端子Ｐgafは、供給された電流Ｉacが流入し、複数のアノードラインＬaに接続され、流入した電流Ｉacを各アノードラインＬaへ分配する電流流入端子である。端子Ｐgasは、各アノードラインＬaに接続されて、各アノードラインＬaで検出されたアノード電圧ＶaLを出力するための電圧出力端子である。
【００５６】
端子Ｐgcfは、複数のカソードラインＬcに接続されて、各有機ＥＬ素子１１１から各カソードラインＬcに出力された電流の総計からなる電流Ｉacを流出させる電流流出端子であり、端子Ｐgcsは、各カソードラインＬcに接続されて、各カソードラインＬcで検出されたカソード電圧ＶcLを出力するための電圧出力端子である。
【００５７】
ＰＣＢ部２０は、図６に示すように、端子Ｐpaf，Ｐpas，Ｐpcf，Ｐpcsを有する。端子Ｐpafは、ＰＣＢ部２０とパネル部１とが接続されたときに、パネル部の端子Ｐgafと配線Ｎafを介して電気的に接続され、電流Ｉacを流出する電流流出端子である。
【００５８】
端子Ｐpasは、ＰＣＢ部２０とパネル部１とが接続されたときに、パネル部１の端子Ｐgasと配線Ｎasを介して電気的に接続され、各アノードラインＬaで検出されたアノード電圧ＶaLをフィードバックさせるための電圧検出用端子である。
【００５９】
端子Ｐpcfは、ＰＣＢ部２０とパネル部１とが接続されたときに、パネル部１の端子Ｐgcfと配線Ｎcfを介して電気的に接続され、端子Ｐgcfから流出した電流Ｉacを流入する電流流入端子である。
【００６０】
端子Ｐpcsは、ＰＣＢ部２０とパネル部１とが接続されたときに、パネル部１の端子Ｐgcsと配線Ｎcｓを介して電気的に接続され、各カソードラインＬcで検出されたカソード電圧ＶcLをフィードバックさせるための電圧検出用端子である。
【００６１】
バッファ回路２１は、出力電圧Ｖa_outを調整してＰＣＢ部２０の端子Ｐpafとパネル部１の端子Ｐgafとの間の配線Ｎafの接触抵抗による電圧降下をキャンセル（抑制）するための回路である。バッファ回路２１は、図６に示すように、演算増幅器２１ａとトランジスタＱ１とを備える。
【００６２】
尚、図６に示す接触抵抗Ｒpf_afは、配線ＮafにおけるＰＣＢ部２０、ＦＰＣ部３間の接合面Ｊ[pf]の接触抵抗を示し、接触抵抗Ｒfg_afは、配線ＮafにおけるＦＰＣ部３、パネル部１間の接合面Ｊ[fg]の接触抵抗を示す。
【００６３】
また、接触抵抗Ｒpf_asは、配線Ｎasにおける接合面Ｊ[pf]の接触抵抗を示し、接触抵抗Ｒfg_asは、配線Ｎasにおける接合面Ｊ[fg]の接触抵抗を示す。
【００６４】
演算増幅器２１ａは、アノード電圧Ｖaとアノード電圧ＶaLとを比較して、両電圧が等しくなるように調整された出力電圧Ｖout21を出力するものである。ここで、アノード電圧Ｖaは、電源回路１４が印加する駆動電圧であり、アノード電圧ＶaLは、パネル部１の各アノードラインＬaからフィードバックされた実際の駆動電圧である。演算増幅器２１ａは、動作電圧として電源から正の電圧ＶccA(+)と負のＶccA(-)とが印加されて動作する。
【００６５】
演算増幅器２１ａの＋（非反転）入力端子は、電源回路１４のアノード電圧出力端に接続され、−（反転）入力端子は、端子Ｐpasに接続される。アノード電圧ＶaLは、パネル部１の端子Ｐgas，ＰＣＢ部２０の端子Ｐpasを介してフィードバックされ、−入力端子に供給される。
【００６６】
トランジスタＱ１は、演算増幅器２１ａから出力された出力信号Ｖout21に基づく出力電圧Ｖa_outを出力し、電流Ｉacを供給するトランジスタであり、例えば、ｎｐｎダーリントン型パワートランジスタによって構成される。
【００６７】
トランジスタＱ１のベースは演算増幅器２１ａの出力端に接続され、エミッタは、端子Ｐpafに接続される。そして、トランジスタＱ１のコレクタには、正の電圧ＶccA(+)が印加される。
【００６８】
バッファ回路２２は、出力電圧Ｖc_outを調整して、ＰＣＢ部２０の端子Ｐpcfとパネル部１の端子Ｐgcfとの間の配線Ｎcfの接触抵抗Ｒpf_cf，Ｒfg_cfによる電圧降下をキャンセルするためのものである。バッファ回路２２は、演算増幅器２２ａとトランジスタＱ２とを備える。
【００６９】
尚、図６に示す接触抵抗Ｒpf_cfは、配線Ｎcfにおける接合面Ｊ[pf]の接触抵抗を示し、接触抵抗Ｒfg_cfは、配線Ｎcfにおける接合面Ｊ[fg]の接触抵抗を示す。
【００７０】
また、接触抵抗Ｒpf_csは、配線Ｎcsにおける接合面Ｊ[pf]の接触抵抗を示し、接触抵抗Ｒfg_csは、配線Ｎcsにおける接合面Ｊ[fg]の接触抵抗を示す。
【００７１】
演算増幅器２２ａは、カソード電圧Ｖcとカソード電圧ＶcLとを比較して、両電圧が等しくなるように調整された出力電圧Ｖout22を出力するものである。カソード電圧Ｖcは電源回路１４が印加する基準電圧であり、カソード電圧ＶcLは、パネル部１の各カソードラインＬcからフィードバックされた実際の基準電圧である。演算増幅器２２ａは、動作電圧として電源から正の電圧ＶccC(+)と負の電圧ＶccC(-)とが印加されて動作する。
【００７２】
演算増幅器２２ａの＋入力端子は、電源回路１４のカソード電圧出力端に接続され、−（反転）入力端子は、ＰＣＢ部２０の端子Ｐpcsに接続される。カソード電圧ＶcLは、パネル部１の端子Ｐgcs，ＰＣＢ部２０の端子Ｐpcsを介してフィードバックされ、演算増幅器２２ａの−入力端子に供給される。
【００７３】
トランジスタＱ２は、演算増幅器２２ａから出力された出力信号Ｖout22に基づく出力電圧Ｖc_outを出力し、電流Ｉacを引き込むトランジスタである。トランジスタＱ２は、例えばｐｎｐダーリントン型パワートランジスタによって構成される。
【００７４】
トランジスタＱ２のベースは、演算増幅器２２ａの出力端に接続され、エミッタは、ＰＣＢ部２０の端子Ｐpcfに接続され、負の電圧ＶccC(-)がコレクタに印加される。
【００７５】
次に実施形態１に係る発光装置１０の動作を説明する。
バッファ回路２１の演算増幅器２１ａの＋入力端子には、電源回路１４からアノード電圧Ｖaが印加される。また、バッファ回路２２の演算増幅器２２ａの＋入力端子には、電源回路１４からカソード電圧Ｖcが印加される。
【００７６】
電源回路１４から演算増幅器２１ａの＋入力端子に印加されたアノード電圧Ｖaは、初期電圧０Ｖであり、アノード電圧Ｖaの印加開始時において０Ｖから各アノードラインＬaに印加したい電圧であるアノード電圧Ｖaに立ち上がる。演算増幅器２１ａの−入力端子に印加される電圧は、初期時、０Ｖであるため、アノード電圧Ｖaが０Ｖより上昇すると演算増幅器２１ａの出力電圧Ｖout21は上昇する。このとき、トランジスタＱ１はオンしている。
【００７７】
出力電圧Ｖout21が上昇すると、バッファ回路２１の出力電圧Ｖa_outも上昇し、電流Ｉacは、ＰＣＢ部２０の端子Ｐpaf、ＦＰＣ部３、パネル部１の端子Ｐgafを介してパネル部１へと流れ込む。
【００７８】
トランジスタＱ１のエミッタからパネル部１の各アノードラインＬaに流れる電流Ｉacは比較的大きく、パネル部１の端子ＰgafとＰＣＢ部２０の端子Ｐpafとの間には、（Ｒpf_af＋Ｒfg_af）×Ｉacの電圧降下が発生する。このため、アノード電圧ＶaLは、アノード電圧Ｖaよりも低くなる。
【００７９】
パネル部１の各アノードラインＬaのアノード電圧ＶaLは、パネル部１の端子Ｐgas、ＦＰＣ部３、ＰＣＢ部２０の端子Ｐpasを介して演算増幅器２１ａの−入力端子にフィードバックされる。
【００８０】
演算増幅器２１ａの入力インピーダンスが高いため、パネル部１の端子Ｐgas、ＰＣＢ部２０のＰpas間には、電流がほとんど流れない。
【００８１】
このため、端子Ｐgas，Ｐpas間の接触抵抗Ｒpf_as，Ｒfg_asによる電圧降下はほとんど発生せず、演算増幅器２１ａの−入力端子に印加された電圧は、このアノード電圧ＶaLにほぼ等しくなる。演算増幅器２１ａは、このようにしてアノード電圧ＶaLを検出する。
【００８２】
アノード電圧ＶaLの電位がアノード電圧Ｖaの電位より低い電位の間、演算増幅器２１ａの出力電圧Ｖout21の電位が上昇し、トランジスタＱ１のベース電圧が上昇する。このため、電流Ｉacの電流量は増加する。また、出力電圧Ｖout21の電位の上昇に従ってバッファ回路２１の出力電圧Ｖa_outの電位も上昇し、パネル部１のアノード電圧ＶaLの電位も上昇する。
【００８３】
次いで、アノード電圧ＶaLの電位がアノード電圧Ｖaの電位を越える電位にまで上昇すると、演算増幅器２１ａの出力電圧Ｖout21の電位は低下し、トランジスタＱ１のベース電圧も低下する。このため、電流Ｉacは減少する。また、出力電圧Ｖout21の電位の低下に従って、バッファ回路２１の出力電圧Ｖa_outの電位も低下し、パネル部１のアノード電圧ＶaLの電位も低下する。そして、アノード電圧ＶaLの電位は、再び、アノード電圧Ｖaの電位よりもわずかに低くなる。
【００８４】
このような動作を繰り返すことによって、最終的に、−入力端子にフィードバックされるアノード電圧ＶaLは、演算増幅器２１ａの＋入力端子に印加されるアノード電圧Ｖaにほぼ等しい、又は等しい電位となる。これによって、パネル部１の端子ＰgafとＰＣＢ部２０の端子Ｐpafとの間に発生した（Rpf_af+Rfg_af）×Ｉacの電圧降下は、キャンセルされる。
【００８５】
一方、カソード側において、電源回路１４からバッファ回路２２の演算増幅器２２ａの＋入力端子に印加されるカソード電圧Ｖcは、例えば０Ｖ（接地電位）である。トランジスタＱ２はオンしており、アノード電圧Ｖa及びカソード電圧Ｖcの印加開始時において、パネル部１の端子Ｐgcs、ＦＰＣ部３、ＰＣＢ部２０の端子Ｐpcsを介して演算増幅器２２ａの−入力端子にフィードバックされるパネル部１の各カソードドラインＬcのカソード電圧ＶcLの電位は、トランジスタＱ２を介して電流Ｉacが引き込まれるように流れることにより、０Ｖから上昇する。演算増幅器２２ａの−入力端子に印加される電圧の電位が０Ｖから上昇するため、演算増幅器２２ａの出力電圧Ｖout22の電位は下降する。
ここで、演算増幅器２２ａの入力インピーダンスが高いため、パネル部１の端子Ｐgas、ＰＣＢ部２０のＰpcs間には、電流がほとんど流れないため、端子Ｐgcs，Ｐpcs間の接触抵抗Ｒpf_cs，Ｒfg_csによる電圧降下はほとんど発生せず、演算増幅器２２ａの−入力端子に印加された電圧は、このカソード電圧ＶcLになる。演算増幅器２２ａは、このようにしてカソード電圧ＶcLを検出する。
【００８６】
パネル部１に流れ込んだ電流Ｉacは、各カソードラインＬcから流れ出し、流れ出した電流Ｉacは、パネル部１の端子Ｐgcf、ＦＰＣ部３、ＰＣＢ部２０の端子Ｐpcfを介してトランジスタＱ２のエミッタ−コレクタへと流れ込む。
【００８７】
パネル部１の各カソードラインＬcからトランジスタＱ２に流れる電流Ｉacは比較的大きく、パネル部１の端子ＰgcfとＰＣＢ部２０の端子Ｐpcfとの間には、（Ｒpf_cf＋Ｒfg_cf）×Ｉacの電圧降下が発生する。このため、カソード電圧ＶcLの電位は、カソード電圧Ｖcの電位よりも高くなる。
【００８８】
カソード電圧ＶcLの電位がカソード電圧Ｖcの電位を超えている間、演算増幅器２１ａの出力電圧Ｖout22の電位は低下し、トランジスタＱ２のベース電圧が低下する。このため、電流Ｉacの電流量は増加する。また、出力電圧Ｖout22の電位の低下に従って、バッファ回路２２の出力電圧Ｖc_outの電位も低下し、パネル部１のカソード電圧ＶcLの電位も低下する。
【００８９】
次いで、カソード電圧ＶcLの電位がカソード電圧Ｖcの電位より低い電位にまで低下すると、演算増幅器２２ａの出力電圧Ｖout22の電位は上昇し、トランジスタＱ２のベース電圧が上昇する。このため、電流Ｉacは減少する。また、出力電圧Ｖout22の電位の上昇に従って、バッファ回路２２の出力電圧Ｖc_outの電位も上昇し、カソード電圧ＶcLは、再び、カソード電圧Ｖcよりもわずかに高い電位になる。
【００９０】
このような動作を繰り返すことによって、最終的に、−入力端子にフィードバックされるカソード電圧ＶcLは、演算増幅器２２ａの＋入力端子に印加されるカソード電圧Ｖcにほぼ等しい、又は等しい電位となる。これにより、パネル部１の端子ＰgcfとＰＣＢ部２０の端子Ｐpcfとの間に発生した（Ｒpf_cf＋Ｒfg_cf）×Ｉacの電圧降下は、キャンセルされる。
【００９１】
以上説明したように、本実施形態１によれば、パネル部１のアノード電圧ＶaLをＰＣＢ部１側にフィードバックして、アノード電圧Ｖaとアノード電圧ＶaLとを比較し、アノード電圧ＶaLがアノード電圧Ｖaと等しい電位となるように出力電圧Ｖa_outを調整して、電流Ｉacをパネル部１に供給するようにした。
【００９２】
従って、ＰＣＢ部２０の端子Ｐpafとパネル部１の端子Ｐgafとの間の接触抵抗Ｒpf_af，Ｒfg_afによって発生する電圧降下をキャンセルすることができる。
