【課題】診断に障害となるアーチファクトの生起がなく歩留まりが向上した２次元画像検出装置の供給を可能にする。
【解決手段】２次元画像検出装置２の良否を判定する基準である判定欠陥画素数および判定欠陥サイズの値について、頻繁に診断に使用される画像中央部より使用頻度の少ない画像周辺部で大きな値とすることにより、歩留まりを良好に維持すると同時にアーチファクトの生起がない２次元画像検出装置２の供給が可能である。 （もっと読む）

【課題】撮影した画像の線欠陥に隣接して現れるスジ状の濃度むらを精度良く検出し、画像補正が必要な箇所に正確に画像補正することができる画像補正方法および放射線画像撮影装置を提供する。
【解決手段】読み取り操作を行なわずに前記検出器の画像信号を読み取ることで得られる不活性データを取得し、この不活性データから線欠陥を検出する工程と、前記読み取り操作を行なって前記検出器の画像信号を読み取ることで得られる活性データを取得し、この活性データから線欠陥を検出する工程と、前記活性データで検出され、前記不活性データで検出されない線欠陥を着目線欠陥として検出し、この着目線欠陥に隣接する画素を、濃度むらを有する擬欠陥画素と認定する工程とを有することを特徴とする画像処理方法。 （もっと読む）

【課題】ＨＶ印加に起因する欠陥サイズの変化に対応して、画像補正が必要な箇所に正確に画像補正することができる放射線画像撮影装置を提供する。
【解決手段】放射線検出器から取得した欠陥検出用データを用いて、放射線検出器の欠陥画素を検出し、放射線検出器における欠陥の情報を示す欠陥情報を生成する欠陥検出手段と、欠陥情報を用いて、放射線検出器が撮影した放射線画像の欠陥補正を行なう欠陥補正手段と、欠陥補正手段が欠陥補正を行なう際に、放射線検出器への高電圧印加からの経過時間に応じて、欠陥情報における欠陥の大きさを変更する欠陥サイズ変更手段とを有することにより、前記課題を解決する。 （もっと読む）

【課題】放射線画像検出器の欠陥画素を適正に検出し、かつ、過補正を抑制できる欠陥画素検出方法および放射線画像撮影装置を提供する。
【解決手段】欠陥画素の検出用画像から第１の閾値を用いて仮の欠陥を検出し、検出した欠陥画素について、長尺な欠陥と、それ以外との欠陥とに分類し、長尺な欠陥には第１の閾値以上の第２の閾値を、それ以外の欠陥には第１の閾値よりも大きな第３閾値を対応して、検出用画像から欠陥画素を再検出し、第２の閾値で検出した欠陥画素に関して、所定の閾値を超える長さの欠陥には、補正を行なわない情報を付すことにより、前記課題を解決する。 （もっと読む）

【課題】不良画素に対する補償機能を有するイメージセンサを提供すること。
【解決手段】画素ラインメモリ部200と、の制御下で、ラインメモリ部200から現在の
アドレスに対応する画素データPixel(i,j)を切り換えて出力する切換部700と、不良画素
のローアドレス選択信号RASS、不良画素のカラムアドレス信号DPCA、最後のカラムの情報
信号Line End等を制御信号として、メモリ200からPixel(i,j)を含むその周辺画素のデー
タPIXEL[I、J]を受信し、切換部700からPixel(i,j)を受信して、補正された画素データPI
XEL^*[I、J]を出力する不良画素補正部600と、イメージセンサの性能向上を図るための信
号処理を行う画像信号処理部300とを含む。本イメージセンサは、EEPROMを用いないので
、製造歩留まりが高く、コストが安い。 （もっと読む）

【課題】ＭＯＳ型固体撮像装置における読み出し特性の改善を図る。
【解決手段】第２導電型の半導体領域２６とその表面の第１導電型のアキュムレーション領域２７を有する光電変換部２３と、フローティングディフージョン部２４と、ｎ型半導体による転送ゲート電極３２と、転送ゲート電極３２の光電変換部側に絶縁膜３３を介して形成されたｎ型半導体によるサイドウォール３４と、転送ゲート電極３２のフローティングディフージョン部側に形成された絶縁層によるサイドウォール３５とを有する。アキュムレーション領域２７は、サイドウォール３４直下に形成されないか、もしくは一部がサイドウォール３４と重なり、光電変換部側のサイドウォール３４に、転送ゲート電極３２の電圧がカップリング容量を通じて印加され、電荷読み出し時に、転送ゲート電極３２に読み出し電圧が印加され、電荷蓄積時に、転送ゲート電極３２に、光電変換部側のサイドウォール直下に信号電荷と逆の電荷が誘起される電圧が印加される。 （もっと読む）

【課題】 処理速度を向上させながら適切な欠損補正を実行することが可能な放射線撮像装置を提供すること。
【解決手段】 被検体２を透過した放射線をフラットパネルディテクタ３で検出することにより放射線撮像を行う放射線撮像装置であって、キャリブレーションにより得たフラットパネルディテクタ３の欠損画素の位置情報と、欠損予備群画素の位置情報とを記憶するメモリ部４２と、このメモリ部４２に記憶した欠損予備群画素の位置情報に基づいてフラットパネルディテクタ３による撮影時に欠損予備群画素を検査することにより、欠損予備群画素で欠損が生じているか否かを判定する欠損判定部４３と、欠損判定部４３で欠損が生じていると判定された欠損予備群画素の欠損補正を行う欠損補正部４４とを備える。 （もっと読む）

