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Fターム[5F033NN29]の内容

半導体集積回路装置の内部配線 (234,551) | 層間構造の特徴点 (9,232) | コンタクトホールの形状 (1,366)

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【課題】メモリセルの寸法を微細化し、メモリセルでの動作を改善するための、トランジスタを備えた相変化ランダムアクセスメモリデバイス、およびメモリデバイスを形成する方法を提供する。
【解決手段】抵抗スイッチングメモリデバイスは、非導電性材料からなるナノワイヤ1010が、導電性材料からなるナノチューブ1110を形成するためのモールドとして機能するように形成される。ナノチューブ1110の輪状面が、相変化を起こす切り替え活性材料1320に結合され、これによって下部電極コンタクトが形成されるように、切り替え活性材料のバルク1320がナノチューブ1110の最上部に堆積される。ストライプ1410は、切り替え活性材料のバルク1320との上部電極コンタクトになり、ビット線1460がビット線コンタクト1450に接続される。 (もっと読む)


【課題】信号ラインの直列抵抗成分を充分に下げると共に、高周波信号を伝送する場合であっても高周波抵抗を下げることができ、例えば大電力用MMICで採用しても電力利得をさらに上げることが可能な半導体装置を提供する。
【解決手段】所定の素子が形成された半導体基板上に、層間膜と上下2層配線構造の信号ラインを含むマイクロストリップライン線路300が形成される半導体装置であって、下層配線306上には、下層配線306を開口する複数のコンタクトホール310を有する層間膜が形成され、上層配線312は、コンタクトホール310の側面及び底面を含む全表面に形成される。 (もっと読む)


本発明は、基板を貫通する垂直相互接続部を作製する方法を提供する。この方法は、基板200の第1の側202と第2の側204間に配置された犠牲埋込み層220を利用する。第1の側からトレンチ206及び206’をエッチングした後に、犠牲埋込み層220は、第2の側からの孔218及び218’のエッチング中に停止層として機能し、これにより孔のオーバーエッチング中の損傷からトレンチを保護する。トレンチのエッチングは孔のエッチングから完全に分離され、プロセスの選定及びデバイスの製造のためのいくつかの利点を与える。犠牲埋込み層の一部分を除去してトレンチと孔とを相互接続した後に、結果的な垂直相互接続孔を充填して垂直相互接続部を形成する。
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【課題】コンタクトホールの形成工程を省略し、製造プロセスの簡素化を実現して生産効率の向上を図る。
【解決手段】TFT基板10上にTFT30を構成するゲート電極3aを形成する第1配線膜形成工程(a)と、ゲート電極3aを被覆する下層絶縁膜41aを成膜する絶縁膜成膜工程(b)と、ゲート電極3aに対して電気的に接続される走査線11aを下層絶縁膜41a上に形成する第2配線膜形成工程(c)とを有し、絶縁膜成膜工程では、ゲート電極3aと走査線11aとを直接接続するための非成膜領域41aaを有する下層絶縁膜41aを成膜する。 (もっと読む)


【課題】高集積化、微細加工化等の技術が今後進展した場合であっても、消費電力を低く抑えることのできるDRAM等の半導体装置およびその製造方法を提供すること。
【解決手段】半導体基板1と、前記半導体基板1に形成されたトランジスタ100と、前記トランジスタ100と電気的に接続されている容量コンタクトである第一の電気素子3と、前記第一の電気素子と電気的に接続されている容量素子である第二の電気素子400と、を有する半導体装置であって、 前記第一の電気素子3と前記第二の電気素子400とは、前記第一の電気素子3と前記第二の電気素子400との双方を通る前記半導体基板表面と平行な平面aーa、bーbが少なくとも二つ存在する様に接続されていることを特徴とする半導体装置。 (もっと読む)


【課題】絶縁膜を貫通する導電性プラグと、絶縁膜上に形成され導電性プラグに接続する上層配線とを備える半導体装置であって、絶縁膜上のレイアウトの自由度を高める半導体装置及びその製造方法を提供する。
【解決手段】半導体装置は、半導体基板の主面上部に形成された層間絶縁膜と、層間絶縁膜を貫通する複数のコンタクトプラグ22とを備える。層間絶縁膜には、複数のコンタクトプラグ22のうち隣接する2つのコンタクトプラグ22をつなぐボイド19が形成され、ボイド19内には、2つのコンタクトプラグ22を相互に接続するボイド内配線21が埋め込まれている。層間絶縁膜は、相互に並行して延在する複数のゲート配線16を被覆しており、ボイド19及びコンタクトプラグ22は、複数のゲート配線16のうち隣接する2つのゲート配線16の間に形成されている。 (もっと読む)


