【課題】酸化物半導体層を用いた薄膜トランジスタにおいて、酸化物半導体層とソース電極層又はドレイン電極層との間のコンタクト抵抗を低減し、電気特性を安定させた薄膜トランジスタを提供する。また、該薄膜トランジスタの作製方法を提供する。
【解決手段】酸化物半導体層を用いた薄膜トランジスタにおいて、酸化物半導体層より導電率の高いバッファ層を形成し、酸化物半導体層とソース電極層又はドレイン電極層とがバッファ層を介して電気的に接続されるように薄膜トランジスタを形成する。また、バッファ層に逆スパッタ処理及び窒素雰囲気下での熱処理を行うことにより、酸化物半導体層より導電率の高いバッファ層を形成する。 （もっと読む）

【課題】少ない工程数で製造可能であり、かつゲート電極付近の電界集中を緩和させる。
【解決手段】下地１１上に第１及び第２絶縁膜１３及び１５を順次形成し、第２絶縁膜に表面から第１開口パターン、及び第１絶縁膜を露出させ、かつ第１開口パターンよりも開口端の第１方向に沿った長さが短い第２開口パターンを形成し、第１開口パターンを厚み方向に沿って拡大することによって第１開口部１９、第１及び第２開口パターンからの露出面から第１絶縁膜を部分的に除去することによって、第１開口部から連続し、かつ第１開口部１９よりも開口端の第１方向に沿った長さが短い第２開口部２１、及び第２開口部から連続した、下地面を露出させ、かつ第２開口部よりも開口端の第１方向に沿った長さが短い第３開口部２３を形成し、第１〜第３開口部を含む電極形成用開口部１７を埋め込むとともに、電極形成用開口部周辺の第２絶縁膜の表面を被覆する電極を形成する。 （もっと読む）

【課題】製造工程の増加を抑えて、通常のコンタクトとシェアードコンタクトとをそれぞれ良好なコンタクト特性を有するようにする。
【解決手段】半導体装置１００は、第１の不純物拡散領域１０６ａに接続するとともに、第１のゲート電極１１２ａとは接続しないように形成された第１のコンタクト１２４と、第２のゲート電極１１２ｂおよび第２の不純物拡散領域１０６ｂに共通して接続するように形成された第２のコンタクト１２６とを含む。第１のコンタクト１２４および第２のコンタクト１２６は、それぞれ、層間絶縁膜１２２の表面から基板１０１に向かう途中の位置でテーパー角度が小さくなるように変化する形状を有し、第２のコンタクト１２６においてテーパー角度が変化する位置が、第１のコンタクト１２４においてテーパー角度が変化する位置よりも基板１０１に近い。 （もっと読む）

【課題】容易にノーマリオフ特性を向上させることができる半導体装置及び半導体装置の製造方法を提供する。
【解決手段】半導体装置１は、一方の主面５ａの一部に凹部１６が形成された窒化物系半導体層３〜５と、一方の主面５ａに設けられたソース電極７と、凹部１６を挟みソース電極７とは反対側であって、一方の主面５ａに設けられたドレイン電極８と、一方の主面５ａの凹部１６を挟み両側に形成され、凹部１６側の壁面１７が傾斜した絶縁層６と、凹部１６の底面１６ａ上及び側面１６ｂ上並びに絶縁層６の凹部１６側の壁面１７上に設けられたゲート電極１０とを備えている。絶縁層６の壁面１７の傾斜角βは、凹部１６の側面１６ｂの傾斜角αよりも大きい。 （もっと読む）