デジタルビデオカメラの欠陥画素を判断する欠陥画素テスタである。このテスタはビデオ入力部とメモリとコントローラとを有する。ビデオ入力部は、デジタルビデオカメラからビデオフレームを受け取る。各ビデオフレームは複数の画素値により画定される。メモリはキャプチャしたビデオフレームと画素テスト結果を記憶する。コントローラは、異なるビデオフレームから対応する画素値の差分値を生成し、差分値と閾値との比較に基づき画素テスト結果を生成し、画素テスト結果をメモリに記憶する。
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【課題】 多視点の撮像装置において、大きな領域の画素欠陥を良好に補正する。
【解決手段】Ｓ１では、第１撮像部２ａまたは第２撮像部２ｂの撮像した画像である補正対象画像Ｉ１から、欠陥領域を特定する。Ｓ２では、欠陥領域を包含する所定形状の領域を探索領域とする。次に、第２撮像部２ｂ（基準撮像系）の撮像した画像である基準画像Ｉ２のうち、第１撮像部１ｂ・第２撮像部２ｂの撮像範囲が融合する共通領域を走査して、探索領域の欠陥領域以外の部分領域の色情報と一致する色情報を有する基準画像内の領域（対応領域）を探索する。Ｓ３では、基準画像Ｉ２から対応領域を抽出する。Ｓ４では、欠陥領域を対応領域で置換することで補正対象画像Ｉ１を補正する。 （もっと読む）

【課題】 本発明は、欠陥画素によるノイズと線状の固定パターンノイズとを効率良く除去する撮像装置を提供する。
【解決手段】 撮像装置は、撮像素子と、区分け部と、暗黒画像取得部と、欠陥画素検出部と、線状ノイズ検出部とを備える。撮像素子は、２次元的に配列された、入射光を光電変換する複数の画素を有する。区分け部は、撮像素子の撮像領域を配列の第１の方向に沿って複数の部分領域に区分けする。暗黒画像取得部は、撮像素子への入射光を遮光した状態で、撮像素子により暗黒画像を撮像し、その暗黒画像の撮像毎に、異なる部分領域から暗黒画像を取得する。欠陥画素検出部は、部分領域毎の暗黒画像を解析することにより、撮像素子の欠陥画素の位置を検出する。線状ノイズ検出部は、部分領域毎の暗黒画像を解析することにより、暗黒画像内で第１の方向と垂直に交差する第２の方向に発生する線状ノイズを検出する。 （もっと読む）

【課題】欠陥画素の補間処理の精度を向上させること。
【解決手段】入力画像信号の各画素に対し、欠陥を含む画素の領域である特異領域か否かを判定する特異領域判定部１０９と、被写体までの距離情報を画素毎に取得する距離情報取得部１１０と、距離情報取得部１１０によって取得した距離情報を用いて、特異領域判定部１０９によって特異領域として判定された各画素を補間する補間部１１１とを備えることを特徴とする画像処理装置１を提供する。 （もっと読む）

【課題】高周波成分をもった被写体に対しても高精度にて対応可能な欠陥補正装置および欠陥補正方法、ならびに欠陥補正装置を用いた撮像装置を提供する。
【解決手段】被写体の動きを検出する動き検出手段（手振れ検出回路１６１）と、現フレームで検出された欠陥画素に対して、動き検出手段で検出した動き情報に基づいて前後のフレームでの欠陥画素に対応する画素位置を特定する位置特定手段（欠陥アドレス記憶回路１６２、アドレス演算回路１６３およびアドレス比較器１６４）と、位置特定手段によって特定された前後のフレームの少なくとも一方の画素位置の画素データを用いて欠陥画素のデータを補正する補正手段（補正回路１６７）と、を備える。 （もっと読む）

本発明は、感光点のマトリックスによって取得された画像を補正する方法に関する。本発明は、特に、マトリックスが電磁妨害を受けやすい場合に有用である。
本発明によれば、本補正方法は、マトリックスを行ごとに読み取る、第１のステップ（Ｅ_２）を含む。各行の第１の読み取り時に読み取られる信号は、マトリックスが光放射にさらされた後に蓄積されている電荷を表し、これによって、マトリックスの列ごとに離散信号Ｘ_ｒｅａｌ（ｎ）を形成することが可能になる。第２の読み取り時に読み取られる信号は、露光がないときに蓄積された電荷を表し、マトリックスの列ごとに離散信号ＯＦ（ｎ）を形成する。本方法の第２のステップ（Ｅ_３）では、露光がない場合に第１の読み取り時に形成されていたであろう信号ＯＦ（ｎ）に実質的に相当する信号ＯＦＸ（ｎ）を決定する。第３のステップ（Ｅ_４）では、列ごとに、信号Ｘ_ｒｅａｌ（ｎ）から信号ＯＦＸ（ｎ）を減算する。
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【課題】後発縦線キズにも対応可能な、撮影条件によらない精度よい縦線キズ補正を実現する。
【解決手段】第１の画素群と第２の画素群とに蓄積された信号電荷を個別に読み出すことが可能な撮像素子を用いて、第１の画素群と第２の画素群とに第１の所定時間の露光を行い、第１の画素群から露光時間が第１の所定時間である第１の画像を取得し、第２の画素群から露光時間が第１の所定時間より短い第２の所定時間である第２の画像と、露光時間が少なくとも第１の所定時間と前記第２の所定時間との差分以下の第３の所定時間である第３の画像を取得し、第３の画像に基づいて撮像素子の縦線キズの情報を検出し、縦線キズの情報に基づいて第１の画像の縦線キズと第２の画像の縦線キズとを補正する。 （もっと読む）