【００９３】
また、パネル部１のカソード電圧ＶcLをＰＣＢ部１側にフィードバックして、カソード電圧Ｖcとカソード電圧ＶcLとを比較し、カソード電圧ＶcLがカソード電圧Ｖcと等しい電位となるように出力電圧Ｖc_outを調整して、電流Ｉacをパネル部１から引き込むようにした。
【００９４】
従って、ＰＣＢ部２０の端子Ｐpcfとパネル部１の端子Ｐgcfとの間の接触抵抗Ｒpf_cf，Ｒfg_cfによって発生する電圧降下をキャンセルすることができる。
【００９５】
このため、接触抵抗Ｒpf_af，Ｒfg_af，Ｒpf_cf，Ｒfg_cfによる有機ＥＬパネル１１の画面輝度の低下を防止し、接触抵抗Ｒpf_af，Ｒfg_af，Ｒpf_cf，Ｒfg_cfのばらつきによる画面輝度のばらつきを抑制することができる。
（実施形態２）
【００９６】
実施形態２に係る発光装置は、配線の接触抵抗を測定するようにしたものである。
この接触抵抗の抵抗値に基づいて、ＰＣＢ部２０とパネル部１との接続不良を判別できる。
【００９７】
実施形態２に係る発光装置１０において、ＰＣＢ部２０は、図７に示すように、電流計２３と電圧計２４，２５とを備える。
【００９８】
電流計２３は、電流Ｉacの電流値を計測するためのものであり、トランジスタＱ１のエミッタと端子Ｐpafとの間に接続される。
【００９９】
電圧計２４は、端子Ｐpafと端子Ｐpasとの間に接続され、端子Ｐpafと端子Ｐpasとの間の電圧を計測するものである。
【０１００】
電圧計２５は、端子Ｐpcfと端子Ｐpcsとの間に接続され、端子Ｐpcfと端子Ｐpcsとの間の電圧を計測するものである。
【０１０１】
電源回路１４が印加するアノード電圧Ｖa、カソード電圧Ｖcが、それぞれ、有機ＥＬ素子１１１を点灯させる電圧になったとき、電流計２３は、このときの電流Ｉacを計測する。
【０１０２】
また、電圧計２４が計測した端子Ｐpafと端子Ｐpasとの間の電圧は、（Ｖa_out−ＶaL)となり、この電圧がＰＣＢ部２０の端子Ｐpafとパネル部１の端子Ｐgafとの間の電圧降下になる。
【０１０３】
このため、配線Ｎafの端子Ｐpafと端子Ｐgafとの間の接触抵抗の抵抗値（Ｒpf_af＋Ｒfg_af）は、以下の式（１）によって表される。
Ｒpf_af＋Ｒfg_af＝（Ｖa_out−ＶaL）／Ｉac ・・・・・・（１）
【０１０４】
式（１）に従って算出された配線Ｎafの接触抵抗の抵抗値（Ｒpf_af＋Ｒfg_af）と予め設定された閾値とを比較することにより、アノード側の端子Ｐpafと端子Ｐgafとの間の接続の良否を判定することができる。
【０１０５】
接触抵抗の抵抗値（Ｒpf_af＋Ｒfg_af）が閾値以下であれば、端子Ｐpafと端子Ｐgafとの間の接続は良と判定される。一方、接触抵抗の抵抗値（Ｒpf_af＋Ｒfg_af）が閾値を超えていれば、端子Ｐpafと端子Ｐgafとの間の接続は不良と判定される。
【０１０６】
また、電圧計２５が計測した端子Ｐpcfと端子Ｐpcsとの間の電圧は、（Ｖc_out−ＶcL）となり、この電圧がＰＣＢ部２０の端子Ｐpcfとパネル部１の端子Ｐgcfとの間の電圧降下になる。
【０１０７】
このため、配線Ｎcfの接触抵抗の抵抗値（Ｒpf_cf＋Ｒfg_cf）は、以下の式（２）によって表される。
Ｒpf_cf＋Ｒfg_cf＝（Ｖc_out−ＶcL）／Ｉac ・・・・・・（２）
【０１０８】
式（２）に従って算出された配線Ｎcfの接触抵抗の抵抗値（Ｒpf_cf＋Ｒfg_cf）と予め設定された閾値とを比較することにより、カソード側の端子Ｐpcfと端子Ｐgcfとの間の接続の良否を判定することができる。
【０１０９】
接触抵抗の抵抗値（Ｒpf_cf＋Ｒfg_cf）が閾値以下であれば、端子Ｐpcfと端子Ｐgcfとの間の接続は良と判定される。一方、接触抵抗の抵抗値（Ｒpf_cf＋Ｒfg_cf）が閾値を超えていれば、端子Ｐpcfと端子Ｐgcfとの間の接続は不良と判定される。
【０１１０】
以上説明したように、本実施形態２によれば、ＰＣＢ部２０に電流計２３、電圧計２４，２５を備え、電流Ｉac、ＰＣＢ部２０、パネル部１との間の電圧降下を計測するようにした。
【０１１１】
従って、ＰＣＢ部２０とパネル部１との間の接触抵抗の抵抗値を算出することができる。このため、算出した接触抵抗の抵抗値と予め設定された閾値とを比較することにより、パネル部１、ＰＣＢ部２０間の接続の合否判定を行うことができる。
（実施形態３）
【０１１２】
実施形態３に係る発光装置の検査装置は、接触抵抗による電圧降下をキャンセルするため、実施形態１と同様のバッファ回路を備えるようにしたものである。
【０１１３】
検査装置４０は、発光装置の出荷前の検査工程において、パネル部１の各有機ＥＬ素子１１１の点灯検査に用いられるものであり、図８に示すように、検査用コンタクトプローブ４０１と検査回路４０３とからなる。尚、検査用コンタクトプローブ４０１と検査回路４０３とは、例えば、従来と同様のフラットケーブル４２を介して接続される。
【０１１４】
パネル部１は、実施形態１，２と同様に、端子Ｐgaf，Ｐgas，Ｐgcf，Ｐgcsを有する。検査用コンタクトプローブ４０１は、プローブ接触部を有し、プローブ接触部の先端部には、それぞれ、端子Ｐgaf，Ｐgas，Ｐgcf，Ｐgcsに接触する検査針が備えられている。
図８に示す接触抵抗Ｒph_afは、配線Ｎafにおける検査回路４０３と検査用コンタクトプローブ４０１間の接触抵抗を示し、接触抵抗Ｒfp_afは、配線Ｎafにおける検査用コンタクトプローブ４０１とパネル部１の端子Ｐgaf間の接触抵抗を示す。接触抵抗Ｒph_asは、配線Ｎasにおける検査回路４０３と検査用コンタクトプローブ４０１間の接触抵抗を示し、接触抵抗Ｒfp_asは、配線Ｎasにおける検査用コンタクトプローブ４０１とパネル部１の端子Ｐgas間の接触抵抗を示す。接触抵抗Ｒph_cfは、配線Ｎcfにおける検査回路４０３と検査用コンタクトプローブ４０１間の接触抵抗を示し、接触抵抗Ｒfp_cfは、配線Ｎcfにおける検査用コンタクトプローブ４０１とパネル部１の端子Ｐgcf間の接触抵抗を示す。また、接触抵抗Ｒph_csは、配線Ｎcsにおける検査回路４０３と検査用コンタクトプローブ４０１間の接触抵抗を示し、接触抵抗Ｒfp_csは、配線Ｎcsにおける検査用コンタクトプローブ４０１とパネル部１の端子Ｐgcs間の接触抵抗を示す。
【０１１５】
検査回路４０３は、図８に示すように、実施形態１と同様の端子Ｐpaf，Ｐpas，Ｐpcf，Ｐpcsを有し、電源回路１４とバッファ回路２１，２２とを備える。
【０１１６】
パネル部１の各有機ＥＬ素子１１１の点灯検査を行う場合、パネル部１の端子Ｐgaf，Ｐgas，Ｐgcf，Ｐgcsに検査用コンタクトプローブ４０１の各検査針を接触させる。
【０１１７】
そして、検査回路４０３の電源回路１４からバッファ回路２１の演算増幅器２１ａの＋入力端子にアノード電圧Ｖaが印加され、バッファ回路２２の演算増幅器２２ａの＋入力端子にカソード電圧Ｖcが印加されて、この点灯検査が行われる。
【０１１８】
以上説明したように、本実施形態３によれば、有機ＥＬ素子１１１の点灯検査を行う検査回路４０３は、実施形態１と同様のバッファ回路２１，２２を備えるようにした。
【０１１９】
従って、有機ＥＬ素子１１１の点灯検査を行う場合でも、接触抵抗によって発生する電圧降下をキャンセルすることができ、接触抵抗による輝度の低下を防止し、接触抵抗のばらつきによる輝度のばらつきを抑制することができる。
【０１２０】
このため、有機ＥＬパネル１１の画面輝度が低下した場合、あるいは、画面輝度にばらつきがあった場合、これらの原因は各部の接触抵抗によるものではないと判別でき、有機ＥＬ素子１１１の点灯検査を正確に行うことができる。
【０１２１】
尚、本発明を実施するにあたっては、種々の形態が考えられ、上記実施形態に限られるものではない。
例えば、上記実施形態３においても、実施形態２と同様、検査回路４０３が電流計２３、電圧計２４，２５を備え、式（１），（２）に従って、それぞれ、接触抵抗（Ｒph_af＋Ｒfp_af），（Ｒph_cf＋Ｒfp_cf）を算出することにより、パネル部１、検査回路４０３間の接触の合否判定を行うことができる。
【０１２２】
そして、パネル部１、検査回路４０３間の接触抵抗が閾値を超えていれば、検査用コンタクトプローブ４１の接触不良として再検査を行うかどうかの判定を行うことができる。
【０１２３】
また、電流計２３、電圧計２４，２５が計測した電流、電圧に基づいて、式（１），（２）に従って接触抵抗の抵抗値を算出し、検査用コンタクトプローブ４０１の接触不良か否かを判定するような制御部を備えることもできる。
【０１２４】
上記実施形態１〜３では、バッファ回路２１，２２をＰＣＢ部２０の電源回路１４外に備えるものとして説明した。しかし、バッファ回路２１，２２を電源回路１４内に備えることもできる。
【０１２５】
また、上記実施形態２における電流計２３、電圧計２４，２５も電源回路１４内に備えることもできる。
【０１２６】
また、上記実施形態２における電流計２３をバッファ回路２２側に備えるようにしてもよい。
【０１２７】
上記実施形態１〜３では、ＰＣＢ部２０がバッファ回路２１，２２を備えるものとした。しかし、ＰＣＢ部２０は、バッファ回路２１，２２のいずれか一方を備えるものであってもよい。
【０１２８】
上記実施形態１，２では、パネル部１とＰＣＢ部２０とがＦＰＣ部３を介して電気的に接続されるものとして説明した。しかし、パネル部１とＰＣＢ部２０とがＦＰＣ部３を介さないで接続されるような場合でも、上記実施形態１，２を適用することができる。
【０１２９】
上記実施形態１〜３では、発光装置を例として説明した。しかし、発光装置に限らず、電流を供給する側のＰＣＢ部２０と電流が供給されて動作する回路基板とがＦＰＣ部３を介して電気的に接続されて基板間の接触抵抗が問題となる電子機器、例えば、表示装置、照明装置、プリンタ、複写装置においても、本実施形態１〜３を適用することができる。
【０１３０】
即ち、このような電子機器の電流源基板に実施形態１〜３に示すようなバッファ回路２１，２２を備えることにより、接触抵抗をキャンセルすることができる。
【符号の説明】
【０１３１】
１・・・パネル部、３・・・ＦＰＣ部、１０・・・発光装置、１１・・・有機ＥＬパネル、１２・・・ゲートドライバ、１３・・・データドライバ、１４・・・電源回路、２０・・・ＰＣＢ部、２１，２２・・・バッファ回路、２１ａ，２２ａ・・・演算増幅器、４０・・・検査装置、４０１・・・検査用コンタクトプローブ、４０３・・・検査回路
【技術分野】
【０００１】
本発明は、発光装置、電子機器、発光パネルの検査装置、発光装置の電圧降下キャンセル方法及び発光パネルの検査方法に関するものである。
【背景技術】
【０００２】
有機エレクトロルミネッセンス素子（有機ＥＬ素子）は、電場を加えることによって発光する蛍光性の有機化合物によって形成されたものであり、これを用いた有機発光ダイオード（Organic Light Emitting Diode：以下、有機ＥＬと記す）素子を各画素に有してなる表示パネルを備えた発光装置は次世代ディスプレイデバイスとして注目されている（例えば、特許文献１参照）。
【０００３】
有機ＥＬ素子は、有機化合物に注入された電子と正孔との再結合によって生じた励起子によって発光する現象を利用して発光する電流制御型の発光素子（表示素子）である。有機ＥＬ素子は、アノードとカソードとを有し、アノードに供給された電流がカソードへと流れ、供給された電流の電流値に対応する輝度で発光する。
【０００４】
発光装置は、図９に示すように、有機ＥＬパネル１１とゲートドライバ１２とデータドライバ１３と電源回路１４とを備える。
【０００５】
有機ＥＬパネル１１は複数の有機ＥＬ素子を有し、各有機ＥＬ素子が表示データに基づく表示画像の１つ１つの画素に対応するように行列配置されたものであり、各有機ＥＬ素子は、ゲートドライバ１２とデータドライバ１３と電源回路１４とによって駆動され、発光する。
【０００６】
ゲートドライバ１２は、有機ＥＬパネル１１の行毎に配列されたゲートライン選択用のドライバである。データドライバ１３は、列毎に配列されたデータラインを介して、表示データの階調値に対応するデータ電流を供給するためのドライバである。
【０００７】
電源回路１４は、行毎に配列された複数のアノードラインを介して各有機ＥＬ素子にアノード電位を与え、電流を供給するためのドライバである。尚、すべての有機ＥＬ素子のカソードは複数のカソードラインに接続され、各画素のカソードは共通電極となっている。
【０００８】
中型以上の発光装置は、電源回路１４から各有機ＥＬ素子に流れる電流が比較的大きい為、図９に示すようにパネル部１とＰＣＢ（Printed Circuit Board）部２とＦＰＣ（Flexible Printed Circuits）部３とに分割されている。
【０００９】
