説明

Fターム[4M112DA10]の内容

圧力センサ (26,807) | 製造工程 (5,073) | 素子本体の製造工程 (5,065) | イオン注入 (234)

Fターム[4M112DA10]に分類される特許

201 - 220 / 234


【課題】構造体のリリース工程で配線への損傷を与えることがなく、耐湿性が良好で信頼
性の向上した、MEMS素子およびMEMS素子の製造方法を提供する。
【解決手段】半導体基板10に可動電極15および固定電極16a,16bから構成され
る構造体18が形成され、構造体18の周辺部に配線21が層間絶縁膜20,22を介し
て積層されたMEMS素子1において、構造体18に対向する層間絶縁膜20,22の側
壁24,25および層間絶縁膜22の表面にシリコンナイトライド膜30が形成されてい
る。 (もっと読む)


【課題】 熱応力の影響が少なく検出精度が良好で、かつ生産性の高いセンサを提供することにある。
【解決手段】 矩形のセンサチップ111は、その四辺を構成するフレームの内フレーム117Aの一辺のみが基板と接着して固定しており、センサチップ111の残りの三辺は基板と離れていて自由に動くことができ、接着剤121の硬化収縮や基板112とセンサチップ111の線膨張係数差によって発生する応力を緩和することができる。また、センサチップ111に設けた出力用の電極パッド122は基板112と固定されたフレーム117A上に設置されており、ワイヤーボンディング時にワイヤーの接合強度が弱くなることもない。 (もっと読む)


【課題】センサ感度を高く維持したままで小型化・薄型化可能な3軸加速度センサモジュールおよびその製造方法を提供する。
【解決手段】本発明の3軸加速度センサモジュール100は、重錘体22と、重錘体22を自由下垂状態に支持する重錘体支持部15と、重錘体22及び重錘体支持部15と所定間隔をおいて外側に設けられた枠23と、枠23と重錘体支持部15とを連結するよう設けられ、それぞれに所定数のピエゾ抵抗素子13が設けられた複数の可撓性の梁とを備える3軸加速度センサ1をセンサ駆動IC40とともにパッケージ30内にモジュール化してなる。パッケージ30の底面には、3軸加速度センサ1が通過可能な貫通孔32が備えられ、3軸加速度センサ1の底面は、貫通孔32を通してセンサ駆動IC40に直接接合されるとともに、センサ駆動IC40がパッケージ30の底面31に接合されている。 (もっと読む)


【課題】 光が半導体基板の凹部側に照射された場合でも、正確な圧力を検出することができるダイヤフラム型の半導体圧力センサを提供する。
【解決手段】 一面にピエゾ抵抗素子5が設けられ、他面に凹部12が設けられた半導体基板4を用いるダイヤフラム型の半導体圧力センサであって、半導体基板4には、少なくとも凹部12の底面部12aに遮光特性を有する保護膜13が設けられている。 (もっと読む)


【課題】センサ感度を高く維持したままで薄型化することができ、製造工程数も少なく、簡単な構成の3軸加速度センサおよびその製造方法を提供する。
【解決手段】本発明の3軸加速度センサ1は、重錘体22と、重錘体22を自由下垂状態に支持する重錘体支持部15と、重錘体22および重錘体支持部15と所定間隔をおいて外側に設けられた枠23と、枠23と重錘体支持部15とを連結するように設けられ、それぞれに所定数のピエゾ抵抗素子13が設けられた複数の可撓性の梁とを備えている。この3軸加速度センサ1では、重錘体22は、シリコンより比重が大きい材料、例えば、パイレックスガラスから構成されるとともに、その表面が平坦なパッケージ30の底部上に
3軸加速度センサ本体を設置した状態において、重錘体22とパッケージ30の底部との間には、所定長のギャップを有している。 (もっと読む)


【課題】パッケージ内でのレイアウトを容易にし、なおかつ検出感度が良好な加速度センサチップ。
【解決手段】加速度センサチップ10は、フレーム体部12c、突起部12dを有するフレーム部12と、合計4つの梁部16により可動に支持されている中心錘部14a、4つの直方体形状の突出錘部14bを有している可動構造体14と、突出錘部とは非接触として、当該突出錘部上に延在させて設けられている複数のストッパ19とを具えている。 (もっと読む)


【課題】ダイアフラムの受けた振動を電気信号に変換する変換部をより容易且つ強靱に固定することのできる半導体センサを提供する。
【解決手段】外部から伝搬された音波を直接受圧して振動可能に配設されるダイアフラム11と、そのダイアフラム11の振動を電気信号に変換する平行平板型コンデンサを構成する可動電極13および固定電極14とを、半導体基板10上の異なる部位に形成する。そしてダイアフラム11と可動電極13とを、半導体基板10の上面から離間した状態で配設された振動伝達部材15によって連結する。 (もっと読む)


