【課題】大面積の基材に塗布された透明樹脂被膜の塗布ムラを効率的に検出する方法を提供すること。
【解決手段】黒色の部位１１を有する基材上に、一定方向に塗布された透明樹脂被膜の塗布ムラを検出する方法で、黒色部位を、透明樹脂の塗布方向（ｍ方向）及びこれに直交する方向（ｎ方向）に分割して多数の小領域（ｍ，ｎ）とし、これら小領域（ｍ，ｎ）の反射光強度ｒを測定し、塗布方向（ｍ方向）に沿って積算した積算値Σｒ_nを相互に比較して塗布ムラの可能性のある領域として抽出し、次に、このムラ候補領域を中心として、その近傍の領域を検査して塗布ムラを抽出する。塗布ムラは塗布方向に生じ易いから、黒色部位でムラ候補領域を精度良く推定し、この推定を基に効率的に塗布ムラを検査することができる （もっと読む）

【課題】微小な凹凸と濃度変化部分の双方において、より高感度な検出を行うことができる画像入力装置を提供する。
【解決手段】被測定物の表面で反射された反射光を二次元に配列した光学素子により検出し、被測定物の二次元画像を撮影する撮像部１０１と、撮像部１０１が撮影した二次元画像における反射光の分布に基づき、予め定められた画素選択条件を満たす部分画像を二次元画像から取得する部分画像取得部１０２と、部分画像取得部１０２により連続して取得された複数の部分画像を、被測定物の移動速度に基づいて算出した画素数分ずらして加算し、ライン画像を算出するライン画像算出部１０３と、ライン画像算出部１０３が算出したライン画像を主走査画像として副走査し被測定物の二次元画像を取得する画像取得部１０４と、を備えた。 （もっと読む）

【課題】防眩性フィルムの部分的な輝度ムラの定量的な評価の支援を行うことが可能な防眩性フィルム評価支援装置を提供する。
【解決手段】散乱効果による防眩処理を施された防眩性フィルム２の評価の支援を行う防眩性フィルム評価支援装置は、前面にスリット４が形成された面光源３と、防眩性フィルム２で反射した面光源３からの光を受光して該光に応じたデータを出力する受光手段５と、受光手段５から出力されたデータのうち防眩性フィルム２上の散乱領域９（反射する光のうち正反射光ａよりも散乱光ｂの方が多く受光手段５に入射する領域）から得られたデータに基づいて、散乱領域９における光の散乱性能を評価するための指標を算出するコンピュータ６とを備える。 （もっと読む）

【課題】円筒体検査装置の設備状態を高い精度で評価する。
【解決手段】円筒体の外表面を照明する照明と円筒体との間に配置したスリット体により、円筒体の表面に明暗縞を形成し、カメラによりこの明暗縞各部の明暗階調を検出する。明暗縞の複数の暗部の最低階調の変化の傾向をマスターデータと比較し、設備状態の良否を評価する。 （もっと読む）

【課題】データ収集装置からメモリ及び／又は電子回路、例えばプロセッサにデータを通信するための方法及び装置を提供する。
【解決手段】光学的テストヘッドは、ワークピース表面の状態を表わす出力信号を発生するための１つ以上の検出器を備えている。これらの検出器からのデータは、それが１つ以上の条件を満足する（例えば、それが特定のスレッシュホールドを越える）ときだけ、１つ以上のメモリに記憶される。次いで、データは、１つ以上のメモリから処理のために電気的回路へ通される。更に、検出器からのデータが１つ以上の条件を満足するときには位置情報が１つ以上のメモリに記憶されそして電気的回路へ通される。 （もっと読む）

【課題】微弱ムラ状欠陥の検出精度を向上させる。
【解決手段】投光部５から検査体Ｆに対して照射した検査光の透過光又は反射光を受光するに際して、光の強弱が最大となる位置にＣＣＤ６４を配置し、このＣＣＤ６４により検出信号を生成する。次いで、生成された検出信号に対し、移動平均によるＬＰＦを用いてノイズ除去処理を施し、その処理信号に積算差分処理及び相互相関処理を施して欠陥信号の信号強調を行う。 （もっと読む）

