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Fターム[4K030JA03]の内容

CVD (106,390) | 処理条件 (6,571) | 距離、間隔 (355)

Fターム[4K030JA03]に分類される特許

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【課題】 電極間隔を一定に保つことができる薄膜形成装置を提供する。
【解決手段】 プラズマCVD装置10は、上部電極13と下部電極14とは、鉛直方向Yに関して、対向して設けられ、支持リフトベース18は、下部電極14を支持し、下部電極14が間隔調整ストッパ19に当接して、下部電極14の上方Y1への変位を禁止する移動禁止位置と、間隔調整ストッパ19から離間して下部電極14の上方Y1への変位を許容する移動許容位置とにわたって変位自在であり、さらに支持リフトベース18は、ばね部材31を含んで構成される。 (もっと読む)


【課題】基板に成長した薄膜と反り防止部材上に成長した薄膜とがつながっても、両者の間に電流が流れることのない成膜装置を実現する。
【解決手段】真空中でガラス基板1上に成膜材料を堆積させて薄膜を形成する成膜装置であって、ガラス基板1を保持する基板ホルダ3と、基板ホルダ3に保持されたガラス基板1の周縁に、10mm未満の間隔で対向する枠状の反り防止部材4とを有する。反り防止部材4は電気的にフローティング状態にある。 (もっと読む)


【課題】異常放電を起こさずに効率よくマイクロ波とガスを処理容器内に導入して、特性の安定したプラズマを生成し、プロセス性能及び装置性能を向上させる。
【解決手段】チャンバ10の天井面には、ラジアルラインスロットアンテナ55を構成するマイクロ波導入用の石英板52が気密に取り付けられている。マイクロ波発生器60より出力されたマイクロ波は、導波管62、導波管−同軸管変換器64及び同軸管66を伝播して、アンテナ55よりチャンバ10内に導入される。処理ガス供給源82より所定の圧力で送出された処理ガスは、第1ガス供給管84、同軸管66及びノズル部110の各ガス流路を順に流れてインジェクタ部110先端の吐出口110aから吐出され、プラズマ生成空間へ拡散する。そして、石英板52の下面に沿って伝播する表面波から放射されるマイクロ波電力によってガス粒子が電離し、表面励起のプラズマが生成される。 (もっと読む)


【課題】大面積の基板を均一的に製膜するプラズマ発生装置およびこれを用いた薄膜形成装置を提供することを目的とする。
【解決手段】プラズマを利用して基板の表面に薄膜を形成する薄膜形成装置であって、前記基板の表面に対向して配置され、互いに所定の間隔をおいて配置される複数のカソード部と、前記基板の表面に対向して配置されるとともに、該カソード部間に少なくとも一つ配されるアノード部と、前記カソード部および前記アノード部と前記基板を介して反対側に配置され、前記カソードとの間および前記アノードとの間にプラズマを発生させるための基板支持部材と、前記カソード部に高周波電圧を供給する少なくとも1つの高周波電源とを備え、前記アノード部は少なくとも1つのカソード部と対をなして配置され、更に、対をなして配置された前記カソード部と前記アノード部との間の距離が、両者間で放電が発生しない距離であり、かつ、いずれも略等しく設定されていることを特徴とする。 (もっと読む)


【課題】反応性ガスの利用効率が高く、基板搭載面における処理の均一性が高い基板処理装置、基板処理方法及び半導体装置の製造方法を提供する。
【解決手段】CVD装置1において、中心軸Cが延びる方向から見て、反応性ガス整流板5とパージガス整流板7との境界を、サセプタ10の基板搭載面10aの内部に配置する。そして、反応性ガス整流板5と基板搭載面10aとの間の距離Lを、パージガス整流板7と基板搭載面10aとの間の距離Lよりも大きくする。 (もっと読む)


