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Fターム[4G077MB04]の内容

Fターム[4G077MB04]に分類される特許

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【課題】結晶成長又は凝固させたフッ化カルシウムの一部を除去することなく、製品(蛍石結晶)の透過率を高めることができる、新たな蛍石結晶の製造方法を提案する。
【解決手段】フッ化カルシウム粉末とスカベンジャーの混合物を溶融し、続いて冷却して凝固させて溶融凝固体Aを得、得られた溶融凝固体Aの全量を砕いて溶融凝固体破砕物とし、この溶融凝固体破砕物全量とスカベンジャーの混合物を溶融し、続いて冷却して凝固させて溶融凝固体Bを得る溶融凝固工程と、該溶融凝固工程で得られた溶融凝固体Bの全量を砕いて溶融凝固体破砕物とする破砕工程と、前記溶融凝固体破砕物を溶融させた後、冷却して結晶成長させて蛍石結晶を得る結晶育成工程と、結晶育成工程で得られた蛍石結晶を熱処理する熱処理工程と、を備えた蛍石結晶の製造方法を提案する。 (もっと読む)


【課題】 種結晶と結晶方位がそろった結晶を歩留りよく育成することができ、大型の結晶を効率的に育成する。
【解決手段】 一方向凝固法による結晶育成に用いる結晶育成用るつぼ30であって、結晶原料を収納し、かつ結晶を成長させる容器部分である結晶成長部32と、結晶成長部32とネック部38を介して連通して設けられた種子結晶40の収納部34とを備え、ネック部28は、種子結晶40の収納部34よりも細く形成されている。 (もっと読む)


【課題】簡素な製造工程及び設備によって、単一分極化された高品質なニオブ酸リチウム単結晶の製造方法を提供する。
【解決手段】垂直ブリッジマン法により単一分極化されたニオブ酸リチウム単結晶を製造する方法であって、育成炉10の内部空間11aにルツボ22を配置し、ルツボ22内に、ニオブ酸リチウムの単一分極化済みの種結晶a、及び原料bを収容し、育成炉10の温度制御により、育成炉10内にニオブ酸リチウムの融点以上となる高温部と該高温部よりも下方へ向かって徐々に温度が低くなり前記融点以下となる温度勾配部を形成し、前記高温部から前記温度勾配部へ向かってルツボ22を所定の速度で下降することで、原料bに対しルツボ外から電界を加えることなく、原料bを単結晶化するとともに単一分極化するようにした。 (もっと読む)


【課題】高いキャリア濃度を有し、かつ、高い結晶性を有するGaAs単結晶の製造方法およびGaAs単結晶ウェハを提供する。
【解決手段】種結晶10、不純物となるSi原料12およびGaAs原料14、固体の二酸化ケイ素(石英板)、ならびに酸化ホウ素原料18をるつぼ4内に収容した状態で縦型ボート法を行い、GaAs単結晶20を成長させる。成長前の加熱により石英板が融解し、原料溶融時点では既にGaAs融液15と液体B2O319との界面近傍に、極めてSiO2濃度の高い層(SiO2高濃度層17)が形成されるため、原料融解時から結晶成長時にわたって、ホウ素濃度を低く抑えることができる。 (もっと読む)


【課題】垂直ブリッジマン法による単結晶の成長装置で、簡便な方法で結晶に欠陥のない高品質な単結晶を安定して得ることができる構造の結晶製造装置を提供する。
【解決手段】単結晶3を成長させるルツボ1の下部を、支持して引き下げを行うための支持構造20が、ルツボの底面の外周部分に接する円筒状の支持管21と、支持管がルツボを設置する設置部の反対側の端部に底部を有し、底部に結合して支持管とルツボを支持して引き下げを行う支持部材と、支持管内部を遮蔽する遮蔽部材23とを有する構造とする。 (もっと読む)


【課題】 種結晶と結晶方位がそろった結晶を歩留りよく育成することができ、大型の結晶を効率的に育成することを可能にする。
【解決手段】 るつぼ10のテーパ収納部11bのテーパ面に接する面が、テーパ面と同一の傾斜角度を有するテーパ面に形成された接触面を備える種結晶20を使用し、るつぼ10に種結晶20を配置する際に、テーパ収納部11bのテーパ面に種結晶20の接触面を接触させて配置し、結晶原料を溶融した際に、融液がテーパ収納部11bと種結晶20との界面に流れ込むことを抑制して種結晶20から単結晶を成長させる。 (もっと読む)


