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Fターム[5D090JJ16]の内容

光学的記録再生 (53,787) | 試験、測定、検査、判別 (2,609) | 汚れ状態の検知、判別 (191)

Fターム[5D090JJ16]に分類される特許

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【課題】特に最外周付近で極端に記録品質が悪くなる光ディスクにおいて記録エラーとなる前に記録を停止できる光ディスク記録再生装置を提供する。
【解決手段】光ディスクの所定数のセクタずつセクタに情報が記録される毎に、記録した情報が読み出されて情報の信号のジッタが測定され、測定されたときのアドレスとジッタの測定値との関係に基づいてアドレスとジッタとの関係が近似的に示される近似式が算出され、この近似式が参照されて、所定アドレス以降のジッタ予想値が所定の閾値以上であると判定されたときに、当該光ディスクに対する情報の記録が停止される。したがって、特に最外周付近で極端に記録品質が悪くなる光ディスクは、最外周付近のアドレスになると、ジッタ予想値が所定閾値以上になり、記録が停止され、光ディスクにはこれ以上情報が記録されないことになる。 (もっと読む)


【課題】書換型記録媒体用のドライブ装置で、追記型記録媒体を再生できないといった問題が生じ得る。
【解決手段】追記型記録媒体10上に、ディフェクト管理情報を確定的に記録するための確定的ディフェクト管理エリア13と、ディフェクト管理情報を一時的に記録するための複数の一時的ディフェクト管理エリア14A、14B、14Cを設ける。記録媒体10をファイナライズする前は、ディフェクト管理情報が更新される度に、更新されたディフェクト管理情報を複数の一時的ディフェクト管理エリアのいずれかに記録する。さらに、記録媒体10上にステータス情報記録エリア15を設け、そこに、最後に記録したディフェクト管理情報が存在する一時的ディフェクト管理エリアを示すステータス情報を記録する。ステータス情報を参照することにより、最後に記録したディフェクト管理情報を迅速に特定することができる。 (もっと読む)


【課題】 テストディスクの作成を、ユーザの手間をかけずに実行可能なテストディスク作成装置を提供する。
【解決手段】 テストデータ記憶手段40と、最良パラメータセットを記憶する最良パラメータセット記憶手段44と、最良パラメータセットのパラメータの値を変更し、変更したパラメータの値に基づいて光ディスクへ試し書きを行う試し書き手段36と、データの書き込み品位を測定する書き込み品位測定手段34と、目標書き込み品位記憶手段46と、試し書き手段36によって試し書きされたデータを読み出して測定された書き込み品位と目標書き込み品位とを比較し、目標書き込み品位に一致するまで試し書き手段36に試し書きを繰り返し行わせ、目標書き込み品位に一致したときの試し書きのパラメータの値をテスト用パラメータとして設定するテスト用パラメータ設定手段35とを具備する。 (もっと読む)


【課題】書換型記録媒体用のドライブ装置で、追記型記録媒体を再生できないといった問題が生じ得る。
【解決手段】追記型記録媒体10上に、ディフェクト管理情報を確定的に記録するための確定的ディフェクト管理エリア13と、ディフェクト管理情報を一時的に記録するための複数の一時的ディフェクト管理エリア14A、14B、14Cを設ける。記録媒体10をファイナライズする前は、ディフェクト管理情報が更新される度に、更新されたディフェクト管理情報を複数の一時的ディフェクト管理エリアのいずれかに記録する。さらに、記録媒体10上にステータス情報記録エリア15を設け、そこに、最後に記録したディフェクト管理情報が存在する一時的ディフェクト管理エリアを示すステータス情報を記録する。ステータス情報を参照することにより、最後に記録したディフェクト管理情報を迅速に特定することができる。 (もっと読む)


【課題】指紋や埃が付着した場合でも、高品質な情報記録を実現する。
【解決手段】複数の情報記録層20、22、24、26を備えた多層光記録媒体1に対して情報を記録する際に、第1情報記録層に記録レーザー光を照射して情報を記録すると共に、記録レーザー光の反射光を検出して多層光記録媒体1の欠陥情報を収集する。さらに、この欠陥情報に基づいて第2情報記録層に記録レーザー光を照射して情報を記録するようにした。 (もっと読む)


