説明

Fターム[4G077TA04]の内容

結晶、結晶のための後処理 (61,211) | CVD (1,448) | 成長結晶の形状(例;塊状) (900) | 基板上に成長 (669)

Fターム[4G077TA04]に分類される特許

121 - 140 / 669


【課題】 窒化物半導体のエピタキシャル成長中における、種基板の裏主表面及び側面への窒化物半導体の成長を抑制し、スライス時の基準面を確保することができる窒化物半導体自立基板の製造方法を提供する。
【解決手段】 種基板となる窒化物半導体自立基板を準備する工程と、前記種基板の裏主表面全体及び側面の少なくとも一部にSiO又はSiからなる被膜を形成する工程と、前記種基板の表主表面上に、前記種基板と同種の窒化物半導体をエピタキシャル成長する工程と、前記エピタキシャル成長を行ったエピタキシャル成長基板の前記被膜上に析出した堆積物及び前記被膜を除去する工程と、前記エピタキシャル成長基板を、前記被膜を除去した主表面を基準面として、平行にスライスして2分割する工程とを含み、1枚の種基板から2枚の窒化物半導体自立基板を製造する窒化物半導体自立基板の製造方法。 (もっと読む)


【課題】室温(300K)以上において正孔濃度が1.0×1015cm‐3以上で、かつ、ドーパント原子濃度が1.0×1021cm‐3以下である実用的なp型ダイヤモンド半導体デバイスとその製造方法を提供すること。
【解決手段】単結晶ダイヤモンド基板1−1の上に形成された単結晶ダイヤモンド薄膜1−2の中には、二次元の正孔または電子チャンネル1−3が形成される。基板1−1の面方位と基板1−1の結晶軸「001」方向との成す角度をαs、ダイヤモンド薄膜1−2の面方位と単結晶ダイヤモンド薄膜1−2の結晶軸「001」方向との成す角度をαd、チャンネル1−3の面方位とダイヤモンド薄膜1−2の結晶軸「001」方向との成す角度をαcとする。単結晶ダイヤモンド薄膜1−2の表面上には、ソース電極1−4、ゲート電極1−5、ドレイン電極1−6が形成される。 (もっと読む)


【課題】基板上に成長結晶層の膜厚均一性を向上させることができ、歩留まりが高い気相成長装置を提供する。
【解決手段】基板15を支持する底面サセプタ部14aと、サセプタ14a,bの上面に沿って流れる材料ガス流を供給するノズル11と、を含む。サセプタ14a,bは、それぞれが基板と同一材料からなる、底面サセプタ部14aの上面に基板に嵌合する凹状の基板保持部を画定する外周サセプタ部14bとサセプタ14a,bの裏面を画定する底面サセプタ部14aとから構成されていること、外周サセプタ部14bは、基板15の上面と同一平面となる基板保持部を囲む上面を有しかつ、基板保持部を囲む上面が基板の上面の結晶面方位と同一の結晶面方位を有する。 (もっと読む)


【課題】所望の比抵抗を有する導電性III族窒化物単結晶基板を低コストで製造することができる導電性III族窒化物単結晶基板の製造方法を提供する。
【解決手段】導電性III族窒化物単結晶基板の製造方法は、GaClガス、NHガス、及びN又はArにより所定の濃度に希釈されたSiHClガスをGaN単結晶基板に供給し、450μm/hourより大きく2mm/hour以下の範囲の成長速度でGaN単結晶基板上にGaN単結晶を成長させると共に、SiHClガスが所定の濃度に希釈されたことによるNHガスとの反応の抑制により、GaN単結晶の比抵抗が1×10−3Ωcm以上1×10−2Ωcm以下となるようにSiHClガスに含まれるSiがGaN単結晶にドーピングされることを含む。 (もっと読む)


【課題】ウェーハ面内全域にて凹凸加工された構造を埋め込み成長可能であり、かつ、凹凸形状によらない安定した埋め込み平坦化が可能なIII−V族化合物半導体の気相成長方法を提供する。
【解決手段】III−V族化合物半導体基板の表面に形成された規則的な凹凸を有する四元系III−V族化合物半導体層の上に、有機金属気相成長法を用いて、上記凹凸の熱変形を抑制する保護膜となるIII−V族化合物半導体層を、第一の成長温度で所定の膜厚となるまでエピタキシャル成長させた後、上記第一の成長温度よりも高い第二の成長温度で連続して同一組成の半導体層を、トータルの厚さが上記凹凸の高さよりも大きくなるまで成長させるようにした。 (もっと読む)


【課題】多層膜の成膜により生じた反りを矯正すること。
【解決手段】単結晶基板20と、単結晶基板20の片面に形成された2つ以上の層を有しかつ圧縮応力を有する多層膜30とを含み、単結晶基板20をその厚み方向において2等分して得られる2つの領域20U、20Dのうち、少なくとも単結晶基板20の多層膜30が形成された面側と反対側の面側の領域20D内に、熱変性層22が設けられている多層膜付き単結晶基板、その製造方法および当該製造方法を用いた素子製造方法 (もっと読む)