有機ＥＬパネルは、ガラス製のパネル部１に実装され、ゲートドライバ１２、データドライバ１３も、このパネル部１に実装される。そして、電源回路１４のみがＰＣＢ部２に実装される。
【００１０】
パネル部１のガラス基板上には、各ゲートライン、各データライン、各アノードライン、カソードラインがメタル配線され、ＰＣＢ部２の各端子とパネル部１のメタル配線とは、ＦＰＣ部３を介して接続される。
【００１１】
尚、図９に示す配線Ｎaは、電源回路１４と各アノードラインとの間の配線を示し、配線Ｎcは、電源回路１４と各カソードラインとの間の配線を示す。
【先行技術文献】
【特許文献】
【００１２】
【特許文献１】特開２００６−２７６７１３号公報
【発明の概要】
【発明が解決しようとする課題】
【００１３】
このように構成された発光装置において、図９に示すＰＣＢ部２とＦＰＣ部３との間の接合面Ｊ[pf]、ＦＰＣ部３とパネル部１との間の接合面Ｊ[fg]には、図１０に示すような接触抵抗Ｒpf_a，Ｒfg_a，Ｒpf_c，Ｒfg_cが存在する。
【００１４】
接触抵抗Ｒpf_aは、配線Ｎaの接合面Ｊ[pf]における接触抵抗を示し、接触抵抗Ｒfg_aは、配線Ｎaの接合面Ｊ[fg]における接触抵抗を示す。また、接触抵抗Ｒpf_cは、配線Ｎcの接合面Ｊ[pf]における接触抵抗を示し、接触抵抗Ｒfg_cは配線Ｎcの接合面Ｊ[fg]における接触抵抗を示す。
【００１５】
有機ＥＬ素子を用いた高精細の発光装置では、複数のアノードラインと複数のカソードライン間に流れる電流が数百ｍＡ〜数Ａの比較的大きい電流となることがある。
【００１６】
この場合、接触抵抗Ｒpf_a，Ｒfg_a，Ｒpf_c，Ｒfg_cの抵抗値が数オーム程度の低抵抗値であっても配線Ｎa，Ｎcにおいて大きな電圧降下が発生する。この大きな電圧降下の発生により、有機ＥＬパネル１１の輝度は低下する。また、接触抵抗Ｒpf_a，Ｒfg_a，Ｒpf_c，Ｒfg_cにばらつきがあると輝度もパネル部１毎にばらついてしまう。
【００１７】
従来、接触抵抗Ｒpf_a，Ｒfg_a，Ｒpf_c，Ｒfg_cによる電圧降下を低減するため、図１１に示すように、配線Ｎa，Ｎcの配線本数を増やすことによって、接触抵抗Ｒpf_a，Ｒfg_a，Ｒpf_c，Ｒfg_cの抵抗値を下げる工夫を行っている。しかし、配線Ｎa，Ｎcの配線本数を増やすとしてもスペース上の制限がある。
【００１８】
この接触抵抗は、発光装置の出荷前の検査工程においても問題となる。この検査工程では、パネル部１とＰＣＢ部２とをＦＰＣ部３で接続する前、図１２に示すように、検査回路４３が、検査用コンタクトプローブ４１、フラットケーブル４２を介してパネル部１に接続されて、有機ＥＬ素子の点灯検査が行われる。
【００１９】
この検査用コンタクトプローブ４１は、図１３に示すように、プローブ接触部４１ａが備えられ、このプローブ接触部４１ａの先端部分には、パネル部１のメタル配線に接触する検査針（図示せず）が備えられている。
【００２０】
プローブ接触部４１ａの検査針はバネでメタル配線に押し当てられて、パネル部１と検査回路４３とが電気的に接続される。この検査回路４３は、電源回路１４を備えており、電源回路１４から各アノードラインに電流を供給して、有機ＥＬ素子の点灯検査が行われる。
【００２１】
この検査工程においても、同じように、検査用コンタクトプローブ４１とメタル配線間で発生する接触抵抗によって電圧降下が発生すると、有機ＥＬパネル１１の画面輝度が安定しなくなってしまうし、接触抵抗にばらつきがあると、画面輝度もパネル部１毎にばらついてしまう。
【００２２】
本発明は、このような従来の問題点に鑑みてなされたもので、接触抵抗による輝度の低下を防止し、接触抵抗のばらつきによる輝度のばらつきを抑制することが可能な発光装置、電子機器、発光パネルの検査装置、発光装置の電圧降下キャンセル方法及び発光パネルの検査方法を提供することを目的とする。
【課題を解決するための手段】
【００２３】
この目的を達成するため、本発明の第１の観点に係る発光装置は、
複数の発光素子が配列された発光パネルと、
駆動電圧と基準電圧とを供給する電源回路が実装された電源基板と、
を備え、
前記発光パネルは、第１の電流流入端子と、前記第１の電流流入端子に接続され、該第１の電流流入端子を介して前記各発光素子に駆動電流を供給する電流供給線と、前記電流供給線に接続されて、前記電流供給線の電圧値を第１の検出電圧として出力する第１の電圧出力端子と、を備え、
前記電源基板は、接続部材を介して前記発光パネルの前記第１の電流流入端子と接続されて、前記発光パネルに前記駆動電流を流出する第１の電流流出端子と、前記接続部材を介して前記第１の電圧出力端子と接続されて、前記第１の検出電圧を帰還させる第１の電圧検出用端子と、前記第１の検出電圧と前記駆動電圧とを比較し、前記第１の検出電圧を前記駆動電圧に近づけるように調整された第１の出力電圧を前記第１の電流流出端子に印加して、前記駆動電流を前記第１の電流流出端子から流出させる第１のバッファ回路と、を備えたことを特徴とする。
【００２４】
前記発光パネルは、前記各発光素子から前記駆動電流を出力させる電流出力線と、前記電流出力線に接続されて、前記電流出力線の前記駆動電流を流出させる第２の電流流出端子と、前記電流出力線に接続されて前記電流出力線の電圧値を第２の検出電圧として出力する第２の電圧出力端子と、を備え、
前記電源基板は、前記接続部材を介して前記発光パネルの前記第２の電流流出端子に接続されて、前記発光パネルから前記駆動電流が流入される第２の電流流入端子と、前記接続部材を介して前記第２の電圧出力端子と接続されて、前記第２の検出電圧を帰還させる第２の電圧検出用端子と、前記第２の検出電圧と前記基準電圧とを比較し、前記第２の検出電圧を前記基準電圧に近づけるように調整された第２の出力電圧を前記第２の電流流入端子に印加して、前記駆動電流を前記第２の電流流入端子から流入させる第２のバッファ回路と、を備えるようにしてもよい。
【００２５】
前記第１のバッファ回路は、前記第１の出力電圧を前記第１の電流流出端子に印加して、前記第１の検出電圧を前記駆動電圧に等しくし、
前記第２のバッファ回路は、前記第２の出力電圧を前記第２の電流流入端子に印加して、前記第２の検出電圧を前記基準電圧に等しくするようにしてもよい。
【００２６】
前記電源基板は、前記第１の電流流出端子から流出する前記駆動電流の第１の電流値を計測する第１の電流計測部と、前記第１の電流流出端子と前記第１の電圧検出用端子との間の第１の電圧を計測する第１の電圧計測部と、を備え、
前記第１の電流値と前記第１の電圧値とに基づく前記接続部材に係わる第１の抵抗値を取得し、該第１の抵抗値の値に基づいて、前記接続部材と前記発光パネル及び前記電源基板との接続状態の良否を判定する制御回路を備えるようにしてもよい。
【００２７】
前記電源基板は、前記第２の電流流入端子と前記第２の電圧検出用端子との間の第２の電圧値を計測する第２の電圧計測回路と、を備え、
前記制御回路は、前記第１の電流値と前記第２の電圧値とに基づく前記接続部材に係わる第２の抵抗値を取得し、該第２の抵抗値の値に基づいて、前記接続部材と前記発光パネル及び前記電源基板との接続状態の良否を判定するようにしてもよい。
【００２８】
本発明の第２の観点に係る電子機器は、上述の発光装置を備えることを特徴とする。
【００２９】
本発明の第３の観点に係る発光パネルの検査装置は、
複数の発光素子が配列され、第１の電流流入端子と、該第１の電流流入端子を介して前記各発光素子に駆動電流を供給する電流供給線に接続され、前記電流供給線の電圧値を第１の検出電圧として出力する第１の電圧出力端子と、前記各発光素子から前記駆動電流を出力させる電流出力線に接続されて、前記電流出力線の前記駆動電流を流出させる第２の電流流出端子と、前記電流出力線に接続されて前記電流出力線の電圧値を第２の検出電圧として出力する第２の電圧出力端子と、を備える発光パネルの発光検査を行う、発光パネルの検査装置であって、
検査回路と、
該検査回路に接続され、少なくとも前記第１の電流流入端子及び前記第１の電圧出力端子に接触する検査端子部と、
を備え、
前記検査回路は、
駆動電圧と基準電圧とを供給する電源回路と、
前記検査端子部を介して前記発光パネルの前記第１の電流流入端子に接触して、前記発光パネルに前記駆動電流を流出する第１の電流流出端子と、
前記検査端子部を介して前記発光パネルの前記第１の電圧出力端子に接触して、前記第１の検出電圧を帰還させる第１の電圧検出用端子と、
前記第１の検出電圧と前記駆動電圧とを比較し、前記第１の検出電圧を前記駆動電圧に近づけるように調整された第１の出力電圧を前記第１の電流流出端子に印加して、前記駆動電流を前記第１の電流流出端子から流出させる第１のバッファ回路と、を備えたことを特徴とする。
【００３０】
前記検査端子部の前記各検査針は、前記第２の電流流出端子及び前記第２の電圧出力端子に接触し、
前記検査回路は、
前記検査端子部を介して前記発光パネルの前記第２の電流流出端子に接触し、前記発光パネルから前記駆動電流が流入される第２の電流流入端子と、
前記検査端子部を介して前記第２の電圧出力端子に接触し、前記第２の検出電圧を帰還させる第２の電圧検出用端子と、
前記第２の検出電圧と前記基準電圧とを比較し、前記第２の検出電圧を前記基準電圧に近づけるように調整された第２の出力電圧を前記第２の電流流入端子に印加して、前記駆動電流を前記第２の電流流入端子から流入させる第２のバッファ回路と、を備えるようにしてもよい。
【００３１】
前記第１のバッファ回路は、前記第１の出力電圧を前記第１の電流流出端子に印加して、前記第１の検出電圧を前記駆動電圧に等しくし、
前記第２のバッファ回路は、前記第２の出力電圧を前記第２の電流流入端子に印加して、前記第２の検出電圧を前記基準電圧に等しくするようにしてもよい。
【００３２】
前記検査回路は、前記第１の電流流出端子から流出する前記駆動電流の第１の電流値を計測する第１の電流計測部と、前記第１の電流流出端子と前記第１の電圧検出用端子との間の第１の電圧を計測する第１の電圧計測部と、を備え、
前記第１の電流値と前記第１の電圧値とに基づく前記検査端子部と前記発光パネル間の第１の接触抵抗値を取得し、該第１の接触抵抗値の値に基づいて、前記検査端子部と前記発光パネルとの接触不良の有無を判定する制御回路を備えるようにしてもよい。
【００３３】
前記検査回路は、前記第２の電流流入端子と前記第２の電圧検出用端子との間の第２の電圧値を計測する第２の電圧計測回路と、を備え、
前記制御回路は、前記第１の電流値と前記第２の電圧値とに基づく前記検査端子部と前記発光パネル間の第２の接触抵抗値を取得し、該第２の接触抵抗値の値に基づいて、前記検査端子部と前記発光パネルとの接触不良の有無を判定するようにしてもよい。
【００３４】
本発明の第４の観点に係る発光装置の電圧降下キャンセル方法は、
複数の発光素子が配列され、第１の電流流入端子と、該第１の電流流入端子を介して前記各発光素子に駆動電流を供給する電流供給線に接続され、前記電流供給線の電圧値を第１の検出電圧として出力する第１の電圧出力端子と、前記各発光素子から前記駆動電流を出力させる電流出力線に接続されて、前記電流出力線の前記駆動電流を流出させる第２の電流流出端子と、前記電流出力線に接続されて前記電流出力線の電圧値を第２の検出電圧として出力する第２の電圧出力端子と、を備える発光パネルに、駆動電圧と基準電圧とを供給する駆動電圧と基準電圧とを供給する電源回路が実装された電源基板が接続部材を介して接続された発光装置の、前記接続部材による電圧降下をキャンセルするための、発光装置の電圧降下キャンセル方法であって、
前記接続部材を介して、前記電源基板から前記発光パネルの前記第１の電流流入端子に第１の出力電圧を供給して、前記発光パネルに前記駆動電流を流入させる流入ステップと、
前記接続部材を介して、前記第１の検出電圧を、前記発光パネルの前記第１の電圧出力端子から前記電源基板に帰還させる第１の帰還ステップと、
前記第１の帰還ステップにより帰還された前記第１の検出電圧と前記駆動電圧とを比較して、前記第１の検出電圧が前記駆動電圧より低い電位であるときに、前記第１の出力電圧の電位を上昇させる第１の比較ステップと、
前記第１の帰還ステップにより帰還された前記第１の検出電圧と前記駆動電圧とを比較して、前記第１の検出電圧が前記駆動電圧より高い電位であるときに、前記第１の出力電圧の電位を低下させる第２の比較ステップと、
前記第１の比較ステップと前記第２の比較ステップとを、前記第１の検出電圧と前記駆動電圧との電位が等しくなるまで繰り返して実行して、前記第１の検出電圧と前記駆動電圧とが等しい電位となったときの前記第１の出力電圧を前記第１の電流流出端子に印加することにより、前記接続部材による前記電圧降下をキャンセルする第１のキャンセルステップと、
を含むことを特徴とする。
【００３５】
前記接続部材を介して、前記発光パネルの前記第２の電圧出力端子から前記電源基板に、前記第２の検出電圧を帰還させる第２の帰還ステップと、
