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Fターム[2G043EA10]の内容

蛍光又は発光による材料の調査、分析 (54,565) | 分析法 (5,807) | 発光 (629) | 光(例;レーザ)照射 (134)

Fターム[2G043EA10]に分類される特許

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染色されたミクロスフェアを形成させるための各種の方法が提供される。一つの方法には、熱または光を用いて染料にカップリングさせた化学構造を活性化させて、ミクロスフェアの存在下に反応中間体を形成させることを含む。その反応中間体は、ミクロスフェアのポリマーに共有結合的に付加し、それによって、染料をポリマーにカップリングさせて、染色されたミクロスフェアを形成させる。さらなる方法では、分子にカップリングさせた染色されたミクロスフェアを形成させることを提供する。これらの方法には、染色されたミクロスフェアの外側表面上に分子を合成することに加えて、上述のようにミクロスフェアを染色することが含まれる。染色されたミクロスフェアの集合体も提供される。その集合体の染色ミクロスフェアのそれぞれには、化学的な構造によって、染色されたミクロスフェアのそれぞれのポリマーに付加された染料が含まれる。染料が原因の、染色されたミクロスフェアの集合体の染色特性における変動係数は、約10%未満である。
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【課題】材料表面近傍における微小な同一領域における材料の電気的・光学的特性を測定する方法として、光励起による発光、または電流励起による発光を測定する方法等が知られているが、同一微小領域に対してこれら両測定を実施することは極めて困難であった。このため、同一装置でプローブ位置を変えることなくこれらの測定を可能にする装置の実現を目的とした。
【解決手段】先端が光透過性と導電性とを有するプローブと、照射光と試料が発光した光とを導光する光伝送路を有し、照射光の試料への入射系と反射系および試料が発光した光をこれら照射系の光から分離し光検出器に導光する光学系と不要光波長成分を除去する光バンドパス・フィルタとを有する光分波器を上記光伝送路の途中に挿入した構成とした。 (もっと読む)


表面増強ラマン分光法(SERS)を利用するデバイス、システム及び方法を開示する。ラマン散乱放射(190)を生成するためのデバイス(199、299、399)は、レーザ源(100、200、300、550)と、SERS活性構造(160)とからなる。レーザ源(100、200、300、550)は、放射表面(150、250)からレーザ放射を放射するように構成され、又はレーザ源(100、200、300、550)に凹部(260、260')を形成することによって構成され、その凹部は、レーザ源(100、200、300、550)からの強いエバネッセント場の領域(285、285')を作り出す。SERSシステム(500)及び方法は、ラマン散乱放射(190)を生成するためのデバイス(199、299、399)と、そのラマン散乱放射(190)を受容するように構成されている検出器(510)とを含む。 (もっと読む)


本発明は、溶鉱炉の羽口に酸素を含むガスを断続的に通過させて鍋屑(skull)を溶解することにより、治金容器に連通する羽口に鍋屑が付着しない状態を保つ方法に関するものであり、酸素を含むガスが羽口を通過するインターバルは、二重波長ピロメータにより溶融物の内側のスポットから放射される電磁放射を検出し、それらのピロメータ信号の比と共にそれらのピロメータの信号の強さを比べることを始めることが必要であって、それらのピロメータ信号の組み合わせた強さが予め設定した閾値以下に下降し、且つ、それらのピロメータ信号の比が実質的に一定に留まる場合に、前記ガスが羽口を通過するインターバルを開始する。
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【課題】従来よりも分析精度を大幅に向上させたレーザ発光分光分析法を提供する。
【解決手段】レーザ発光分光分析法により試料の成分分析を行うに際し、レーザパルス毎に分析対象元素と試料構成主要元素の発光強度比を算出して、それらの平均値および標準偏差σを求め、得られたデータのうち、次式
(発光強度比の平均値−α1×σ)〜(発光強度比の平均値+α2×σ)
ただし、α1,α2は係数(0.2≦α1≦2.0,0.2≦α2≦2.0)
の範囲を満足する発光強度データのみを抽出し、この抽出したデータに基づいて分析対象元素の濃度を定量分析する。 (もっと読む)


【課題】ガス成分を排除して微粒子成分のみの分析を良好に行うことができるガス中の微粒子成分計測装置及び方法を提供する。
【解決方法】複数の減圧度の異なる第1の減圧室11−1と第2の減圧室11−2からなる減圧チャンバ11と、減圧度の高い第1の減圧室11−1に設けられ、微粒子成分を含むガス12を導入するガス導入部13と、減圧度の高い第1の減圧室11−1と減圧度の低い第2の減圧室11−2とを連通すると共に、導入されたガス成分12aと微粒子成分12bとを分離する分離部14と、減圧度の低い第2の減圧室11−2内に導入された微粒子成分12bをプラズマ化させるプラズマ化装置であるレーザ装置から照射されるレーザ光Lと、該プラズマ化装置15により発生したプラズマ16を計測する検出装置である光検出器17とを具備してなる。 (もっと読む)


