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Fターム[4K030AA04]の内容

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Fターム[4K030AA04]に分類される特許

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アモルファス炭素材料を堆積するための方法が提供される。一態様では、本発明は、処理チャンバに基板を位置決めするステップと、該処理チャンバに処理ガスを導入するステップであって、該処理ガスがキャリアガス、水素および1つ以上の前駆体化合物を含むステップと、二重周波数RF源から電力を印加することによって該処理ガスのプラズマを生成するステップと、該基板上にアモルファス炭素層を堆積するステップとを含む基板処理方法を提供する。 (もっと読む)


原料ガスを扱うガス製造設備、並びに、ガス供給容器に起因する原料ガスの汚染を防止する。 反応性の高い原料ガス、特に、フッ素化炭化水素によるガス製造設備及び供給容器における接ガス表面の表面粗さを中心平均粗さRaで1μm以下にする。表面粗さを制御された接ガス表面には、酸化クロム、酸化アルミニウム、酸化イットリウム、酸化マグネシウム等の酸化性不働態膜が形成されることが好ましい。 (もっと読む)


本発明は、薄い膜厚でも高い表面凹凸を有する透明導電膜を有する透明基体を提供する。本発明の製造方法は、透明基体上に金属化合物、酸化原料および塩化水素を含有する原料ガスを供給し、熱分解酸化法によって透明基体上に結晶性金属酸化物を主成分とする透明導電膜を形成する工程を含み、上記工程が、原料ガスにおける金属化合物に対する塩化水素のモル比が0.5〜5である第1工程と、上記モル比が2〜10であって第1工程における上記モル比より大きい第2工程とを、この順に含む。本発明によれば、透明導電膜の厚さが300nm〜750nmで、ヘイズ率が15%以上である透明導電膜付き透明基体を提供できる。
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超臨界流体を用いて前駆体を反応室中へ流入させる方法を提供する。いくつかの態様ではALD処理中に超臨界流体を用いて少なくとも1種の前駆体を反応室中へ流入させ、また特定の態様においてALD処理中に超臨界流体を用いて複数の前駆体を反応室中へ流入させる。本発明を用いて、例えば金属酸化物、金属窒化物及び金属から成る材料等の金属含有材料を含めた種々材料を製造する。反応室中への金属含有前駆体の流入に用いられる超臨界流体を用いて金属酸化物を製造し、次いで前駆体を用いて基板表面上へ金属含有層を形成させる。次いで金損含有層を酸素と反応させて前記層中の金属の少なくとも一部を金属酸化物へ変換させる。

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処理システム(100)は、基板ホルダ(130)と電極(125)とを有する処理チャンバ(120)を含む。処理システムは、圧力制御システムとガス供給系とモニタ装置(160)とを含む。電極(125)には、単一可変素子を有する整合回路(115)を介して、マルチ周波数RF電源(110)が接続される。マルチ周波数RF電源は、プラズマを点火するように第1の周波数に設定され、プラズマを維持するように第2の周波数に設定される。 (もっと読む)


【課題】 調整可能な光学的性質およびエッチング特性を有する材料を堆積させる方法と装置の提供。
【解決手段】 プラズマ増強化学蒸着によって基板に調整可能な光学的およびエッチング耐性特性を有する膜を堆積させる方法およびシステムに関するものである。チャンバは、プラズマソースと、RF電源に結合された基板ホルダとを有する。基板は、基板ホルダに配置される。TERA層は、基板に堆積される。TERA層の少なくとも一部分の堆積速度が、ホルダの基板にRF電力が印加されていないときより早くなるように、RF電源によって提供されるRF電力は、選択される。 (もっと読む)


1以上の物質層のバリヤ層を原子層堆積により堆積させるために基板を処理する方法が提供される。一態様においては、金属含有化合物の1以上のパルスと窒素含有化合物の1以上のパルスを交互に導入することにより基板表面の少なくとも一部上に金属窒化物バリヤ層を堆積させるステップと、金属含有化合物の1以上のパルスと還元剤の1以上のパルスを交互に導入することにより金属窒化物バリヤ層の少なくとも一部上に金属バリヤ層を堆積させるステップとを含む基板を処理する方法が提供される。金属窒化物バリヤ層及び/又は金属バリヤ層の堆積前に基板表面上で浸漬プロセスが行われてもよい。 (もっと読む)


【課題】成膜装置において反応容器内に付着した薄膜をフッ素を含むクリーニングガスでクリーニングするにあたり、その後ウエハに対して成膜処理をおこなったときに薄膜へのフッ素の混入を抑えること。
【解決手段】反応容器内にクリーニングガスを供給しながら反応容器内の温度を検出し、クリーニングガスを供給する前の反応容器内の温度をT0とすると、温度検出値がピーク値Tpに達したとき、あるいはその後T0+0.5(Tp−T0)の値になるまでの間にクリーニングガスの供給を止める。この方法は温度検出値と設定値との比較により実施してもよいが、クリーニングガスの供給を開始してから設定温度になるまでの時間を予め求め、経過時間を管理することによりクリーニングガスの供給を止めるようにしてもよい。 (もっと読む)


【課題】 半導体装置の層間絶縁膜などとして有用な低誘電率の膜を形成する方法と、この方法により形成される膜を提供すること。
【解決手段】 基材上に膜を成長させるのに十分な化学気相成長条件下で、シリルエーテル、シリルエーテルオリゴマー又は1以上の反応性基を有する有機ケイ素化合物を含む、有機ケイ素前駆物質を反応させて、約3.5以下の誘電率を有する層間絶縁膜を形成する。 (もっと読む)


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