【課題】信頼性の高い半導体装置を提供する。
【解決手段】ゲート電極と、ゲート電極の上に設けられたゲート絶縁膜と、ゲート絶縁膜
の上に設けられソース領域及びドレイン領域を含む半導体膜と、ソース領域又はドレイン
領域に電気的に接続する配線又は電極と、配線又は電極の上に設けられ第１の開口部を有
する第１の絶縁膜と、第１の絶縁膜の上に設けられ第２の開口部を有する第２の絶縁膜と
、第２の絶縁膜の上に設けられた画素電極とを有し、第１の絶縁膜は窒化シリコン膜を含
む積層の無機絶縁膜からなり、第２の絶縁膜は有機樹脂膜からなり、第２の絶縁膜の第２
の開口部の底面において、第１の絶縁膜の上面は第２の絶縁膜に覆われていない露呈した
部分を有し、第２の絶縁膜の第２の開口部の断面において、第２の絶縁膜の内壁面は凸状
の曲面を有しており、画素電極は、第１の開口部及び第２の開口部を介して配線又は電極
に電気的に接続されている。 （もっと読む）

【課題】金属配線と金属酸化物を有する層を形成する際、電蝕といわれる腐食の発生をおさえることにより、半導体装置の動作特性および信頼性を向上させ、歩留まりの向上を実現することを目的とする。
【解決手段】配線は、耐酸化性金属からなる第１の層と、その上に形成されたアルミニウムもしくはアルミニウムを主成分とする第２の層と、その上に形成された耐酸化性金属からなる第３の層からなる３層構造とし、前記配線と電気的に接続する金属酸化物を有する層を有する。また、第２の層の上面及び下面は第１及び第３の層と接し、側面は酸素とアルミニウムを含む酸化層と接する。 （もっと読む）

【課題】ＡｌＧａＮ層の裏面（Ｎ原子面）上に低抵抗なオーミック電極を形成することが可能なオーミック電極、半導体装置、オーミック電極の製造方法および半導体装置の製造方法を提供する。
【解決手段】オーミック電極１６は、表面１３ａと、この表面１３ａと反対側の裏面１２ｂとを有し、表面１３ａが（０００１）面で、導電型がｎ型であるＡｌＧａＮ層１１の裏面１２ｂに形成されたオーミック電極１６において、オーミック電極１６において裏面１２ｂに接触している領域はＷを含むことを特徴としている。オーミック電極１６の製造方法は、裏面１２ｂに接触する領域にＷおよびＭｏの少なくとも一方を含むオーミック電極１６を形成することを特徴としている。 （もっと読む）

【課題】 サドルフィン形態のチャンネルを形成する際に、ゲートパターンとプラグとの間のブリッジ発生を防止することが可能な半導体素子およびその製造方法を提供する。
【解決手段】 半導体素子は、半導体基板と、半導体基板内に活性領域を限定するように形成された素子分離膜と、活性領域および素子分離膜に形成されたゲート用リセスパターンと、リセスパターン内およびリセスパターン上に形成されたゲートパターンと、ゲートパターンを覆うように形成されたゲートスペーサとを含み、ゲート用リセスパターンは、活性領域では第１深さを有し、素子分離膜では第１深さよりも深い第２深さを有し、ゲートパターンと素子分離膜のゲート用リセスパターン上部側面との間には空間が形成されて、ゲートスペーサが前記空間を埋め立てる。 （もっと読む）

【課題】信頼性の高い半導体装置を提供する。
【解決手段】ゲート電極と、ゲート電極の上に設けられたゲート絶縁膜と、ゲート絶縁膜
の上に設けられソース領域及びドレイン領域を含む半導体膜と、ソース領域又はドレイン
領域に電気的に接続する配線又は電極と、配線又は電極の上に設けられ第１の開口部を有
する第１の絶縁膜と、第１の絶縁膜の上に設けられ第２の開口部を有する第２の絶縁膜と
、第２の絶縁膜の上に設けられた画素電極とを有し、第１の絶縁膜は窒化シリコン膜を含
む積層の無機絶縁膜からなり、第２の絶縁膜は有機樹脂膜からなり、第２の絶縁膜の第２
の開口部の底面において、第１の絶縁膜の上面は第２の絶縁膜に覆われていない露呈した
部分を有し、第２の絶縁膜の第２の開口部の断面において、第２の絶縁膜の内壁面は凸状
の曲面を有しており、画素電極は、第１の開口部及び第２の開口部を介して配線又は電極
に電気的に接続されている。 （もっと読む）

