説明

Fターム[3C081CA28]の内容

マイクロマシン (28,028) | プロセス (6,263) | 加工方法、手段 (4,742) | 付加加工 (2,027) | 成膜 (1,166) | PVD (329) | スパッタリング (222)

Fターム[3C081CA28]に分類される特許

41 - 60 / 222


【課題】 静電駆動式の光偏向装置において、可動部を支持する支持部材の剛性を低下させることが可能な技術を提供する。
【解決手段】 本発明は基部に設けられた固定電極と可動部に設けられた可動電極の間に電圧を印加することで可動部を揺動させて、可動部に設けられたミラーを揺動させる光偏向装置として具現化される。可動部は第1支持部材と第2支持部材によって支持されている。第1支持部材は絶縁体のみから構成されている。第2支持部材は導体とその周囲を覆う絶縁体から構成されている。その光偏向装置は、第2支持部材が第1支持部材に比べて長く形成されていることを特徴とする。 (もっと読む)


【課題】 電極を保護しながら、可動部の形状精度を向上することができる製造方法を提供する。
【解決手段】 本願の半導体装置の製造方法は、まず、第3層16の一部を除去して可動部16bを形成し、次いで、可動部16bを形成するために除去された部位の下方に位置する第2層と、形成された可動部16bの下方に位置する第2層14を除去する。次いで、可動部16bを形成する際に除去された部位に充填材24を埋め込む。次いで、充填材24を埋め込んだ状態で、半導体装置の表面に電極18を形成する。電極18を形成した後、埋め込んだ充填材24を除去する。 (もっと読む)


【課題】導通不良を起こしてしまうのを抑制することのできる静電容量式センサを得る。
【解決手段】静電容量式センサは、固定板2と半導体基板とを接合した際に、固定電極に形成された固定電極側金属接触部25と、半導体基板に形成された半導体基板側金属接触部13とが接触するようになっている。そして、固定電極側金属接触部25および半導体基板側金属接触部13の少なくとも互いに接触する部位をバリアメタル14で被覆するようにした。 (もっと読む)


【課題】パッドから取り出す電気信号のS/N比を向上させることが可能なMEMSデバイスを提供する。
【解決手段】SOI基板100を用いて形成されたミラー形成基板(デバイス本体)1を備える。ミラー形成基板1は、第1のシリコン層100aに形成され電気信号を生成する可動電極(機能部)22と、第1のシリコン層100a上に形成され電気信号を取り出すためのパッド13aと、第1のシリコン層100aにおいてパッド13aが形成された島状の導電部11acとを有する。導電部11acと第1のシリコン層100aにおける導電部11acの周辺部位とを絶縁分離するように第1のシリコン層100aに第1の分離部10aaが形成され、第2のシリコン層100bのうち導電部11acおよび絶縁層100cとともに寄生コンデンサを構成する部分の面積を低減するように第2のシリコン層100bに第2の分離部10bが形成されている。 (もっと読む)


【課題】エッチングパターンの形状または大きさによらずに、正確に制御された深さの凹部を形成することができる半導体基板のエッチング方法を提供すること。
【解決手段】半導体基板3をエッチングするに際し、まず、それぞれ独立に区画されたエッチング領域87に対向する位置に同一パターンの開口88を多数有するレジスト59をマスクとして、異方性の深掘り反応性イオンエッチングする。これにより、半導体基板3の表面部に、深さがほぼ等しく揃った凹部89が多数形成される。次いで、多数の凹部89を区画する半導体基板3の側壁90を、半導体基板3の表面に平行な横方向にエッチングして除去する。 (もっと読む)


【課題】実装時の素子の破損を回避し、素子の歩留りを向上させる。
【解決手段】マイクロミラー素子は、ミラー基板100と、ミラー基板100と対向して配置される電極基板200と、ミラー基板100に変位可能に形成された可動電極である板ばね103bと、電極基板200上に、板ばね103bとの間に空隙を設けた状態で対向して配置された断面略U字形状の駆動用固定電極201bと、駆動用固定電極201bの壁電極部の上に形成された絶縁層205bと、絶縁層205bの上に形成されたシールド電極206bとを備える。板ばね103bは、駆動用固定電極201bの底部と壁電極部と絶縁層205bとシールド電極206bとによって囲まれる空間の中に入るように配置される。 (もっと読む)


【課題】従来のセンサとは別の動作原理に基づくMEMS技術を応用した新たな高感度センサを提供する。
【解決手段】磁性膜センサは、磁気歪を発生する矩形状の磁性膜を有し、磁性膜に磁気歪を発生させる磁気歪構造を有している。磁気歪構造は、例えば磁性膜を湾曲させて磁気歪を発生させるように構成されている。また、磁気歪構造は、例えば表面に凹部が形成された凹部付絶縁層を設け、その凹部を跨ぐようにして磁性膜を形成することによって得られる。磁性膜は、GMR膜等に永久磁石バイアス層が積層され、その永久磁石バイアス層によって磁性膜の短手辺に沿った方向の磁界がGMR膜に加えられている。 (もっと読む)


