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Fターム[4M104DD64]の内容

半導体の電極 (138,591) | 製造方法(特徴のあるもの) (30,582) | 電極膜のパターニング (4,427) | エッチング (3,048) | ウェットエッチ (644)

Fターム[4M104DD64]に分類される特許

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【課題】 TiW膜を選択的にエッチングし、そのエッチング速度を向上させる。
【解決手段】 半導体装置100の製造において、過酸化水素と遷移金属イオンとを含むエッチング液を用いて第二のTiW膜115および第一のTiW膜111を選択的に除去する。 (もっと読む)


【課題】 フェースダウン方式の噴流めっき装置において、操作性を損なうことなく、ブラックフィルム等に起因する微小な固形異物による、めっき品質の低下を防止する。
【解決手段】 フェースダウン方式のめっき装置において、半導体ウェハ1と陽極電極5との間に、隔壁7が設けられており、陽極電極5と半導体ウェハ1とが隔壁7により隔離され、めっき処理槽100が被めっき基板室と陽極電極室とに区分されている。 (もっと読む)


【課題】 CMOSFET内の歪みを最適化するための構造体及び方法を提供すること。
【解決手段】 MOSFET内の歪みを最適化し、より具体的には、1つの種類(P又はN)のMOSFET内の歪みを最大にし、かつ、別の種類(N又はP)のMOSFET内の歪みを最小にし緩和する、PMOSFET及びNMOSFETの両方を含む歪みMOSFETの半導体構造体、及び歪みMOSFETを製造する方法が開示される。元の完全な厚さを有する歪み誘起CA窒化物コーティングが、PMOSFET及びNMOSFETの両方の上に形成され、この歪み誘起コーティングは、1つの種類の半導体デバイス内に最適化された十分な歪みをもたらし、別の種類の半導体デバイスの性能を劣化させる。歪み誘起CA窒化物コーティングは、別の種類の半導体デバイスの上で減少した厚さまでエッチングされ、減少した厚さの歪み誘起コーティングは、他方のMOSFET内でより少ない歪みを緩和し、他方のMOSFET内により少ない歪みをもたらす。 (もっと読む)


【課題】 特定の金属を含有する透明導電材料を透明導電膜に使用することにより、Al配線を設けた積層基板の製造方法を簡略化する。
【解決手段】 透明基板と、前記透明基板上に設けられたAl配線と、酸化亜鉛を主成分とする導電性酸化物からなり、前記Al配線に直接接合する透明導電膜と、を含むことを特徴とするAl配線を備えた透明導電膜積層基板である。バリヤーメタルを間に設けず、直接Al配線と透明導電膜が直接接合しているので、製造工程を簡略化することができる。 (もっと読む)


【課題】 本発明は、電子部品および電子機器またはそれらの製品に使用される金属合金材料、電子および金属材料の加工方法及び電子光学部品に関し、例えば液晶表示素子、各種半導体製品あるいは部品、プリント配線基板、その他のICチップ部品等に適用して、従来に比して低抵抗率であり、更に製造工程中での優位性を保有した安定かつ加工性に優れた電子部品用金属合金材料、この金属材料を使用した電子部品、電子機器を提供する。
【解決手段】 Cuを主成分とし、Wを0.1〜7.0wt%含有し、Al、Au、Ag、Ti、Ni、Co、Siからなる群から選ばれた1又は複数の元素を合計で0.1〜3.0wt%含有してなる合金を金属材料として適用する。この金属材料によれば、CuにWを添加してCuの粒界にMoを均質に混入させることにより、Cu全体の耐候性を向上させることができる。 (もっと読む)


【課題】
本発明は、アルミ二ウム配線で発生するヒールロックを減少させる、薄膜トランジスタ基板及びその製造方法を提供する。
【解決手段】
本発明による薄膜トランジスタ基板は、下部アルミ二ウム層と、前記下部アルミ二ウム層の上に形成されている窒化アルミ二ウム層と、前記窒化アルミ二ウム層の上に形成されている上部アルミ二ウム層を含むことを特徴とする。 (もっと読む)


【課題】導電層と半導体層との界面のエネルギー障壁を低減できる電極を有する有機電界効果トランジスタ及び有機電界効果トランジスタを有する半導体装置を提供することを課題とする。
【解決手段】有機電界効果トランジスタ用の電極、すなわち有機電界効果トランジスタにおけるソース電極及びドレイン電極の少なくとも一方の一部に、有機化合物と金属酸化物とを含む複合層を用いる。または、さらにアルカリ金属等を含む層を設けた電極とする。 (もっと読む)