【課題】柱状半導体層が微細化されて高集積化されても、コンタクト抵抗の増加を抑制する構造の半導体装置を提供する。
【解決手段】半導体装置は、基板（半導体基板１）と、半導体基板１上に設けられた、半導体柱状部（柱状半導体層３）と、の天面に接するように設けられた、柱状半導体層３と同径以下のコンタクト柱状部（コンタクト層７）と、この天面に設けられた凹部をと備えるものである。 （もっと読む）

【課題】ソース及びドレインとの接触抵抗のばらつきが少なく、ソース同士が容易に接続
可能なコンタクトプラグ構成の半導体装置を提供する。
【解決手段】ソース及びドレイン領域１８、１９を有する半導体基板１１と、浮遊ゲート
膜２２を有し、ソース及びドレイン領域１８、１９の間の表面に配設されたゲート電極膜
２８と、ゲート電極膜２８の上に上下を絶縁されたソース接続膜３３と、ゲート電極膜２
８及びソース接続膜３３を被うサイドウォール絶縁膜３７及びバリア絶縁膜３９と、バリ
ア絶縁膜３９を埋め込む下部及び上部層間絶縁膜４１、４３と、ソース領域１８に接続さ
れ、下部及び上部層間絶縁膜４１、４３を貫通し断面が楕円形の柱状体をなし、柱状体の
側面でソース接続膜３３と接続されたソースコンタクト４５と、ドレイン領域１９に接続
され、下部及び上部層間絶縁膜４１、４３を貫通し断面が楕円形の柱状体をなすドレイン
コンタクト４７とを備える。 （もっと読む）

本発明の実施形態は、概して、半導体基板を処理する装置及び方法に関するものである。具体的には、本発明の実施形態は、トレンチ及びビアの断面形状を、トレンチ及びビアへの充填を行なう前に変形させる方法及び装置に関するものである。本発明の一実施形態では、トレンチ構造をエッチング液に曝すことにより、犠牲層を形成してトレンチ構造の上部開口部を閉塞する。一実施形態では、エッチング液は、第１材料と反応して犠牲層を形成する副生成物を生成することにより、第１材料を除去するように調製される。
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【課題】開口部の間口部分の拡大を抑制しつつ、開口部内に埋め込み導体を埋め込みやすくする。
【解決手段】半導体ウェハＷ１の中心から左側に離れたチップ領域Ｃ１ａ、Ｃ１ｂでは、開口部１３ａ、１３ｂ内の左右の壁面のうち右側の壁面にのみ深さ方向に沿って傾斜面を設け、半導体ウェハＷ１の中心から右側に離れたチップ領域Ｃ１ｄ、Ｃ１ｅでは、開口部１３ｄ、１３ｅ内の左右の壁面のうち左側の壁面にのみ深さ方向に沿って傾斜面を設け、半導体ウェハＷ１の中心の近傍のチップ領域Ｃ１ｃでは、開口部１３ｃ内の左右の壁面には傾斜面を設けないようにする。 （もっと読む）

【課題】ショットキーバリア金属として白金を用いた場合でも、酸化膜に接触して覆う金属層の剥がれを抑制することのできるショットキーバリアダイオードを提供する。
【解決手段】ショットキーバリア金属層と外部接続用金属電極との間にバナジウム、クロム、ジルコニウムおよびタンタルから選ばれるいずれかの金属を主成分として含む中間金属層を少なくとも一層は挟む構成とする。 （もっと読む）

【課題】 フィールドプレート構造により逆方向耐電圧の向上したショットキーバリアダイオードを提供する。
【解決手段】 主表面を有する窒化ガリウム系化合物のエピタキシャル層と、 前記主表面上に形成され、開口部が形成されている窒化絶縁層と、前記開口部の内部に、前記主表面に接触するように形成されたショットキー電極と、前記ショットキー電極に電気的に接続するとともに、前記窒化絶縁層に重なるように形成された、フィールドプレート電極と、を備え、前記窒化絶縁層と前記エピタキシャル層との界面での固定電荷密度が、１．２×１０^１２ｃｍ^−２未満である。 （もっと読む）

