【課題】コスト等をかけることなく、簡単な構成で複屈折特性を測定する。
【解決手段】複屈折測定装置１０は、光源１１、偏光子１５、位相子１６、回転検光子４０、受光器１８、コントローラ２０を有する。位相差フイルム１９は位相子１６と回転検光子４０との間に挿入される。コントローラ２０は、回転検光子４０の透過軸方位θとその透過軸方位のときに受光器１８で受光した光の強度とを対応付けて光強度データを作成する。光強度データ記憶部５０には、偏光子１５の透過軸方位がγ１であるときの第１光強度データと、透過軸方位がγ２（γ２はγ１と異なる方位）であるときの第２光強度データとが記憶されている。第１又は第２光強度データに基づき、位相差フイルム１９の主軸方位が求められるとともに、位相差フイルムの主軸方位、第１光強度データ、及び第２光強度データに基づいて、位相差フイルム１９のレタデーションが求められる。 （もっと読む）

【課題】検査に関する必要な情報を適切に得ることが可能な点灯検査方法を提供すること。
【解決手段】ＰＤＰ１の点灯検査工程を実施する点灯検査システム１００に、パネルＩＤ情報と、検査情報と、組立状態情報と、を有するパネル情報が格納された生産ラインデータベース１１０を設けた。そして、ＰＤＰ１のパネルＩＤが記録されたパネル情報の組立状態情報に基づいて、検査情報に基づく予め設定されている検査、または、予め設定されている検査と異なる条件の検査を実行する。このため、前工程までの組立状態に基づいて検査の条件を自動的に変更するので、前工程で検査した項目と同じ項目について前工程とは違う条件での検査結果を得ることがでる。したがって、従来のように点灯検査工程の前工程において検査済みの項目を省略する構成と比べて、検査に関する必要な情報を適切に得ることができる。 （もっと読む）

【課題】ディスプレイの表示画面に生じる輝度ムラを、表示画面の背景輝度や画面サイズの影響を考慮しつつ、しかも発生位置に応じて、人間の視覚特性に合わせて定量評価する。
【解決手段】ディスプレイの表示画面の輝度分布情報を取得し、この輝度分布情報と該輝度分布情報の背景輝度との差分から求めた輝度変化量に対する背景輝度との比を表すコントラスト画像を生成する。コントラスト画像を２次元フーリエ変換した２次元フーリエスペクトルに、背景輝度または表示画面のサイズの少なくともいずれかに応じて設定され人間の視覚特性に準じたコントラスト感度関数を乗算し、その結果を２次元フーリエ逆変換して輝度ムラ成分の強度が輝度情報に含まれる評価用２次元画像を生成する。この評価用２次元画像の輝度情報に基づいて輝度ムラを定量評価する。 （もっと読む）

【課題】従来のレーザー光を照射し、フラットディスプレイを形成するガラス基板の表面からの散乱光を観測し、異物を検出する方法ではガラス基板の裏側に付着する異物の検出は困難である。
【解決手段】ガラス基板１などの被検査対象物を搭載する吸着機能付作業台４と、その被検査対象物の表面とほぼ平行でその表面を照射するレーザー光を発生するレーザー光源２と、そのレーザー光のスポット形状を観測する受光器３とを設け、そのレーザー光のスポット形状の変化で被検査対象物の裏面に付着または存在する異物１０を検出することである。 （もっと読む）

【課題】
表示画像のギラツキによる輝度のばらつきを定量的に評価できるようにし、視覚的にも表現できるようにする。
【解決手段】
表示画像をCCDカメラにより取り込み、取り込んだ画像をフーリエ変換し、表示画像の画素により生ずる規則的な周期成分を除去した後、逆フーリエ変換を行うことを特徴とするギラツキの評価方法を提供する。 （もっと読む）