前記第２の帰還ステップにより帰還された前記第２の検出電圧と前記基準電圧とを比較して、前記第２の検出電圧が前記基準電圧より低い電位であるときに、前記第２の出力電圧の電位を上昇させる第３の比較ステップと、
前記第２の帰還ステップにより帰還された前記第１の検出電圧と前記駆動電圧とを比較して、前記第１の検出電圧の電位が前記駆動電圧の電位より高いときに、前記第１の出力電圧の電位を低下させる第４の比較ステップと、
前記第３の比較ステップと前記第４の比較ステップとを、前記第２の検出電圧と前記基準電圧との電位が等しくなるまで繰り返し実行して、前記第２の検出電圧と前記基準電圧とが等しい電位となったときの前記第２の出力電圧を前記第２の電流流入端子に印加することにより、前記接続部材による前記電圧降下をキャンセルする第２のキャンセルステップと、
を含むようにしてもよい。
【００３６】
本発明の第５の観点に係る発光パネルの検査方法は、
複数の発光素子が配列され、第１の電流流入端子と、該第１の電流流入端子を介して前記各発光素子に駆動電流を供給する電流供給線に接続され、前記電流供給線の電圧値を第１の検出電圧として出力する第１の電圧出力端子と、前記各発光素子から前記駆動電流を出力させる電流出力線に接続されて、前記電流出力線の前記駆動電流を流出させる第２の電流流出端子と、前記電流出力線に接続されて前記電流出力線の電圧値を第２の検出電圧として出力する第２の電圧出力端子と、を備える発光パネルの発光検査を行う、発光パネルの検査方法であって、
検査端子部の検査針を前記発光パネルの前記第１の電流流入端子及び前記第１の電圧出力端子に接触させる接触ステップと、
前記検査端子部を介して、駆動電圧と基準電圧とを供給する電源回路を有する検査回路から前記発光パネルの前記第１の電流流入端子に第１の出力電圧を供給して、前記発光パネルに前記駆動電流を流入させる流入ステップと、
前記検査端子部を介して、前記発光パネルの前記第１の電圧出力端子から前記検査回路に前記第１の検出電圧を帰還させる第１の帰還ステップと、
帰還された前記第１の検出電圧と前記駆動電圧とを比較して、前記第１の検出電圧が前記駆動電圧より低い電位であるときに、前記第１の出力電圧の電位を上昇させる第１の比較ステップと、
前記第１の帰還ステップにより帰還された前記第１の検出電圧と前記駆動電圧とを比較して、前記第１の検出電圧が前記駆動電圧より高い電位であるときに、前記第１の出力電圧の電位を低下させる第２の比較ステップと、
前記第１の比較ステップと前記第２の比較ステップとを、前記第１の検出電圧と前記駆動電圧との電位が等しくなるまで繰り返して実行して、前記第１の検出電圧と前記駆動電圧とが等しい電位となったときの前記第１の出力電圧を前記第１の電流流出端子に印加する第１の印加ステップと、
を含むことを特徴とする。
【００３７】
前記検査端子部を介して、前記発光パネルの前記第２の電圧出力端子から前記検査回路に、前記第２の検出電圧を帰還させる第２の帰還ステップと、
前記第２の帰還ステップにより帰還された前記第２の検出電圧と前記基準電圧とを比較して、前記第２の検出電圧が前記基準電圧より低い電位であるときに、前記第２の出力電圧の電位を上昇させる第３の比較ステップと、
前記第２の帰還ステップにより帰還された前記第１の検出電圧と前記駆動電圧とを比較して、前記第１の検出電圧の電位が前記駆動電圧の電位より高いときに、前記第１の出力電圧の電位を低下させる第４の比較ステップと、
前記第３の比較ステップと前記第４の比較ステップとを、前記第２の検出電圧と前記基準電圧との電位が等しくなるまで繰り返し実行して、前記第２の検出電圧と前記基準電圧とが等しい電位となったときの前記第２の出力電圧を前記第２の電流流入端子に印加する第２の印加ステップと、
を含むようにしてもよい。
【００３８】
前記発光パネルの前記第１の電流流入端子に流入する前記駆動電流の第１の電流値を計測するステップと、
前記検査回路の、前記検査端子部を介して前記発光パネルの前記第１の電流流入端子に接続される第１の電流流出端子と、前記検査端子部を介して前記発光パネルの前記第１の電圧出力端子に接続される前記第１の電圧検出用端子と、の間の第１の電圧を計測するステップと、
前記第１の電流値と前記第１の電圧値とに基づいて、前記検査端子部と前記発光パネル間の第１の接触抵抗値を取得し、該第１の接触抵抗値の値に基づいて、前記検査端子部と前記発光パネルとの接触不良の有無を判定するステップと、
を含むようにしてもよい。
【００３９】
前記検査回路の、前記検査端子部を介して前記発光パネルの前記第２の電流流出端子に接続される第２の電流流入端子と、前記検査端子部を介して前記発光パネルの前記第２の電圧出力端子に接続される第２の電圧検出用端子と、の間の第２の電圧値を計測するステップと、
前記第１の電流値と前記第２の電圧値とに基づく前記検査端子部と前記発光パネル間の第２の接触抵抗値を取得し、該第２の接触抵抗値の値に基づいて、前記検査端子部と前記発光パネルとの接触不良の有無を判定するステップと、
を含むようにしてもよい。
【発明の効果】
【００４０】
本発明によれば、接触抵抗による輝度の低下を防止し、接触抵抗のばらつきによる輝度のばらつきを抑制することができる。
【図面の簡単な説明】
【００４１】
【図１】本発明の実施形態１に係る発光装置が組み込まれる電子機器（デジタルカメラ）を示す図である。
【図２】実施形態１に係る発光装置が組み込まれる発光装置が組み込まれる電子機器（コンピュータ）を示す図である。
【図３】実施形態１に係る発光装置が組み込まれる発光装置が組み込まれる電子機器（携帯電話）を示す図である。
【図４】本発明の実施形態１に係る発光装置の構成を示す図である。
【図５】画素回路の構成の一例を示す図である。
【図６】図４に示すバッファ回路の構成、及びＰＣＢ部とＦＰＣ部とパネル部との間の接続関係を示す図である。
【図７】本発明の実施形態２に係るＰＣＢ部の構成、及びＰＣＢ部とＦＰＣ部とパネル部との間の接続関係を示す図である。
【図８】本発明の実施形態３に係る検査装置の構成、及び検査装置と検査用コンタクトプローブとパネル部との接続関係を示す図である。
【図９】ＰＣＢ部とＦＰＣ部とパネル部とが接続された発光装置を示す図である。
【図１０】図９に示す発光装置の接続関係を示す概略図である。
【図１１】図１０に示すＰＣＢ部とパネル部とを複数の配線で接続した従来の例を示す図である。
【図１２】検査装置を、検査用コンタクトプローブを介してパネル部に接続する例を示す図である。
【図１３】図１２に示すパネル部と検査装置と検査用コンタクトプローブとの接続状態を示す側面図である。
【発明を実施するための形態】
【００４２】
以下、本発明の実施形態に係る発光装置、電子機器、発光装置の検査装置を、図面を参照して説明する。尚、実施形態１は、発光装置１０、電子機器に関するものであり、実施形態３は、発光装置の検査装置に関するものである。
（実施形態１）
【００４３】
発光装置１０は、図１に示すようなデジタルカメラ２００、図２に示すようなコンピュータ２１０、図３に示すような携帯電話等の電子機器２２０に組み込まれる。
【００４４】
デジタルカメラ２００は、図１（ａ）及び（ｂ）に示すように、レンズ部２０１と操作部２０２と表示部２０３とファインダー２０４とを備える。この表示部２０３に発光装置１０が用いられる。
【００４５】
図２に示すコンピュータ２１０は、表示部２１１と操作部２１２とを備え、この表示部２１１に発光装置１０が用いられる。
【００４６】
図３に示す携帯電話２２０は、表示部２２１と、操作部２２２と、受話部２２３と送話部２２４とを備え、この表示部２２１に発光装置１０が用いられる。
【００４７】
発光装置１０は、図４に示すように、有機ＥＬパネル１１と、ゲートドライバ１２と、データドライバ１３と、電源回路１４と、バッファ回路２１，２２と、を備える。
【００４８】
有機ＥＬパネル１１は、行方向に形成された複数のゲートラインＬg、複数のアノードラインＬa及び複数のカソードラインＬcと、列方向に形成された複数のデータラインＬdと、各ゲートラインＬg、アノードラインＬa及びカソードラインＬcと各データラインＬdとの各交点近傍に形成された複数の画素回路１１０と、を備えたものである。各画素回路１１０は、表示画像の１画素に対応する表示画素である。各画素回路１１０は、有機ＥＬ素子１１１と、ＥＬ画素駆動回路１１２と、を備える。画素回路１１０の構成の一例を図５に示す。
【００４９】
ＥＬ画素駆動回路１１２は、有機ＥＬ素子１１１を駆動する回路であり、有機ＥＬ素子１１１に駆動電流を供給する駆動トランジスタＴ１と、スイッチトランジスタＴ２と、キャパシタＣｐと、を備える。この駆動トランジスタＴ１及びスイッチトランジスタＴ２は、例えばｎチャンネル型のＦＥＴ（Field Effect Transistor；電界効果トランジスタ）によって構成されたＴＦＴ（Thin Film Transistor）である。図５に示すＥＬ画素駆動回路１１２において、スイッチトランジスタＴ２のゲートはゲートラインＬgに接続され、スイッチトランジスタＴ２のドレインはデータラインＬdに接続され、スイッチトランジスタＴ２のソースはキャパシタＣｐの一方の電極及び駆動トランジスタＴ１のゲートに接続されている。スイッチトランジスタＴ２は、ゲートラインＬgの電圧がゲートドライバ１２によってハイレベルとなったとき、オン状態となる。キャパシタＣｐは、スイッチトランジスタＴ２のソースと駆動トランジスタＴ１のソースとの間に接続され、スイッチトランジスタＴ２がオン状態となったとき、データラインＬdに印加された電圧に対応する電荷を保持する。駆動トランジスタＴ１のドレインはアノードラインＬaに接続され、駆動トランジスタＴ１のソースはキャパシタＣｐの他方の電極及び有機ＥＬ素子１１１のアノードに接続され、有機ＥＬ素子１１１のカソードはカソードラインＬcに接続されている。駆動トランジスタＴ１はキャパシタＣｐに保持された電荷に応じて、アノードラインＬaから駆動電流を有機ＥＬ素子１１１に供給する。
【００５０】
ゲートドライバ１２は、有機ＥＬパネル１１の各行の画素回路１１０を、順次、選択するドライバであり、例えば、シフトレジスタによって構成される。ゲートドライバ１２は、各ゲートラインＬgを介して、各行の画素回路１１０に接続される。
【００５１】
データドライバ１３は、各ＥＬ画素駆動回路１１２に、表示データの階調値に対応する電圧の電圧信号を印加するドライバである。データドライバ１３は、各データラインＬdを介して、各列のＥＬ画素駆動回路１１２に接続される。
【００５２】
電源回路１４は、複数のアノードラインＬaを介して各ＥＬ画素駆動回路１１２に駆動電圧としてのアノード電圧を印加し、複数のアノードラインＬaにアノード−カソード電流（以後、「電流Ｉac」と記す。）を供給するドライバである。電流Ｉacは、複数の画素回路１１０の有機ＥＬ素子１１１に供給される駆動電流の総計である。
【００５３】
電源回路１４は、複数のアノードラインＬaを介して各ＥＬ画素駆動回路１１２に接続され、複数のカソードラインＬcを介して、各画素回路１１０の有機ＥＬ素子１１１のカソードに接続される。この複数のカソードラインＬcは、各有機ＥＬ素子１１１のカソードに共通に接続されている。
【００５４】
有機ＥＬパネル１１と、ゲートドライバ１２と、データドライバ１３とは、例えばガラス基板からなるパネル部１に実装される。電源回路１４とバッファ回路２１，２２とは、ＰＣＢ部（電源基板）２０に実装され、パネル部１とＰＣＢ部２０とはＦＰＣ部３を介して接続される。
【００５５】
パネル部１は、図６に示すように、端子Ｐgaf，Ｐgas，Ｐgcf，Ｐgcsを有する。端子Ｐgafは、供給された電流Ｉacが流入し、複数のアノードラインＬaに接続され、流入した電流Ｉacを各アノードラインＬaへ分配する電流流入端子である。端子Ｐgasは、各アノードラインＬaに接続されて、各アノードラインＬaで検出されたアノード電圧ＶaLを出力するための電圧出力端子である。
【００５６】
端子Ｐgcfは、複数のカソードラインＬcに接続されて、各有機ＥＬ素子１１１から各カソードラインＬcに出力された電流の総計からなる電流Ｉacを流出させる電流流出端子であり、端子Ｐgcsは、各カソードラインＬcに接続されて、各カソードラインＬcで検出されたカソード電圧ＶcLを出力するための電圧出力端子である。
【００５７】
ＰＣＢ部２０は、図６に示すように、端子Ｐpaf，Ｐpas，Ｐpcf，Ｐpcsを有する。端子Ｐpafは、ＰＣＢ部２０とパネル部１とが接続されたときに、パネル部の端子Ｐgafと配線Ｎafを介して電気的に接続され、電流Ｉacを流出する電流流出端子である。
【００５８】
端子Ｐpasは、ＰＣＢ部２０とパネル部１とが接続されたときに、パネル部１の端子Ｐgasと配線Ｎasを介して電気的に接続され、各アノードラインＬaで検出されたアノード電圧ＶaLをフィードバックさせるための電圧検出用端子である。
【００５９】
端子Ｐpcfは、ＰＣＢ部２０とパネル部１とが接続されたときに、パネル部１の端子Ｐgcfと配線Ｎcfを介して電気的に接続され、端子Ｐgcfから流出した電流Ｉacを流入する電流流入端子である。
