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Fターム[2G086EE10]の内容

光学装置、光ファイバーの試験 (3,318) | レンズ、ミラー以外の装置 (1,545) | 液晶表示素子 (598)

Fターム[2G086EE10]に分類される特許

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【課題】ディスプレイ等表示機器の点灯検査の高速化を実現した点灯検査装置、および点灯検査方法を提供する。
【解決手段】本発明に係る点灯検査装置1は、液晶パネル8の表示画面に検査画像を表示させる信号発生器6と、複数のセンサ2A〜2Dを有する検出手段3とを備えており、センサ2A〜2Dは、前記表示画面を走査する。信号発生器6は、或るセンサ2Aによる検出対象位置9Aを含む領域15に被検査画面パターン4Aを表示し、センサ2Aとは異なる他のセンサ2Bによる検出対象位置9Bを含む領域15に前記被検査画面パターン4Aとは異なる被検査画面パターン4Bを表示する。そして、センサによる走査中、信号発生器6は、前記センサごとに、検出対象位置を含む領域に同じ前被検査画面パターンを表示させる。 (もっと読む)


【課題】本発明はFPDドット欠陥検査方法及び装置に関し、1回の撮影で取得した積算輝度画像から、全てのドット欠陥を検出することができるFPDドット欠陥検査方法及び装置を提供することを目的としている。
【解決手段】FPD11に一定のパターンを表示させ、FPD11の表示領域をカメラ12により撮影し、撮影した画像からFPD11の表示領域を構成する各ドットの動作を確認するFPDドット欠陥検査装置において、カメラ12の1回の撮影露光時間内に複数の表示パターンを切り替えるパターンジェネレータ14と、カメラ12の1回の撮影露光時間内にFPDの表示輝度を時間変調させる輝度変調手段17と、撮影露光時間内にカメラ受光面に照射された輝度分布の積算データを画像として取得し、取得した輝度分布の積算データからドット欠陥を検出する制御手段10と、を有して構成される。 (もっと読む)


【課題】ハイブリッドネマチック配向液晶フィルムを含む光学フィルムの欠陥の検査を的確に行うことができる光学フィルムの検査方法を提供する。
【解決手段】液晶をハイブリッドネマチック配向させた第1液晶フィルムを含む光学フィルムの検査方法であって、前記光学フィルムに対し、光源から第1偏光板を通して光を照射し、前記光学フィルムに対して前記光源と反対側に、液晶をハイブリッドネマチック配向させた第2液晶フィルムと第2偏光板とからなる欠陥検査用素子を、前記第2液晶フィルム側が前記光学フィルム側に隣接するように配置し、且つ前記欠陥検査用素子を、前記光学フィルムに対し傾斜させて、前記光学フィルムを検査する。 (もっと読む)


【課題】画像処理による自動検査の結果を官能検査の結果と一致させることができる平面表示パネルの検査方法、検査装置及び検査プログラムを提供する。
【解決手段】平面表示パネルを複数回撮像して複数枚の撮像画像を取得し、前記複数枚の撮像画像を加算して平均画像を作成する工程と、前記平均画像を縮小した後拡大することにより、前記平均画像から背景画像を作成し、前記平均画像と前記背景画像との差画像を作成する工程と、前記差画像からムラ欠陥を抽出する工程と、前記抽出されたムラ欠陥をその形状及び大きさに基づいて分類する工程と、を備えたことを特徴とする平面表示パネルの検査方法が提供される。 (もっと読む)


【課題】画像処理による自動検査の結果を官能検査の結果と一致させることができる検査用画像の作成方法を提供する。
【解決手段】液晶パネルを撮像して得られた画像から検査用画像を作成する検査用画像の作成方法であって、液晶パネルの撮像画像を縮小し、端部を折り返し、コントラストを強調して強調画像を作成し、この強調画像についてX方向投影画像を作成し、強調画像とX方向投影画像との第1の差画像を求め、この第1の差画像についてY方向投影画像を作成し、第1の差画像とY方向投影画像との第2の差画像を求め、この第2の差画像に対して、大きさが折り返した画像の幅の2倍以下である二次元フィルタを用いて平滑化処理を行って低周波画像を作成し、第2の差画像と低周波画像との第3の差画像を求める。この第3の差画像を検査用画像とする。 (もっと読む)


【課題】正常な膜厚に対して膜厚差が生じている特定周期のスジムラのみを検出する。
【解決手段】本発明の検査装置4は、第1方向から光を照射して検査対象基板P上に配列した絵素を撮像した画像Lと、上記第1方向とは異なる第2方向から光を照射して上記絵素を撮像した画像Rとのそれぞれにおいてスジムラを検出するスジムラ検出部12と、画像L及び画像Rのそれぞれにおいて、検査対象基板P上でスジムラと垂直な方向に予め定めた間隔Tで検出された複数本のスジムラを抽出する特定周期ムラ抽出部13と、画像L及び画像Rの両方で検出されたスジムラを検出対象スジムラとして抽出する検出対象ムラ抽出部14とを備えているので、正常な膜厚の絵素に対して膜厚差が生じている絵素の存在によって生じる特定周期のスジムラのみを検出することができる。 (もっと読む)