【課題】外観検査用照明装置及び外観検査装置において、収束光を用いて高精度な外観検査を実現すると共に、装置の小型化を図る。
【解決手段】被検査基板２１に対し照明光を照射する外観検査用照明装置１０において、散乱光ＳＬを発する面光源１１と、この面光源１１より発せれた散乱光ＳＬから略平行光ＰＬを抽出する平行光抽出部材１２と、この平行光抽出部材１２より抽出された略平行光ＰＬを集光する集光レンズ１３と、を備える構成とする。 （もっと読む）

【課題】液晶ディスプレイの輝度および色度の校正を行うために、それらを測定する液晶ディスプレイ用カラーセンサにおいて、前記校正を正確に行えるようにする。
【解決手段】センサ３ｂに、液晶ディスプレイ２に対向配置され、小型で安価な光学系を持たない広受光角のセンサ３ｂを用いるにあたって、インターフェイス１８を介して前記液晶ディスプレイ２側から階調情報を取得し、ＣＰＵ１７の演算・補正部１７ｄがセンサ３ｂの測定結果を前記階調情報に基づいて補正して、狭受光角のセンサに相当する輝度値および色度値を求める。したがって、受光角の広いセンサ３ｂを用いても、液晶特有の階調による視野角変化の影響を受けることなく、受光角の狭いセンサ、すなわち一般の色彩輝度計で測定したように正確に、液晶ディスプレイ２の輝度値および色度値を測定することができ、前記校正を正確に行うことができる。 （もっと読む）

【課題】 複雑な構造とすることなく、欠陥画素のアドレスを容易にかつ正確に求めることができるようにすることにある。
【解決手段】 表示用パネルの処理方法は、表示用パネルの目視点灯検査により見付けられた欠陥画素が属する前記表示用パネルの少なくとも４つの被撮影領域の少なくとも1つであってそれぞれが表示用パネルのＸ方向における端縁及びＹ方向における端縁を含む少なくとも４つの被撮影領域の少なくとも１つを撮影可能の箇所に撮影装置を移動させ、移動された箇所においてこれに対応する被撮影領域を撮影装置で撮影し、該撮影装置の出力信号を画像処理して該撮影装置による画像内のＸ及びＹ方向における端縁から欠陥画素までの座標値を求める。 （もっと読む）

【課題】液晶応答時間の測定領域において透過光強度の電圧依存性が非線形領域である場合にも、透過光強度の測定により液晶応答時間の厳密な測定をすることができる液晶応答時間測定装置を提供すること。
【解決手段】光ビームを出射するレーザー光源と、当該レーザー光源から出射された光ビームの直線偏光成分を透過し、被測定液晶素子に当該光ビームを供給する偏光子と、被測定液晶素子の光ビーム出射側に配置され、被測定液晶素子によって変換された光ビームの偏光状態の直線偏光成分を透過する検光子と、当該検光子を透過した光ビームの透過光強度を検出する受光素子とを有し、被測定液晶素子における液晶の応答時間を測定する液晶応答時間測定装置において、偏光子と被測定液晶素子の間、または被測定液晶素子と検光子の間のいずれかの位置に、被測定液晶素子の位相差に対してオフセット位相差を加えるための位相変調液晶素子を備える構成とした。 （もっと読む）

【課題】対象領域、特に横長の長方形状の対象領域の中央部で照度低下が生じることなく、対象領域に対して照度の均一性を実現し、外観検査を安定に実施することが可能な照明装置を得ることを目的とする。
【解決手段】本発明の照明装置１は、対象領域を照射するための照明装置１である。照明装置１は、対象領域を挟むように両側に配置された複数の照明２a〜２h，３a〜３hを備え、それぞれの側に配置された照明２a〜２h，３a〜３hは、ジグザグ形状に配列される。 （もっと読む）

