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Fターム[5F031MA06]の内容

ウエハ等の容器、移送、固着、位置決め等 (111,051) | 処理装置 (13,378) | 複数の装置、モジュールを搬送路で結合 (323)

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【課題】本発明は、基板処理装置及びその製造方法を開示し、工程設備の工程ユニットをモジュール化し、モジュール化された工程ユニットをメインフレームに脱着可能に設置することを特徴とする。
【解決手段】工程設備の製造に必要とする作業時間及び作業量を減少させることができるだけでなく、各工程ユニットの維持補修をより容易に実施できる基板処理装置及びその製造方法を提供する。 (もっと読む)


【課題】搬送システムをより効率的に利用することができる搬送制御方法およびこの搬送制御方法を実施する搬送制御装置を提供する。
【解決手段】中継定義テーブルを記憶した中継経路定義領域11bと、特定搬送装置の情報を記憶した搬送装置情報記憶領域11cと、各搬送物の搬送元情報と搬送先情報と現在位置情報とを記憶した搬送物位置情報領域11aと、中継定義テーブルと現在位置情報と搬送先情報とに基づいて次に搬送物を保持する装置を決定するステップと、次に搬送物を保持する装置が特定搬送装置であるか否かを判断するステップと、特定搬送装置である場合に、特定搬送装置の情報と搬送先情報と中継定義テーブルとに基づいて次の次に搬送物を保持する装置を決定するステップと、現在搬送物を保持している装置から最短時間で搬送物を受け取る特定搬送装置を次に搬送物を保持する装置に変更するステップとを実施する搬送経路決定部14とを備えている。 (もっと読む)


【課題】搬入禁止であった処理室のエラーが解除された場合、搬送経路を最適化する。
【解決手段】処理システムは、プロセスモジュールPM1、PM2とロードロックモジュールLLM1、LLM2と装置コントローラECとマシーンコントローラMCとを有する。ECは、処理システム内のウエハの搬送と処理を制御する。ECの搬送先決定部は、正常に稼働しているPM1、PM2に対してウエハが順番に搬送されるようにウエハの搬送先を定める。ECの退避部は、PM2に異常が発生した場合、異常PM2を搬送先と定め、かつ異常PM2に未だ搬入していないウエハP12を、一旦、カセット容器Cに退避させる。ECの搬送先変更部は、異常が発生していたPM2のエラーが解除されたとき、カセット容器Cから最先に搬出予定のウエハP14の搬送先を搬入禁止が解除されたPM2に変更する。 (もっと読む)


【課題】搬送室内の汚染を軽減し、メンテナンス頻度の減少を図ることが可能な基板処理システムを提供すること。
【解決手段】被処理基板に対して処理を行う処理チャンバ22及び23と、処理チャンバ22及び23に接続され、内部が処理チャンバ22及び23の処理圧力と適合した圧力に調整可能な搬送室21と、搬送室21内に設けられ、被処理基板を処理チャンバ22及び23に対して搬入出する搬送機構26と、搬送室21内を、この搬送室21内に処理チャンバ22及び23からの放出物が付着しない温度に加熱する加熱機構71と、搬送室21内を排気する排気機構54と、を具備する。 (もっと読む)


【課題】制御システムによって自動処理される露光工程を含む半導体装置の製造方法において、半導体装置の生産性を向上させる技術を提供する。
【解決手段】露光処理機構に備えられた処理室に複数枚の半導体ウェハとレチクルとを搬送し、処理室内に備えられた露光装置を用いて露光処理を施す工程を有する半導体装置の製造方法において、レチクルはそれ自体の検査を行うための検査用処理条件を有し、検査着工条件に至ったことを制御システムが感知すると(工程C101)、制御システムは、処理室に検査対象レチクルおよび検査用半導体ウェハを搬送し(工程C103)、処理室内で露光処理を施し(工程C104)、その後現像(工程C108)することで検査用半導体ウェハに形成されたパターンの異常の有無をチェックする(工程C109)。 (もっと読む)


【課題】露光機の処理時間が増大することによる影響を抑制しつつ、リソグラフィー工程の所定の処理を効率よく行うことができる基板処理システムを提供する。
【解決手段】、基板処理システムは、レジスト塗布ユニットSCおよび現像ユニットSDを有する塗布現像装置1と、露光機37がインラインでPEBブロック33と接続された露光装置3とが別体で設けられている。また、両装置1、3のインデクサブロック11、31との間で、基板Wを収容する収容器Cを搬送する上方搬送機構5を備えている。そして、両装置1、3は、互いに連携しつつ基板Wに対して所定の処理を行う。よって、露光機37の処理時間が増大した場合であっても、塗布現像装置1の稼働率は影響を受けることなく、塗布現像装置1を効率よく稼働させることができる。 (もっと読む)