【００６０】
端子Ｐpcsは、ＰＣＢ部２０とパネル部１とが接続されたときに、パネル部１の端子Ｐgcsと配線Ｎcｓを介して電気的に接続され、各カソードラインＬcで検出されたカソード電圧ＶcLをフィードバックさせるための電圧検出用端子である。
【００６１】
バッファ回路２１は、出力電圧Ｖa_outを調整してＰＣＢ部２０の端子Ｐpafとパネル部１の端子Ｐgafとの間の配線Ｎafの接触抵抗による電圧降下をキャンセル（抑制）するための回路である。バッファ回路２１は、図６に示すように、演算増幅器２１ａとトランジスタＱ１とを備える。
【００６２】
尚、図６に示す接触抵抗Ｒpf_afは、配線ＮafにおけるＰＣＢ部２０、ＦＰＣ部３間の接合面Ｊ[pf]の接触抵抗を示し、接触抵抗Ｒfg_afは、配線ＮafにおけるＦＰＣ部３、パネル部１間の接合面Ｊ[fg]の接触抵抗を示す。
【００６３】
また、接触抵抗Ｒpf_asは、配線Ｎasにおける接合面Ｊ[pf]の接触抵抗を示し、接触抵抗Ｒfg_asは、配線Ｎasにおける接合面Ｊ[fg]の接触抵抗を示す。
【００６４】
演算増幅器２１ａは、アノード電圧Ｖaとアノード電圧ＶaLとを比較して、両電圧が等しくなるように調整された出力電圧Ｖout21を出力するものである。ここで、アノード電圧Ｖaは、電源回路１４が印加する駆動電圧であり、アノード電圧ＶaLは、パネル部１の各アノードラインＬaからフィードバックされた実際の駆動電圧である。演算増幅器２１ａは、動作電圧として電源から正の電圧ＶccA(+)と負のＶccA(-)とが印加されて動作する。
【００６５】
演算増幅器２１ａの＋（非反転）入力端子は、電源回路１４のアノード電圧出力端に接続され、−（反転）入力端子は、端子Ｐpasに接続される。アノード電圧ＶaLは、パネル部１の端子Ｐgas，ＰＣＢ部２０の端子Ｐpasを介してフィードバックされ、−入力端子に供給される。
【００６６】
トランジスタＱ１は、演算増幅器２１ａから出力された出力信号Ｖout21に基づく出力電圧Ｖa_outを出力し、電流Ｉacを供給するトランジスタであり、例えば、ｎｐｎダーリントン型パワートランジスタによって構成される。
【００６７】
トランジスタＱ１のベースは演算増幅器２１ａの出力端に接続され、エミッタは、端子Ｐpafに接続される。そして、トランジスタＱ１のコレクタには、正の電圧ＶccA(+)が印加される。
【００６８】
バッファ回路２２は、出力電圧Ｖc_outを調整して、ＰＣＢ部２０の端子Ｐpcfとパネル部１の端子Ｐgcfとの間の配線Ｎcfの接触抵抗Ｒpf_cf，Ｒfg_cfによる電圧降下をキャンセルするためのものである。バッファ回路２２は、演算増幅器２２ａとトランジスタＱ２とを備える。
【００６９】
尚、図６に示す接触抵抗Ｒpf_cfは、配線Ｎcfにおける接合面Ｊ[pf]の接触抵抗を示し、接触抵抗Ｒfg_cfは、配線Ｎcfにおける接合面Ｊ[fg]の接触抵抗を示す。
【００７０】
また、接触抵抗Ｒpf_csは、配線Ｎcsにおける接合面Ｊ[pf]の接触抵抗を示し、接触抵抗Ｒfg_csは、配線Ｎcsにおける接合面Ｊ[fg]の接触抵抗を示す。
【００７１】
演算増幅器２２ａは、カソード電圧Ｖcとカソード電圧ＶcLとを比較して、両電圧が等しくなるように調整された出力電圧Ｖout22を出力するものである。カソード電圧Ｖcは電源回路１４が印加する基準電圧であり、カソード電圧ＶcLは、パネル部１の各カソードラインＬcからフィードバックされた実際の基準電圧である。演算増幅器２２ａは、動作電圧として電源から正の電圧ＶccC(+)と負の電圧ＶccC(-)とが印加されて動作する。
【００７２】
演算増幅器２２ａの＋入力端子は、電源回路１４のカソード電圧出力端に接続され、−（反転）入力端子は、ＰＣＢ部２０の端子Ｐpcsに接続される。カソード電圧ＶcLは、パネル部１の端子Ｐgcs，ＰＣＢ部２０の端子Ｐpcsを介してフィードバックされ、演算増幅器２２ａの−入力端子に供給される。
【００７３】
トランジスタＱ２は、演算増幅器２２ａから出力された出力信号Ｖout22に基づく出力電圧Ｖc_outを出力し、電流Ｉacを引き込むトランジスタである。トランジスタＱ２は、例えばｐｎｐダーリントン型パワートランジスタによって構成される。
【００７４】
トランジスタＱ２のベースは、演算増幅器２２ａの出力端に接続され、エミッタは、ＰＣＢ部２０の端子Ｐpcfに接続され、負の電圧ＶccC(-)がコレクタに印加される。
【００７５】
次に実施形態１に係る発光装置１０の動作を説明する。
バッファ回路２１の演算増幅器２１ａの＋入力端子には、電源回路１４からアノード電圧Ｖaが印加される。また、バッファ回路２２の演算増幅器２２ａの＋入力端子には、電源回路１４からカソード電圧Ｖcが印加される。
【００７６】
電源回路１４から演算増幅器２１ａの＋入力端子に印加されたアノード電圧Ｖaは、初期電圧０Ｖであり、アノード電圧Ｖaの印加開始時において０Ｖから各アノードラインＬaに印加したい電圧であるアノード電圧Ｖaに立ち上がる。演算増幅器２１ａの−入力端子に印加される電圧は、初期時、０Ｖであるため、アノード電圧Ｖaが０Ｖより上昇すると演算増幅器２１ａの出力電圧Ｖout21は上昇する。このとき、トランジスタＱ１はオンしている。
【００７７】
出力電圧Ｖout21が上昇すると、バッファ回路２１の出力電圧Ｖa_outも上昇し、電流Ｉacは、ＰＣＢ部２０の端子Ｐpaf、ＦＰＣ部３、パネル部１の端子Ｐgafを介してパネル部１へと流れ込む。
【００７８】
トランジスタＱ１のエミッタからパネル部１の各アノードラインＬaに流れる電流Ｉacは比較的大きく、パネル部１の端子ＰgafとＰＣＢ部２０の端子Ｐpafとの間には、（Ｒpf_af＋Ｒfg_af）×Ｉacの電圧降下が発生する。このため、アノード電圧ＶaLは、アノード電圧Ｖaよりも低くなる。
【００７９】
パネル部１の各アノードラインＬaのアノード電圧ＶaLは、パネル部１の端子Ｐgas、ＦＰＣ部３、ＰＣＢ部２０の端子Ｐpasを介して演算増幅器２１ａの−入力端子にフィードバックされる。
【００８０】
演算増幅器２１ａの入力インピーダンスが高いため、パネル部１の端子Ｐgas、ＰＣＢ部２０のＰpas間には、電流がほとんど流れない。
【００８１】
このため、端子Ｐgas，Ｐpas間の接触抵抗Ｒpf_as，Ｒfg_asによる電圧降下はほとんど発生せず、演算増幅器２１ａの−入力端子に印加された電圧は、このアノード電圧ＶaLにほぼ等しくなる。演算増幅器２１ａは、このようにしてアノード電圧ＶaLを検出する。
【００８２】
アノード電圧ＶaLの電位がアノード電圧Ｖaの電位より低い電位の間、演算増幅器２１ａの出力電圧Ｖout21の電位が上昇し、トランジスタＱ１のベース電圧が上昇する。このため、電流Ｉacの電流量は増加する。また、出力電圧Ｖout21の電位の上昇に従ってバッファ回路２１の出力電圧Ｖa_outの電位も上昇し、パネル部１のアノード電圧ＶaLの電位も上昇する。
【００８３】
次いで、アノード電圧ＶaLの電位がアノード電圧Ｖaの電位を越える電位にまで上昇すると、演算増幅器２１ａの出力電圧Ｖout21の電位は低下し、トランジスタＱ１のベース電圧も低下する。このため、電流Ｉacは減少する。また、出力電圧Ｖout21の電位の低下に従って、バッファ回路２１の出力電圧Ｖa_outの電位も低下し、パネル部１のアノード電圧ＶaLの電位も低下する。そして、アノード電圧ＶaLの電位は、再び、アノード電圧Ｖaの電位よりもわずかに低くなる。
【００８４】
このような動作を繰り返すことによって、最終的に、−入力端子にフィードバックされるアノード電圧ＶaLは、演算増幅器２１ａの＋入力端子に印加されるアノード電圧Ｖaにほぼ等しい、又は等しい電位となる。これによって、パネル部１の端子ＰgafとＰＣＢ部２０の端子Ｐpafとの間に発生した（Rpf_af+Rfg_af）×Ｉacの電圧降下は、キャンセルされる。
【００８５】
一方、カソード側において、電源回路１４からバッファ回路２２の演算増幅器２２ａの＋入力端子に印加されるカソード電圧Ｖcは、例えば０Ｖ（接地電位）である。トランジスタＱ２はオンしており、アノード電圧Ｖa及びカソード電圧Ｖcの印加開始時において、パネル部１の端子Ｐgcs、ＦＰＣ部３、ＰＣＢ部２０の端子Ｐpcsを介して演算増幅器２２ａの−入力端子にフィードバックされるパネル部１の各カソードドラインＬcのカソード電圧ＶcLの電位は、トランジスタＱ２を介して電流Ｉacが引き込まれるように流れることにより、０Ｖから上昇する。演算増幅器２２ａの−入力端子に印加される電圧の電位が０Ｖから上昇するため、演算増幅器２２ａの出力電圧Ｖout22の電位は下降する。
ここで、演算増幅器２２ａの入力インピーダンスが高いため、パネル部１の端子Ｐgas、ＰＣＢ部２０のＰpcs間には、電流がほとんど流れないため、端子Ｐgcs，Ｐpcs間の接触抵抗Ｒpf_cs，Ｒfg_csによる電圧降下はほとんど発生せず、演算増幅器２２ａの−入力端子に印加された電圧は、このカソード電圧ＶcLになる。演算増幅器２２ａは、このようにしてカソード電圧ＶcLを検出する。
【００８６】
パネル部１に流れ込んだ電流Ｉacは、各カソードラインＬcから流れ出し、流れ出した電流Ｉacは、パネル部１の端子Ｐgcf、ＦＰＣ部３、ＰＣＢ部２０の端子Ｐpcfを介してトランジスタＱ２のエミッタ−コレクタへと流れ込む。
【００８７】
パネル部１の各カソードラインＬcからトランジスタＱ２に流れる電流Ｉacは比較的大きく、パネル部１の端子ＰgcfとＰＣＢ部２０の端子Ｐpcfとの間には、（Ｒpf_cf＋Ｒfg_cf）×Ｉacの電圧降下が発生する。このため、カソード電圧ＶcLの電位は、カソード電圧Ｖcの電位よりも高くなる。
【００８８】
カソード電圧ＶcLの電位がカソード電圧Ｖcの電位を超えている間、演算増幅器２１ａの出力電圧Ｖout22の電位は低下し、トランジスタＱ２のベース電圧が低下する。このため、電流Ｉacの電流量は増加する。また、出力電圧Ｖout22の電位の低下に従って、バッファ回路２２の出力電圧Ｖc_outの電位も低下し、パネル部１のカソード電圧ＶcLの電位も低下する。
【００８９】
次いで、カソード電圧ＶcLの電位がカソード電圧Ｖcの電位より低い電位にまで低下すると、演算増幅器２２ａの出力電圧Ｖout22の電位は上昇し、トランジスタＱ２のベース電圧が上昇する。このため、電流Ｉacは減少する。また、出力電圧Ｖout22の電位の上昇に従って、バッファ回路２２の出力電圧Ｖc_outの電位も上昇し、カソード電圧ＶcLは、再び、カソード電圧Ｖcよりもわずかに高い電位になる。
【００９０】
このような動作を繰り返すことによって、最終的に、−入力端子にフィードバックされるカソード電圧ＶcLは、演算増幅器２２ａの＋入力端子に印加されるカソード電圧Ｖcにほぼ等しい、又は等しい電位となる。これにより、パネル部１の端子ＰgcfとＰＣＢ部２０の端子Ｐpcfとの間に発生した（Ｒpf_cf＋Ｒfg_cf）×Ｉacの電圧降下は、キャンセルされる。
【００９１】
以上説明したように、本実施形態１によれば、パネル部１のアノード電圧ＶaLをＰＣＢ部１側にフィードバックして、アノード電圧Ｖaとアノード電圧ＶaLとを比較し、アノード電圧ＶaLがアノード電圧Ｖaと等しい電位となるように出力電圧Ｖa_outを調整して、電流Ｉacをパネル部１に供給するようにした。
【００９２】
従って、ＰＣＢ部２０の端子Ｐpafとパネル部１の端子Ｐgafとの間の接触抵抗Ｒpf_af，Ｒfg_afによって発生する電圧降下をキャンセルすることができる。
【００９３】
また、パネル部１のカソード電圧ＶcLをＰＣＢ部１側にフィードバックして、カソード電圧Ｖcとカソード電圧ＶcLとを比較し、カソード電圧ＶcLがカソード電圧Ｖcと等しい電位となるように出力電圧Ｖc_outを調整して、電流Ｉacをパネル部１から引き込むようにした。
【００９４】
従って、ＰＣＢ部２０の端子Ｐpcfとパネル部１の端子Ｐgcfとの間の接触抵抗Ｒpf_cf，Ｒfg_cfによって発生する電圧降下をキャンセルすることができる。
【００９５】
このため、接触抵抗Ｒpf_af，Ｒfg_af，Ｒpf_cf，Ｒfg_cfによる有機ＥＬパネル１１の画面輝度の低下を防止し、接触抵抗Ｒpf_af，Ｒfg_af，Ｒpf_cf，Ｒfg_cfのばらつきによる画面輝度のばらつきを抑制することができる。
（実施形態２）
【００９６】
実施形態２に係る発光装置は、配線の接触抵抗を測定するようにしたものである。
この接触抵抗の抵抗値に基づいて、ＰＣＢ部２０とパネル部１との接続不良を判別できる。
【００９７】
実施形態２に係る発光装置１０において、ＰＣＢ部２０は、図７に示すように、電流計２３と電圧計２４，２５とを備える。
【００９８】
電流計２３は、電流Ｉacの電流値を計測するためのものであり、トランジスタＱ１のエミッタと端子Ｐpafとの間に接続される。
【００９９】
電圧計２４は、端子Ｐpafと端子Ｐpasとの間に接続され、端子Ｐpafと端子Ｐpasとの間の電圧を計測するものである。