【課題】複数枚の基板に不純物が均一にドーピングされた炭化珪素膜を成膜することができる半導体製造装置及び基板の製造方法及び基板処理装置を提供する
【解決手段】反応室内に延在されて設けられる第1のガス供給ノズル60及び第2のガス供給ノズル70と、第1のガス供給ノズルの基板の主面と平行であって、第2のガス供給ノズルの方向に1以上分岐され1以上の第1のガス供給口68を有する第1の分岐ノズルと、第2のガス供給ノズルの基板の主面と平行であって、第1のガス供給ノズルの方向に1以上分岐され、1以上の第2のガス供給口72を有する第2の分岐ノズルとを備え、第1のガス供給口と第2のガス供給口とが基板の積層方向に隣接するように設けられた基板処理装置によって課題を解決する。 (もっと読む)


【課題】ハイドライド気相成長法による窒化物半導体の製造において、繰り返して使用しても白濁しにくくて、得られる窒化物半導体のSiキャリア濃度も安定している石英製の窒化物半導体製造装置を提供する。
【解決手段】窒化物半導体を製造する際に装置内に導入する材料またはこれらの材料の混合物の少なくとも一方が接触する面の、一部または全部が合成石英ガラスで構成されていることを特徴とする窒化物半導体製造装置であって、たとえば、前記材料のうち、窒化物半導体の原料となる材料や、反応することによって窒化物半導体の原料を生成しうる反応性物質と接触する面の一部または全部に合成石英ガラスを使用することが好ましく、GaClなどのIII族ハロゲン化物やHClと接触する面に合成石英ガラスを使用することがより好ましい。 (もっと読む)


【課題】
基板上に成長結晶層の膜厚均一性を向上させることができ、歩留まりが高い気相成長装置を提供することを目的とする。
【解決手段】
気相成長装置は、その中心に基板を担持して基板を加熱および回転するサセプタと、サセプタの周囲に位置し、基板に水平に材料ガスを誘導するフロー補助板と、不活性ガスまたは水素を、基板の法線方向から40°まで傾けた方向の範囲の角度で、基板の面積より広い面積で、基板に吹付ける押さえガス噴出器と、そのノズル幅が基板の直径の1/2〜1/1の幅であり、ノズル先端がフロー補助板上に位置し、基板上に沿って材料ガスの層流を水平に供給する材料ガスノズルと、を備え、押さえガス噴出器の噴出口から供給するガス流速を材料ガスノズルから供給するガス流速で除した比率が0.004乃至0.13の範囲内である。 (もっと読む)


【目的】
シングルドメインの高品質且つ平坦な結晶層を成長できるフローチャネル方式のMOCVD装置を提供する。
【解決手段】
基板と平行に基板側から不活性ガスを噴出する第1のチャネル、材料ガスを噴出する第2のチャネル及び不活性ガスを噴出する第3のチャネルがこの順で層状に構成されたノズルを備え、第2のチャネルには、酸素含有化合物を噴出する第1のサブチャネル及び有機金属化合物を噴出する第2のサブチャネルが基板と平行方向に交互に並んで配置され、ノズルから噴出されたガスは、少なくとも基板端まで当該ノズル端から延長された天板および底板で構成されたフローチャネルで誘導される。 (もっと読む)


【課題】 大粒で結晶性の良好な窒化アルミニウム単結晶を製造する方法を提供すること。
【解決手段】 本発明に係る窒化アルミニウム単結晶の製造方法は、アルミニウムガスまたはアルミニウム酸化物ガスを発生する原料ガス発生用基板と、
炭素成形体と、
窒化アルミニウム単結晶析出用の種結晶との存在下に窒素ガスを流通して、加熱環境下で窒化アルミニウム単結晶を成長させるに際して、
原料ガス発生用基板上に、炭素成形体を窒素ガス流通方向に対してほぼ平行に間隔を空けて配置し、
窒素ガス流通方向に対して上流側に原料ガス発生用基板を配置し、下流側に窒化アルミニウム単結晶析出用の種結晶を配置して、該種結晶に窒化アルミニウム単結晶を成長させることを特徴としている。 (もっと読む)


【課題】エピタキシャル成長用基板上に直接GaN系半導体厚膜層を成長させるGaN系半導体基板の製造方法により、GaN系半導体基板を生産性よく製造できる技術を提供する。
【解決手段】900℃〜1050℃の成長温度で窒化物系化合物半導体層を直接エピタキシャル成長させる際に、成長温度までの昇温プロセスにおいて表面粗さが10nmを超えて劣化しないエピタキシャル成長用基板を用いる。
具体的には、1200℃以上1400℃以下で5〜20時間保持するインゴットアニール処理を施されたNGO基板を用いる。 (もっと読む)



