【課題】効率良くディフェクトを検出する光ディスク状態検出装置を提供する。
【解決手段】光ディスク１１から読み取られた信号を与えられディフェクト検出信号を出力するディフェクト検出回路３１、光ディスクの回転に同期して回転同期パルスを出力するモータ１３、ディフェクト検出信号を与えられて格納するメモリ３３、メモリへのデータの書き込み処理を行う書き込み回路３４、メモリからのデータの読み出し処理を行う読み出し回路３４ａ、３５、メモリへのディフェクト検出信号の書き込みを回転同期パルスに同期して行い、メモリからのディフェクト検出信号の読み出しを回転同期パルスに同期して光ディスクが１回転する毎に１回行うように、書き込み回路及び読み出し回路の制御を行うシステムコントローラ２５を備えることを特徴とする。 （もっと読む）

【課題】ショックや振動が発生している環境下において欠陥のある光ディスクを再生した場合でも、サーボ制御が外れにくく、適切に再生することができる「光ディスク再生装置」を提供すること。
【解決手段】スピンドルサーボ補正回路４０は、ＤＦＣＴ信号により光ディスク上の欠陥を検知したときにディフェクト検出周期算出部４１において当該欠陥が検出される周期を算出するとともに、振動周期算出部４３においてＴＥ信号の振動の周期を算出する。次に、振動状態予測部４５においてこれらの周期に基づいて当該欠陥が検出されるときのＴＥ信号の振動の状態を予測する。そして、回転速度変更部４６において振動状態予測部４５で予測したＴＥ信号の振動の状態が当該振動のピーク及びその近傍である場合にはスピンドルの回転速度を規定の速度から別の速度に変更することを指示する信号を出力する。 （もっと読む）

【課題】短い周期で振幅が変動するディフェクトが混入していても、光ディスクの欠陥を検出し、よりディフェクトに強い再生を行う。
【解決手段】光ディスクからの反射光を読み取り、これに応じて読み取り信号を出力する読み取り部と、前記読み取り信号に所定の処理を加えて生成した信号に対してブランチメトリックを計算するブランチメトリック計算手段と、ブランチメトリック計算手段により計算されたブランチメトリックに基づいて、最尤パスメトリックを選択するパスメトリック選択手段と、複数の記憶素子からなるメモリを複数段有し、パスメトリック選択手段による選択結果に従って、メモリに記憶される情報を後段のメモリにシフトすることにより復号信号を得るパスメモリとを有する最尤復号器と、パスメモリの最終段もしくは特定の段のメモリが有する情報を用いて、光ディスクの欠陥を検出する。 （もっと読む）

【課題】
同一の光ディスクを何度測定してもエラー箇所の画面表示が同一になり、また目視した光ディスクとエラー箇所の画面表示とを対応づけることができる光ディスク検査装置及び光ディスク検査方法を提供することにある。
【解決手段】
光ディスクに記録された識別コードにレーザ光を照射し、光ディスクからの反射光に基づく信号から検出した識別コードの特定位置を回転基準位置として取得する。検査用信号の波高値が所定値をクロスしたときエラー検出信号を出力するようにし、光ディスクの回転位置を検出し続けるとともに、エラー検出信号が入力するとエラー箇所の回転位置を回転基準位置からの回転角度として取得する。 （もっと読む）

【課題】光ディスク上に生じた汚れ位置を特定して表示させる光ディスク記録再生装置を提供する。
【解決手段】光ディスクＤに記録されているデータ誤りを訂正するエラーフラグを出力する信号再生回路５と、予め光ディスクＤの領域に形成された基準マークＭを検出する基準マーク検出部６と、エラーフラグに基づいて、基準マークＭを通る基準直線１６を基準とした角度と光ディスクＤの中心と汚れが生じている位置とを結ぶ線上における汚れの位置を示す情報を出力する汚損検査部７と、汚損検査部７から出力された情報によって、汚れの位置を示す距離及び角度を表示する報知部８とを備えている。 （もっと読む）