合金成分又は合金種別ごとに迅速な分別が可能な金属および合金の分別方法および分別システムを提供することを目的とする。本発明の合金分別方法は、合金種別不明の金属又は合金から成る分別試料に、その表面の一部に高エネルギービームを照射して溶融させて冷却することにより溶融痕を形成し、該溶融痕及び／又はその周辺部の形態に基づいて識別し、分別する。本発明の分別方法によれば、常に高い精度で合金を分別でき、迅速な分別が可能である。本発明の分別システムは、分別試料の金属表面に所定出力で所定時間に高エネルギービームを照射する照射装置と、照射後に金属表面の溶融痕とその周辺部の画像を撮影する撮像装置と、画像データを表示する表示装置と、を含む。本発明の分別システムは、上記の分別方法を実現するので、合金種別を、容易かつ迅速に分別でき、さらに分別精度を高く保つことができる。
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【課題】砥粒間隔を検出してワイヤソーの切断性能を良好に保つとともに、ワイヤソー表面の砥粒突き出し量を検出できるようにして、ワイヤソーの切味低下を未然に防止して、高い加工性能を有するワイヤソーを安定して製造することを可能とするワイヤソーの検査方法及び検査装置を提供する。
【解決手段】芯線２１の周囲にボンド材によって砥粒２３を固着したワイヤソーの検査方法において、ワイヤソーの投影画像を撮影し、砥粒２３の個数、砥粒２３の間隔、砥粒２３の突き出し量を検出して、砥粒２３の固着状態を検査する。 （もっと読む）

【課題】 設計データから高い近似度を持って参照データを高速で作成することができ、検査精度及び検査速度の向上をはかる。
【解決手段】 設計データから参照データを作成する際に、画素を分割したサブ画素単位で、多角形により表わされる図形データをライン方向に走査して求めた交点の座標で定義される走査リスト若しくはサブ画素単位のビットマップを生成し、試料の透過率や位相分布に応じた像強度分布を部分コヒーレント結像の物理モデルに基づいて計算する。 （もっと読む）

【課題】 従来技術では、欠陥検査対象部品の表面の近似合同模様による輝度変化レベルより輝度変化レベルの小さい欠陥を検出できなかった。
【解決手段】 本発明は、撮像装置（ラインセンサーカメラ２）で撮像された単一画像中の画素毎の輝度データを記憶する輝度データ記憶手段２２と、単一画像中において隣接する複数の画素で構成され互いに構成画素の一部が重複する複数の小領域を設定する小領域設定手段２４と、小領域の特徴として小領域を構成する複数の画素の輝度データの総和値を演算する小領域特徴演算手段２５と、小領域特徴データ記憶手段２５Ａと、相互相関係数演算手段２６と、相互相関係数データ記憶手段２７と、データ出力制御手段（表示制御手段３７）とを備え、小領域設定手段２４が、単一画像中に含まれる近似合同模様の繰り返しの複数個入る大きさの小領域を単一画像の一方向に所定画素ずつ移動させながら設定したことを特徴とする。 （もっと読む）

【課題】半田外観検査方法において、正確な良・不良の判定の自動化を可能にする。
【解決手段】半導体装置のリード上に半田を塗布した後の半田外観検査方法であって、
前記リード上の所定領域に照射した光の反射光の、位置に対応する輝度を検出する工程と、
検出された前記輝度について、一軸方向にプロジェクションをとり、所定位置からの距離
に対する輝度のプロファイルを形成する工程と、前記輝度が、半田が塗布されているとき
に得られる値となる距離が、所定の条件を満たす半導体装置を検出し、良品と判定する工
程を具備する。 （もっと読む）

【課題】 組み込み作業、調整作業を簡単化し、しかも、精度よく異物の有無を検査する。
【解決手段】 基板４の移動方向と直交する方向に互いに対向させて投光器５および受光器６を配置し、投光器５から、所定の広がりを有する状態で、かつ基板４の上面と平行な状態で、レーザー光を出射する。 （もっと読む）

【課題】 表示装置の製造方法において基板上に被着された材料の全ての欠陥を自動的に検出できる検査方法及びそれに使用する検査装置、この検査方法を適用する表示装置の製造方法、前記検査方法において画像データを個々の表示セルに相当するデータに分割する画像処理方法及びそれに使用する画像処理装置を提供する。
【解決手段】 カラーフィルタが形成された基板の画像データ２１について、各位置の階調を垂直方向に加算して水平方向の位置に対応した階調加算プロファイル２２を求める。同様に、垂直方向の階調加算プロファイル２３を求める。次に、階調加算プロファイル２２及び２３の各位置について、表示セル１１の設計長さに相当する範囲の標準偏差を算出し、標準偏差プロファイルを求める。そして、標準偏差プロファイルの極小値を各表示セルの座標として、画像データを表示セル毎のデータに分割し、表示セル毎に欠陥判定を行う。 （もっと読む）

【課題】各光源の光パルスパターンを調整することで、所望の均一強度でストロボ発光される複数の光源の各々の光度を調整する照明方法を提供する。
【解決手段】ストロボ継続時間にかけて対象物を照明するために、全ての光源が制御される。光パルスパターンは、様々な方法で形成したマイクロストロボ発光される光パルスパターンであってよい。この照明方法を使用することにより、画像取得の最中に対象物が移動しているか否かにかかわらず、物体上のエッジ強度プロフィールの形状を保存でき、精密なエッジ位置測定を可能にする。 （もっと読む）