【課題】検出精度を犠牲にすることなく、検査時間の短縮を図った欠陥検出装置、及び、欠陥検出方法を実現する。
【解決手段】
欠陥検出装置１００は、評価対象物２００を撮像して得られた複数の撮像画像を参照して高解像度化画像を生成する高解像度化処理部１２３と、高解像度化画像を参照して評価対象物２００における欠陥を検出する欠陥検出処理部１２４とに加え、記録部１２１に記録された欠陥形状情報に基づいて、高解像度化画像を生成するために高解像度化処理部１２３が参照する撮像画像の枚数を設定する光学系制御部１２２を備えている。 （もっと読む）

【課題】より少ない消費電力で効率良く高温度検査を行なうことができ、加えて、検査コストの削減もできるようなパネル用加熱検査装置を提供する。
【解決手段】パネル用加熱検査装置１０１は、検査対象物としてのパネル１を設置するための対象物保持部１３と、この対象物保持部１３に設置されたパネル１に検査のための光を供給するための光源としてのバックライト装置２と、上記光源から発せられる熱を上記パネルに接する領域にまで導く熱伝達部とを備える。 （もっと読む）

【課題】ＬＣＤパネルを固定する検査器具を提供する。
【解決手段】位置決めフレーム体３と、撮影機具を固定するための調整台座６と、を含み、前記位置決めフレーム体及び調整台座は、支持架１によって一体となって連結され、調整台座が支持架の上で位置決めフレーム体３との相対的距離を調整出来るようにする；前記位置決めフレーム体には、フレーム３３が含まれ、前記フレーム背面の周縁に調整板４を設け、この調整板はＬＣＤパネルの異なるサイズによって調整し、各種サイズのＬＣＤパネルを架設することが出来、且つフレーム背面の保持部品５によってＬＣＤパネルを保持し、ＬＣＤパネルをフレームの背面に架設・位置決めし、且つフレーム内の周縁にそれぞれ可動遮蔽板３４を設置して、パネルのサイズに応じて調整し、ＬＣＤパネル周縁の金属枠縁を遮蔽する。 （もっと読む）

【課題】微小な重欠陥を検出可能でありながら、不良とはならない程度の微小な差異を検出することがないカラーフィルタ欠陥検査方法、及びカラーフィルタ欠陥検査装置を提供すること。
【解決手段】着色層のパターンが形成されたカラーフィルタの欠陥検査方法であって、カラーフィルタの撮像画像から着色層端部のテーパー形状部を抽出し、該抽出した領域と、該抽出した領域以外の領域とで異なる検査閾値を設定し、欠陥を検出することを特徴とするカラーフィルタ欠陥検査方法とする。 （もっと読む）

【課題】取込光量を好適に規定できる光計測装置を提供する。
【解決手段】光計測装置１は、測定対象である面光源１０１からの光を結像させる集光レンズ１５と、集光レンズ１５の後側の面光源１０１の共役点に配置された視野絞り部材１７と、集光レンズ１５の前側焦点の共役点に配置された開口絞り部材２１と、視野絞り部材１７及び開口絞り部材２１を透過した光を受光し、受光した光に応じた信号を出力する検出器５とを有する。 （もっと読む）

【課題】ＦＰＤ製品の表示品質の検査を統一化された客観的な基準で自動化して行うことが可能で、かつ一枚当たりの検査時間を大幅に短縮することができるディスプレイ検査装置の提供を課題とする。
【解決手段】検査装置１は、液晶ディスプレイ２のディスプレイ画面に表示されるテストパターン画像を撮像する複数の撮像カメラ部１５を有する撮像部３と、該撮像部３と撮像用ケーブル５を介して接続され、撮像部３の撮像カメラ部１５によるテストパターン画像の撮像を制御するとともに、撮像された撮像画像データを取得し、表示品質の判定処理を行う制御部７と、制御部７と画像出力用ケーブル８を介して接続され、制御部７によって判定処理された結果を示す判定結果データを出力表示するための結果表示用ディスプレイ１０とを具備する。 （もっと読む）

【課題】ＦＰＤの滅点と塵埃を識別することができるディスプレイ検査装置及び方法を提供する。
【解決手段】ディスプレイを撮像部１１により撮像する第１撮像部（制御部１３）と、撮像部の感光面がディスプレイの移動方向とは逆方向に移動された状態で、ディスプレイを撮像部１１により撮像する第２撮像部（制御部１３）と、第２撮像部により撮像された画像における点欠と隣り合うカラーフィルタと、第１撮像部により撮像された画像における点欠と隣り合うカラーフィルタとの種類が異なるかどうかを判断する判断部（制御部１３）を有し、第２撮像部により撮像された画像における点欠と隣り合うカラーフィルタと、第１撮像部により撮像された画像における点欠と隣り合うカラーフィルタとの種類が異なると判断された場合、ディスプレイの点欠を異物による点欠とする判定部（制御部１３）とを備える。 （もっと読む）

