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Fターム[4M118FA27]の内容

固体撮像素子 (108,909) | CCD、MOS型固体撮像素子の細部 (13,257) | 分離構造 (2,603) | 溝による分離 (532)

Fターム[4M118FA27]に分類される特許

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【課題】「混色」の発生などを防止して、撮像画像の画像品質を向上させる。
【解決手段】第1トレンチTR1と、半導体基板101において第1トレンチよりも浅い部分において、第1トレンチTR1よりも幅が広い第2トレンチTR2とを、トレンチTRとして形成する。そして、第1トレンチTR1の内部を埋め込むと共に、第2トレンチTR2の内側の面を被覆するようにピニング層311を形成する。そして、少なくともピニング層311を介して第2トレンチTR2の内部を埋め込むように、遮光層313を形成する。 (もっと読む)


【課題】「混色」の発生などを防止して、撮像画像の画像品質を向上させる。
【解決手段】半導体基板101において裏面(上面)側に形成されたトレンチTR内に、画素分離部301を設ける。ここでは、受光面JSに入射した光を吸収する絶縁材料によって、画素分離部301を形成する。 (もっと読む)


【課題】撮像画像の画像品質を向上させる。
【解決手段】半導体基板101の画素分離部301に形成されたトレンチTRの内部に第1遮光部313Aを設ける。これと共に、その第1遮光部313Aの上面側に第2遮光部313Bを設ける。ここでは、画素領域PAの中心よりも周辺において、第2遮光部313Bの中心が、画素分離部301の中心に対して、画素領域PAの周辺の側へ多くシフトするように、第2遮光部313Bを形成する。つまり、少なくとも第2遮光部について「瞳補正」を実施する。 (もっと読む)


【課題】 簡単な工程で半導体装置を製造することが可能となる。
【解決手段】 半導体基板101の撮像領域103及び周辺領域104の上に第5層間絶縁膜113eが配される。第5層間絶縁膜113eの光電変換部105と重なった位置に開口116が形成される。半導体基板101の撮像領域103及び周辺領域104に第1導波路部材118を形成する。第1導波路部材118の周辺領域104に配された部分を除去し、第5層間絶縁膜113eを露出させる。 (もっと読む)


【課題】ローリングシャッタ的雑音を低減した高性能なグローバルシャッタ機能を有する固体撮像装置を提供する。
【解決手段】二次元状に配置された複数の単位画素セルを備え、グローバルシャッタ機能を有する固体撮像装置であって、前記複数の単位画素セル23のそれぞれは、半導体基板の上方に形成され、入射光を信号電荷に変換する光電変換膜16と、前記光電変換膜の前記半導体基板側の面に形成された画素電極15と、前記半導体基板上に形成され、グローバルシャッタによって前記光電変換膜16から転送された信号電荷を蓄積するグローバル電荷蓄積拡散層7とを備え、前記グローバルシャッタは前記複数の単位セルにおいて同時に光電変換膜16からグ信号電荷を転送することであり、前記画素電極15は、遮光性を有する金属で形成される。 (もっと読む)


【課題】 光電変換部の電荷の転送効率を向上させることを目的とする。
【解決手段】 活性領域115にN型半導体領域101及びフローティングディフュージョン105が配される。PDからFD105に電荷を転送するための転送ゲート電極103が半導体基板上に絶縁体を介して配される。PDを構成するN型半導体領域101の一部と転送ゲート電極103の一部とが互いに重なる。活性領域115にP型半導体領域106が配される。P型半導体領域106と、N型半導体領域101の転送ゲート電極103と重なった部分とは、半導体基板と絶縁体との界面に平行な方向において互いに隣接して配される。N型半導体領域101の不純物濃度ピークの位置とP型半導体領域106の不純物濃度ピークの位置とが異なる深さである。 (もっと読む)


【課題】光電変換部へのエッチングによるダメージや金属汚染による光電変換特性の低下、等を低減する。
【解決手段】複数の光電変換素子と該光電変換素子の電荷に基づく信号を読み出すための第1のMOSトランジスタとが配された光電変換領域101と前記第1のMOSトランジスタの駆動を行なう第2のMOSトランジスタが配された周辺回路領域102とが同一の半導体基板に配され、前記光電変換素子の受光面に反射防止膜106が配された光電変換装置であって、前記第1のMOSトランジスタのドレイン114の不純物濃度は、前記第2のMOSトランジスタのドレイン111の不純物濃度よりも低く、前記第2のMOSトランジスタはゲート電極112に絶縁膜のサイドスペーサ113が配されたLDD構造を有しており、前記サイドスペーサの膜厚は前記反射防止膜と前記光電変換素子の受光面との間に配されたシリコン酸化膜より厚い。 (もっと読む)