【課題】テスト記録の際に光ディスクのディフェクトを検出した場合でも、焦点バランス量と球面収差補正とを正しく設定する。
【解決手段】焦点ずれ信号検出回路８と、再生信号検出回路１２と、再生信号評価回路１３と、ディフェクト検出回路１４と、制御部１９と、焦点バランス調整回路１７と、球面収差補正回路２とを有し、制御部１９は、ディフェクトを検出した場合、対応するアドレスのジッタ値を除外して第１のジッタカーブを生成し、除外したアドレスのジッタ値以外を用いて除外した部分のジッタ値を補間して第２のジッタカーブを生成し、第１の及び第２のジッタカーブの最小焦点バランス量を比較し、その差が１ステップ以上の場合に再度テスト記録を行い、第１の及び第２のジッタカーブの最小焦点バランス量の差を０ステップ以下とし、本記録時に用いる前記焦点バランス量及び前記球面収差補正量を求める。 （もっと読む）

【課題】ピックアップサーボ系にて発生したサーボエラーの原因が、ディスク不良によるものなのか、調整ずれによるものなのかについての切り分けを容易に行うことが可能な「記憶媒体再生装置および自動調整情報記憶方法」を提供する。
【解決手段】自動調整情報取得部６００が、ピックアップサーボ系の自動調整情報を取得し、条件判定部６２０が、所定条件が満たされるか否かを判定し、上記所定条件が満たされると判定した場合に、自動調整情報記憶部６４０が、今回取得した自動調整情報を内部記憶媒体５４０に追加記憶させ、上記所定条件が満たされないと判定した場合に、自動調整情報記憶部６４０が、今回取得した自動調整情報を内部記憶媒体５４０に追加記憶させずに、上記自動調整情報が前回追加記憶されたときから今回まで追加記憶させられなかったときまでの自動調整情報の取得回数を示すカウンタ変数をインクリメントさせるようにしている。 （もっと読む）

【課題】傷の状況に応じて光ディスクの回転速度の増減を制御し、傷による再生能力の低下を防止する。
【解決手段】光ディスクを回転させるモータ２と、光ディスクを再生し、ＲＦ信号、及び少なくともトラッキングエラー信号及びフォーカスエラー信号のいずれか一方のエラー信号を生成する再生部６０と、光ディスクの傷の有無とその領域を、エラー信号の変動量を閾値判定することによって検出する傷検出部９０と、モータを基準回転速度で回転させたときに変動量が所定の閾値を超える傷有りと判定された場合、変動量が所定の閾値以下となるようにモータの回転速度を変更するモータ制御部６２と、を備える。 （もっと読む）

【課題】安定的にドロップアウトの発生を検出する「ドロップアウト検出装置、ディスク再生装置及びドロップアウト検出方法」を提供する。
【解決手段】ローパスフィルタ２２は、エンベロープ生成回路２１で生成した、RFアンプ部１０６から入力する第１RF信号RF1の上側エンベロープを表すエンベロープ信号ENVの低域成分をLFENV信号として出力する。加算器２３は、シフト量SHを、エンベロープ信号ENVに加算し、シフトエンベロープ信号SENV信号として出力し、比較器２４は、LFENV信号がシフトエンベロープ信号SENVより大きい期間PT中、ドロップアウト検出信号DETを出力する。検出制御部２５は、第１RF信号RF1の振幅ARF1を検出し、検出した振幅ARF1の大きさに応じてローパスフィルタ２２の周波数ゲイン特性とシフト量SHを変更する。 （もっと読む）

【課題】光ディスク装置において、傷や汚れ等の欠陥があってもデータを再生可能とする。
【解決手段】光ディスク装置のシステムコントローラ３２は、光ディスク１０の種類や面振れ量等に応じて最高速度を設定してデータを再生する。データ再生中にトラック蛇行等により再生不能となった場合には回転速度を低下させてリトライするが、傷や汚れ等により再生不能となった場合には回転速度を逆に増大させてリトライを実行する。 （もっと読む）

