【課題】血管深さおよび酸素飽和度に関する情報を同時に取得して、深さの異なる血管の酸素飽和度に関する画像を同時に表示することができる電子内視鏡システムを提供する。
【解決手段】電子内視鏡システムは、波長帯域の異なる複数の光を順次照射する光源装置と、光源装置から体腔内の血管を含む被写体組織に順次照射される光の反射光を受光して、受光した光の波長帯域に対応する撮像信号を順次出力する電子内視鏡と、電子内視鏡から出力された、波長帯域の異なる光の撮像信号に対応する各々の画像間の位置合わせを行う位置合わせ手段と、位置合わせ手段により位置合わせが行われた各々の画像の撮像信号から、所定の深さの血管中の酸素飽和度の分布を表す酸素飽和度画像を生成する画像生成手段と、画像生成手段により生成された酸素飽和度画像を表示する画像表示手段とを備える。 （もっと読む）

【課題】断層像の重なりの影響を抑制したＯＣＴ装置を提供すること。
【解決手段】時間と共に離散的に変化する中心波長を中心として、波長が振動する単一波長レーザ光を発生する波長可変レーザ光発生ユニットと、前記単一波長レーザ光を参照光と測定光に分岐し、前記測定光を測定対象に照射して後方散乱光を発生させ、前記後方散乱光と前記参照光を結合して干渉光を生成する干渉計ユニットと、前記干渉光の強度を測定し、前記波長が振動する夫々の期間における前記強度の時間平均と前記中心波長の関係に基づいて前記測定対象の断層像を導出する断層像導出ユニットとを有するオプティカル・コヒーレンス・トモグラフィー装置。 （もっと読む）

【課題】一つの光検出器でフーリエ変換により断層像を構築するＯＣＴ装置を提供すること。
【解決手段】ＯＣＴ装置を構成する干渉計の後段に、前記第１の結合光パルス（干渉光パルス）に対して第２の結合光パルス（干渉光パルス）を所定の遅延時間遅らせた後、前記第１の結合光パルスと前記第２の結合光パルスを合流して、前記第１の結合光パルスと前記第２の結合光パルスを交互に出射する光パルス時分割多重化ユニットを設けること。 （もっと読む）

【課題】眼部を撮影した光干渉断層画像において、異なる複数の構造が現れる場合であっても、層境界の種類を特定する際の誤りを減らす。
【解決手段】特徴取得部１０６は各位置のＳｏｂｅｌ画像のプロファイルから層境界の位置を示す特徴領域を取得する。テンプレート選択部１０７は、プロファイルから取得された特徴領域の数に応じてそのプロファイルに対応するテンプレート情報を選択する。層境界特定部１０８は、テンプレートを各プロファイルに適用して断層画像から層構造を特定する。 （もっと読む）

【課題】モードロックレーザを用い高速で波長を掃引しても高コヒーレンス性を保つ光源を用いて光断層画像表示システムの分解能、および深達度を向上させること。
【解決手段】波長走査型レーザ光源１０に一対の回折格子３２，３３を対向して配置し、これを分散素子として用いる。この分散素子に半導体光増幅器３５を接続し、モードロック信号発生部３８よりクロック信号を与えて光信号を増幅する。このクロック信号のクロック周波数を変化させることによってクロック周波数に応じて発振波長を走査することで、高速で波長を可変でき、この光源を用いることで光断層画像表示システムの分解能、および深達度を向上させることができる。 （もっと読む）

【課題】光遅延器による光路長の微調節を必要としないＯＣＴ装置を提供すること。
【解決手段】時間と共に波長が変化する可変波長光を発生する可変波長光発生ユニットと、前記可変波長光を参照光と測定光に分岐し、前記測定光を測定対象に照射して後方散乱光を発生させ、前記後方散乱光と前記参照光を結合して干渉光を生成する干渉計ユニットと、前記干渉光の強度を測定し、測定した前記強度と前記波長の関係に基づいて前記測定対象の断層像を導出する断層像導出ユニットとを有するオプティカル・コヒーレンス・トモグラフィー装置において、前記干渉計ユニットは、前記可変波長光の波長に基づいて前記参照光の位相を変調することで、前記干渉光の強度を、前記参照光の光路長を変化させた場合の前記干渉光の強度にする光位相変調ユニットを有するオプティカル・コヒーレンス・トモグラフィー装置。 （もっと読む）