【課題】少なくとも暗電流の抑制を図ることができる固体撮像装置を提供する。
【解決手段】基板の第1面側に配線層を有し、基板の第2面側から光を受光する固体撮像装置であって、基板の第2面上に形成された膜厚1nm以上50nm以下の第1絶縁膜71と、第1絶縁膜71上において、周辺回路領域を除く撮像領域の受光部の受光面上に形成された酸化インジウム錫、又は、酸化亜鉛からなる透明導電膜74とを備える。 (もっと読む)


【課題】縦方向と横方向の曲率に対して最適なレンズ形状とすることにより、平面視で縦方向と横方向の長さが異なる照射対象に対しても中央部分に確実に集光させて集光効率を向上させる。
【解決手段】平坦化膜上に感光性レジスト膜を成膜する感光性レジスト膜成膜工程と、透過率階調マスクを用いて照射光量を平面的に制御して、感光性レジスト膜をレンズ形状に形成するレンズ形状形成工程とを有し、レンズ形状を、マイクロレンズ37として、平面視縦方向および横方向のうちの少なくともいずれかの方向に端部同士が重なりを有したアレイ状に形成する。平面視外形が円形のレンズ形状から、縦方向および横方向の少なくともいずれかの方向に重なりを有したアレイ状に形成する。 (もっと読む)


【課題】画素サイズの微細化を実現するとともに、高感度及び低混色の固体撮像素子を提供する。
【解決手段】画素部100が行列状に配置された固体撮像素子10であって、画素部100は、ナノメートルオーダーの直径を有する半導体または金属からなる複数の微粒子114a、114bが分散され入射光量に応じた信号電荷を生成する光電変換膜115と、信号電荷を光電変換膜115から読み出す読み出しトランジスタ103を有する半導体層101とを備える。 (もっと読む)


【課題】トレンチ溝の端と画素注入分離層およびフォトダイオード形成層の境界との各距離AおよびB、画素注入分離層とフォトダイオード形成層の境界の距離Cの各ばらつきを低減することにより、画素毎の暗電流および飽和感度のばらつきを低減することができて良好な画像を得る。
【解決手段】トレンチ溝41の端と高濃度P型拡散層46の境界との距離Aがサイドウォール幅(サイドウォールの膜厚)で決定され、また、トレンチ溝41の端とフォトダイオード形成層である受光部3の境界との距離Bも、フォトダイオード形成層である受光部3と高濃度P型拡散層46と境界が同一になるため、その距離もサイドウォール幅(サイドウォールの膜厚)で決定される。 (もっと読む)


【課題】半導体層に光電変換部が形成され半導体層の第1の面の上方に配線が形成される固体撮像素子を製造するための半導体ウエハーにおいて、当該半導体層の第2の面の側における加工精度を向上させる。
【解決手段】半導体層と、半導体層に形成された光電変換を行う光電変換部と、半導体層の第1の面に形成された窪み部を含むアライメントマークと、半導体層の第1の面の上方に形成された配線と、を具備し、上記アライメントマークは、窪み部の最も深い位置から半導体層の第2の面までの距離が、可視光によって半導体層の第2の面の側から識別可能な距離となるように形成されている。 (もっと読む)


【課題】各ゲートとの寄生容量を抑えることによりFDAの感度を向上する。
【解決手段】FD部2と直接接続する領域3aと重なる部分のSFトランジスタ4のゲート電極3の周囲の半導体基板8に溝部2aに空洞がある。ゲート電極3の平面視領域3aの周囲のうちのゲート電極3の両側および先端側の半導体基板8に溝部2aを設け、溝部2aが空洞のままであっても、溝部2aが酸化膜よりも誘電率が低い層間膜で埋め込まれていても、SFトランジスタ4のゲート電極3の寄生容量を低減することができ、これによって、FDAの感度を向上させることができる。 (もっと読む)


【課題】本発明は、光電変換膜が半導体基板上に積層された積層型の固体撮像装置に関する。
【解決手段】複数の画素が二次元配置されてなる固体撮像装置であって、半導体基板と、半導体基板上に形成された層間絶縁膜と、層間絶縁膜上に、画素毎に隙間を空けて形成された下部電極と、真性半導体材料からなり、画素毎に、隙間を空けて、各下部電極上に形成された光電変換膜と、不純物半導体材料からなり、前記光電変換膜上に、複数の画素に亘って形成され、光電変換膜間の隙間に相当する部位が当該隙間に入り込んで、光電変換膜の側面の一部または全部を覆っているブロッキング層と、ブロッキング層上に、複数の画素に亘って形成された透光性を有する上部電極とを有することを特徴とする。 (もっと読む)