【課題】気密性の高い封止構造で密閉空隙を封止して信頼性を向上させた電気機械変換装置及びその作製方法を提供する。
【解決手段】電気機械変換装置は、犠牲層を除去後に封止を行って形成された密閉空隙13を挟んで対向して設けられた電極などの第1の電磁要素12と第2の電磁要素15を有する。封止部は、常温で流動性を持たない第1の封止材16の上に、硬化された常温で流動性を持つ第2の封止材17を重ねることで形成される。 (もっと読む)


【課題】ギャップが形成される空間の内圧の上昇を抑制し、ギャップの精度を向上させることができる波長可変干渉フィルターの製造方法を提供すること。
【解決手段】波長可変干渉フィルターの製造方法は、第一基板100のチップ領域101に、静電ギャップ形成溝111と、静電ギャップ形成溝111からチップ領域101の外周縁に延びる配線形成溝113、114と、これらの配線用形成溝と第一基板100の外部とを連通する空気連通溝120、130と、を形成する第一基板溝形成工程と、前述の各種溝に固定ミラー16、第一電極141、および第一配線部141Aを形成する第一基板配線形成工程と、可動ミラー、第二電極、および第二配線部と、を備えた第二基板を形成する第二基板形成工程と、第一基板100および第二基板を貼り合わせる貼合工程と、を含む。 (もっと読む)


【課題】特性の良い機能素子を有する電子装置の製造方法を提供する。
【解決手段】本発明に係る電子装置100の製造方法は、基板10の上方に機能素子20を形成する工程と、機能素子20を覆う絶縁層30,32,34を形成する工程と、絶縁層30,32,34をエッチングして、機能素子20の周囲に空洞部1を形成する工程と、空洞部1を封止するように、空洞部1の上方に封止層50,54を形成する工程と、絶縁層30,32,34の上方に樹脂層60を形成する工程と、基板10の下方側から基板10をエッチングして、空洞部1と連通する開口部3を形成する工程と、空洞部1を封止するように、気相成長法によって、開口部3の内面に被覆層80を形成する工程と、を含む。 (もっと読む)


【課題】引出電極間の短絡による圧電アクチュエーターの駆動不良の減少した圧電アクチュエーターの製造方法を提供する。
【解決手段】圧電素子73の形成工程後、エッチング工程において、後に形成される引出電極90間の振動板53の少なくとも一部を、エッチング残り上電極膜83が除去され、振動板53が除去されない条件でエッチングする。圧電素子形成工程の際に、エッチング残り上電極膜83が引出電極90間に生じても、エッチング残り上電極膜83がエッチングによって分断され、エッチング残り上電極膜83に形成される引出電極90間の絶縁を保つことができる。したがって、引出電極90間の短絡によって生じる圧電アクチュエーターの駆動不良が減少した圧電アクチュエーターの製造方法を得ることができる。 (もっと読む)


【課題】安定した特性のヒューズ素子を有するMEMS装置を提供する。
【解決手段】MEMS装置100は、基板10と、基板10の上方に形成され、空洞部32を有する層間絶縁層30a,30b,30cと、空洞部32に収容された機能素子20と、空洞部32に収容され、機能素子20と電気的に接続されたヒューズ素子40と、を含む。 (もっと読む)


【課題】強誘電体膜の結晶性および性能の向上を図れるとともに低コスト化を図れ、しかも、製造工程の簡略化を図れる強誘電体デバイスの製造方法を提供する。
【解決手段】強誘電体膜24bとの格子整合性の良い第2の基板40の一表面側に所定パターンのシード層124cを形成し、第2の基板40の一表面側に強誘電体層124bを形成する。強誘電体層124c上に下部電極24aを形成し、下部電極24aと第1の基板40とを接合層51を介して接合する。所定波長のレーザ光LBを第2の基板40の他表面側から照射し強誘電体層124bのうちシード層124cに重なる強誘電体膜24bおよびシード層124cを第1の基板20の一表面側に転写する。レーザ光LBを、第2の基板40を透過し、且つ、シード層124cにより反射され、且つ、強誘電体層124bのうちシード層124cに重ならない第2の部分24bに吸収される波長の光とする。 (もっと読む)