【課題】転位を低減した半導体結晶を製造する、半導体結晶の製造方法を提供する。
【解決手段】半導体結晶の製造方法は、先端部6aと胴部6bとを有する縦型容器の先端部6aに種結晶7を配置する工程と、縦型容器の胴部6bに固体の原料9、10を配置する。原料9、10を加熱することにより原料9、10を溶融して、種結晶7上に原料融液を形成する工程と、原料融液を種結晶7側から凝固することにより、半導体結晶を成長する工程とを備え、原料融液を形成する工程では、種結晶7と接触する原料融液の温度と、原料9、10と対向する側の種結晶7の端部8の温度との差を30℃以下にする。半導体結晶の製造方法は、種結晶7の少なくとも一部を溶融する工程後に、原料9、10を加熱することにより原料9、10を溶融して、種結晶7上に原料融液を形成する工程を備えていてもよい。 (もっと読む)


【課題】溶液内のC溶解度を高めてSiC単結晶の成長速度を向上させると共に、単結晶の成長に伴うSiC成分の消費等による溶液の組成変動を抑制し、単結晶成長のための条件を安定させることができるSiC単結晶の製造方法を提供する。
【解決手段】黒鉛るつぼ10内の底部にSiC種結晶20を設置すると共に、るつぼ10内にSiとCとR(RはSc及びYを含む希土類元素から選ばれる1種以上)を含む溶液30を存在させ、溶液30を過冷却させて種結晶20上にSiC単結晶を成長させると共に、SiC単結晶を成長させながら黒鉛るつぼ10の上部から溶液30に粉末状もしくは粒状のSi及び/又はSiC原料41を添加する。 (もっと読む)


【課題】溶液内のC溶解度を高めてSiC単結晶の成長速度を向上させると共に、単結晶の成長に伴うSiC成分の消費等による溶液の組成変動を抑制し、単結晶成長のための条件を安定させることができるSiC単結晶の製造方法を提供する。
【解決手段】黒鉛るつぼ10内の底部にSiC種結晶20を設置すると共に、るつぼ10内にSiとCとX(XはSc及びYを除く遷移金属、Al、Ge及びSnから選ばれる1種以上)を含む溶液30を存在させ、溶液30を過冷却させて種結晶20上にSiC単結晶を成長させると共に、SiC単結晶を成長させながら黒鉛るつぼ10の上部から溶液30に粉末状もしくは粒状のSi及び/又はSiC原料41を添加する。 (もっと読む)


【課題】被加熱物を効率良く均等に加熱することができる新規な構造の発熱体及びこれを用いた結晶成長装置並びに気相成長装置を提供する。
【解決手段】発熱体1は、板状又は円筒状の抵抗体2にスリット3を切って発熱領域4を形成してなり、スリット3を、抵抗体2の表面に対し、斜め方向に穿っているものである。つまり、発熱体1は、板状又は筒状の抵抗体2と、抵抗体2の厚さ方向に貫通するように形成されたスリット3とを有し、スリット3が、厚さ方向に直交する抵抗体表面から、厚さ方向に対し傾斜又は屈曲して形成されている。 (もっと読む)


【課題】結晶成長過程における組成変化を抑制し、均一性の高い単結晶を製造することができる結晶成長方法を提供する
【解決手段】成長結晶19の組成と同一組成の原料棒21を、炉内に設置されたるつぼ11内の原料溶融体18の表面に接触させ、原料棒21と原料溶融体18との熱接触状態を維持する。単位時間あたりの成長結晶19の成長量に一致する単位時間あたりの供給量で、原料棒21から補充原料を原料溶融体18に供給する。原料棒21は、粒径を調整した結晶粒の集合体であり、原料棒21から成長結晶19への原料溶融体内の対流により、結晶粒が成長結晶19に到達するまでに溶融するように、結晶粒の粒径が決定されている。 (もっと読む)


【課題】転位を低減した結晶を成長できる、結晶成長容器および結晶製造方法を提供する。
【解決手段】結晶成長容器は、原料を加熱溶融した後、溶融した原料を一方向から凝固させることにより結晶を製造する結晶成長容器であって、先端部11と、胴部12とを備える。先端部11は、種結晶9を配置する。胴部12は、先端部11と接続され、かつ先端部11の径よりも大きな径を有するとともに、内部で原料8を加熱溶融する。先端部11の底面11aの厚みT11aは、先端部11の側面11bの厚みT11bよりも小さい。 (もっと読む)


【課題】単位面積あたりのエッチピット密度(EPD)で評価した結晶性の値が低く良好な結晶性を有するSiドープGaAs単結晶インゴット、およびその製造方法を提供する。
【解決手段】GaAs化合物原料を別の合成炉で合成し、当該原料中にSiドーパントを挟み込んで、Siドーパントを収納したGaAs化合物原料31Bとした。当該Siドーパントを挟み込む位置は、当該GaAs化合物原料を溶融したとき、その平均温度より低くなる位置とした。単結晶成長装置のるつぼに種結晶を挿入した後に、Siドーパントを収納したGaAs化合物原料31B、液体封止剤32をるつぼに投入し、単結晶成長装置1にセットして加熱溶融後、当該液体封止剤を攪拌しながら、縦型温度傾斜法により融液を固化、結晶成長させてSiドープGaAs単結晶インゴット33を得る。 (もっと読む)