【課題】 メーカーによるよりきめの細かい品質保証を行うことが可能なフォーマット構造を有する情報記録媒体を提供する。
【解決手段】 情報記録媒体1にプリフォーマットされたリードイン領域10の欠陥管理領域「DMA1&DMA2」に設けられた「DDS(Disc DefinitionStructure)」中の「Disc manufacturer certification」領域に2ビット以上の記録容量を有する検査結果表示部40を設け、当該検査結果表示部40に、データ記録領域を全面検査したか否か、データ記録領域をサンプリング検査したか否か、サンプリング検査条件等を記録する。 (もっと読む)


【課題】予め設定されている記録条件調整領域以外の調整領域を確保する方法および光ディスク装置を提供する。
【解決方法】光ディスク記録方法は、緩衝領域とユーザデータ記録再生領域とを備えるデータ領域と、データ領域を管理するための管理情報が記録されるシステム領域とを具備する情報記録媒体に情報を記録する光ディスク記録方法であり、ユーザデータ記録ステップと調整ステップと確保ステップと調整信号記録ステップとを具備する。情報記録媒体のユーザデータ記録再生領域は、緩衝領域によって複数の領域に分割される。ユーザデータ記録ステップは、ユーザデータ記録再生領域にユーザデータを記録する。調整ステップは、ユーザデータを記録するときの記録条件を調整する。確保ステップは、調整ステップで使用される調整用信号が記録される記録条件調整領域をデータ領域に確保する。調整信号記録ステップは、確保ステップで確保された記録条件調整領域に調整用信号を記録する。 (もっと読む)


【課題】ライトワンス型記録媒体を用いるシステムにおいて、リンキングでオーバラップする記録方式を採用しつつ、適切な動作を実現できるようにする。
【解決手段】記録再生の単位となるブロックにリンキング(ランインエリアとガードエリア)を有し、そのリンキングでオーバーラップして記録するようにしたライトワンス型の記録媒体に対して、製造後に次のような検査方法で検査を行う。同一の製造ロットで製造された記録媒体から抽出した検査用の記録媒体に対して、複数の記録再生ブロックを、リンキングエリアがオーバラップするようにして連続的に記録し、記録された複数のブロックを再生し、エラーレートを測定する。そしてエラーレートが所定値以下であれば良好とし、所定値以下でなければ不適切な記録媒体として排除する。 (もっと読む)


【課題】光ディスクのOPC領域に傷や指紋などのディフェクトが存在する場合、評価データの差が記録条件だけでなくディフェクトの影響によって生じ、検出した評価データから真に最適な記録条件を決定することができない。
【解決手段】評価データ検出部151は、光ディスクのOPC領域から再生された再生RF信号から評価データを検出する。近似評価データ算出部152は、入力された評価データから組み合わせを複数用意し、各組み合わせに対して、それに属する評価データのみを用いて複数種類の記録条件毎に評価データの近似値を算出する。最適記録条件決定部153は、入力された近似値の総和を組み合わせ毎に算出し、総和が最小となる組み合わせにより算出された近似値のうち最小となるものに対応する記録条件を最適とする。ディフェクトの影響を受ける評価データは大きな値となるためである。 (もっと読む)


【課題】試し書き要否の判断をより的確に行い、不要な試し書き処理をなくし、データ転送レートの低下を防止すること。
【解決手段】制御回路9は、記録後のデータを再生しエラーを検出した場合、再生した信号のエンベロープのトップレベルVtopを予め定めた欠陥検出用閾値Vthと比較する。比較の結果、Vtop>Vthである場合は試し書き処理を実施し、Vtop<Vthである場合は試し書き処理を実施しない。ここに閾値Vthのレベルは、エンベロープのトップ値の時間平均レベルとボトム値の時間平均レベルの間に設定する。 (もっと読む)