【課題】 ウェットエッチングの際のマスク形成を改良した半導体装置の製造方法を提供することを目的とする。
【解決手段】 ゲート絶縁膜を形成した基板表面にゲート電極を構成する第1の金属を堆積し、第1の金属を残存させる領域にマスクとなる金属膜を形成する。次に、HとHSOの混合液、HとHClとの混合液、HとNHとHOとの混合液などを用いて、第1の金属を残存させる領域外の第1の金属をゲート絶縁膜に対して選択的に除去する。その後、マスクとなる金属膜を残存させたままゲート電極を構成する。 (もっと読む)


【課題】 簡易な構成でオフリーク特性の向上が図れ、しかもシリサイド化トランジスタと非シリサイド化トランジスタとを同一基板上に同時に形成できる半導体装置およびその製造方法を提供する。
【解決手段】 トランジスタTrAのサイドウォール105の厚みをトランジスタTrBのサイドウォール105の厚みよりも薄くする。トランジスタTrAにおいて、高濃度不純物拡散層106の表面とサイドウォール105の底部とは、基板の主面方向から見たときに重なる位置にある。シリサイド層108は、高濃度不純物拡散層106内に限って形成される。これは、トランジスタTrBを覆うCVD酸化膜11の形成後で、かつ、シリサイド層108を形成する前にトランジスタTrAに高濃度不純物拡散層106を形成することで実現できる。 (もっと読む)


【課題】新規な構成を有する薄膜トランジスタを提供する。またコンタクトホールの形成を、容易かつ確実に実施する方法を提供する。
【解決手段】断面がテーパー形状であるアルミニウムゲイト電極と、前記ゲイト電極上のゲイト絶縁膜と、前記ゲイト絶縁膜上のチャネル形成領域を構成するI型のアモルファスシリコン膜と、前記I型のアモルファスシリコン膜上の保護膜と、前記I型のアモルファスシリコン膜及び保護膜上のn型のアモルファスシリコン膜からなるソース領域及びドレイン領域と、前記ソース領域に電気的に接続されたアルミニウムソース電極と、前記ドレイン領域に電気的に接続されたアルミニウムドレイン電極と、前記ゲイト絶縁膜上の画素電極と、前記ゲイト電極に電気的に接続されたアルミニウムゲイト配線と、を有し、前記ドレイン領域と前記画素電極とはアルミニウムを介して電気的に接続されていることを特徴とする。 (もっと読む)


【課題】 反射防止機能とハードマスク機能を兼備した多層構造のSiC系膜を効率良く、確実に除去し、併せてゲート電極形成プロセスにおける膜の除去工程を簡素化し、デバイスへの悪影響を極力低減できる半導体装置の製造方法を提供する。
【解決手段】 基板上に形成された高誘電体膜と、ポリシリコン膜と、反射防止機能とハードマスク機能とを有するSiC系膜と、を有する積層体に対し、SiC系膜を、パターニングされたレジストをマスクとしてエッチングし、次にSiC系膜をマスクとして、ポリシリコン膜をエッチングした後、少なくとも、SiC系膜および露出した高誘電体膜にプラズマを作用させて改質するプラズマ処理工程と、改質されたSiC系膜および高誘電体膜をウエット洗浄により除去する洗浄工程と、を行なう。 (もっと読む)


【課題】 基板上の電子部材や各種積層膜等を腐食させることなく、タングステン膜に対するエッチレートを安定化させ、かつ選択的にエッチングできる微細加工処理剤、及びそれを用いた微細加工処理方法を提供する。
【解決手段】 本発明の微細加工処理剤は、タングステン膜及びシリコン酸化膜が積層された基板を微細加工する微細加工処理剤であって、(1)フッ化水素と、(2)硝酸と、(3)ケトン、エーテル、エポキシド、アルデヒド、アミド、アミン、ニトリル、スルホキシド、ヘテロ環化合物、有機酸、フェノール、チオール、及びスルフィドからなる群から選ばれる少なくとも1種の化合物とを含み、前記タングステン膜に対する25℃でのエッチレートが5〜5000nm/分の範囲内であり、且つ、前記タングステン膜に対する25℃でのエッチレートが、前記シリコン酸化膜に対する25℃でのエッチレートの2倍以上であることを特徴とする。

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【課題】好適な形状の配線を有する半導体装置を提供することを課題とする。
【解決手段】素子と接続される第1の導電層と、その上の第2の導電層とを形成し、第2の導電層上にレジストのマスクを形成し、マスクを用いたドライエッチングによって第2の導電層を加工し、マスクを残したままウエットエッチングによって第1の導電層を加工する配線の作製方法であって、ドライエッチングにおいて、第2の導電層のエッチングレートは第1の導電層のエッチングレートより大きく、ウエットエッチングにおいて、第2の導電層のエッチングレートは第1の導電層のエッチングレート以上とする。 (もっと読む)