【要 約】
【課題】膜厚分布が均一で、成膜速度が速い成膜装置を提供する。
【解決手段】接地電位の真空槽11の底壁上に、真空槽11から絶縁された走行軌道21を敷設し、その上に基板保持パネル22を立設させる。基板保持パネル22の上部に接続部材23を取り付け、基板保持パネル22の両面に第一、第二の成膜対象物14a、14bを配置し、基板保持パネル22を走行させながら接続部材23を介して基板保持パネル22に交流電圧を印加し、基板保持パネル22の両側に位置するシャワーヘッド16a、16bから噴出される原料ガスをプラズマ化し、薄膜を形成する。基板保持パネル22側に交流電圧を印加するので、プラズマは第一、第二の成膜対象物14a、14b表面近傍に形成され、成膜速度が速い。印加する交流電圧を低周波にすると、電極間距離を広げることができるので、走行レールのガタツキによる電極間距離変動による影響が低下する。 (もっと読む)


【課題】気相原料を使った金属膜の成膜技術であって、半導体ウェハ周辺部への金属膜の堆積を確実に抑制できる技術を提供する。
【解決手段】被処理基板表面に金属カルボニル原料の気相分子を供給し、前記被処理基板表面近傍において分解させることにより、前記被処理基板表面に金属膜21を堆積する成膜方法において、前記処理基板表面に金属層を堆積する際に、前記被処理基板の外周部に隣接する領域において前記金属カルボニル原料を優先的に分解させ、前記被処理基板外周部近傍において、雰囲気中のCO濃度を局所的に増大させ、前記外周部への金属膜の堆積を抑制する。 (もっと読む)


【課題】CNT成長プロセスにおいて発生するイオン種を遮蔽する部材からのエッチング生成物をなくしたリモートプラズマCVD装置及びCNT成長方法の提供。
【解決手段】リモートプラズマCVD装置1において、処理基板Sがプラズマに曝されないように、プラズマ発生領域Pと処理基板Sとを離間すると共に、プラズマ発生領域Pと基板ステージ3との間に、Mo、Ti、W及びWCから選ばれた物質で構成されているメッシュ状の遮蔽部材5を設ける。 (もっと読む)


【課題】 製膜速度を増加させてもSiH/SiH比が高くならず、膜質の悪化を防いで高い生産性を得ることができる真空処理方法及び真空処理装置を提供すること。
【解決手段】 減圧環境とされる製膜室6内に設置された基板8を均熱板(加熱手段)5によって加熱した状態にし、前記基板8に対向して配置された放電電極3に対して給電することにより基板8へ製膜を施す真空処理方法において、基板8と放電電極3の温度差を30℃以下とした状態で製膜する。さらに、基板8と放電電極3間を7.5mm以下として製膜を行なってもよい。 (もっと読む)


【課題】 高速スイッチングバルブを用いずにかつ高い生産性で、ALD法を利用することができる成膜装置および成膜方法を提供すること。
【解決手段】チャンバー11内に、複数の基板Wを支持する基板支持部材12と、TiClを吐出する第1の処理ガス吐出ノズル20と、NHを吐出する第2の処理ガス吐出ノズル21と、TiClとNHとを分離するパージガス吐出ノズル22とを設け、パージガス吐出ノズル22の吐出口と基板W表面との距離が、第1の処理ガス吐出ノズル20および第2の処理ガス吐出ノズル21の吐出口と基板W表面との距離よりも大きくなるようにパージガス吐出部22を配置し、基板Wに対し、TiCl、NH、パージガスを走査させることにより、基板WにTiClとNHとを交互に吸着させる。 (もっと読む)


【課題】生成される気相成長膜による基板と支持部材の貼りつきを低減させる気相成長装置および気相成長方法を提供する。
【解決手段】チャンバ107と、チャンバ107内に原料ガスを供給する供給部108と、チャンバ107内に配置され、面103でウェハ101を載置し、面103におけるウェハ101の外縁部の直下となる位置に凹部104が形成された回転可能なホルダ102と、チャンバ101内から気相成長後の原料ガスを排気する排気部109とを備えることによって、ウェハ101とホルダ102に気相成長膜が生成されたとしても、それぞれに生成される気相成長膜が接触しないため、ウェハ101とホルダ102を固着させないようにすることができる。 (もっと読む)