【課題】
規格が異なる記録層を有するハイブリッド型光ディスクの記録または再生に要する時間を短縮化する。
【解決手段】
ハイブリッド型光ディスクの記録層が切替えられる前の記録層でのセットアップ時におけるエラー情報の学習や記録または再生時におけるエラー情報の学習を行い、該学習の結果を保存しておき、記録層の切替えが行われたとき、切替え前の記録層における学習結果を切替え後の記録層にも共用し、基準レベル以上の傷や汚れ等がある場合には、該学習結果情報に基づいて、セットアップ時や記録または再生時に該ハイブリッド型光ディスクの回転倍速値を低下させる構成とする。 (もっと読む)


【課題】光ディスクの暗欠陥及び明欠陥をディフェクトとしてより正確に検出することが可能なディフェクト信号生成回路を提供する。
【解決手段】本発明に係るディフェクト信号生成回路100は、入力信号(SBAD信号)よりも時定数の長いローパスフィルタ信号を出力するローパスフィルタ回路1と、入力信号のレベルとローパスフィルタ信号のレベルとの差を演算し、第1の演算値を出力する演算回路2と、第1の演算値の符号により、暗欠陥であるか明欠陥であるかを判定する欠陥判定回路3と、第1の演算値の絶対値と第1の基準値の絶対値とを比較し、第1の演算値の絶対値方が大きいときはディフェクトが検出されたと判定するディフェクト検出判定回路5と、欠陥判定回路3およびディフェクト検出判定回路4の判定結果に基づいてディフェクト信号を出力する出力回路5とを備える。 (もっと読む)


本発明は、光記録担体(10)からデータを読み取り、クラックを検出する読み取り機器および対応する読み取り方法に関する。適切な対策を取ることが可能となるよう、高い信頼性で光記録担体内のクラックを検出することを可能にするため、当該機器は、放射線ビームを用いて、前記記録担体からデータを読み取り、データ信号(RF)を発生する読み取りユニット(14、15)と、前記光記録担体上のデータトラックをトラッキングし、トラッキングエラー信号(TE)および焦点エラー信号(FE)を発生するサーボエラー検出ユニット(16)と、焦点制御信号(FA)および半径制御信号(RA)を用いて、前記光記録担体上の前記放射線ビームの読み取りスポットの軸位置と半径位置とを制御する、制御ユニット(19)と、前記焦点エラー信号(FE)および/または前記トラッキングエラー信号(TE)が有意なピークを示すか否か、ならびに前記焦点制御信号(FA)および/または前記半径制御信号(RA)が有意なステップ変化を示すか否かをチェックすることにより、前記光記録担体にクラックが存在するか否かを判断するクラック検出ユニット(21)と、を有する。
(もっと読む)


【課題】ディスクに検査のために与えた光学的特性の変化の付与による影響を、光学的特性の変化前から存在する欠陥による光学的な影響から分離して計測する。
【解決手段】情報記録トラックを、所定の誤り率以上の特性を有する事前検査トラック21a、21b、21cと所定の誤り率以下の特性を有する事前検査トラック21d、21e、21fに分類し、上記事前検査トラック21d、21e、21fに挟まれた非事前検査トラック22d、22eを被検査トラックとして用いて、ディスクの記録再生特性を評価する。 (もっと読む)


【課題】ディスク再生中に温度などの周辺環境が変化した場合、アクチュエータ特性などが変わり、フォーカス、トラッキングサーボが不安定となり、正常に信号が読み取れず、音飛びが発生することがある。
【解決手段】サーボ制御中に、フォーカス、トラッキングサーボ制御部5、6に、周期的に、あるいはサーボが不安定と判断したときに、外乱生成部18より所定の周波数の外乱を印加し、位相検出部19により外乱印加前後の信号の位相差を検出する。ゲイン演算部28は検出した位相差から、フォーカス、トラッキングサーボのゲイン量を演算し、環境変化判定部29は演算結果から、周辺環境変化の有無を判定する。 (もっと読む)