【課題】眼部を撮影した光干渉断層画像において、異なる複数の構造が現れる場合であっても、層境界の種類を特定する際の誤りを減らす。
【解決手段】検出部１０６は各位置のＳｏｂｅｌ画像のプロファイルから層境界の位置を示す特徴部を取得する。テンプレート選択部１０７は、プロファイルから取得された特徴部の数に応じてそのプロファイルに対応するテンプレート情報を選択する。層境界特定部１０８は、テンプレートを各プロファイルに適用して断層画像から層構造を特定する。 （もっと読む）

【課題】
光プローブ部との接続端面における汚れを検出できるようにした画像診断装置及びその処理方法を提供する。
【解決手段】
画像診断装置は、プローブ部と接続される接続部を有し、光源からの光を接続部を介してプローブ部における送受信部に伝送し、送受信部により外部から受信された反射光を接続部を介して受光部に伝送するアダプタ装置と、光源からの光の射出を制御し、受光部により受光された反射光に基づいて断層画像を生成する信号処理手段とを具備する。ここで、信号処理手段は、光源から光を射出させることにより取得された反射光に基づく光強度データを算出し、当該算出した光強度データと、接続部の接続端面に汚れがない状態時の光強度データである基準データとの比較に基づいて接続端面に汚れがあるか否かを判定する。 （もっと読む）

【課題】 光源の波長掃引が高精度で安定して行ない得ない場合に生じる断層画像の位置精度の低さを解消し、優れた画像を安定的に取得できるＯＣＴ装置を提供する。
【解決手段】 発振周波数を掃引可能な光源部と、光を測定物に照射するための測定部と、参照用に前記光源部より光を照射する参照部と、前記測定部からの反射光と前記参照部からの反射光とを干渉させる干渉部と、干渉信号を検出する光検出部と、断層画像を得るための信号処理を行なう信号処理部と、を有する光干渉断層撮像装置であって、
前記信号処理部は、ビート周波数を検知して前記信号処理を行なうものであり、前記光源部に接続された前記発振周波数の掃引速度を検出するための掃引速度検出部を有し、該掃引速度検出部で得られた信号を前記信号処理部に供給する光干渉断層撮像装置。 （もっと読む）

【課題】少なくとも裏側に高濃度ドープ層を有するシリコンウエハの厚さを測定する装置を提供する。
【解決手段】装置３４は，複数波長のコーヒレントな光を放射する光源２を有する。また，本装置は，シリコンウエハと非接触に配置され，シリコンウエハの少なくとも一部を複数波長のコーヒレントな光によって照射し，シリコンウエハからの反射光の少なくとも一部を受光する測定ヘッド３を含む。さらに，本装置は，分光器５，ビームスプリッター，及び評価装置６を含む。評価装置は，シリコンウエハからの反射光を，光コーヒレンストモグラフィー法により分析することで，シリコンウエハの厚さを測定する。コーヒレントな光は，中央波長Ｗ_Ｃを有する帯域幅ｂの複数波長で放射される。シリコンウエハの高濃度ドープ層の光吸収率を最少とする波長は，帯域幅ｂ内に存在する範囲である。 （もっと読む）

【課題】被検査物である被検眼の複数箇所の断層画像の撮像が、簡単な操作で行える光断層画像撮像装置を提供する。
【解決手段】干渉信号の強度により被検査物の断層画像を撮像する光断層画像撮像装置であって、
前記被検眼に注視させるための固視灯の点灯位置を、第一の観察部位に対する点灯位置から第二の観察部位に対する点灯位置に移動制御する点灯位置制御手段と、
固視灯の点灯位置の移動距離に基づいて、参照光路の光路長を第二の観察部位に対応した光路長に調整するため、参照光路の光路長を調整する参照光路調整手段を制御する光路長制御手段と、を有する。 （もっと読む）

【課題】過度の根管拡大を行うことなく、歯牙根管内、歯牙根尖部及び根尖性歯周組織部の描出が可能となる歯科用ＯＣＴ装置を提供する。
【解決手段】導光手段により導かれた光を射出角度が直角となるように外部照射する第１ＯＣＴプローブ１０１、導光手段により導かれた光をプローブ先端方向へ外部照射する第２ＯＣＴプローブ１０２、又は入射光に対する出射光の角度が、前記第１ＯＣＴプローブの角度と前記第２ＯＣＴプローブの角度との間の角度である第３ＯＣＴプローブ、のいずれかを選択的に互換使用する歯科用ＯＣＴ装置９００。 （もっと読む）

【課題】 所望の波長範囲で、安定的に発振可能で且つ高速に波長掃引可能な光源装置を提供する。
【解決手段】 発振波長を連続的に変化可能な波長掃引光源装置であって、共振器内に、光を増幅させる光増幅媒体と、該光増幅媒体より放出される光を波長に応じて分散させる第一の手段と、第一の手段により分散した波長の異なる光束同士を平行化させる非集光光学素子で構成された第二の手段と、第二の手段により平行化した光束から所定波長の光束を選択する選択手段と、を備え、前記選択手段により選択された前記所定波長の光束を前記光増幅媒体に帰還させる波長掃引光源装置。 （もっと読む）