【課題】強誘電体膜の結晶性および性能の向上を図れるとともに製造工程の簡略化を図れ、且つ、製造歩留まりの向上による低コスト化を図れる強誘電体デバイスの製造方法を提供する。
【解決手段】第2の基板40の一表面側にシード層124c、強誘電体層124bを順次形成する。強誘電体層124c上に下部電極24aを形成し、下部電極24aと第1の基板40とを接合層51を介して接合する。その後、レーザ光LBを第2の基板40の他表面側から照射し強誘電体層124bおよびシード層124cを第1の基板20の上記一表面側に転写する転写工程を行う。転写工程では、強誘電体層124cのうち強誘電体膜24bの所定パターンに対応する部分のみを転写するように設定した光強度分布PIのレーザ光LBを第2の基板40の上記他表面側から照射することにより、それぞれ強誘電体層124cの一部からなる強誘電体膜24bを転写する。 (もっと読む)



【課題】密着膜を備え、配向の揃った圧電体膜の製造方法を提供する。
【解決手段】(a)Si基板11上方に、酸化シリコンの絶縁膜12、Ti層14、その上にPt層16を堆積し、(b)Ti層14、Pt層16を堆積した基板11をプラズマ気相堆積装置に搬入し、(c)プラズマ気相堆積装置内において、基板11を不活性ガス雰囲気中で、圧電体膜堆積温度まで加熱し、(d)プラズマ気相堆積装置内において、加熱した基板11上に、プラズマ気相堆積により、酸化物圧電体膜18を堆積する。さらに圧電体膜18上にPt等の上部電極20が形成される。 (もっと読む)


【課題】電界シールド基板と板ばねとの衝突を防止し、素子の歩留りを向上させる。
【解決手段】MEMS素子は、ミラー基板100と、ミラー基板100と対向して配置される電極基板200と、ミラー基板100に接合される電界シールド基板300aと、ミラー基板100に対して変位可能に形成された可動電極である板ばね105aと、電極基板200上に形成された固定電極である板ばね駆動電極201aと、電界シールド基板300aのミラー基板100と対向する側の面上に形成され、ミラー基板100の開口部101に嵌挿されるシールド電極302とを備える。電界シールド基板300aの水平方向の大きさは、開口部101の水平方向の大きさよりも大きく、シールド電極302の厚さは、開口部101の深さと同じかあるいは開口部101の深さよりも薄い。 (もっと読む)


【課題】犠牲層を形成したときの可動部の反りをできるだけ少なくし、電極間ギャップなどの精度の向上を図ること。
【解決手段】キャビティ21が形成された第1の基板11aと、第1の基板におけるキャビティが形成された面側に接合され、キャビティに対応する位置に可動部KBを画定するスリット16が形成された第2の基板11cと、を備え、第2の基板における第1の基板に対向する表面には、可動部に対応する位置に選択的に熱酸化膜22が形成された、基板11を準備する工程と、可動部における熱酸化膜が形成された表面とは逆側の表面に第1の電極層12aを形成する工程と、第1の電極層および第2の基板上に犠牲層31を形成する工程と、犠牲層上に第2の電極層を形成する工程と、第2の電極層を形成した後に、犠牲層31および熱酸化膜22を除去する工程と、を有する。 (もっと読む)


【課題】圧電素子のヒステリシス特性のばらつきの少ない圧電アクチュエーターの製造方法を提供する。
【解決手段】上電極80とリード電極との密着性を高めるスパッタエッチングにおいて、上電極80の表面を、Arガス流量を60sccm以上で導入しながらスパッタエッチングすることにより、Arガスの導入によるArガスの流れによって、Arイオンの上電極80表面での滞留時間を短くできる。したがって、イオン化したArガスが表面に滞留することによる上電極80のチャージアップを抑えることができ、チャージアップによる圧電素子300への影響を少なくでき、圧電素子300の圧電体層70のヒステリシス特性のばらつきおよび変位特性のばらつきの少ない圧電アクチュエーターの製造方法を得ることができる。 (もっと読む)


【課題】基準圧室としての空洞を基板の内部に設けることにより、低コスト化かつ小型化を実現可能な圧力センサを提供すること。
【解決手段】この圧力センサ1は、シリコン基板2を備えている。シリコン基板2の内部には、シリコン基板2の主面に平行な方向に平たい扁平空間4が形成されており、この扁平空間4とシリコン基板2の表面21との間には貫通孔6が形成されている。貫通孔6にアルミニウム充填体8が充填されて埋め込まれることにより、扁平空間4は、基準圧室として密閉されている。そして、扁平空間4に対してシリコン基板2の表面21側には、シリコン基板2におけるその表面21と扁平空間4との間の部分(ダイヤフラム5)の歪み変形により電気抵抗が変化するピエゾ抵抗R1〜R4が形成されている。 (もっと読む)


41 - 60 / 222