【課題】製品品質の検査システム及びその方法を提供する。
【解決手段】製品品質の検査システムは、検査機具と、撮影装置及び検査モジュールを含む。前記検査機具は検査対象としての完成品を位置決めするためであり、撮影装置をその上に架設し、両者の位置の対応関係を恒に変わらぬよう保持し、検査モジュールはデジタル信号の処理を行う。 （もっと読む）

【課題】欠陥原因の究明などを短期間で効率よく行えることはもとより、欠陥検査した検査情報から特定することで、リペア装置にリペア箇所を的確に指示することが可能なフラットディスプレイパネルの欠陥検査装置およびその方法を提供する。
【解決手段】欠陥検査した検査情報を保持するデータベース６４０と、表示パネルを形成する第１基板と第２基板とを張り合わせた後、個々に分割されそれぞれに識別子が付与されたフラットパネルディスプレイの点灯検査を行い、欠陥検査した検査情報と分割されたフラットパネルディスプレイを点灯検査した検査情報を識別子で照合させ、フラットパネルディスプレイの点灯検査情報を基に、第１基板と第２基板の製造時に欠陥検査した検査情報を自動分類し、点灯検査で検出された線欠陥の欠陥箇所を第１基板と第２基板の製造時に欠陥検査した検査情報から特定して、リペア箇所を指示する処理部６５０とを含む。 （もっと読む）

【課題】光学特性の測定工程を簡略化しながら、被測定物の複数の特性を測定することが可能な光学特性測定装置および光学特性測定方法を提供する。
【解決手段】光学特性測定装置は、被測定物２からの測定光を取り出す光取出部と、光取出部に接続され、被測定物２からの光を伝送する光ファイバ部２００と、光ファイバ部２００からの測定光を用いて被測定物２の低輝度域の色度・輝度を測定する分光器３００と、光ファイバ部２００からの測定光を用いて被測定物２の応答速度を測定するＰＭＴ４００とを備える。光ファイバ部２００の伝送経路が第１経路２２１と第２経路２２２とに分岐され、第１経路２２１に沿って伝送された測定光が分光器３００に達し、第２経路２２２に沿って伝送された測定光がＰＭＴ４００に達する。 （もっと読む）

【課題】その目的は、光学フィルムが設けられた光学表示ユニットの一方面から光を照射し、その他方面で当該光の透過光像を撮像し、当該撮像した画像から輝点を検出する、光学表示ユニットの検査方法において、検査対象物の欠点の、検査対象物の厚み方向の位置を測定可能とした検査方法を提供することにある。
【解決手段】光学フィルムが設けられた光学表示ユニットの一方面から光を照射し、その他方面で当該光の透過光像を撮像し、当該撮像した画像から輝点を検出する、光学表示ユニットの検査方法であって、前記輝点の検出に際し、輝点の焦点深度を測定することを特徴とする。 （もっと読む）

【課題】表示デバイスの線状欠陥評価を精度良く行うことができる表示欠陥評価方法を提供すること。
【解決手段】線状欠陥検出方法は、表示デバイスの撮像画像を取得する撮像画像取得処理工程Ｓ１と、撮像画像に検査対象領域を設定する検査領域設定処理工程Ｓ２と、撮像画像から高周波成分と線状欠陥成分を除去した差分画像を作成して撮像画像から差分する差分処理工程Ｓ３と、差分処理画像から高周波成分を除去する平滑化処理工程Ｓ４と、平滑化処理画像で各ピクセルの輝度データを縦方向および横方向に積算し、各方向のプロファイルデータを作成する１次元積算処理工程Ｓ５と、各プロファイルデータに対して移動平均処理を行う移動平均処理工程Ｓ６と、移動平均処理後のプロファイルデータから隣接する各ピクセルのデータの差分値を求め、差分値と閾値とを比較して変化が大きい箇所を抽出して線状欠陥として検出する欠陥検出処理工程Ｓ７とを有する。 （もっと読む）

【課題】本発明にあっては、粗いムラと細かいムラが混在した周期性の乏しいムラであっても、定量的にムラの度合いを測定することが可能なムラ測定方法を提供することを課題とする。
【解決手段】固体撮像素子を備える撮像装置によって前記物体を撮像するステップと、前記固体撮像素子により撮像された前記物体の画像に対し多重解像度解析をおこなうことにより画像を周波数毎の成分に分解するステップと、前記周波数毎に分解された成分に視覚系の周波数毎の感度を掛け合わせるステップとを備えることを特徴とする物体のムラ測定方法とした。また、前記固体撮像素子を備える撮像装置によって前記物体を撮像するステップにおいて、前記物体を照射する照明光が物体表面で正反射する方向から物体を撮像することを特徴とする測定方法とした。 （もっと読む）