【課題】光ディスクドライブ装置において,レーザダイオードの寿命と,対物レンズ又は光ディスク媒体表面の汚れを識別して検知し,ユーザに警告することで,記録再生エラーを未然に防ぐ。
【解決手段】レーザダイオード101に流れる電流と前方モニタ107の出力電流の勾配が,ドライブ出荷時に測定した勾配に所定の係数を乗じた値より小さい場合,レーザダイオードが劣化していると判定する。また,既存の光ディスクの反射率と基準光ディスクの反射率の比を記憶しておき,光ディスク110の反射率が,ドライブ出荷時に測定した基準光ディスクの反射率に上記比を乗じて,さらに所定の係数を乗じた値より小さい場合,対物レンズ109又は光ディスク110が汚れていると判定する。 (もっと読む)


光学記憶媒体上の表面欠陥を検出することができる様々な装置及び関連する方法が開示される。装置の1つの実施例は、1つ又はそれ以上のレーザからのものとすることができる少なくとも1つの光信号をCD、DVD、又は同様のもの等の符号化データを含む光学記憶媒体の外面上に配向するように構成される。光は、光学記憶媒体の表面と、表面上の何らかの汚れ、擦傷、凹み、又は欠陥の両方に遭遇する。欠陥及び表面から反射された光の一部又は全ては、フォトダイオードとすることができる1つ又はそれ以上の検出器によって検出される。検出器は、検出された反射光に相応した出力信号を生成し、該出力は、符号化データを光学記憶媒体から正確に読み出すことができるか否かを判定するように処理される。 (もっと読む)


【課題】 欠陥検出までの時間を短縮しながらもノイズの影響を抑制すること。
【解決手段】 光ディスクから読み込んだRF信号のピーク又はボトムを第1の時定数をもって保持することによって第1のホールド信号を生成し、RF信号のピーク又はボトムを第1の時定数よりも大きい第2の時定数をもって保持することによって生成した第2のホールド信号のレベルをシフトして閾値信号を生成し、さらに、第1のホールド信号と前記閾値信号とを比較することによってディフェクト信号を生成する。そして、RF信号と前記第1のホールド信号と差分が所定範囲を超える状態が所定期間連続したとき、第1のホールド回路の時定数を前記第1の時定数よりも小さい第3の時定数へ変更する。 (もっと読む)


【課題】 画像記録面に視覚的に目立つ欠陥がなく生産性の高い光ディスクおよびその製造方法を提供する。
【解決手段】 レーザ光の照射により可視画像の描画が可能な画像記録層を有する光ディスクであって、最大暗欠陥の最大長(A)と最大明欠陥の最大長(B)との比(B/A)が1未満である光ディスクである。レーザ光の照射により可視画像の描画が可能な画像記録層を形成する画像記録層形成工程と、前記レーザ光の照射面側の基板上に存在する暗欠陥および明欠陥の最大長を測定して欠陥検査を行う欠陥検査工程とを順次含む光ディスクの製造方法であって、前記欠陥検査工程のおける欠陥検査の後に、最大暗欠陥最大長(A)と最大明欠陥の最大長(B)との比(B/A)が1以上である光ディスクを除去する光ディスク選別処理を施す光ディスクの製造方法である。 (もっと読む)


【課題】リカバリ処理を行う際、エラーが発生したアドレスをも考慮したリカバリ処理を行い、エラーストップするという事態を低減させた光ディスク装置を提供する。
【解決手段】エラーが発生した時のデータが、ずらしても再生できると判定すれば、BE制御部12は、リカバリ処理Bを実行する。リカバリ処理Bでは、エラー発生アドレスまでのVTSI#1を無効なデータとして、記録可能アドレスからVTSI#1を最初から記録する。併せて、VMGのVTSI#1のエラー発生アドレスまでのアドレスデータを記録可能アドレスからのアドレスデータに修正する。エラーが発生した時のデータが、ずらすと再生できないと判定すれば、BE制御部12は、リカバリ処理Cを実行する(s7)。リカバリ処理Cでは、エラー発生アドレスにおいて、エラー発生により記録が中断してしまったVTSI#1の続きのデータから記録を行う。 (もっと読む)


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