【課題】 円筒状基体上に、堆積膜を膜剥がれが発生することなく形成することを実現し、多様なサイズの電子写真用感光体を生産性良く製造する。
【解決手段】 少なくとも一部が誘電体部材で構成された減圧可能な反応容器と、反応容器内部に配置された円筒状基体及び原料ガス導入手段と、反応容器外部に配置された高周波電力導入手段とを有し、高周波電力導入手段に高周波電力を印加し、反応容器内にグロー放電を発生させることによって、反応容器内に前記原料ガス導入手段を介して導入された原料ガスを分解し、円筒状基体上に堆積膜を形成する電子写真用感光体製造装置において、高周波電力導入手段は、反応容器内壁から円筒状基体までの距離が最短となる直線上に配置され、円筒状基体の直径をD〔mm〕、反応容器内壁から円筒状基体までの最短距離をL〔mm〕とした場合において、
0.3≦L/D≦1.9 (1)
20≦L≦60 (2)
を全て満たすこととする。 (もっと読む)


【課題】フィルムの使用効率の向上が図れるステッピングロール方式の成膜装置を提供する。
【解決手段】本発明に係る成膜装置(巻取式プラズマCVD装置)20は、成膜部21(21A,21B)と、巻出しローラ22と、巻取りローラ23とを備えたステッピングロール方式の成膜装置であって、成膜部21は、成膜室24と、成膜室24のフィルム導入側およびフィルム導出側に各々設けられフィルムFを挟んで開閉する一対のシール機構31A,32A(31B,32B)とを備え、これら一対のシール機構の間の距離を、成膜室24で成膜されるフィルム長の(N+2)倍(Nは自然数)とする。これにより、上記シール機構によって挟持される領域(シール領域)を除くほぼすべてのフィルム領域を成膜領域とすることが可能となり、フィルムの使用効率の向上が図れるようになる。 (もっと読む)


【課題】MOCVD法またはHVPE法を選択的に用いて結晶層を堆積させる。
【解決手段】反応装置(1)のプロセスチャンバー(2)内のサセプタ(3)の上に配置された1以上の基板(特に結晶基板)(6)上に1以上の層(特に結晶層)を堆積させる。プロセスチャンバー壁加熱デバイス(12)によって積極的に加熱されるプロセスチャンバー天井(4)が、サセプタ加熱デバイス(11)によって積極的に加熱されるサセプタ(3)に対向するように位置する。プロセスチャンバー壁加熱デバイス(12)は冷却液流路を持つ。プロセスチャンバー天井(4)が加熱されるとき、プロセスチャンバー壁加熱デバイス(12)はプロセスチャンバー天井(4)の表面(18)から少し離れて配置される。プロセスチャンバー天井(4)が冷却されるとき、プロセスチャンバー壁加熱デバイス(12)の面(17)はプロセスチャンバー天井(4)の表面(18)に接触する。 (もっと読む)


【課題】プラズマ処理を効率よく行うことができるプラズマ処理装置を提供すること。
【解決手段】プラズマ処理装置1は、印加電極2と、ワーク100を載置するとともに印加電極2の対向電極としての機能を併有するパレット(第1の電極)4と、プラズマ処理用のガスを供給するガス供給手段11と、印加電極2とパレット4との間に電圧を印加する第1の回路(電源部)8を備え、パレット4を載置するテーブル6の下面63には、振動子9が配設され、振動子9の振動数を調整する周波数調整手段74と、周波数調整手段74の作動を制御する制御手段70とを有しており、この振動子9によりパレット4とワーク100とを一体的に振動させながらワーク100の被処理面110を処理するに際し、制御手段70により、周波数調整手段74が作動するよう構成されている。 (もっと読む)