【課題】 本発明は、画像データにおける画素値の補正処理を、回路規模を増大させることなく行うことができる技術を提供することを目的とする。
【解決手段】 本発明は、原画像データのビット精度よりも低いビット精度の第１の画像データを算出し、第１の画像データの処理対象画素の周辺の画素の画素値を用いて、処理対象画素の第１の画素値を算出する第１の画素値算出部と、原画像データの処理対象画素の周辺の画素の画素値を用いて、処理対象画素の第２の画素値を算出する第２の画素値算出部と、第１の画素値と第２の画素値とから求めた補正値を、第１の画素値に付加するビット誤差抑制部と、を備える。 （もっと読む）

【課題】帯域制限手段を通した信号の場合においても、Ａ／Ｄクロックを自動的に適切な位相に設定することができる撮像装置を提供する。
【解決手段】ディレイ量設定信号により設定されたディレイ量（位相）のＡ／ＤクロックのタイミングでＡ／Ｄ変換器２８でＡ／Ｄ変換されたＬＰＦを通した白傷画素の信号データは、ピーク検出回路４４に入力され、その際前の信号データとの比較により、ピーク値か否かが検出され、ピーク値の場合に出力される保持信号により、対応するディレイ量の情報がディレイ量指定回路４２からＲＯＭ制御部４５を介してＲＯＭ２２に格納される。以後は、ピーク値に対応する位相のＡ／ＤクロックでＡ／Ｄ変換器２８はＡ／Ｄ変換する。 （もっと読む）

【課題】ＣＣＤセンサやＣＭＯＳイメージセンサが含む欠陥画素の位置情報を効率よく保持する撮像装置および信号処理方法を提供する。
【解決手段】この発明の撮像装置１は、入力情報を光電変換する撮像素子＜１３＞と、撮像素子の個々の画素の出力から撮像素子が含む欠陥画素を検出する欠陥画素検出モジュール＜１５＞と、欠陥画素検出モジュールから供給される撮像素子の欠陥画素が、隣接する画素に連続することを検出し、欠陥画素が隣接する場合の先頭の画素の位置情報と２ビットの判定データにより欠陥画素の位置を記憶する欠陥画素位置記憶モジュール＜１７＞と、を有する。 （もっと読む）

【課題】光電変換基板12で欠陥が発生した場合でも欠陥に関して規格内に収まる放射線画像を取得できる放射線検出器11を提供する。
【解決手段】光電変換基板12の規格よりも大きい欠陥信号を出力する欠陥画素Paの薄膜トランジスタ22と信号配線26との接続箇所を切断する。光電変換基板12で欠陥が発生した場合でも、欠陥信号を発生させる原因となっている箇所を切断することで、欠陥に関して規格内に収まる放射線画像を取得できる。 （もっと読む）

【課題】不良画素に対する正確な検出及び完全な補正が行われるようにする技術を提供する。
【解決手段】実施例によるイメージセンサの不良画素の検出及び補正方法は、被写体のイメージフレームを多数個生成して保存する第１過程；前記複数のイメージフレーム内の画素をスキャンする第２過程；前記複数のイメージフレームで不良画素が検出される時、該当不良画素の位置を不良ブロック位置としてメモリに保存する第３過程；及び撮影が行われる時前記メモリに保存された不良ブロック位置を呼び出して、該当不良ブロックの輝度値を補正する第４過程を含む。 （もっと読む）

【課題】 読み出し異常画素領域に関して、出力回路系の不具合か、サンプルホールドコンデンサ系の不具合かの判別を行い、その判別結果に基づいて出力ラインを選択すること。
【解決手段】 撮影装置は、複数の画素を一つのまとまりとし、一つのまとまりの画像データを画素平均として出力するビニング出力により複数の解像度設定が可能な撮影ユニットと、解像度設定するために、一つのまとまりとなる画素の単位を設定する設定部と、撮像ユニットを構成する各画素に対応する出力回路の出力を検出し、出力異常値を示した画素を特定する特定部と、設定部により設定された画素の単位と、特定部による特定結果とに基づき、出力異常値を示した画素の出力を除くように、ビニング出力を行うための出力回路を選択する選択部と、を備える。 （もっと読む）