【課題】 タングステン膜及びシリコン酸化膜の積層膜に対して、エッチレートを制御して微細加工処理をすることが可能な微細加工処理剤、及びそれを用いた微細加工処理方法を提供する。
【解決手段】 本発明の微細加工処理剤は、フッ化水素及び硝酸を含み、基板上に積層されたタングステン膜及びシリコン酸化膜を微細加工する微細加工処理剤であって、前記タングステン膜に対する25℃でのエッチレートが0.5〜5000nm/分の範囲内であり、且つ、前記シリコン酸化膜に対する25℃でのエッチレートが、前記タングステン膜に対する25℃でのエッチレートの0.5〜2倍の範囲内であることを特徴とする。 (もっと読む)


【課題】工程の単純化およびコストの節減を図るとともに、電荷移動度および電流点滅比の高い有機薄膜トランジスタを製造することが可能な有機薄膜トランジスタの製造方法を提供する。
【解決手段】基板1、ゲート電極3、ゲート絶縁膜5、ソース/ドレイン電極7および有機半導体層9が順次形成された有機薄膜トランジスタ10を製造する方法であって、ソース/ドレイン電極7が形成されたゲート絶縁膜5の表面を、HI、HBr、HCl、HF、HNO、HPO、HSO、またはこれらの混合物である無機酸または有機酸に含浸させ、焼き鈍しする。 (もっと読む)


【課題】特性が向上した薄膜トランジスタの製造方法、これを有する表示装置、及び表示装置の製造方法を提供する。
【解決手段】薄膜トランジスタ100は、基板105上にゲート電極110、ゲート絶縁膜115、半導体パターン122及び半導体パターン上に相互離隔する第1及び第2導電性接合パターン127a,127b、第1バリヤーパターン131,141、ソース,ドレインパターン133,143、及び第1,第2キャッピングパターン135,145が形成されたソース,ドレイン電極130,140を含む。第1及び第2導電性接合パターン127a,127bが垂直なプロファイルを有するように形成する。 (もっと読む)


【課題】アクティブマトリクス型の半導体装置のゲート電極とゲート配線の配置を工夫することにより、画面の大面積化を可能とする。
【解決手段】表示領域に設けられた画素TFTが含むゲート電極は、第1の導電層により形成されている。また、表示領域に設けられたゲート配線は、第2の導電層で形成されている。ゲート電極はゲート配線と接続部で電気的に接触している。接続部は、画素TFTが含む半導体層の外側に設けられている。 (もっと読む)


【課題】アクティブマトリクス型の半導体装置のゲート電極とゲート配線の配置を工夫することにより、画面の大面積化を可能とする。
【解決手段】表示領域に設けられた画素TFTが含むゲート電極は、第1の導電層により形成されている。また、表示領域に設けられたゲート配線は、第2の導電層で形成されている。ゲート電極はゲート配線と接続部で電気的に接触している。接続部は、画素TFTが含む半導体層の外側に設けられている。 (もっと読む)


【課題】耐圧が高く且つオン抵抗が低い上に、チップ面積が小さいショットキーバリアダイオード及びダイオードアレイを実現できるようにする。
【解決手段】導電性のシリコン基板2の上にバッファ層3と、アンドープの窒化ガリウムである第1の半導体層4と、アンドープのアルミニウム窒化ガリウムである第2の半導体層5とが順に形成されている。第2の半導体層5の上には、ショットキー電極6とオーミック電極7とが互いに間隔をおいて形成されている。第2の半導体層5と第1の半導体層4とバッファ層3とを貫通して、n+−Si基板2に達するビア8が形成されており、オーミック電極7とn+−Si基板2とは電気的に接続されている。n+−Si基板2の裏面には裏面電極1が形成されており、オーミック電極7は基板2の裏面に引き出されている。 (もっと読む)


【課題】安定した接触特性及び電気的特性を有する信号線を含む有機半導体薄膜トランジスタ表示板の製造方法を提供する。
【解決手段】まず、絶縁基板上にゲート線を形成し、ゲート線を覆う有機絶縁物質のゲート絶縁膜を形成する。次に、ゲート絶縁膜上に常温で非晶質状態のITO膜を積層して感光膜パターンを利用した湿式エッチング工程でパターニングして、データ線及びドレイン電極を形成する。この時、エッチング液はクロムエッチング液を利用する。次に、感光膜パターンを除去した後でアニーリング工程を実施して、非晶質状態のITO膜を準結晶化する。次に、有機半導体を形成した後、ドレイン電極を露出する接触孔を有する保護膜を形成し、接触孔を通じてドレイン電極と連結される画素電極を形成する。 (もっと読む)


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