【課題】平板状基板のストライプ状着色膜に生じる直線状微小明部を感度良く検査する検査装置を提供する。
【解決手段】ラインセンサカメラにより取得した画像データを反ストライプ方向に加算して輝度投影データを得、既輝度投影データ中の着目データＤ（ｘ）とその近傍データＤ（ｘ−ｍ）、Ｄ（ｘ＋ｍ）を用いて、Ｈ（ｘ）＝（（Ｄ（ｘ）−Ｄ（ｘ−ｍ））＊（Ｄ（ｘ）−Ｄ（ｘ＋ｍ））（Ｄ（ｘ）＞Ｄ（ｘ−ｍ）かつＤ（ｘ）＞Ｄ（ｘ＋ｍ）の場合）、Ｈ＝０（前記に該当しない場合）という評価値Ｈ（ｘ）を得て、あらかじめ設定した閾値Ｈｔｈに対してＨ（ｘ）＞Ｈｔｈが成立したときにこの座標ｘを輝度異常と判定する。 （もっと読む）

【課題】長期使用しなければ発生しない表示欠陥の検査にかかる時間を、短縮可能にし、早期発見により品質管理の向上と検査に関与するコスト低減を目的とする。
【解決手段】本発明に係る液晶パネル検査方法は、フレームごとに画素に印加する極性を反転させて表示を行う液晶表示装置における液晶パネルの表示欠陥を検査する液晶パネル検査方法であって、（ａ）液晶パネルの所定の表示エリアの複数の画素に印加する電界をフレームごとに変更する工程を備える。そして、（ｂ）工程（ａ）の後に、前記液晶パネルの表示欠陥を検査する工程を備える。工程（ａ）は、（ａ−１）奇数または偶数フレームのいずれか一方のフレームにおいて、所定の表示エリアの複数の画素に、＋極の電界を印加する工程を含む。そして、工程（ａ）は、フレームの他方のフレームにおいて、所定の表示エリアの複数の画素に、ゼロの電界を印加する工程を含む。 （もっと読む）

【課題】ディスプレイパネルの表示ムラの検査を迅速且つ正確に行う。
【解決手段】レンズ系と撮像素子とを具備した撮像手段により、ディスプレイパネルに表示された画像を撮影し、撮影した画像から前記ディスプレイパネルの表示ムラを検査する方法及び装置である。前記撮像手段の前記ディスプレイパネルに対する焦点合わせを行う焦点合わせ手段と、前記レンズ系と前記撮像素子との間の距離を調整して前記画像の光を分散させることにより前記ディスプレイパネルに表示された画像を撮影する時のモアレ発生を抑制する分散手段とを備えた。前記レンズ系と撮像素子との間には、光学フィルタを装着するフィルタ装着部を備えた。 （もっと読む）

【課題】ディスプレイパネルの点欠陥等の検査を確実に且つ正確に行う。
【解決手段】レンズ系と撮像素子とを具備した撮像手段によりディスプレイパネルに表示された画像を撮影し、撮影した画像から前記ディスプレイパネルの表示ムラを検査する、ディスプレイパネルの検査方法および検査装置である。前記撮像手段の前記ディスプレイパネルに対する焦点合わせを行う焦点合わせ処理と、前記レンズ系と前記撮像素子との間の距離を長くして前記ディスプレイパネルに表示された画像のマクロ撮影を可能とする接写処理とを備えた。前記レンズ系と撮像素子との間には、光学フィルタを装着するフィルタ装着部を備えた。 （もっと読む）

【課題】各表示素子と各画素との位置合わせを高精度で行うことなく、表示パネルの輝度分布データを簡易に取得できるようにする。
【解決手段】輝度測定装置は複数の表示素子が二次元格子状に配置された表示パネルの輝度を測定する。輝度測定装置は表示パネルの光学画像に応じた撮像信号を出力する撮像手段と、撮像手段から出力される撮像信号を用いて光学画像に応じた画像データを生成する画像データ生成手段と、画像データ生成手段により生成される画像データを用いて、表示パネルを構成する表示素子のうち同じタイミングに点灯する表示素子の個数と撮像手段の解像度とに応じて定められる測定領域内の輝度値を測定領域ごとに累積する累積手段とを有する。 （もっと読む）