【課題】
基板上に成長結晶層の膜厚均一性を向上させることができ、歩留まりが高い気相成長装置を提供することを目的とする。
【解決手段】
気相成長装置は、その中心に成長用基板を担持して成長用基板を加熱および回転するサセプタと、サセプタの少なくても材料ガス供給側の半分を矩形に囲む、サセプタと同じ熱伝導率を有する素材からなる不動の受熱板と、周囲から受熱板を固定し、成長用基板に水平に材料ガスを誘導する不動のフロー補助板と、その開口する先端がフロー補助板上に位置し受熱板の端部と略平行にかつ成長用基板の直径よりも幅広に形成され、成長用基板の全面に沿って材料ガスの層流を水平に供給する材料ガスノズルと、その材料ガスノズル側の縁部が受熱板の端部に略平行に形成され、その全面が直上のサセプタと受熱板の全面に対向してサセプタと受熱板を均一に加熱する矩形の加熱器と、成長用基板とサセプタと受熱板の全面に向けて材料ガスノズルよりも幅広の領域に押さえガスを供給する押さえガス噴出器と、を備える。 (もっと読む)


【課題】気相成長装置の成長室内の基板以外の部分へのGa含有窒化物の随伴的な付着、特に厚膜形成を行いたい場合の当該Ga含有窒化物の随伴的な付着を防止することにより当該付着による様々な問題を解消し、且つ基板上へのGa含有窒化物半導体の成長が阻害されることなく、生産性が高いGa含有窒化物半導体の製造方法を提供する。
【解決手段】ガリウム化合物を含む第一ガスと、窒素化合物を含む第二ガスを、気相成長装置の成長室内へ供給して、成長室内に設置した基板上にGa含有窒化物半導体を成長させるGa含有窒化物半導体の製造方法であって、第一ガス及び第二ガスを成長室内へ供給している期間において、平均の成長速度が66μm/h以上となるように、特定の供給量となるHClガスを含む第三ガスを前記第一ガスの供給口とは別の供給口から前記成長室内へ供給することを特徴とするGa含有窒化物半導体の製造方法。 (もっと読む)


【課題】 厚み分布が小さく、温度変化による転位および不純物が少ない高品質な単結晶体を提供する。
【解決手段】 単結晶を形成させるための主面が水平となるように設けられた種基板を、回転軸が鉛直方向となるように回転させる工程と、前記種基板に向かって開口したガス供給口を先端に有し、同軸構造の外筒部と内筒部とから構成されたガス供給管の前記ガス供給口において、前記内筒部から3族元素ガスまたは5族元素ガスのいずれか一方を前記種基板に直接供給させ、前記内筒部と前記外筒部との間から3族元素ガスまたは5族元素ガスの他方のガスを、前記内筒部からのガス供給速度よりも遅いガス供給速度にて、前記種基板に直接供給させる工程と、を具備する。 (もっと読む)


【課題】 本発明は、リン原子がドープされたn型(100)面方位ダイヤモンド半導体単結晶膜を備えた(100)面方位を有するダイヤモンド半導体デバイスを提供することを課題とする。
【解決手段】 (100)面から10度以下のオフ角を持ち、エピタキシャル成長させるためのダイヤモンド基板と、前記基板上にリンをドープしてエピタキシャル成長させて形成したn型ダイヤモンド半導体単結晶膜とを備え、前記n型ダイヤモンド半導体単結晶膜は、前記基板と同じオフ角ならびに(100)面方位を有することを特徴とするダイヤモンド半導体デバイス。 (もっと読む)


【課題】化学蒸着(CVD)による大面積の単結晶ダイヤモンドプレートの製造方法を提供する。
【解決手段】化学蒸着によりダイヤモンド基体上にホモエピタキシャル成長したダイヤモンドを、ダイヤモンド成長が起こった基体の表面を横切って切り離すことにより得られる単結晶ダイヤモンドプレートであって、それの向かい合う側に主表面を有し且つそれら主表面と交差する転位を有している該ダイヤモンドプレートにおいて、主表面と交差する前記転位の密度が、50/mmを超えておらず、そして、少なくとも1つの長さ寸法が10mmを超えている (もっと読む)


【課題】結晶性を良好に維持するとともに、成長させる結晶の面積を大きくする結晶成長方法、結晶基板、および半導体デバイスを提供する。
【解決手段】結晶成長方法によれば、複数の種基板10を、種基板10の成長する面が{001}面となるように種基板10の側部11側にずらして配置する配置工程と、ハイドライド気相成長法により、複数の種基板10の各々の表面12上にAlxInyGa(1-x-y)N(0≦x≦1、0≦y≦1、x+y≦1)結晶20を成長させる成長工程とを備えている。そして、成長工程では、複数の種基板10の各々の表面12上に成長した結晶20の各々が一体化するように1100℃を超えて1300℃以下の温度で成長させることを特徴としている。 (もっと読む)


【課題】 窒化物半導体層の成長方法、及びそれにより形成される窒化物半導体基板を提供する。
【解決手段】 基板を準備し、該基板上に窒化物半導体ドットを形成し、窒化物半導体ドット上に窒化物半導体層を成長させる窒化物半導体層の成長方法である。このように成長された窒化物半導体層を基板から分離して、窒化物半導体基板として使用できる。 (もっと読む)


121 - 140 / 669