【課題】記録開始半径Ｒ、セクタ長Ｌ、トラック間隔Ｔは、光ディスクにより基準値は決められているが実際ディスク毎に多少の誤差を持っており、アドレスを極座標に変換すると回転角の誤差が非常に大きくなり、回転角を正しく表すことが困難となる。
【解決手段】ＣＬＶフォーマットされたディスクに応じた、セクタ長、最内周半径およびトラックピッチの３つのパラメータを用いて演算を行ない、アドレスを座標に変換することを特徴とし、回転角を正しく求められるという効果がある。 （もっと読む）

【課題】欠陥検査の実施は２度目以降の効果が薄いが、欠陥検査を実施したかどうかはディスクだけではわからないので、効果の薄い欠陥検査に時間がかかってしまう。同様にデータ記録で欠陥検出された部分も欠陥検査の効果が薄いにも関わらず、欠陥検査はディスクの全体へ実施される為、非常に時間がかかる。
【解決手段】欠陥検査を実施していない領域を示す未検査領域情報をディスクに記録しておき、次のフォーマット開始時に、未検査領域情報を元に２度目以降の効果の薄い欠陥検査を実施しないようにする。また未検査領域情報を元に未検査領域のみに欠陥検査を実施することで、欠陥検査の時間を短縮する。未検査領域情報がないディスクの場合でも、データの記録パターンから未検査領域を推定し、未検査領域のみに欠陥検査を実施することで、欠陥検査の時間を短縮する。 （もっと読む）

【課題】ホログラム記録媒体の欠陥等があっても高い再生品質を実現する。
【解決手段】各記録位置にて記録を行う際に、記録信号光ＷＳが各記録位置を透過したメディア信号光ＭＳを光センサ２６にて撮像し、画像データを得る。この画像データに基づいて各記録位置の良否判定を行うようにし、不良である場合には、次の記録位置にスリップして干渉パターンを記録する。また、不良であると判定された不良記録位置を特定する情報をＴＯＣ情報としてホログラム記録媒体１６に記録しておき、再生時に読み取るようにすることにより、再生時においても不良記録位置をスリップして再生を行うことができる。 （もっと読む）

【課題】
同一の光ディスクを何度測定してもエラー箇所の画面表示が同一になり、また目視した光ディスクとエラー箇所の画面表示とを対応づけることができる光ディスク検査装置及び光ディスク検査方法を提供することにある。
【解決手段】
光ディスクの記録面からの反射光に基づく信号から、光ディスクの記録面に記録されたデータに相当する２値化信号を作成し、２値化信号からアドレスデータを復号し、特定アドレスを復号したとき、光ディスクの回転位置を回転基準位置として取得する。検査用信号の波高値が所定値をクロスしたときエラー検出信号を出力するようにし、光ディスクの回転位置を検出し続けるとともに、エラー検出信号が入力するとエラー箇所の回転位置を回転基準位置からの回転角度として取得する。 （もっと読む）

【課題】再生に必要な再生信号光のみを遮光手段にて通過させる。
【解決手段】各記録位置にて記録を行う際に、記録信号光ＷＳが各記録位置を透過したメディア信号光ＭＳを光センサ２６にて撮像し、画像データを得る。この画像データに基づいて各記録位置の良否判定を行うようにし、不良である場合には、次の記録位置にスリップして干渉パターンを記録する。また、不良であると判定された不良記録位置を特定する情報をＴＯＣ情報としてホログラム記録媒体１６に記録しておき、再生時に読み取るようにすることにより、再生時においても不良記録位置をスリップして再生を行うことができる。 （もっと読む）