【０１００】
電圧計２５は、端子Ｐpcfと端子Ｐpcsとの間に接続され、端子Ｐpcfと端子Ｐpcsとの間の電圧を計測するものである。
【０１０１】
電源回路１４が印加するアノード電圧Ｖa、カソード電圧Ｖcが、それぞれ、有機ＥＬ素子１１１を点灯させる電圧になったとき、電流計２３は、このときの電流Ｉacを計測する。
【０１０２】
また、電圧計２４が計測した端子Ｐpafと端子Ｐpasとの間の電圧は、（Ｖa_out−ＶaL)となり、この電圧がＰＣＢ部２０の端子Ｐpafとパネル部１の端子Ｐgafとの間の電圧降下になる。
【０１０３】
このため、配線Ｎafの端子Ｐpafと端子Ｐgafとの間の接触抵抗の抵抗値（Ｒpf_af＋Ｒfg_af）は、以下の式（１）によって表される。
Ｒpf_af＋Ｒfg_af＝（Ｖa_out−ＶaL）／Ｉac ・・・・・・（１）
【０１０４】
式（１）に従って算出された配線Ｎafの接触抵抗の抵抗値（Ｒpf_af＋Ｒfg_af）と予め設定された閾値とを比較することにより、アノード側の端子Ｐpafと端子Ｐgafとの間の接続の良否を判定することができる。
【０１０５】
接触抵抗の抵抗値（Ｒpf_af＋Ｒfg_af）が閾値以下であれば、端子Ｐpafと端子Ｐgafとの間の接続は良と判定される。一方、接触抵抗の抵抗値（Ｒpf_af＋Ｒfg_af）が閾値を超えていれば、端子Ｐpafと端子Ｐgafとの間の接続は不良と判定される。
【０１０６】
また、電圧計２５が計測した端子Ｐpcfと端子Ｐpcsとの間の電圧は、（Ｖc_out−ＶcL）となり、この電圧がＰＣＢ部２０の端子Ｐpcfとパネル部１の端子Ｐgcfとの間の電圧降下になる。
【０１０７】
このため、配線Ｎcfの接触抵抗の抵抗値（Ｒpf_cf＋Ｒfg_cf）は、以下の式（２）によって表される。
Ｒpf_cf＋Ｒfg_cf＝（Ｖc_out−ＶcL）／Ｉac ・・・・・・（２）
【０１０８】
式（２）に従って算出された配線Ｎcfの接触抵抗の抵抗値（Ｒpf_cf＋Ｒfg_cf）と予め設定された閾値とを比較することにより、カソード側の端子Ｐpcfと端子Ｐgcfとの間の接続の良否を判定することができる。
【０１０９】
接触抵抗の抵抗値（Ｒpf_cf＋Ｒfg_cf）が閾値以下であれば、端子Ｐpcfと端子Ｐgcfとの間の接続は良と判定される。一方、接触抵抗の抵抗値（Ｒpf_cf＋Ｒfg_cf）が閾値を超えていれば、端子Ｐpcfと端子Ｐgcfとの間の接続は不良と判定される。
【０１１０】
以上説明したように、本実施形態２によれば、ＰＣＢ部２０に電流計２３、電圧計２４，２５を備え、電流Ｉac、ＰＣＢ部２０、パネル部１との間の電圧降下を計測するようにした。
【０１１１】
従って、ＰＣＢ部２０とパネル部１との間の接触抵抗の抵抗値を算出することができる。このため、算出した接触抵抗の抵抗値と予め設定された閾値とを比較することにより、パネル部１、ＰＣＢ部２０間の接続の合否判定を行うことができる。
（実施形態３）
【０１１２】
実施形態３に係る発光装置の検査装置は、接触抵抗による電圧降下をキャンセルするため、実施形態１と同様のバッファ回路を備えるようにしたものである。
【０１１３】
検査装置４０は、発光装置の出荷前の検査工程において、パネル部１の各有機ＥＬ素子１１１の点灯検査に用いられるものであり、図８に示すように、検査用コンタクトプローブ４０１と検査回路４０３とからなる。尚、検査用コンタクトプローブ４０１と検査回路４０３とは、例えば、従来と同様のフラットケーブル４２を介して接続される。
【０１１４】
パネル部１は、実施形態１，２と同様に、端子Ｐgaf，Ｐgas，Ｐgcf，Ｐgcsを有する。検査用コンタクトプローブ４０１は、プローブ接触部を有し、プローブ接触部の先端部には、それぞれ、端子Ｐgaf，Ｐgas，Ｐgcf，Ｐgcsに接触する検査針が備えられている。
図８に示す接触抵抗Ｒph_afは、配線Ｎafにおける検査回路４０３と検査用コンタクトプローブ４０１間の接触抵抗を示し、接触抵抗Ｒfp_afは、配線Ｎafにおける検査用コンタクトプローブ４０１とパネル部１の端子Ｐgaf間の接触抵抗を示す。接触抵抗Ｒph_asは、配線Ｎasにおける検査回路４０３と検査用コンタクトプローブ４０１間の接触抵抗を示し、接触抵抗Ｒfp_asは、配線Ｎasにおける検査用コンタクトプローブ４０１とパネル部１の端子Ｐgas間の接触抵抗を示す。接触抵抗Ｒph_cfは、配線Ｎcfにおける検査回路４０３と検査用コンタクトプローブ４０１間の接触抵抗を示し、接触抵抗Ｒfp_cfは、配線Ｎcfにおける検査用コンタクトプローブ４０１とパネル部１の端子Ｐgcf間の接触抵抗を示す。また、接触抵抗Ｒph_csは、配線Ｎcsにおける検査回路４０３と検査用コンタクトプローブ４０１間の接触抵抗を示し、接触抵抗Ｒfp_csは、配線Ｎcsにおける検査用コンタクトプローブ４０１とパネル部１の端子Ｐgcs間の接触抵抗を示す。
【０１１５】
検査回路４０３は、図８に示すように、実施形態１と同様の端子Ｐpaf，Ｐpas，Ｐpcf，Ｐpcsを有し、電源回路１４とバッファ回路２１，２２とを備える。
【０１１６】
パネル部１の各有機ＥＬ素子１１１の点灯検査を行う場合、パネル部１の端子Ｐgaf，Ｐgas，Ｐgcf，Ｐgcsに検査用コンタクトプローブ４０１の各検査針を接触させる。
【０１１７】
そして、検査回路４０３の電源回路１４からバッファ回路２１の演算増幅器２１ａの＋入力端子にアノード電圧Ｖaが印加され、バッファ回路２２の演算増幅器２２ａの＋入力端子にカソード電圧Ｖcが印加されて、この点灯検査が行われる。
【０１１８】
以上説明したように、本実施形態３によれば、有機ＥＬ素子１１１の点灯検査を行う検査回路４０３は、実施形態１と同様のバッファ回路２１，２２を備えるようにした。
【０１１９】
従って、有機ＥＬ素子１１１の点灯検査を行う場合でも、接触抵抗によって発生する電圧降下をキャンセルすることができ、接触抵抗による輝度の低下を防止し、接触抵抗のばらつきによる輝度のばらつきを抑制することができる。
【０１２０】
このため、有機ＥＬパネル１１の画面輝度が低下した場合、あるいは、画面輝度にばらつきがあった場合、これらの原因は各部の接触抵抗によるものではないと判別でき、有機ＥＬ素子１１１の点灯検査を正確に行うことができる。
【０１２１】
尚、本発明を実施するにあたっては、種々の形態が考えられ、上記実施形態に限られるものではない。
例えば、上記実施形態３においても、実施形態２と同様、検査回路４０３が電流計２３、電圧計２４，２５を備え、式（１），（２）に従って、それぞれ、接触抵抗（Ｒph_af＋Ｒfp_af），（Ｒph_cf＋Ｒfp_cf）を算出することにより、パネル部１、検査回路４０３間の接触の合否判定を行うことができる。
【０１２２】
そして、パネル部１、検査回路４０３間の接触抵抗が閾値を超えていれば、検査用コンタクトプローブ４１の接触不良として再検査を行うかどうかの判定を行うことができる。
【０１２３】
また、電流計２３、電圧計２４，２５が計測した電流、電圧に基づいて、式（１），（２）に従って接触抵抗の抵抗値を算出し、検査用コンタクトプローブ４０１の接触不良か否かを判定するような制御部を備えることもできる。
【０１２４】
上記実施形態１〜３では、バッファ回路２１，２２をＰＣＢ部２０の電源回路１４外に備えるものとして説明した。しかし、バッファ回路２１，２２を電源回路１４内に備えることもできる。
【０１２５】
また、上記実施形態２における電流計２３、電圧計２４，２５も電源回路１４内に備えることもできる。
【０１２６】
また、上記実施形態２における電流計２３をバッファ回路２２側に備えるようにしてもよい。
【０１２７】
上記実施形態１〜３では、ＰＣＢ部２０がバッファ回路２１，２２を備えるものとした。しかし、ＰＣＢ部２０は、バッファ回路２１，２２のいずれか一方を備えるものであってもよい。
【０１２８】
上記実施形態１，２では、パネル部１とＰＣＢ部２０とがＦＰＣ部３を介して電気的に接続されるものとして説明した。しかし、パネル部１とＰＣＢ部２０とがＦＰＣ部３を介さないで接続されるような場合でも、上記実施形態１，２を適用することができる。
【０１２９】
上記実施形態１〜３では、発光装置を例として説明した。しかし、発光装置に限らず、電流を供給する側のＰＣＢ部２０と電流が供給されて動作する回路基板とがＦＰＣ部３を介して電気的に接続されて基板間の接触抵抗が問題となる電子機器、例えば、表示装置、照明装置、プリンタ、複写装置においても、本実施形態１〜３を適用することができる。
【０１３０】
即ち、このような電子機器の電流源基板に実施形態１〜３に示すようなバッファ回路２１，２２を備えることにより、接触抵抗をキャンセルすることができる。
【符号の説明】
【０１３１】
１・・・パネル部、３・・・ＦＰＣ部、１０・・・発光装置、１１・・・有機ＥＬパネル、１２・・・ゲートドライバ、１３・・・データドライバ、１４・・・電源回路、２０・・・ＰＣＢ部、２１，２２・・・バッファ回路、２１ａ，２２ａ・・・演算増幅器、４０・・・検査装置、４０１・・・検査用コンタクトプローブ、４０３・・・検査回路
【特許請求の範囲】
【請求項１】
複数の発光素子が配列された発光パネルと、
駆動電圧と基準電圧とを供給する電源回路が実装された電源基板と、
を備え、
前記発光パネルは、第１の電流流入端子と、前記第１の電流流入端子に接続され、該第１の電流流入端子を介して前記各発光素子に駆動電流を供給する電流供給線と、前記電流供給線に接続されて、前記電流供給線の電圧値を第１の検出電圧として出力する第１の電圧出力端子と、を備え、
前記電源基板は、接続部材を介して前記発光パネルの前記第１の電流流入端子と接続されて、前記発光パネルに前記駆動電流を流出する第１の電流流出端子と、前記接続部材を介して前記第１の電圧出力端子と接続されて、前記第１の検出電圧を帰還させる第１の電圧検出用端子と、前記第１の検出電圧と前記駆動電圧とを比較し、前記第１の検出電圧を前記駆動電圧に近づけるように調整された第１の出力電圧を前記第１の電流流出端子に印加して、前記駆動電流を前記第１の電流流出端子から流出させる第１のバッファ回路と、を備えたことを特徴とする発光装置。
【請求項２】
前記発光パネルは、前記各発光素子から前記駆動電流を出力させる電流出力線と、前記電流出力線に接続されて、前記電流出力線の前記駆動電流を流出させる第２の電流流出端子と、前記電流出力線に接続されて前記電流出力線の電圧値を第２の検出電圧として出力する第２の電圧出力端子と、を備え、
前記電源基板は、前記接続部材を介して前記発光パネルの前記第２の電流流出端子に接続されて、前記発光パネルから前記駆動電流が流入される第２の電流流入端子と、前記接続部材を介して前記第２の電圧出力端子と接続されて、前記第２の検出電圧を帰還させる第２の電圧検出用端子と、前記第２の検出電圧と前記基準電圧とを比較し、前記第２の検出電圧を前記基準電圧に近づけるように調整された第２の出力電圧を前記第２の電流流入端子に印加して、前記駆動電流を前記第２の電流流入端子から流入させる第２のバッファ回路と、を備えることを特徴とする請求項１に記載の発光装置。
【請求項３】
前記第１のバッファ回路は、前記第１の出力電圧を前記第１の電流流出端子に印加して、前記第１の検出電圧を前記駆動電圧に等しくし、
前記第２のバッファ回路は、前記第２の出力電圧を前記第２の電流流入端子に印加して、前記第２の検出電圧を前記基準電圧に等しくすることを特徴とする請求項２に記載の発光装置。
【請求項４】
前記電源基板は、前記第１の電流流出端子から流出する前記駆動電流の第１の電流値を計測する第１の電流計測部と、前記第１の電流流出端子と前記第１の電圧検出用端子との間の第１の電圧を計測する第１の電圧計測部と、を備え、
前記第１の電流値と前記第１の電圧値とに基づく前記接続部材に係わる第１の抵抗値を取得し、該第１の抵抗値の値に基づいて、前記接続部材と前記発光パネル及び前記電源基板との接続状態の良否を判定する制御回路を備える、
ことを特徴とする請求項２又は３に記載の発光装置。
【請求項５】
前記電源基板は、前記第２の電流流入端子と前記第２の電圧検出用端子との間の第２の電圧値を計測する第２の電圧計測回路と、を備え、
前記制御回路は、前記第１の電流値と前記第２の電圧値とに基づく前記接続部材に係わる第２の抵抗値を取得し、該第２の抵抗値の値に基づいて、前記接続部材と前記発光パネル及び前記電源基板との接続状態の良否を判定することを特徴とする請求項４に記載の発光装置。
【請求項６】
請求項１乃至５のいずれか１項に記載の発光装置を備えることを特徴とする電子機器。
【請求項７】
複数の発光素子が配列され、第１の電流流入端子と、該第１の電流流入端子を介して前記各発光素子に駆動電流を供給する電流供給線に接続され、前記電流供給線の電圧値を第１の検出電圧として出力する第１の電圧出力端子と、前記各発光素子から前記駆動電流を出力させる電流出力線に接続されて、前記電流出力線の前記駆動電流を流出させる第２の電流流出端子と、前記電流出力線に接続されて前記電流出力線の電圧値を第２の検出電圧として出力する第２の電圧出力端子と、を備える発光パネルの発光検査を行う、発光パネルの検査装置であって、