【課題】表示装置の表示画素の中から動的な表示欠陥を有する表示画素を短時間で効率よく検出する。
【解決手段】本発明の検査制御装置７は、液晶表示パネルＰの第１方向に一直線に配列した表示画素列ごとに、各表示画素の輝度値を第１表示状態から第２表示状態へ変化させる点灯を、一定時間ごとに上記表示画素列を第１方向と垂直な第２方向に向かって切り換えながら行う表示制御部１１と、第１方向に一直線に配列した撮像素子にて上記表示画素列の各表示画素が上記第１表示状態から上記第２表示状態に遷移する様子を撮像する撮像装置２の撮像領域が、上記表示制御手段によって第２方向に向かって切り換えられる上記表示画素列に追従するように、撮像装置２を第２方向に沿って移動させるパネル走査制御部１３と、撮像装置２にて撮像された各表示画素の輝度値に基づいて動的な表示欠陥を有する表示画素を検出する欠陥検出部１５とを備えている。 （もっと読む）

【課題】液晶パネルなどの表示装置の欠陥評価を精度良く行うことができる表示欠陥評価装置を提供すること。
【解決手段】表示欠陥評価装置１は、ランプ１１と、ランプ１１の光を予め設定された比率で分離するビームスプリッタ１２と、分離された一方の光を検査用パネル２に入射するミラー１３と、疑似欠陥表示用パネル１５と、分離された他方の光を疑似欠陥表示用パネル１５に入射するミラー１４と、各パネル２，１５から出射された光を合成するプリズム１６と、プリズム１６から出射された光を投影する投影レンズ１７と、制御装置１８を備える。制御装置１８は、各パネル２，１５を制御するパネル制御手段１８１と、検査用パネルの欠陥候補の透過率を検査用パネル２の透過率と疑似欠陥表示用パネル１５の疑似欠陥２２の透過率とから求める透過率算出手段１８２と、前記欠陥候補の透過率に基づいて欠陥候補の欠陥を判定する欠陥判定手段１８３とを備える。 （もっと読む）

【課題】二次元画像の画質を適切に検査できる画質検査装置を提供する。
【解決手段】 ＣＣＤカメラ１から出力される画像データは、画質検査装置２に入力される。画質検査装置２は、検査対象となる二次元画像の検査領域に対して、窓関数を用いて検査領域の境界における不連続性の影響を抑制するような補正を行う補正手段２１と、補正手段２１により補正された後の画像について、視覚の感度の周波数特性と、検査対象となる二次元画像の周波数成分とを積算することで欠陥強度を算出する欠陥強度算出手段２２と、欠陥強度算出手段２２により算出された欠陥強度に基づいて上記二次元画像の画質を判定する判定手段２３と、を備える。 （もっと読む）

【課題】検査対象の発光素子に対する物理的な接触が無くても漏れ電流の有無のような不良の可否を判断することができる発光素子検査装置及びこれを用いた発光素子検査方法が提案される。
【解決手段】本発明の発光素子検査装置は、発光素子にＵＶを照射するＵＶ照射部、ＵＶが照射された発光素子のイメージを生成するイメージ生成部及び発光素子のイメージから発光素子の色相または強度情報を取得し色相または光強度情報に基づいて発光素子の不良の可否を判断する制御部を含む。 （もっと読む）

【課題】基板全体の画像を取得する必要がなく、透明導電体パターンの欠陥個所を短時間で検出できる導電体パターンの欠陥検査方法及び欠陥検査装置を提供する。
【解決手段】プローブ１５ａを奇数番目の導電体パターン３１の左端部に接続し、プローブ１５ｂを偶数番目の導電体プローブ３１の右端部に接続して、プローブ１５ａ，１５ｂ間に所定の電圧を印加する。導電体パターン３１に短絡欠陥がある場合は、その導電体パターン３１に電流が流れて発熱する。赤外線カメラ１２を導電体パターン３１に直交する方向に移動させて、発熱している導電体パターン３１を検出する。その後、発熱している導電体パターン３１に沿って赤外線カメラ３１を移動し、直線から外れた部分の発熱個所を検出し、その位置を短絡個所として記憶する。 （もっと読む）