【課題】光情報媒体の記録／再生光入射側表面の耐擦傷性を、簡便に、かつ実際の使用環境を反映した形で定量化できる評価方法を提供する。
【解決手段】透光性基体および情報記録層を有し、前記透光性基体側から前記情報記録層に入射したレーザービームによって光学的に記録および／または再生がなされる光情報媒体に対し、レーザービーム入射側表面の耐擦傷性に関する評価を行う方法であって、
光情報媒体のレーザービーム入射側表面を故意に摩耗させた後、記録／再生特性を測定し、その測定値に基づいてレーザービーム入射側表面の耐擦傷性を評価する光情報媒体の評価方法。 （もっと読む）

【課題】 より小さなディフェクトを検出してブロック単位のデータ破綻を精度良く推定できる情報記録再生装置を提供する。
【解決手段】 媒体へ記録中のＲＦ信号から導かれる信号を入力してゲイン調整するゲイン調整手段と、前記ゲイン調整手段の出力を処理するＬＰＦ手段と、前記ＬＰＦ手段の出力からエンベロープ検波をするエンベロープ検波手段と、前記エンベロープ検波結果に対するスライスレベルを設定するスライスレベル設定手段と、前記スライスレベルにより前記エンベロープ検波結果をスライスして２値化するスライス手段と、前記スライス手段の出力からディフェクト検出を行いこのディフェクト検出結果により、ディフェクト検出関連動作をコントロールするコントロール手段とを備えこのディフェクト検出関連動作は記憶情報欠陥度合いの閾値判定処理を含むことを特徴とする情報記録再生装置。 （もっと読む）

【課題】欠陥管理の採択如何によって、追記型の光ディスクを使用可能にする記録／再生方法、記録／再生装置、光記録媒体等を提供する。
【解決手段】光記録媒体はリードイン領域と、データ領域と、リードアウト領域と、臨時欠陥情報と前記臨時欠陥情報を管理する臨時ディスク定義構造とを格納する臨時欠陥管理領域と、光記録媒体の最終化の時に最終の臨時欠陥情報と最終の臨時ディスク定義構造とを格納する欠陥管理領域とを有する。装置は、ピックアップと、データ記録中に欠陥管理を行うかどうか装置に知らせる欠陥管理オン・オフモードを選択し、前記ピックアップを制御して、前記欠陥管理オン・オフモードを選択してから前記データ領域に割り当てられたスペア領域の大きさに関する情報を含む前記臨時ディスク定義構造を、前記リードインまたは前記リードアウト領域に配置された前記臨時欠陥管理領域に記録するコントローラとを有する。 （もっと読む）

【課題】
再生データのエラー数やエラー率を測定して光ディスクの検査を行う場合、短時間で検査を行うことができ、記録面の中にエラー率が悪い箇所がある光ディスクを合格とする可能性を極めて低く抑えることができる光ディスク検査装置及び光ディスク検査方法を提供することにある。
【解決手段】
レーザ光の照射位置を光ディスクと相対的に光ディスクの半径方向に移動させるフィード手段と、光ディスクの記録面における欠陥箇所の位置を検出する欠陥位置検出手段と、欠陥位置検出手段により検出された欠陥位置の半径に基づき、再生データにおけるエラー数又はエラー率を測定する際の半径位置を設定する検査半径位置設定手段とを備えたことを特徴とする。 （もっと読む）

【課題】
ディスク上のトラックの歪、ディスク表面の傷、埃や汚れといったディフェクトはアクチュエータの誤差信号に影響し、フォーカス制御およびトラッキング制御の追従誤差を劣化させる。また、ディフェクトは多種多様であるため、これらに対応する制御方法も様々な方法が必要となる。
【解決手段】
本発明は、フォーカスアクチュエータ、トラッキングアクチュエータ、光ピックアップユニット、フォーカス誤差信号生成手段、フォーカス制御信号生成手段、トラッキング誤差信号生成手段、トラッキング制御信号生成手段、周波数発生手段、モータ制御手段、分周器、ディフェクト検出手段、メモリ、システム制御手段とを備えることを特徴とする。 （もっと読む）