【課題】特別の工程フローを登録することなく、パージガスの再充填を自動的に実施できる半導体装置の製造管理装置および製造管理方法を提供する。
【解決手段】工程情報取得部101は、FOUP内に収容されたロットのロット情報および製造設備の稼動情報を取得する。サイクル時間算出部103は、ロット情報に含まれる膜種に基づいて、対応する酸素濃度の基準値を基準値定義部104から取得する。そして、製造ラインに投入されているFOUPごとにサイクル時間を算出する。サイクル時間監視部102は、算出されたサイクル時間、ロット情報および稼動情報に基づいて、窒素パージの要否をFOUPごとに判定し、充填要と判定したFOUPへの窒素パージ実行を指示する。 (もっと読む)


【課題】搬送システムを設置する際に工程や費用を抑制する
【解決手段】載置ポート130に対して所定の位置関係を有する軌道110上の位置に移送装置100を固定する。移送装置100は、軌道110上の搬送台車120に載置されたフープFを載置ポート130上に移送したり、載置ポート130上のフープFを搬送台車120に移送したりする。移送装置100は、移送装置100の固定位置に対して載置ポート130が所定の位置にあるときにフープFを適切に移送するように構成されている。 (もっと読む)


【課題】薄板移送装置の製造コストの低下を図りつつ、薄板移送装置のX軸方向の設置スペースを小さくすること。
【解決手段】装置本体に一対の移送アーム35がX軸方向へ移動可能かつY軸方向へ間隔を置いて設けられ、各移送アーム35は、X軸方向の一端側に第1吸着パッド39をそれぞれ有し、X軸方向の他端側に第2吸着パッド41をそれぞれ有し、移送アーム35によって第1薄板処理装置3A等から薄板Wを装置本体側に引き出した直後に、薄板Wを装置本体に対して位置決めする引出直後用位置決め機構51,55,59,61と、移送アーム35によって装置本体側から薄板Wを第2薄板処理装置5A等に送り出す直前に、薄板Wを装置本体17に対して位置決めする送出直前用位置決め機構53,57,59,61とを備えた。 (もっと読む)


【課題】薄板移送装置7の構成の簡略化及び薄板移送装置7の製造コストの低下を図ること。
【解決手段】前記第1処理ステーションと前記第2処理ステーションの間の移送ステーションに設けられた装置本体と、
前記装置本体に設けられ、薄板を浮上させる浮上ユニットと、
装置本体17にX軸方向へ延びた複数の移送アーム35がX軸方向へ移動可能かつY軸方向へ間隔を置いて設けられ、各移送アーム35のX軸方向の一端側に、第1薄板処理装置3A(3B,3C)から薄板Wを装置本体17側に引き出すときに薄板Wの裏面を吸着する第1吸着パッド47がそれぞれ設けられ、各移送アーム35のX軸方向の他端側に、装置本体17から薄板Wを第2薄板処理装置5A(5B,5C)に送り出すときに薄板Wの裏面を吸着する第2吸着パッド49がそれぞれ設けられたこと。 (もっと読む)


【課題】状況に応じて択一的使用が可能な被処理体の支持機構を提供する。
【解決手段】被処理体Wを移載するための被処理体の支持機構において、複数の昇降アクチュエータ46、48の昇降ロッド50、52に個別に連結されて昇降可能になされた複数の昇降ベース38、40と、各昇降ベースより起立されてその先端が被処理体を支持する複数のリフトピン38A〜38C、40A〜40Cと、昇降アクチュエータを独立して制御する昇降制御部68とを備え、各昇降ベースのリフトピンは水平座標における実質的に同一領域にある被処理体を支持可能であり、昇降制御部は各昇降ベースのリフトピンが択一的に被処理体を支持するように昇降アクチュエータを制御する。これにより、リフトピンをグループ毎に状況に応じて択一的使用が可能とする。 (もっと読む)


制御された雰囲気を保持するために少なくとも1つの隔離可能なチャンバを形成するフレームと、少なくとも1つの隔離可能なチャンバのそれぞれに位置する少なくとも2つの基板支持体であって、それぞれ上下に積層され、それぞれの基板を支えるために構成されている、少なくとも2つの基板支持体と、少なくとも2つの基板支持体と連通可能に結合している冷却ユニットであって、少なくとも2つの基板支持体および冷却ユニットが、少なくとも2つの基板支持体上に位置する各基板のそれぞれに同時伝導冷却を与えるように構成されている、冷却ユニットと、を有する基板処理ツール。
(もっと読む)


【課題】塗布現像処理システムにおいて、メンテナンスによる基板製品の生産性の低下を抑制する。
【解決手段】塗布現像処理システム1では、処理ステーション2から搬入されたウェハが処理ステーション3で処理され、その後ウェハは処理ステーション3から露光装置4に搬出される。その後ウェハは、露光装置4から処理ステーション3に戻され、処理ステーション3で処理され、カセットステーション2に戻される。この塗布現像処理システム1では、カセットステーション2から搬入されてから露光装置4に搬出されるまでに行われる前段処理P1のスループットAが、露光装置4から戻されてからカセットステーション2に戻されるまでに行われる後段処理P2のスループットBよりも高く設定される。前段処理P1の終了したウェハは、バッファカセット60に貯められる。 (もっと読む)