【課題】横型絶縁ゲートトランジスタ素子を備え、オン抵抗の増加を抑制しつつ体格を小型化することのできる半導体装置及びその製造方法を提供する。
【解決手段】半導体層に構成されたＬＤＭＯＳ素子と、半導体層の主表面上に形成された絶縁膜を同一表面から貫通するコンタクプラグとしての、ソース領域とベースコンタクト領域とに接続された第１コンタクトプラグと、を備えた半導体装置であって、ベースコンタクト領域が、半導体層の主表面に略垂直な方向においてソース領域よりも主表面に対して下方で、半導体層の主表面に沿う方向においてソース領域と少なくとも一部が重なる位置に形成されている。そして、第１コンタクトプラグが、絶縁膜及びソース領域を貫通しつつベースコンタクト領域まで延設されている。 （もっと読む）

【課題】電極導体膜を有する半導体装置の信頼性を向上させる。
【解決手段】ｎ型ＭＩＳトランジスタＱｎを形成したシリコン基板１の層間絶縁膜ＩＬにコンタクトホールＣＨを形成し（工程ｓ０３〜工程ｓ０７）、それを埋め込むようにして電極導体膜Ｅ１を形成する（工程ｓ１１〜工程ｓ１４）。電極導体膜Ｅ１は、１〜３μｍの第１導体膜Ｅ１ａと１〜３μｍの第２導体膜Ｅ１ｂとの２回に分けて堆積し（工程ｓ１２、工程ｓ１４）、特に、それぞれを堆積する工程の間ではシリコン基板１を一時待機させ（工程ｓ１３）、また、第１導体膜Ｅ１ａは第２導体膜Ｅ１ｂよりも速い堆積速度で堆積する。 （もっと読む）

【課題】ＧａＮ基板表面の窒素抜けを抑制し、耐圧の高い半導体装置の製造方法を提供することを目的とする。
【解決手段】本発明の半導体装置の製造方法は、窒化ガリウムを含む半導体層を準備する工程と、半導体層の表面を水素ガスにより処理する表面処理工程と、表面処理工程後の上記表面を酸化する酸化工程とを備える。 （もっと読む）

【課題】ＣＭＰ法を用いずに、配線部２６とコンタクト部２５とを同時に形成する。
【解決手段】コンタクトホール２７及び配線溝２８を形成した層間絶縁膜２３の表面に第２膜２４を上記各表面に沿って所定の厚みで形成することにより、コンタクトホール２７内の第２膜２４によって穴部３１を形成すると共に、配線溝２８内の第２膜２４によって溝部３２を形成する。次に、穴部３１及び溝部３２の開口端を塞ぐように、レジストを第２膜２４上に形成した後に、エッチバックにより穴部３１及び溝部３２の周囲で露出した第２膜２４をエッチングして除去し、コンタクトホール２７にコンタクト部２５を形成すると共に、配線溝２８に配線部２６を形成する。 （もっと読む）

【課題】エッチング時におけるホール径が小さく、アスペクト比が高い場合においても、テーパ角を良好にコントロール可能なコンタクトホールの形成方法、パターン形成方法、及び電気光学装置の製造方法を提供する。
【解決手段】基材１上に形成された膜２上に金属膜３を形成する。そして、金属膜３上にレジストマスク４を形成する。このレジストマスク４を用い、金属膜３をドライエッチングするとともに、ドライエッチングによるレジストマスク４の後退量を制御して、開口側面５ａが膜に対して第１の傾斜角度を有する金属マスク５を形成する。第１の傾斜角度を有する金属マスク５を用いて膜をドライエッチングすることで、基材１の表面に形成された導電部６を露出させるとともに、開口側面５ａが導電部６に対して第１の傾斜角度に応じた第２の傾斜角度を有する孔を形成する。そして、金属マスク５を除去するコンタクトホールの形成方法である。 （もっと読む）