検査回路と、
該検査回路に接続され、少なくとも前記第１の電流流入端子及び前記第１の電圧出力端子に接触する検査端子部と、
を備え、
前記検査回路は、
駆動電圧と基準電圧とを供給する電源回路と、
前記検査端子部を介して前記発光パネルの前記第１の電流流入端子に接触して、前記発光パネルに前記駆動電流を流出する第１の電流流出端子と、
前記検査端子部を介して前記発光パネルの前記第１の電圧出力端子に接触して、前記第１の検出電圧を帰還させる第１の電圧検出用端子と、
前記第１の検出電圧と前記駆動電圧とを比較し、前記第１の検出電圧を前記駆動電圧に近づけるように調整された第１の出力電圧を前記第１の電流流出端子に印加して、前記駆動電流を前記第１の電流流出端子から流出させる第１のバッファ回路と、を備えたことを特徴とする発光パネルの検査装置。
【請求項８】
前記検査端子部の前記各検査針は、前記第２の電流流出端子及び前記第２の電圧出力端子に接触し、
前記検査回路は、
前記検査端子部を介して前記発光パネルの前記第２の電流流出端子に接触し、前記発光パネルから前記駆動電流が流入される第２の電流流入端子と、
前記検査端子部を介して前記第２の電圧出力端子に接触し、前記第２の検出電圧を帰還させる第２の電圧検出用端子と、
前記第２の検出電圧と前記基準電圧とを比較し、前記第２の検出電圧を前記基準電圧に近づけるように調整された第２の出力電圧を前記第２の電流流入端子に印加して、前記駆動電流を前記第２の電流流入端子から流入させる第２のバッファ回路と、を備える、ことを特徴とする請求項７に記載の発光パネルの検査装置。
【請求項９】
前記第１のバッファ回路は、前記第１の出力電圧を前記第１の電流流出端子に印加して、前記第１の検出電圧を前記駆動電圧に等しくし、
前記第２のバッファ回路は、前記第２の出力電圧を前記第２の電流流入端子に印加して、前記第２の検出電圧を前記基準電圧に等しくすることを特徴とする請求項８に記載の発光パネルの検査装置。
【請求項１０】
前記検査回路は、前記第１の電流流出端子から流出する前記駆動電流の第１の電流値を計測する第１の電流計測部と、前記第１の電流流出端子と前記第１の電圧検出用端子との間の第１の電圧を計測する第１の電圧計測部と、を備え、
前記第１の電流値と前記第１の電圧値とに基づく前記検査端子部と前記発光パネル間の第１の接触抵抗値を取得し、該第１の接触抵抗値の値に基づいて、前記検査端子部と前記発光パネルとの接触不良の有無を判定する制御回路を備える、
ことを特徴とする請求項８又は９に記載の発光パネルの検査装置。
【請求項１１】
前記検査回路は、前記第２の電流流入端子と前記第２の電圧検出用端子との間の第２の電圧値を計測する第２の電圧計測回路と、を備え、
前記制御回路は、前記第１の電流値と前記第２の電圧値とに基づく前記検査端子部と前記発光パネル間の第２の接触抵抗値を取得し、該第２の接触抵抗値の値に基づいて、前記検査端子部と前記発光パネルとの接触不良の有無を判定することを特徴とする請求項１０に記載の発光パネルの検査装置。
【請求項１２】
複数の発光素子が配列され、第１の電流流入端子と、該第１の電流流入端子を介して前記各発光素子に駆動電流を供給する電流供給線に接続され、前記電流供給線の電圧値を第１の検出電圧として出力する第１の電圧出力端子と、前記各発光素子から前記駆動電流を出力させる電流出力線に接続されて、前記電流出力線の前記駆動電流を流出させる第２の電流流出端子と、前記電流出力線に接続されて前記電流出力線の電圧値を第２の検出電圧として出力する第２の電圧出力端子と、を備える発光パネルに、駆動電圧と基準電圧とを供給する駆動電圧と基準電圧とを供給する電源回路が実装された電源基板が接続部材を介して接続された発光装置の、前記接続部材による電圧降下をキャンセルするための、発光装置の電圧降下キャンセル方法であって、
前記接続部材を介して、前記電源基板から前記発光パネルの前記第１の電流流入端子に第１の出力電圧を供給して、前記発光パネルに前記駆動電流を流入させる流入ステップと、
前記接続部材を介して、前記第１の検出電圧を、前記発光パネルの前記第１の電圧出力端子から前記電源基板に帰還させる第１の帰還ステップと、
前記第１の帰還ステップにより帰還された前記第１の検出電圧と前記駆動電圧とを比較して、前記第１の検出電圧が前記駆動電圧より低い電位であるときに、前記第１の出力電圧の電位を上昇させる第１の比較ステップと、
前記第１の帰還ステップにより帰還された前記第１の検出電圧と前記駆動電圧とを比較して、前記第１の検出電圧が前記駆動電圧より高い電位であるときに、前記第１の出力電圧の電位を低下させる第２の比較ステップと、
前記第１の比較ステップと前記第２の比較ステップとを、前記第１の検出電圧と前記駆動電圧との電位が等しくなるまで繰り返して実行して、前記第１の検出電圧と前記駆動電圧とが等しい電位となったときの前記第１の出力電圧を前記第１の電流流出端子に印加することにより、前記接続部材による前記電圧降下をキャンセルする第１のキャンセルステップと、
を含むことを特徴とする発光装置の電圧降下キャンセル方法。
【請求項１３】
前記接続部材を介して、前記発光パネルの前記第２の電圧出力端子から前記電源基板に、前記第２の検出電圧を帰還させる第２の帰還ステップと、
前記第２の帰還ステップにより帰還された前記第２の検出電圧と前記基準電圧とを比較して、前記第２の検出電圧が前記基準電圧より低い電位であるときに、前記第２の出力電圧の電位を上昇させる第３の比較ステップと、
前記第２の帰還ステップにより帰還された前記第１の検出電圧と前記駆動電圧とを比較して、前記第１の検出電圧の電位が前記駆動電圧の電位より高いときに、前記第１の出力電圧の電位を低下させる第４の比較ステップと、
前記第３の比較ステップと前記第４の比較ステップとを、前記第２の検出電圧と前記基準電圧との電位が等しくなるまで繰り返し実行して、前記第２の検出電圧と前記基準電圧とが等しい電位となったときの前記第２の出力電圧を前記第２の電流流入端子に印加することにより、前記接続部材による前記電圧降下をキャンセルする第２のキャンセルステップと、
を含むことを特徴とする請求項１２に記載の発光装置の電圧降下キャンセル方法。
【請求項１４】
複数の発光素子が配列され、第１の電流流入端子と、該第１の電流流入端子を介して前記各発光素子に駆動電流を供給する電流供給線に接続され、前記電流供給線の電圧値を第１の検出電圧として出力する第１の電圧出力端子と、前記各発光素子から前記駆動電流を出力させる電流出力線に接続されて、前記電流出力線の前記駆動電流を流出させる第２の電流流出端子と、前記電流出力線に接続されて前記電流出力線の電圧値を第２の検出電圧として出力する第２の電圧出力端子と、を備える発光パネルの発光検査を行う、発光パネルの検査方法であって、
検査端子部の検査針を前記発光パネルの前記第１の電流流入端子及び前記第１の電圧出力端子に接触させる接触ステップと、
前記検査端子部を介して、駆動電圧と基準電圧とを供給する電源回路を有する検査回路から前記発光パネルの前記第１の電流流入端子に第１の出力電圧を供給して、前記発光パネルに前記駆動電流を流入させる流入ステップと、
前記検査端子部を介して、前記発光パネルの前記第１の電圧出力端子から前記検査回路に前記第１の検出電圧を帰還させる第１の帰還ステップと、
帰還された前記第１の検出電圧と前記駆動電圧とを比較して、前記第１の検出電圧が前記駆動電圧より低い電位であるときに、前記第１の出力電圧の電位を上昇させる第１の比較ステップと、
前記第１の帰還ステップにより帰還された前記第１の検出電圧と前記駆動電圧とを比較して、前記第１の検出電圧が前記駆動電圧より高い電位であるときに、前記第１の出力電圧の電位を低下させる第２の比較ステップと、
前記第１の比較ステップと前記第２の比較ステップとを、前記第１の検出電圧と前記駆動電圧との電位が等しくなるまで繰り返して実行して、前記第１の検出電圧と前記駆動電圧とが等しい電位となったときの前記第１の出力電圧を前記第１の電流流出端子に印加する第１の印加ステップと、
を含むことを特徴とする発光パネルの検査方法。
【請求項１５】
前記検査端子部を介して、前記発光パネルの前記第２の電圧出力端子から前記検査回路に、前記第２の検出電圧を帰還させる第２の帰還ステップと、
前記第２の帰還ステップにより帰還された前記第２の検出電圧と前記基準電圧とを比較して、前記第２の検出電圧が前記基準電圧より低い電位であるときに、前記第２の出力電圧の電位を上昇させる第３の比較ステップと、
前記第２の帰還ステップにより帰還された前記第１の検出電圧と前記駆動電圧とを比較して、前記第１の検出電圧の電位が前記駆動電圧の電位より高いときに、前記第１の出力電圧の電位を低下させる第４の比較ステップと、
前記第３の比較ステップと前記第４の比較ステップとを、前記第２の検出電圧と前記基準電圧との電位が等しくなるまで繰り返し実行して、前記第２の検出電圧と前記基準電圧とが等しい電位となったときの前記第２の出力電圧を前記第２の電流流入端子に印加する第２の印加ステップと、
を含むことを特徴とする請求項１４に記載の発光パネルの検査方法。
【請求項１６】
前記発光パネルの前記第１の電流流入端子に流入する前記駆動電流の第１の電流値を計測するステップと、
前記検査回路の、前記検査端子部を介して前記発光パネルの前記第１の電流流入端子に接続される第１の電流流出端子と、前記検査端子部を介して前記発光パネルの前記第１の電圧出力端子に接続される前記第１の電圧検出用端子と、の間の第１の電圧を計測するステップと、
前記第１の電流値と前記第１の電圧値とに基づいて、前記検査端子部と前記発光パネル間の第１の接触抵抗値を取得し、該第１の接触抵抗値の値に基づいて、前記検査端子部と前記発光パネルとの接触不良の有無を判定するステップと、
を含むことを特徴とする請求項１５に記載の発光パネルの検査方法。
【請求項１７】
前記検査回路の、前記検査端子部を介して前記発光パネルの前記第２の電流流出端子に接続される第２の電流流入端子と、前記検査端子部を介して前記発光パネルの前記第２の電圧出力端子に接続される第２の電圧検出用端子と、の間の第２の電圧値を計測するステップと、
前記第１の電流値と前記第２の電圧値とに基づく前記検査端子部と前記発光パネル間の第２の接触抵抗値を取得し、該第２の接触抵抗値の値に基づいて、前記検査端子部と前記発光パネルとの接触不良の有無を判定するステップと、
を含むことを特徴とする請求項１６に記載の発光パネルの検査方法。
【請求項１】
複数の発光素子が配列された発光パネルと、
駆動電圧と基準電圧とを供給する電源回路が実装された電源基板と、
を備え、
前記発光パネルは、第１の電流流入端子と、前記第１の電流流入端子に接続され、該第１の電流流入端子を介して前記各発光素子に駆動電流を供給する電流供給線と、前記電流供給線に接続されて、前記電流供給線の電圧値を第１の検出電圧として出力する第１の電圧出力端子と、を備え、
前記電源基板は、接続部材を介して前記発光パネルの前記第１の電流流入端子と接続されて、前記発光パネルに前記駆動電流を流出する第１の電流流出端子と、前記接続部材を介して前記第１の電圧出力端子と接続されて、前記第１の検出電圧を帰還させる第１の電圧検出用端子と、前記第１の検出電圧と前記駆動電圧とを比較し、前記第１の検出電圧を前記駆動電圧に近づけるように調整された第１の出力電圧を前記第１の電流流出端子に印加して、前記駆動電流を前記第１の電流流出端子から流出させる第１のバッファ回路と、を備えたことを特徴とする発光装置。
【請求項２】
前記発光パネルは、前記各発光素子から前記駆動電流を出力させる電流出力線と、前記電流出力線に接続されて、前記電流出力線の前記駆動電流を流出させる第２の電流流出端子と、前記電流出力線に接続されて前記電流出力線の電圧値を第２の検出電圧として出力する第２の電圧出力端子と、を備え、
前記電源基板は、前記接続部材を介して前記発光パネルの前記第２の電流流出端子に接続されて、前記発光パネルから前記駆動電流が流入される第２の電流流入端子と、前記接続部材を介して前記第２の電圧出力端子と接続されて、前記第２の検出電圧を帰還させる第２の電圧検出用端子と、前記第２の検出電圧と前記基準電圧とを比較し、前記第２の検出電圧を前記基準電圧に近づけるように調整された第２の出力電圧を前記第２の電流流入端子に印加して、前記駆動電流を前記第２の電流流入端子から流入させる第２のバッファ回路と、を備えることを特徴とする請求項１に記載の発光装置。
【請求項３】
前記第１のバッファ回路は、前記第１の出力電圧を前記第１の電流流出端子に印加して、前記第１の検出電圧を前記駆動電圧に等しくし、
前記第２のバッファ回路は、前記第２の出力電圧を前記第２の電流流入端子に印加して、前記第２の検出電圧を前記基準電圧に等しくすることを特徴とする請求項２に記載の発光装置。
【請求項４】