【課題】 半導体ダイアフラム式のセンサチップに対して貫通穴を有するガラス台座が接合され、貫通穴がゲル部材により封止されてなる圧力センサにおいて、ゲル部材の注入性を適切に向上させる。
【解決手段】 裏面12側の凹部13の形成に伴い表面11側にダイアフラム14が形成されたセンサチップ10に対して、貫通穴21を有するガラス台座20をセンサチップ10の裏面12側に接合し、貫通穴21をゲル部材30により封止してなる圧力センサ100において、貫通穴21におけるセンサチップ10側の開口部21aの径を、センサチップ10における凹部13の開口径よりも小さいものとし、貫通穴21を、センサチップ10とは反対側の開口部21bからセンサチップ10側の開口部21aへ行くにつれて拡径したテーパ状の穴としている。 (もっと読む)


【課題】 部品点数を減らして小型化を図ることができ、しかも複数の端子電極と実装用回路基板上の接続用電極との間に偏った力が発生するのを防止して正確な力検出を行うことができる半導体力センサ及び半導体力センサモジュールを提供する。
【解決手段】 センサ素子3の表面上に、変換部13の回路15に形成された複数の端子電極17の他に、表面実装用回路基板上にセンサ素子3を表面実装する際に利用される複数の実装用電極19A,19Bを設ける。複数の実装用電極19A,19Bは、球体5を通してダイアフラム部9に力が加わった際に、複数の端子電極17と実装用回路基板C上の複数の接続用電極C1との間に加わる力が軽減される位置に設ける。 (もっと読む)


【課題】錘部を支持する支持部に影響を与えずに各ピエゾ抵抗素子を機械的に完全に素子分離してリーク電流を防止すること。
【解決手段】第1の基板11及び第2の基板12と、環状の錘部13と、該錘部13の略中心に設けられた支柱部14と、該支柱部14に一端側15aが固定されると共に錘部13を吊り下げ状態で支持する支持部15と、支持部15の他端15b側を固定する固定部17と、支柱部14に電圧を印加可能な入力電極18と、支持部15に設けられたピエゾ抵抗素子19と、該ピエゾ抵抗素子19の抵抗変化を取り出す出力電極20とを備え、支持部15と錘部13との間、並びに、支柱部14及び固定部17には、支持部15を電気的に独立させる絶縁層31が設けられ、第1の基板11及び第2の基板12が、入力電極18と出力電極20との間、及び、支柱部14と固定部17との間とを電気的に絶縁状態とされている加速度センサ10を提供する。 (もっと読む)


【課題】ピエゾ抵抗素子とコンタクトホール内の配線との電気的接続箇所における剥離や分離等のコンタクト不良を防止する。
【解決手段】ピエゾ抵抗型3軸加速度センサは、錘部と、この錘部の周辺に配置された台座部51と、この台座部51上に固定された周辺固定部42と、錘部を周辺固定部42に可撓的に連結する梁部44とを備えている。梁部44と周辺固定部42との境界線P11を跨ぐ位置に、一方のピエゾ抵抗素子45−1が設けられ、梁部44と錘部との境界線を跨ぐ位置に、他方のピエゾ抵抗素子が設けられている。各ピエゾ抵抗素子45−1の両端部には、接合部46−1,46−2がそれぞれ形成され、この接合部46−1,46−2と、この上層に複数個直列に配列されたコンタクトホール47a内の配線48とが、電気的に接続されている。 (もっと読む)


【課題】XYZの3軸の出力差を小さくして省電力化を図る。
【解決手段】ピエゾ抵抗型3軸加速度センサは、外枠部11と、この外枠部11内に配置された質量部13と、この重量部13を可撓的に支持する梁部材14−1a,14−1b,14−2a,14−2bと、この梁部材14−1a,14−1b,14−2a,14−2b上に形成されたX、Y、Z軸用ピエゾ抵抗体15−1a,15−1b〜15−6a,15−6bとを備えている。Z軸用ピエゾ抵抗体15−5a,15−5b,15−6a,15−6bの長さL2は、X軸用ピエゾ抵抗体15−1a,15−1b,15−2a,15−2b及びY軸用ピエゾ抵抗体15−3a,15−3b,15−4a,15−4bの長さL1よりも長くして、感度を低下させている。 (もっと読む)


【課題】 MOSFET構造を用いた、小型で、検出感度が高いMEMS素子と、CMOS製造プロセスによる安価なMEMS素子の製造方法を提供する。
【解決手段】 MEMS素子10は、Si基板20にMOSFETを形成する工程を用いて製造されるMEMS素子であって、MOSFETを構成するソース領域32とドレイン領域31とゲート酸化膜65とゲート酸化膜65の表面に形成されるゲート電極50と、を備え、ゲート酸化膜65をエッチング工程により除去し、ゲート電極50とSi基板20との間に第1の空隙を開設し、ゲート電極50が外力によって変形し、第1の空隙70の大きさが変化することで発生するゲート容量の変化をドレイン電流の変化として検出する。また、このMEMS素子10は、CMOS製造プロセスによって製造される。 (もっと読む)