【課題】同種機能を有する複数の処理装置をまとめて配置するとともに、ワークの搬送経路を簡素化することを可能とした生産ラインを提供する。
【解決手段】水平方向及び垂直方向にワークを搬送する搬送装置110を設置し、搬送装置110によるワーク搬送エリア100の両側面に沿ってそれぞれ複数の処理装置群210、220を水平方向へ各別に一列を成すように配置し、各一列では、同種機能を有する処理装置211、221同士を処理階層順に配置する。 (もっと読む)


【課題】半導体製造工場で用いられる搬送システムにおいて、棚装置の全ての棚にスライド機構を設けることで起こるコストの上昇と信頼性の低下を回避するとともに、搬送台車の真下より外れて位置する高さの異なる複数の棚に対して搬送台車が直接的に被搬送物の載置及び搬出が可能な懸垂式搬送台車及び搬送システムを提供する。
【解決手段】天井に敷設された軌道上を懸垂状態で走行し、昇降自在な把持機構22で被搬送物を把持して搬送する懸垂式軌道搬送台車において、その把持機構22に、水平方向に伸縮自在なスライド機構23と、前記スライド機構23の先端に支持され被搬送物を狭持及び開放自在なグリッパ24とを備える。 (もっと読む)


【課題】基板処理におけるスループットの低下が抑制されつつ、露光装置内の汚染が十分に防止されるとともに、小型化が可能な基板処理装置を提供する。
【解決手段】基板処理装置500は、インデクサブロック9、反射防止膜用処理ブロック10、レジスト膜用処理ブロック11、レジストカバー膜用処理ブロック12、現像処理ブロック13、レジストカバー膜除去ブロック14、洗浄/乾燥処理ブロック15およびインターフェースブロック16を含む。これらのブロック9〜16は上記の順で並設される。インターフェースブロック16に隣接するように露光装置17が配置される。露光装置17においては、液浸法により基板Wの露光処理が行われる。洗浄/乾燥処理ブロック15は、洗浄/乾燥処理部80を有する。洗浄/乾燥処理部80には、基板の表面および端部を洗浄する表面端部洗浄/乾燥ユニットが設けられる。 (もっと読む)


【課題】基板処理におけるスループットを十分に向上することができる基板処理装置を提供する。
【解決手段】基板処理装置500は、インデクサブロック9、反射防止膜用処理ブロック10、レジスト膜用処理ブロック11、レジストカバー膜用処理ブロック12、現像処理ブロック13、レジストカバー膜除去ブロック14、洗浄/乾燥処理ブロック15およびインターフェースブロック16を含む。これらのブロック9〜16は上記の順で並設される。インターフェースブロック16に隣接するように露光装置17が配置される。露光装置17では、液浸法により基板Wの露光処理が行われる。現像処理ブロック13は、現像処理部60a,60bおよび第5のセンターロボットCR5を含み、現像処理部60a,60bは、第5のセンターロボットCR5を挟んで互いに対向して設けられる。 (もっと読む)


【課題】スループットの向上が可能な基板処理装置を提供する。
【解決手段】基板処理装置100は、互いに並列に設けられたインデクサブロック10、第1の処理ブロック11および第2の処理ブロック12からなる。インデクサブロック10には、インデクサロボットIRが設けられている。第1の処理ブロック11には、複数の裏面洗浄ユニットSSRおよび第1のメインロボットMR1が設けられている。第2の処理ブロック12には、複数の表面洗浄ユニットSSおよび第2のメインロボットMR2が設けられている。 (もっと読む)


【課題】基板の裏面の汚染に起因するパターン不良を防止できる基板処理装置を提供する。
【解決手段】基板処理装置500は、インデクサブロック9、反射防止膜用処理ブロック10、レジスト膜用処理ブロック11、現像/洗浄/乾燥処理ブロック12、洗浄/乾燥処理ブロック13およびインターフェースブロック14を含む。これらのブロック9〜14は上記の順で並設される。インターフェースブロック16に隣接するように露光装置17が配置される。露光装置17においては、液浸法により基板Wの露光処理が行われる。洗浄/乾燥処理ブロック13は、基板反転部150aおよび第2の洗浄/乾燥処理部630を有する。基板反転部150aには基板の一面と他面とを反転させる反転ユニットが設けられている。第2の洗浄/乾燥処理部630には、基板の裏面を洗浄する裏面洗浄ユニットが設けられている。 (もっと読む)


【課題】多数の処理室を必要とする場合や、多数の処理ステーションを必要とする場合でも、占有床面積を縮小することのできる基板処理装置を提供すること。
【解決手段】基板処理装置1には、処理ステーション71〜76のいずれにも、平面視したときに正八角形のチャンバー11〜16が用いられている。このため、1つのチャンバー11〜16に接続可能な処理室100の数が多い。処理ステーション72は、正八角形のチャンバー12において直交する方向に延びた2つの辺部12c、12eを介して処理ステーション71、74と接続され、辺部12eと対向する辺部12aを介して処理ステーション73と接続されている。 (もっと読む)


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