【課題】平面表示パネルの画素周期のレベルで画像中における平面表示パネルの表示領域に相当する領域の位置を決定することができる平面表示パネルの画像の位置決め方法を提供する。
【解決手段】一色の画素のみを発光させて液晶パネルを撮像して画像Aを取得する。次に、画像AについてX方向の輝度プロファイルFxを求め、極小点の座標xminを求め、配列周期Pxを求める。そして、パネル領域のX方向の端部の座標xendとして、最も外側に位置する極小点から配列周期Pxだけ外側に離隔した位置の座標を算出する。一方、Y方向の輝度プロファイルFyを求め、極大点の座標ymaxを求め、配列周期Pyを求める。そして、パネル領域のY方向の端部の座標yendとして、最も外側に位置する極大点から、Y方向における発光させた画素の中心とこの画素が属する絵素の外側の端縁との間の距離eだけ外側に離隔した位置の座標を算出する。 (もっと読む)


【課題】インライン型自動検査装置の稼働率を向上させ投資効果を高める。
【解決手段】本発明の処理方法は、第1の表示パネル9が自動検査装置2へ搬入されたときに、この表示パネル9に対して第1組の検査を行う検査工程と、検査工程が終了した時点で、第1の表示パネル9に続いて搬入される第2の第1の表示パネル9がセンサ4によって検出されていないときに、第1の表示パネル9に対して第2組の処理を行う処理工程とを含んでいる。 (もっと読む)


【課題】拡散板の大きさを適当な大きさとした照明用アダプタを提供する。
【解決手段】光源と被照明物体との間に挿入して用いられる照明用アダプタであって、拡散板1と開口絞り2とを有し、拡散板1の半径をA、厚さをh、減衰係数をα、前記開口絞りの半径をBとしたとき、
【数1】


の条件を満たすことを特徴とする照明用アダプタ。 (もっと読む)


【課題】パネル上の任意の領域の輝度を検出するための輝度検知装置を開示する。
【解決手段】基部、第1のシャフト、第1のアクチュエータ、第2のシャフト、第2のアクチュエータおよび少なくとも1個の輝度センサを備える。第1のシャフトが基部に枢着され、および、第2のシャフトが第1のシャフトに枢着される。輝度センサが、第2のシャフト上に配設される。第1のアクチュエータが第1のシャフトを基部に対して回転するように作動させるために使用され、および、第2のアクチュエータが第2のシャフトを第1のシャフトに対して回転するように作動させるために使用され、そうすると、第2のシャフト上の輝度センサがパネル上の任意の領域の輝度を検出することが可能である。したがって、パネル上の輝度が、一様に較正されることができる。 (もっと読む)


【課題】画像取得のタクト時間を増やすことなく分解能を向上させて高精細な画像を取得する撮像方法及び撮像装置、ひいては検査装置を提供することを課題とした。
【解決手段】被写体の光学像を二つに分割する光分割手段と、画素がライン状に配列した二つの撮像素子を有する撮像手段と、被写体を撮像手段に対して相対的に移動させる被写体移動手段と、撮像手段から転送される取得画像を合成及び結合し、統合画像を生成する画像処理手段とを有し、撮像手段は、二つの撮像素子が受光する光学像が画素の配列方向に対して画素の半ピッチ分だけ相互にずれる構成となっていることを特徴とする撮像装置。 (もっと読む)


【課題】安定した測定を簡便に行うことができる基板保持装置を提供する。
【解決手段】本実施の形態にかかる基板保持装置は、試料50の端部が載置される載置台12と、載置台12に設けられ、試料50を吸着する第1及び第2の吸着部13a、13bと、試料50の下側において移動可能に設けられ、試料50に対して気体を噴出する噴出口46を有する吸着台18と、を備え、第1及び第2の吸着部13a、13bのON/OFFを切換える切換部15a、15bと、を備え、切換部15a、15bが、試料50に対する吸着台18の位置に応じて、第1及び第2の吸着部13a、13bの一方をONし、他方をOFFするものである。 (もっと読む)


【課題】液晶表示器のバックライトによる温度が検査に適する温度に安定した状態で、液晶表示器の良否を効率よく適切に検査する。
【解決手段】液晶表示器23が検査領域A1乃至A12のそれぞれに1個ずつ収容され、制御装置6が液晶表示器23に接続され、電源スイッチ10の全部が1個ずつオン操作され、最初の電源スイッチ10のオン操作からの経過時間がエージング時間を経過すると、作業者が、検査領域A1の液晶表示器23に対し検査を実行した後に電源スイッチ10をオフ操作した後に液晶表示器23を検査領域A1から外し、新たな液晶表示器23を検査領域A1に収容し、その新たな液晶表示器23に制御装置6を接続し、検査領域A1の電源スイッチ10をオン操作した後、次の検査領域A2の液晶表示器23に検査を実行するというように、検査領域A1乃至A12の液晶表示器23に対する検査を行いながら検査台1を巡回する。 (もっと読む)