【課題】周波数可変量に依存することなく測定対象物の深さ方向の分解能を向上させることが可能な光断層撮影装置及び光断層撮影方法を提供する。
【解決手段】発光周波数ｆを時間とともに変化させることが可能な可変周波数光源１２と、発光した光を参照光と照射光とに分岐し、測定対象物２０において反射した反射光と前記参照光との干渉光を形成する干渉光学系と、前記干渉光を受光して光量信号に変換する受光素子２２と、前記光量信号を時系列で数値化した光量値Ｉ_iを目的変数とし、測定対象物２０において光が反射した屈折率変化位置ｄ、光の反射率ｒ₁及び反射時の位相変化φを説明変数とした回帰分析を行って屈折率変化位置ｄを推定する回帰分析手段（制御手段９０）とを備える。 （もっと読む）

【課題】簡単な構成で計測対象とする生体から発せられる蛍光に基づいて、蛍光の濃度分布の再構成を高精度で行う光断層計測装置。
【解決手段】計測ヘッド部２２には、励起光を発する発光ヘッド６８及び蛍光の波長の光を発する発光ヘッド９６を備えた光源ユニット４０及び、励起光が照射されることによりマウス１２から発せられる蛍光を受光する受光ヘッド７２を備えた複数の受光ユニット４２が放射状に配置されている。光断層計測システムでは、この発光ヘッド９６から発せられてマウスに照射された後、マウスを透過した光を、マウスを挟んで光源ユニットと対向している受光ユニット４２Ｆで受光することにより光透過量を計測し、この光透過量に基づいて計測ヘッド部が対向しているマウスの体長方向に沿った部位を特定し、特定した部位に対して設定されている光学特性値を用いて、マウス内の蛍光の濃度分布の再構成を行う。 （もっと読む）

サンプルの少なくとも１つの部分に関連づけられたデータを生成することができるシステム及び方法の例示的実施形態を提供する。例えば、少なくとも１つの光学構成を介して少なくとも１つの第１の放射線を当該部分へ送ることができる。第１の放射線に基づく少なくとも１つの第２の放射線を当該部分から受けることができる。光学構成と、第１の放射線及び／又は第２の放射線との間の相互作用に基づいて、光学構成が第１の伝達関数を有することができる。また、このような光学構成を介して（又は別の光学構成を介して）当該部分へ少なくとも１つの第３の放射線を送り、第３の放射線に基づく少なくとも１つの第４の放射線を当該部分から受けることができる。光学構成（又は別の光学構成）と、第３の放射線及び／又は第４の放射線との間の相互作用に基づいて、光学構成（又は別の光学構成）が第２の伝達関数を有することができる。第１の伝達関数は、第２の伝達関数とは少なくとも部分的に異なることができる。第２及び第４の放射線に基づいてデータを生成することができる。 （もっと読む）

少なくとも一つの電磁放射を少なくとも一つのサンプルに提供するプローブ、装置、システムおよび方法の例示的実施形態は、提供されることができる。例えば、少なくとも部分的に環帯形状を有する電磁放射を提供するように構成される複数のアキシコンレンズは。提供されることができる。加えて、または代わりに、少なくとも一つの光学構成であって、少なくとも部分的に円形に対称なパターンを有する少なくとも一つの放射を光学構成を介してサンプルに送る光学構成は、提供されることができる。例えば、パターンの円形の断面を通して送られる放射の少なくとも一つの第１の部分は、パターンの少なくとも一つの他の断面を通して送られる放射の少なくとも一つの第２の部分の光学パス長さとは異なる光学パス長さを有する。 （もっと読む）

【課題】光の干渉現象を利用して検出した干渉光（光ビート信号）が正規の像を取得させるものであるのか折り返し像を取得させるものであるのかを簡易に判定することができる光干渉計測方法を提供する。
【解決手段】光源ユニットから射出された光を測定光と参照光とに分割し、前記参照光と、前記測定光が照射された測定対象１１から反射または後方散乱した光と、が干渉した干渉光を検出し、前記参照光の光路に設けられた光路長可変機構１３を駆動させて前記参照光の光路長を変化させ、前記参照光の光路長の変化に応じた前記干渉光の変化に基いて、検出された前記干渉光に基づく画像が正規の像か折り返し像かを判定し、その判定の結果に基いて前記干渉光から前記測定対象を計測する。 （もっと読む）