【課題】微細化しても高い感度を得ることを可能にする。
【解決手段】第1導電型の半導体基板上に設けられた複数の画素であって、それぞれが半導体基板の第1面側から入射する光を信号電荷に変換し蓄積する第2導電型の半導体領域を有する複数の画素と、半導体基板の第1面側に設けられ、画素に蓄積された信号電荷を読み出すための読み出し回路と、半導体基板の、隣接する画素間に設けられた画素分離構造であって、画素分離構造は半導体基板の前記第1面側から設けられたトレンチ内に埋め込まれた積層膜を有し、積層膜は、トレンチの側面および底面に沿って設けられた第1絶縁膜と、第1絶縁膜を覆うように前記トレンチ内に設けられ固定電荷を保持する固定電荷膜とを含む画素分離構造と、を備えている。 (もっと読む)


【課題】画素の微細化および/または電荷の完全転送に有利な技術を提供する。
【解決手段】電荷蓄積領域を含む光電変換部と、浮遊拡散領域と、前記電荷蓄積領域に蓄積された電荷を前記浮遊拡散領域に転送するためのチャネルを形成するためのゲート電極とを含む固体撮像装置を製造する方法は、半導体基板の上にゲート絶縁層を介して前記ゲート電極を含むゲート電極構造体を形成する工程と、前記ゲート電極構造体および前記ゲート絶縁層を介して前記半導体基板の第1領域および第2領域に対して同時にイオンを注入する工程とを含み、前記第1領域は、前記電荷蓄積領域を形成すべき領域であり、前記第2領域は、前記電荷蓄積領域から前記ゲート電極の下方の部分に延びた拡張領域を形成すべき領域であり、前記イオンを注入する工程におけるイオンの平均投影飛程は、前記ゲート電極および前記ゲート絶縁層の厚さの合計よりも大きい。 (もっと読む)


【課題】最新の電子画像応用に必要な小さなセンサーサイズを達成する。
【解決手段】半導体基板上に形成された少なくとも2つの垂直積層感光性センサー、前記センサーの1つの上の第1のエピタキシャル層311、第1のエピタキシャル層の上の第2のエピタキシャル層315、並びに、第1のエピタキシャル層を通って前記センサーの1つへ伸びる底部部分、および第2のエピタキシャル層を通って底部部分から伸びる上部部分を有するプラグコンタクト、を含むセンサー群。前記第1のエピタキシャル層および前記第2のエピタキシャル層の各々は本質的にp型シリコンからなり、前記プラグコンタクトの底部部分は砒素が拡散した第1のエピタキシャル層の領域であり、前記プラグコンタクトの最上部部分は砒素が拡散した第2のエピタキシャル層の領域であってもよい。 (もっと読む)


【課題】回路ノイズ及び混色を低減しながら、高感度化を図る。
【解決手段】本発明の一形態に係る固体撮像装置10は、シリコン層101の第一主面側から入射した光を電荷に変換する第一導電型の複数のフォトダイオード111と、シリコン層101の第一主面側の表面に形成されている第二導電型の埋め込み層126と、フォトダイオード111間に形成されるとともに、シリコン層101の第二主面から埋め込み層126まで到達するように形成されている第二導電型の分離部120と、分離部120の第二主面側に形成されているトランジスタ112と、シリコン層101の第ニ主面側に形成されている周辺回路部130と、シリコン層101の、フォトダイオード111間の領域の第一主面側と、周辺回路部130が形成されている領域の第一主面側とに埋め込み形成されている導電性の遮光部119とを備える。 (もっと読む)


【課題】垂直に積層したセンサーを含む感光性センサー群を提供する。
【解決手段】第1の極性を有する半導体基板上に形成されたセンサー群は、少なくとも2つの垂直積層センサーで、センサーの各々は、異なるスペクトル感度を持ち、フォトダイオードとして機能するためにバイアスすることが可能であり、また第2の極性を持つ半導体材料のキャリア収集層を含み、フォトダイオードとして機能するためにバイアスされる時第2の極性の光励起キャリアを収集するように作られることを特徴とする。 (もっと読む)


【課題】イメージセンサにおけるノイズの発生を抑える。
【解決手段】裏面照射型イメージセンサは、基板と、上記基板の裏面上に配置された裏面保護層と、上記裏面保護層上に配置された透明導電層とを備えている。 (もっと読む)


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