【課題】 循環する流体に生じるコリオリ力を利用することによって、小型化が図られ、感度が向上し、かつ、耐衝撃性が高められた角速度センサを提供する。
【解決手段】 角速度センサは、電界共役流体(Electro-Conjugate Fluid=ECF)が循環する閉流路2と、ECFを循環させる駆動部としての正の電極および負の電極と、閉流路2の一部として設けられたダイヤフラム6および8と、ダイヤフラム6および8のひずみを検出するひずみ検出器11および13とを備えている。 (もっと読む)


【課題】 本発明は、高温の雰囲気内においても長期に亘り良好な検出精度を維持する圧力センサを提供する。
【解決手段】 抵抗素子30は、支持基板10上に形成した酸化膜20上に形成されている。当該抵抗素子30は、ピエゾ抵抗体31、リード32及び両パッド33でもって構成されており、ピエゾ抵抗体31及びリード32は、半導体材料にボロンを注入して形成されている。ここで、当該ボロンの濃度は、ピエゾ抵抗体31及びリード32の各深さ方向において略一定となっている。 (もっと読む)


【課題】 歪み抵抗素子と同等の熱影響を受ける位置であって応力の影響を受けない位置に温度補償用抵抗素子を設け、高精度な応力検出を行える多軸力センサ用チップと多軸力センサを提供する。
【解決手段】 多軸力センサ用チップは、外力作用領域部4Aと非変形領域部4bを有する作用部4と、作用部を支持する支持部3と、作用部と支持部を連結する連結部5A〜5Dとを備える半導体基板2と、連結部の変形発生部に設けられる歪み抵抗素子Sxa1〜Sxa3,Sya1〜Sya3,Sxb1〜Sxb3,Syb1〜Syb3と、作用部の非変形領域部上に設けられる温度補償用抵抗素子11とを備えるように構成される。 (もっと読む)


【課題】圧力センサ混載半導体装置の小型化、高機能化、高信頼化を推進する。
【解決手段】圧力センサ混載半導体装置は、第5層配線22の一部を圧力検知部の下部電極22aとして用いる。下部電極22a上に形成された酸化シリコン膜24の一部は空洞25となっている。酸化シリコン膜24上に形成されたタングステンシリサイド膜26上には窒化シリコン膜28が形成されている。窒化シリコン膜28は、孔27を塞ぐと共に、外部から圧力センサ混載半導体装置への水分の浸入を抑える役割を有する。窒化シリコン膜28/タングステンシリサイド膜26の積層膜は、圧力センサのダイヤフラムを構成している。 (もっと読む)


【課題】 耐食性、耐熱性等の耐久性に優れ、構造が簡単で微細加工ができ、しかも安価に製造することができるダイアフラムチップとそれを用いた圧力センサ及びダイアフラムチップの製造方法を提供する。
【解決手段】 本発明のダイアフラムチップ15は、Si基板12の表面12aに断面矩形状の凹部13が形成され、この凹部13の上方かつ表面12a上に、膜厚が0.05μm以上かつ50μm以下のSiC薄膜14が形成され、このSiC薄膜14の凹部13上の領域がダイアフラム部14aとされたことを特徴とする。 (もっと読む)


【課題】 X,Y,Z軸の出力差を減らすため、Z軸の感度を下げてX,Y軸の感度に合
わる方式では、感度を下げて使用することになり高感度化ができない。また、X,Y,Z
軸の出力差が大きいと、出力増幅率が異なる増幅器を各軸毎に準備する必要があるため高
価となる。
【解決手段】 ピエゾ抵抗素子が設けられた部位bの断面積、ピエゾ抵抗素子がない部位
aの断面積の比b/aが1.1以上3.5未満、より好ましくは1.5以上2.5以下と
、可撓部のピエゾ抵抗素子がない部位の断面積を小さくすることで、X,Y,Z軸の感度
差を小さくすることができるとともに、耐衝撃性も確保できる。 (もっと読む)


【課題】本発明の目的は、ゲートの動きをより精細に検出できる変形可能なゲートをもつMOSトランジスタを提供することである。
【解決手段】半導体基板に形成された変形可能なゲートをもつMOSトランジスタは、ソースからドレインへの第一の方向及びその第一の方向に対して垂直な第二の方向へ向かって伸びるチャネルエリアにより分けられたソース及びドレインエリアと、チャネルエリアの両側の基板の上に設けられたベアリングポイントの間で第二の方向へ向かって伸びるチャネルエリアの少なくとも上部に設けられた導電ゲートの梁とを含み、そのチャネルエリアでは、チャネルエリアの表面がくぼんでおり、前記梁がチャネルエリアに対して最大のたわみを有するとき、ゲートの梁の形と同様の形をチャネルエリアの表面が有する。 (もっと読む)


201 - 220 / 234