【課題】 カーボンナノチューブ集合体を形成する各単層カーボンナノチューブの特性を効率的且つ精度良く測定して解析する。
【解決手段】 バンドル状のカーボンナノチューブ集合体とシクロアミロース溶液とを混合し、超音波処理を行うことで、単層カーボンナノチューブが分散して含まれるカーボンナノチューブ含有溶液を生成する。カーボンナノチューブ含有溶液を濾過してから回転している基板に滴下し、乾燥させることでカーボンナノチューブ薄膜を形成する。カーボンナノチューブ薄膜に均等に分散する単層カーボンナノチューブに対してラマン顕微分光方法を用いて単層カーボンナノチューブの特性を解析する。 (もっと読む)


【課題】レーザ発光分光分析に際し、高い波長分解能と広い測定波長域を両立でき、しかも測定環境の変動が著しい機側分析に際しても、鉄鋼材料中の成分元素の濃度を、迅速かつ精度良く測定することができるレーザ発光分光分析法を提案する。
【解決手段】レーザ発光分光分析法により分析試料の成分元素を分析するに際し、分析を行う環境下において、分析に先立ち、少なくとも1つの励起光のピーク位置をCCD検出器上の画素位置として求め、この画素位置と、予め求めておいた該励起光のCCD検出器上における基本画素位置とを比較して、分析に用いる励起光の全てについて画素位置補正を行う。 (もっと読む)


サンプル物質由来の微生物の成育を蛍光によって検出するための装置及び方法を開示する。例えば、少なくとも1つの蛍光化合物を400ナノメートルより短い波長を包含する発光ダイオードから放たれた紫外線エネルギーで励起し、そして400ナノメートルの波長に等しい又はそれより長い波長を包含する電磁エネルギーを感知する少なくとも1つの光検出器で前記の少なくとも1つの励起された蛍光化合物によって生成した可視領域蛍光シグナルを検出することを包含する、紫外線エネルギーによって励起された少なくとも1つの蛍光化合物によって生成した可視領域蛍光シグナルの検出のための方法である。また例えば、400ナノメートルより短い波長を包含する電磁的な照射を生成し及び少なくとも1つの蛍光化合物を励起することができる少なくとも1つの紫外線発光ダイオード、及び少なくとも1つの蛍光化合物によって生成した可視領域蛍光シグナルの検出のために400ナノメートルに等しい又はそれより長い波長を包含する電磁エネルギーを感知する少なくとも1つの光検出器を包含する、紫外線エネルギーによって励起された少なくとも1つの蛍光化合物によって生成した可視領域蛍光シグナルを検出するための装置である。 (もっと読む)


本発明は、液体(301)の表面に集束させたパルスレーザによって励起させたこの液体の光学発光の分光のための方法に関する。本発明によれば前記方法は、分析領域(304)がガス(309)の層状放出によってスキャンされ、このガスの層状放出が、このガスの中に浮遊した、第1のレーザパルスによって生じたプラズマの残留物を次のレーザパルスが発せられる前に除去することが可能な速度および断面を有することを特徴とする。
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発光分光分析法を使用する、溶融材料、例えば鋳鉄あるいは鋼、あるいはスラグ、ガラスあるいは溶岩を分析するための方法及び装置が提供される。少なくとも一つの分光計と、被分析材料を励起させるための少なくとも一つの励起装置とを有する検出素子が使用される。被分析材料を励起させることにより被分析材料から放射物が部分的あるいは完全に発生され、発生した放射物が検出素子内の分光計により分析される。検出素子は溶融した被分析材料との接触状態に持ち来され、分光計によって供給される分析成分を含む情報を伝送する。本発明によれば浸漬センサも提供される。 (もっと読む)


方法は材料の非線形性プロファイルを決定する。この方法は、材料から測定される測定非線形性プロファイルのフーリエ変換の大きさを与えることを含む。この方法は、さらに、測定非線形性プロファイルのフーリエ変換の推定位相項を与えることを含む。この方法は、さらに、推定フーリエ変換を生成するために大きさと推定位相項とを乗算することを含む。この方法は、さらに、推定フーリエ変換の逆フーリエ変換を計算することを含む。この方法は、さらに、推定非線形性プロファイルを生成するために逆フーリエ変換の実数成分を計算することを含む。
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本発明は、例えば集積回路(IC)といったような、モールド組成物内に封入されたデバイスの繊細な構造を露出させるための方法およびシステムに関するものである。レーザーを使用することにより、モールド組成物を蒸発させて除去することができ、これにより、直下の構造を露出させることができる。レーザービームを、デバイスの表面上にわたって所望ラスターパターンでもって走査することができる。あるいは、デバイスを、レーザービームに対して相対的に、所望パターンに沿って駆動することができる。蒸発除去プロセスによって放射されたレーザープルームに関してスペクトル解析を行うことにより、蒸発除去された材料の組成を決定することができる。 (もっと読む)


【課題】 インプロセスで被加工面の酸化膜の形成をモニタリングする。
【解決手段】 レーザー切断を行った後にレーザー溶接を行うに際し、レーザー切断面に酸化膜が形成されていない時にレーザービームを照射した際における溶接部の基準発光強度と光学センサ10で検出した溶接部の実発光強度とを比較手段11で比較し、酸化認識手段13で基準発光強度に対して実発光強度が高いと判断された場合に溶接面への酸化膜の形成を認識し、インプロセスで被加工面の酸化膜の形成をモニタリングする。 (もっと読む)


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