【課題】光学フィルムに生じている欠陥が揮点欠陥を生じさせる欠陥(光学欠陥)であるのか否かを容易に判定できるようにする。
【解決手段】光学フィルム1の一方の面側に配置された偏光板3を介して照明光7で照明しつつ、該光学フィルム1の他方の面側に配置された偏光板2を介して撮像し、該撮像結果に基づいて、光学欠陥の有無を判定する。偏光板2と偏光板3とはクロスニコルに配置される。照明光7として、青から緑の波長帯域内にある単波長光を用い、照明光7による露光時間が最適化されている。 (もっと読む)


【課題】画質欠陥を検出する際の時間を短縮化する。
【解決手段】検出対象となる画像上の各画素について、画素の濃度値と画像全体の濃度の平均値または画素周辺の所定の領域内での濃度の平均値との差分の絶対値を算出し、算出された各画素の差分の絶対値に基づき、画像上にて絶対値が所定値以上である画素が所定の面積以上の大きさを有する領域を形成する画素群を抽出し、抽出された画素群の中から所定の基準を満たす画素群を画質欠陥部として検出する。 (もっと読む)


【課題】位相差バラツキを有するセパレータが積層されている積層フィルムの検査を行なうに際して、セパレータの全領域にわたって精度のよい検査を行なうことが可能な積層フィルムの検査方法を提供する。
【解決手段】少なくとも、偏光子14と、セパレータ11とが積層されている積層フィルム1の欠陥検出を行うに際して、検査用光源2を用いて積層フィルム1を照射する工程と、この検査用光源2による透過光像を検査用偏光フィルター4と検査用位相差フィルター3とを介して撮影する工程と、を有し、積層フィルム1の検査領域が複数の小領域1aに分割設定されており、各領域ごとに検査用偏光フィルター4及び検査用位相差フィルター3を位置させる工程と、位置させた検査用位相差フィルター3を回転させて、透過光が最も吸収される回転位置を検出する工程と、検出された回転位置において、当該小領域1aの透過光像を撮影する工程と、を有する。 (もっと読む)


【課題】接続状態を短時間で正確に検査することが可能な接続状態検査装置、接続状態検査方法および接続システムを提供する。
【解決手段】可視光が透過可能な透光性部品の第1主表面上に設けられた端子と不透明基板に設けられた端子とが異方性導電材料を介して接続されている状態を検査する接続状態検査装置101であって、透光性部品に設けられた端子と基板に設けられた端子との接続部分を透光性部品の第2主表面側から撮影する撮影部4と、撮影した接続部分の画像に基づいて、透光性部品に設けられた端子と基板に設けられた端子との接続状態を判定する接続状態判定部1とを備える。 (もっと読む)


【課題】 液晶ディスプレイなどの多数の画素をマトリックス状に並べ、各画素の透過率を個別に変更して、それぞれの画素を点灯・消灯を設定し、画像などを表示するディスプレイの試験装置を提供する。
【解決手段】
本発明は、カメラの1画素に相当するディスプレイの画素群のうち一度の撮像につき1箇所のみ点灯するパターンを逐次生成し、各パターンを撮像した画像データからカメラ各画素に相当する領域の欠陥を検出するディスプレイ試験方式を使用することを特徴とするディスプレイ試験装置に関する。 (もっと読む)


【課題】光学特性の測定精度を向上させるとともに、被測定物に対する焦点合わせをより容易に行なうことのできる光学特性測定装置および測定方法を提供する。
【解決手段】測定用光源10は、被測定物の光学特性の測定に用いられる測定光を生成し、測定光は被測定物の光学特性の測定範囲の波長を含む。観察用光源22は、被測定物への焦点合わせや測定位置の確認に使用される観察光を生成し、観察光は被測定物での反射可能な波長を含むように選択される。このように測定光と観察光とをそれぞれ独立に共通の対物レンズ40を介して被測定物に照射することにより、光学特性の測定精度の向上と被測定物に対する焦点合わせの容易化とを同時に実現する。 (もっと読む)


【課題】表示パネルの点・線欠陥を検出する場合に、回路規模の増大を回避し、利用効率の低下及び処理速度の低下を抑制し得る画像処理装置を提供する。
【解決手段】画像メモリ12の表示パネル画像データから水平1ライン分の画像データを読み込むアドレスを、垂直方向cn毎となるように設定する垂直メモリアドレス制御回路(入力用)23aと、水平1ラインの((h−1)×cm+1)の各画素データを連続して格納するh個のラインバッファメモリ24を1組として、v組設けたラインバッファメモリユニットと、水平ラインの各画素データを画像メモリ12から複数ライン分をライン毎に順に読み込み、ラインバッファメモリ24に格納する画像メモリ制御回路21と、ラインバッファメモリ24から出力された比較演算対象画素データを用いて画素間比較演算を行う比較演算処理回路25と、演算結果を格納する画像メモリ12とを備える。 (もっと読む)


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