基板上での薄膜の堆積を制御するためのシステム及び方法が開示される。一実施形態は、基板を提供するステップと、電磁放射を放出するように構成された複数のソースを提供するステップと、複数のソースのうちの第1ソースへ第1の量の電力を提供するステップと、複数のソースのうちの第2ソースへ第2の量の電力を提供するステップとを備え、基板上での膜の堆積を制御するように第1の量の電力と第2の量の電力が異なるものである。 (もっと読む)


【課題】成膜装置、プラズマ処理装置では、当該装置に用いる石英ガラス部品表面に膜状物質が付着し、それらが剥離することによって装置内の発塵、パーティクルとなり、成膜或いはプラズマ処理する製品の汚染原因となっていた。またその様な汚染を防止するため、装置に用いる部品に膜状物質が僅かに付着する度に頻繁に交換することが必要となり、生産性の低下をもたらしていた。
【解決手段】石英ガラス部品の表面に平均値径が3μm以上10μm未満、突起最大平均径が80μm以下、個数1000〜6000個/mm、面積占有率が10〜50%、かつフッ化水素酸溶液に浸した際に、面積占有率の減少値が、浸す前の島状突起の面積占有率の平方根で算出される値以下となる島状の突起で修飾した石英ガラス部品は、成膜装置、プラズマ処理装置に用いた場合、当該部品に対する膜状物質の保持性が高く、付着物の剥離によるパーティクルを減らし、装置の連続使用期間を特に長くする事ができる。 (もっと読む)


【課題】少なくとも天井電極と、ワークピースサポート電極とを含む電極を有するプラズマリアクタチャンバにおいて、ワークピースを処理する方法を提供する。
【解決手段】この方法は、各VHF周波数f1及びf2の各RF電源を、(a)電極の夫々か、(b)電極の共通する1つに結合する工程であって、中心が高い不均一なプラズマイオン分布を生成するのにf1が十分に高く、中心が低い不均一なプラズマイオン分布を生成するのにf2が十分に低い工程を含む。この方法は、f1周波数でのRFパラメータ対f2周波数でのRFパラメータの比を調整して、プラズマイオン密度分布を制御する工程であって、RFパラメータが、RF電力、RF電圧又はRF電流のうち1つである工程を含む。 (もっと読む)


【課題】細かい加熱温度制御を容易に行うことができる加熱装置及び半導体製造装置を提供する。
【解決手段】半導体製造装置の反応室内に配置された支持体上に載置される半導体基板を加熱する加熱装置であって、着脱可能であると共に周方向に向きを変えて取付け可能な熱源ランプをそれぞれ有する、複数の熱源ユニットを備えたことを特徴とする加熱装置、及び反応ガスが供給される反応室と、反応室内に配置された支持体と、支持体上に載置される半導体基板を加熱する加熱装置とを備えた半導体製造装置であって、加熱装置は、着脱可能であると共に周方向に向きを変えて取付け可能な熱源ランプをそれぞれ有する、複数の熱源ユニットを備えたことを特徴とする半導体製造装置。 (もっと読む)


【課題】 画像欠陥が低減された電子写真用感光体を製造することが可能な電子写真用感光体製造装置を提供する。
【解決手段】 第1の円筒状側壁と、前記第1の円筒状側壁を取り囲む第2の円筒状側壁との間に構成された減圧可能な反応容器と、
前記反応容器内に配置され、基体を保持する基体保持部材と、
前記反応容器内に原料ガスを供給するための原料ガス供給手段と、
を備える複数の基体に同時に堆積膜を形成可能な堆積膜形成装置において、前記第1の円筒状側壁及び第2の円筒状側壁の少なくとも一部が誘電体で構成されるとともに、
前記反応容器内に高周波電力を供給する電力供給系として、前記第1の円筒状側壁の内側に第1の高周波電極を、前記第2の円筒状側壁の外側に第2の高周波電極を配置させ、かつ、さらに前記第1の高周波電極と前記第2の高周波電極に対し、異なる周波数の高周波電力を供給する手段を有する、堆積膜形成装置とする。 (もっと読む)


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