【課題】シート状フイルムを連続搬送して製造するフイルムの製造工程において、オンラインで厚み方向レタデーションＲｔｈを正確に算出する。
【解決手段】第１の偏光特性測定部１１がフイルム法線方向から偏光特性測定をおこなう。この測定結果に基づいて、軸／レタデーション算出手段６１が試料１６の配向軸方位を算出する。面内方位制御手段６４は、第２の偏光特性測定部１７の斜め入射光が算出された配向軸方位と平行になるように、第２の偏光特性測定部１７を方位旋回させる。試料１６が搬送ロール２１で搬送され、第１の偏光特性測定部１１で測定した領域が第２の偏光特性測定部１７の測定位置に達すると、第２の偏光特性測定部１７が測定を開始する。軸／レタデーション算出手段６１は、第１の偏光特性測定部１１と第２の偏光特性測定部１７の測定結果に基づいて、厚み方向レタデーションＲｔｈの算出を行う。 （もっと読む）

【課題】製造工程内でフイルムの複屈折特性を正確に測定し、工程条件にフィードバックする。
【解決手段】含水率測定部８１が試料１６の含水率を、厚み測定部８２が試料１６の厚みを、第１の偏光特性測定部１１および第２の偏光特性測定部１７が試料１６の複屈折特性の測定を行う。軸／レタデーション算出手段６１は、第１の偏光特性測定部１１および第２の偏光特性測定部１７の測定結果から試料１６のレタデーションを算出する。さらに、含水率測定部８１で測定された含水率を厚み測定部８２で測定された厚み値で規格化し、あらかじめ求めておいた含水率とレタデーションの相関式を用いて、算出したレタデーションを補正する。算出したレタデーションに基づいて、工程条件にフィードバックする。 （もっと読む）

【課題】平面状の光学系の光学特性計測において、二次元での計測が可能であるうえに、計測精度の向上を実現することができる光学特性計測装置を提供する。
【解決手段】平面状の光学系１からの光を集光して所定方向へ反射する受光系４と、受光系４からの反射光を入力する光検出器５と、光検出器５の出力信号に基づいて光学系１の特性値を算出する演算器３を備え、受光系４が、個別に駆動可能な光反射素子Ｍを複数配列して成る反射体４Ｂを備え、演算器３が、光反射素子Ｍの駆動信号に正弦波を印加すると共に、光検出器５の出力信号に基づいてヘテロダイン方式により光学系１の特性値を算出する光学特性計測装置とすることで、二次元での計測が可能であるうえに、微弱な光でも高感度な計測を行うことができ、計測精度の向上を実現した。 （もっと読む）

【課題】点灯検査時に点灯不良が生じたとき、それがパネル不良に起因するものかコンタクト不良に起因するものかを容易に判断できるようにする。
【解決手段】検査対象板を点灯検査する検査装置である。この検査装置に、前記検査対象板の電極に直接接触するプローブを有する複数のプローブ組立体と、各プローブ組立体を支持するプローブベースとを備え、前記複数のプローブ組立体が、前記検査対象板に簡易コンタクトして簡易点灯検査を行う簡易コンタクト用プローブ組立体と、前記検査対象板にフルコンタクトして通常点灯検査を行うフルコンタクト用プローブ組立体とを備えた。 （もっと読む）

【課題】検査対象板の欠陥の検査において、検査時間の大幅な短縮化を図る。
【解決手段】複数の検査対象板を連続的に検査する検査部と、当該検査部を制御すると共に欠陥が見つかった場合に少なくともその欠陥の位置情報を蓄積する制御コンピュータと、前記欠陥情報をその欠陥を有する検査対象板の検査時に同時に表示する欠陥情報表示部とを備えて構成した。これにより、欠陥が見つかった場合に、少なくともその欠陥の位置情報をその欠陥を有する検査対象板の検査時に同時に表示して、その欠陥情報を基に次の検査対象板に対して同じ欠陥が発生すると予想し、そこに重点を置いて検査する。 （もっと読む）

【課題】垂直配向系の液晶パネルのギャップを色相方式によって高精度に検出する。
【解決手段】 光源２１と、前記光源からの光を偏光する第１の偏光板２２と、前記第１の偏光板からの偏光が入射される垂直配向系の液晶パネルの出射光路上に配置される第２の偏光板２５と、前記液晶パネルと前記第２の偏光板との間の前記液晶パネルの出射光路上に配置される少なくとも１つの位相差板２３，２４と、前記第２の偏光板を透過した光を検出する光検出部２６と、前記検出部が検出した光の色相によって前記液晶パネルのギャップを検出するギャップ検出部２７とを具備したことを特徴とする。 （もっと読む）

【課題】電気光学装置の検査時において電気光学装置の基板に接合されたフレキシブル基板に不良を生じさせることのない電気光学装置の検査装置を提供する。
【解決手段】本発明は、基板上に一端が接合され他端が前記基板から所定の方向へ延出するフレキシブル基板を具備してなる電気光学装置の検査装置において、前記電気光学装置を保持する保持部と、前記電気光学装置を駆動する制御装置と、前記フレキシブル基板の他端が挿抜される開口部を有し前記フレキシブル基板と前記制御装置とを電気的に接続するクリップコネクタと、前記クリップコネクタを保持するコネクタ保持部と、を配設し、前記クリップコネクタを、前記開口部が、前記保持部に保持された状態の前記電気光学装置から延出する前記フレキシブル基板の延出方向に対向するように前記コネクタ保持部により位置決めする。 （もっと読む）