前記電源基板は、前記第１の電流流出端子から流出する前記駆動電流の第１の電流値を計測する第１の電流計測部と、前記第１の電流流出端子と前記第１の電圧検出用端子との間の第１の電圧を計測する第１の電圧計測部と、を備え、
前記第１の電流値と前記第１の電圧値とに基づく前記接続部材に係わる第１の抵抗値を取得し、該第１の抵抗値の値に基づいて、前記接続部材と前記発光パネル及び前記電源基板との接続状態の良否を判定する制御回路を備える、
ことを特徴とする請求項２又は３に記載の発光装置。
【請求項５】
前記電源基板は、前記第２の電流流入端子と前記第２の電圧検出用端子との間の第２の電圧値を計測する第２の電圧計測回路と、を備え、
前記制御回路は、前記第１の電流値と前記第２の電圧値とに基づく前記接続部材に係わる第２の抵抗値を取得し、該第２の抵抗値の値に基づいて、前記接続部材と前記発光パネル及び前記電源基板との接続状態の良否を判定することを特徴とする請求項４に記載の発光装置。
【請求項６】
請求項１乃至５のいずれか１項に記載の発光装置を備えることを特徴とする電子機器。
【請求項７】
複数の発光素子が配列され、第１の電流流入端子と、該第１の電流流入端子を介して前記各発光素子に駆動電流を供給する電流供給線に接続され、前記電流供給線の電圧値を第１の検出電圧として出力する第１の電圧出力端子と、前記各発光素子から前記駆動電流を出力させる電流出力線に接続されて、前記電流出力線の前記駆動電流を流出させる第２の電流流出端子と、前記電流出力線に接続されて前記電流出力線の電圧値を第２の検出電圧として出力する第２の電圧出力端子と、を備える発光パネルの発光検査を行う、発光パネルの検査装置であって、
検査回路と、
該検査回路に接続され、少なくとも前記第１の電流流入端子及び前記第１の電圧出力端子に接触する検査端子部と、
を備え、
前記検査回路は、
駆動電圧と基準電圧とを供給する電源回路と、
前記検査端子部を介して前記発光パネルの前記第１の電流流入端子に接触して、前記発光パネルに前記駆動電流を流出する第１の電流流出端子と、
前記検査端子部を介して前記発光パネルの前記第１の電圧出力端子に接触して、前記第１の検出電圧を帰還させる第１の電圧検出用端子と、
前記第１の検出電圧と前記駆動電圧とを比較し、前記第１の検出電圧を前記駆動電圧に近づけるように調整された第１の出力電圧を前記第１の電流流出端子に印加して、前記駆動電流を前記第１の電流流出端子から流出させる第１のバッファ回路と、を備えたことを特徴とする発光パネルの検査装置。
【請求項８】
前記検査端子部の前記各検査針は、前記第２の電流流出端子及び前記第２の電圧出力端子に接触し、
前記検査回路は、
前記検査端子部を介して前記発光パネルの前記第２の電流流出端子に接触し、前記発光パネルから前記駆動電流が流入される第２の電流流入端子と、
前記検査端子部を介して前記第２の電圧出力端子に接触し、前記第２の検出電圧を帰還させる第２の電圧検出用端子と、
前記第２の検出電圧と前記基準電圧とを比較し、前記第２の検出電圧を前記基準電圧に近づけるように調整された第２の出力電圧を前記第２の電流流入端子に印加して、前記駆動電流を前記第２の電流流入端子から流入させる第２のバッファ回路と、を備える、ことを特徴とする請求項７に記載の発光パネルの検査装置。
【請求項９】
前記第１のバッファ回路は、前記第１の出力電圧を前記第１の電流流出端子に印加して、前記第１の検出電圧を前記駆動電圧に等しくし、
前記第２のバッファ回路は、前記第２の出力電圧を前記第２の電流流入端子に印加して、前記第２の検出電圧を前記基準電圧に等しくすることを特徴とする請求項８に記載の発光パネルの検査装置。
【請求項１０】
前記検査回路は、前記第１の電流流出端子から流出する前記駆動電流の第１の電流値を計測する第１の電流計測部と、前記第１の電流流出端子と前記第１の電圧検出用端子との間の第１の電圧を計測する第１の電圧計測部と、を備え、
前記第１の電流値と前記第１の電圧値とに基づく前記検査端子部と前記発光パネル間の第１の接触抵抗値を取得し、該第１の接触抵抗値の値に基づいて、前記検査端子部と前記発光パネルとの接触不良の有無を判定する制御回路を備える、
ことを特徴とする請求項８又は９に記載の発光パネルの検査装置。
【請求項１１】
前記検査回路は、前記第２の電流流入端子と前記第２の電圧検出用端子との間の第２の電圧値を計測する第２の電圧計測回路と、を備え、
前記制御回路は、前記第１の電流値と前記第２の電圧値とに基づく前記検査端子部と前記発光パネル間の第２の接触抵抗値を取得し、該第２の接触抵抗値の値に基づいて、前記検査端子部と前記発光パネルとの接触不良の有無を判定することを特徴とする請求項１０に記載の発光パネルの検査装置。
【請求項１２】
複数の発光素子が配列され、第１の電流流入端子と、該第１の電流流入端子を介して前記各発光素子に駆動電流を供給する電流供給線に接続され、前記電流供給線の電圧値を第１の検出電圧として出力する第１の電圧出力端子と、前記各発光素子から前記駆動電流を出力させる電流出力線に接続されて、前記電流出力線の前記駆動電流を流出させる第２の電流流出端子と、前記電流出力線に接続されて前記電流出力線の電圧値を第２の検出電圧として出力する第２の電圧出力端子と、を備える発光パネルに、駆動電圧と基準電圧とを供給する駆動電圧と基準電圧とを供給する電源回路が実装された電源基板が接続部材を介して接続された発光装置の、前記接続部材による電圧降下をキャンセルするための、発光装置の電圧降下キャンセル方法であって、
前記接続部材を介して、前記電源基板から前記発光パネルの前記第１の電流流入端子に第１の出力電圧を供給して、前記発光パネルに前記駆動電流を流入させる流入ステップと、
前記接続部材を介して、前記第１の検出電圧を、前記発光パネルの前記第１の電圧出力端子から前記電源基板に帰還させる第１の帰還ステップと、
前記第１の帰還ステップにより帰還された前記第１の検出電圧と前記駆動電圧とを比較して、前記第１の検出電圧が前記駆動電圧より低い電位であるときに、前記第１の出力電圧の電位を上昇させる第１の比較ステップと、
前記第１の帰還ステップにより帰還された前記第１の検出電圧と前記駆動電圧とを比較して、前記第１の検出電圧が前記駆動電圧より高い電位であるときに、前記第１の出力電圧の電位を低下させる第２の比較ステップと、
前記第１の比較ステップと前記第２の比較ステップとを、前記第１の検出電圧と前記駆動電圧との電位が等しくなるまで繰り返して実行して、前記第１の検出電圧と前記駆動電圧とが等しい電位となったときの前記第１の出力電圧を前記第１の電流流出端子に印加することにより、前記接続部材による前記電圧降下をキャンセルする第１のキャンセルステップと、
を含むことを特徴とする発光装置の電圧降下キャンセル方法。
【請求項１３】
前記接続部材を介して、前記発光パネルの前記第２の電圧出力端子から前記電源基板に、前記第２の検出電圧を帰還させる第２の帰還ステップと、
前記第２の帰還ステップにより帰還された前記第２の検出電圧と前記基準電圧とを比較して、前記第２の検出電圧が前記基準電圧より低い電位であるときに、前記第２の出力電圧の電位を上昇させる第３の比較ステップと、
前記第２の帰還ステップにより帰還された前記第１の検出電圧と前記駆動電圧とを比較して、前記第１の検出電圧の電位が前記駆動電圧の電位より高いときに、前記第１の出力電圧の電位を低下させる第４の比較ステップと、
前記第３の比較ステップと前記第４の比較ステップとを、前記第２の検出電圧と前記基準電圧との電位が等しくなるまで繰り返し実行して、前記第２の検出電圧と前記基準電圧とが等しい電位となったときの前記第２の出力電圧を前記第２の電流流入端子に印加することにより、前記接続部材による前記電圧降下をキャンセルする第２のキャンセルステップと、
を含むことを特徴とする請求項１２に記載の発光装置の電圧降下キャンセル方法。
【請求項１４】
複数の発光素子が配列され、第１の電流流入端子と、該第１の電流流入端子を介して前記各発光素子に駆動電流を供給する電流供給線に接続され、前記電流供給線の電圧値を第１の検出電圧として出力する第１の電圧出力端子と、前記各発光素子から前記駆動電流を出力させる電流出力線に接続されて、前記電流出力線の前記駆動電流を流出させる第２の電流流出端子と、前記電流出力線に接続されて前記電流出力線の電圧値を第２の検出電圧として出力する第２の電圧出力端子と、を備える発光パネルの発光検査を行う、発光パネルの検査方法であって、
検査端子部の検査針を前記発光パネルの前記第１の電流流入端子及び前記第１の電圧出力端子に接触させる接触ステップと、
前記検査端子部を介して、駆動電圧と基準電圧とを供給する電源回路を有する検査回路から前記発光パネルの前記第１の電流流入端子に第１の出力電圧を供給して、前記発光パネルに前記駆動電流を流入させる流入ステップと、
前記検査端子部を介して、前記発光パネルの前記第１の電圧出力端子から前記検査回路に前記第１の検出電圧を帰還させる第１の帰還ステップと、
帰還された前記第１の検出電圧と前記駆動電圧とを比較して、前記第１の検出電圧が前記駆動電圧より低い電位であるときに、前記第１の出力電圧の電位を上昇させる第１の比較ステップと、
前記第１の帰還ステップにより帰還された前記第１の検出電圧と前記駆動電圧とを比較して、前記第１の検出電圧が前記駆動電圧より高い電位であるときに、前記第１の出力電圧の電位を低下させる第２の比較ステップと、
前記第１の比較ステップと前記第２の比較ステップとを、前記第１の検出電圧と前記駆動電圧との電位が等しくなるまで繰り返して実行して、前記第１の検出電圧と前記駆動電圧とが等しい電位となったときの前記第１の出力電圧を前記第１の電流流出端子に印加する第１の印加ステップと、
を含むことを特徴とする発光パネルの検査方法。
【請求項１５】
前記検査端子部を介して、前記発光パネルの前記第２の電圧出力端子から前記検査回路に、前記第２の検出電圧を帰還させる第２の帰還ステップと、
前記第２の帰還ステップにより帰還された前記第２の検出電圧と前記基準電圧とを比較して、前記第２の検出電圧が前記基準電圧より低い電位であるときに、前記第２の出力電圧の電位を上昇させる第３の比較ステップと、
前記第２の帰還ステップにより帰還された前記第１の検出電圧と前記駆動電圧とを比較して、前記第１の検出電圧の電位が前記駆動電圧の電位より高いときに、前記第１の出力電圧の電位を低下させる第４の比較ステップと、
前記第３の比較ステップと前記第４の比較ステップとを、前記第２の検出電圧と前記基準電圧との電位が等しくなるまで繰り返し実行して、前記第２の検出電圧と前記基準電圧とが等しい電位となったときの前記第２の出力電圧を前記第２の電流流入端子に印加する第２の印加ステップと、
を含むことを特徴とする請求項１４に記載の発光パネルの検査方法。
【請求項１６】
前記発光パネルの前記第１の電流流入端子に流入する前記駆動電流の第１の電流値を計測するステップと、
前記検査回路の、前記検査端子部を介して前記発光パネルの前記第１の電流流入端子に接続される第１の電流流出端子と、前記検査端子部を介して前記発光パネルの前記第１の電圧出力端子に接続される前記第１の電圧検出用端子と、の間の第１の電圧を計測するステップと、
前記第１の電流値と前記第１の電圧値とに基づいて、前記検査端子部と前記発光パネル間の第１の接触抵抗値を取得し、該第１の接触抵抗値の値に基づいて、前記検査端子部と前記発光パネルとの接触不良の有無を判定するステップと、
を含むことを特徴とする請求項１５に記載の発光パネルの検査方法。
【請求項１７】
前記検査回路の、前記検査端子部を介して前記発光パネルの前記第２の電流流出端子に接続される第２の電流流入端子と、前記検査端子部を介して前記発光パネルの前記第２の電圧出力端子に接続される第２の電圧検出用端子と、の間の第２の電圧値を計測するステップと、
前記第１の電流値と前記第２の電圧値とに基づく前記検査端子部と前記発光パネル間の第２の接触抵抗値を取得し、該第２の接触抵抗値の値に基づいて、前記検査端子部と前記発光パネルとの接触不良の有無を判定するステップと、
を含むことを特徴とする請求項１６に記載の発光パネルの検査方法。
【図１】
【図２】
【図３】
【図４】
【図５】
【図６】
【図７】
【図８】
【図９】
【図１０】
【図１１】
【図１２】
【図１３】
【図２】
【図３】
【図４】
【図５】
【図６】
【図７】
【図８】
【図９】
【図１０】
【図１１】
【図１２】
【図１３】
【公開番号】特開２０１１−１６９９９２（Ｐ２０１１−１６９９９２Ａ）
【公開日】平成２３年９月１日（２０１１．９．１）
【国際特許分類】
【出願番号】特願２０１０−３１８４３（Ｐ２０１０−３１８４３）
【出願日】平成２２年２月１６日（２０１０．２．１６）
【出願人】（０００００１４４３）カシオ計算機株式会社 (8,748)
【Ｆターム（参考）】
【公開日】平成２３年９月１日（２０１１．９．１）
【国際特許分類】
【出願日】平成２２年２月１６日（２０１０．２．１６）
【出願人】（０００００１４４３）カシオ計算機株式会社 (8,748)
【Ｆターム（参考）】
[ Back to top ]