【課題】キャリア濃度が低い領域において、転位密度を低減しつつ双晶欠陥の発生を抑制したInP単結晶およびその製造方法を提供する。
【解決手段】
InP単結晶1は、小径部10と、円錐部20と、直胴部30とを備えている。直胴部30は、キャリア濃度が4.0×1018cm−3以下である低キャリア濃度部31と、キャリア濃度が4.0×1018cm−3を超える高キャリア濃度部32とを含んでいる。そして、低キャリア濃度部31の成長方向に垂直な断面において、当該低キャリア濃度部31は、外周を含む領域に形成され、平均転位密度が1000cm−2以上である高転位密度領域31Bと、高転位密度領域31Bに取り囲まれるように形成され、平均転位密度が500cm−2以下の低転位密度領域31Aとを有している。 (もっと読む)


【課題】垂直ブリッジマン法による単結晶の成長装置において、簡便な方法で、高品質な単結晶を安定して得ることができる構造の結晶製造装置を提供する。
【解決手段】単結晶3を成長させるルツボ1の下部を、支持して引き下げを行うための支持部材10と、下方に向かって先細りする傾斜部を備え、傾斜部の下方部が支持部材10に取り付けられ、かつ上方部がルツボ1の底面に取り付けられている傾斜部材20から構成し、結晶3の中央部が上に凸となるように、ルツボ1の底面の温度分布を最適化する。 (もっと読む)


【課題】結晶方位のずれに起因する結晶欠陥の発生を防止することができるサファイア単結晶の製造装置を提供する。
【解決手段】サファイア単結晶の製造装置1は、支持部材3によって支持されたルツボ20内に種子結晶および原料を収納し、育成炉10内の筒状ヒーター14内に該ルツボ20を配置して筒状ヒーター14により加熱して原料および種子結晶の一部を融解して結晶化させるサファイア単結晶の製造装置において、カップ状をなす前記ルツボ20における所定の外周位置を円環状に冷却する冷却手段を備える。前記冷却手段はルツボ20の突周部21と当該突周部21に対して円環状に面接触して当該ルツボ20を支持する支持部材3とを備えて構成され、ルツボ20の下面と支持部3とは離間するように配設される。この構成により、突周部21から支持部材3へ熱が移動し、ルツボ20における所定の外周位置を円環状に冷却する。 (もっと読む)


【課題】
光デバイスなどの基板として用いられる単結晶を製造する過程で、結晶成長後のアニールで結晶内の酸素欠損が回復でき、結晶にクラックが発生しない結晶成長装置およびその方法を提供する。
【解決手段】
結晶を成長する雰囲気として、酸素分圧が10Pa〜1kPaとなるようにすることで、結晶成長後の酸素雰囲気でのアニールで回復できる酸素欠損で、クラックの発生がない単結晶が得られる。 (もっと読む)


【課題】生体との適合性に優れると共に、その使用部位、方向に応じた最適な強度、耐食性、耐摩耗性などの諸特性を十分に発揮することができるインプラント部材用Co−Cr系合金を提供する。
【解決手段】ブリッジマン法を用いたインプラント部材用Co−Cr系合金単結晶の製造方法であって、所定の組成のCo−Cr系合金を1500〜2050℃の温度で溶融し、温度勾配0.5℃/mm以上の条件の下、成長速度1.0〜500mm/hで結晶成長を行う。さらに、特定の方向に沿った面欠陥状マルテンサイト相を導入する。 (もっと読む)


【課題】大口径で低転位密度のIII−V族化合物半導体単結晶を提供する。
【解決手段】n型ヒ化ガリウム基板は平均転位密度が30cm-2未満であってシリコン濃度が5×1016cm-3以上で5×1017cm-3未満であり、半絶縁性ヒ化ガリウム基板は平均転位密度が300cm-2未満であってシリコン濃度が5×1015cm-3未満でありかつ比抵抗が1×103Ωcm以上であり、n型リン化インジウム基板は平均転位密度が50cm-2未満であって硫黄濃度が1×1017cm-3以上で3×1018cm-3未満であり、n型リン化インジウム基板は平均転位密度が300cm-2未満であって錫濃度が1×1017cm-3以上で5×1018cm-3未満であり、半絶縁性リン化インジウム基板は平均転位密度が300cm-2未満であって比抵抗が1×103Ωcm以上である。 (もっと読む)


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