【課題】 表示装置においてスルーホールで接続される2つの導電層の接続不良を低減する。
【解決手段】 基板の表面の上に設けられた第1の導電層と、前記基板の表面からみて前記第1の導電層の上に、1つの絶縁膜または1つの絶縁膜を含む2つ以上の積層された薄膜からなる薄膜層を介して設けられた第2の導電層とが、前記薄膜層に設けられた開口部において電気的に接続されている表示パネルを有する表示装置であって、前記薄膜層の前記開口部の開口端のうち、前記基板の表面からの距離が遠いほうの開口端の外周は、該外周を1周する間に、前記基板の表面からの距離が1回以上変動する表示装置。 (もっと読む)


半導体装置(10)は、ボンディングパッド(28)と最終相互接続層(16)との間にコンタクトを有し、そのコンタクトは、最終相互接続層(16)とボンディングパッドとの間にバリアメタル(26)を含む。パッシベーション層(18)及びポリイミド層(22)の両方により、最終相互接続層(16)とボンディングパッド(28)とが分離される。パッシベーション層(18)は、最終相互接続層(16)と接するように第一の開口(20)を形成すべくパターン化される。また、ポリイミド層(22)も、パッシベーション(18)を貫通する第一の開口(20)よりも内側にあって、それゆえにより小さな第二の開口(24)を残存させるようにパターン化される。次に、バリア層(22)が最終相互接続層(16)と接して堆積されて、ポリイミド層(22)により境界を形成する。次に、バリア(26)と接してボンディングパッド(28)が形成されると、その後、ボンディングパッド(28)に対してワイヤボンド(30)が形成される。
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【課題】ソース線コンタクトの抵抗を低減する。
【解決手段】不揮発性半導体記憶装置は、第1の方向に沿って折り返されるように配列され、かつ第2の方向に配列された複数のユニットをそれぞれが有する複数のブロックと、ソース側同士が隣接するブロックで第1の方向に隣接する各第1の選択トランジスタSSTのソース領域に共通して設けられた複数の第1のコンタクト層SCと、第1のコンタクト層SCに接続されたソース線SLと、ソース線SLの下方で第2の方向に延在し、かつ第1のコンタクト層SCに接続された導電層25と、ドレイン側同士が隣接するブロックで第1の方向に隣接する各第2の選択トランジスタSDTのドレイン領域に共通して設けられた複数の第2のコンタクト層BCとを具備し、隣接する第1の選択トランジスタSSTのゲート電極間の距離は、隣接する第2の選択トランジスタSDTのゲート電極間の距離より小さい。 (もっと読む)


【課題】小型化が可能で、かつ、信頼性の高い半導体装置を提供する。
【解決手段】半導体装置は、電極14を有する半導体基板10と、半導体基板10の能動面15に形成された樹脂層20と、樹脂層20における半導体基板と対向する面とは反対側の面21上に形成された外部端子30と、樹脂層20の内部を通るように形成された、電極14と外部端子30とを電気的に接続する電気的接続部40と、を含む。電気的接続部40は、複数の柱体領域42を有する。複数の柱体領域42は、樹脂層20の厚み方向に連続して配列されている。隣り合って配列された2つの柱体領域42は、平面視において、一部のみが重複するように配置されて電気的に接続されている。 (もっと読む)


【課題】レイアウトの効率化が図れ、デバイス面積を縮小することができる回路基板及び液晶表示装置を提供する。
【解決手段】第1半導体層、絶縁膜及び第1ソース電極がこの順に積層された第1薄膜トランジスタと、第1ソース電極に接続された第2ゲート電極を有する第2薄膜トランジスタとを基板上に有する回路基板であって、上記回路基板は、第1半導体層と第1ソース電極とを接続する第1導電部と、第1ソース電極と第2ゲート電極とを接続する第2導電部とが、絶縁膜の共通の開口部に設けられた回路基板である。 (もっと読む)


【目的】低抵抗なコンタクトを歩留まり良く形成することができる半導体装置及びその製造方法を提供する。
【解決手段】ニッケルシリサイド層7が十分な膜厚を有する領域にコンタクトホール11を形成するとともに、金属シリサイド層7のエッチングを行い金属シリサイド層7に凹部を形成する。次いで、コンタクトホール11を所望のコンタクト径まで拡大する。これにより、コンタクトホールの底部を占めるシリサイド面積率を下げることなく、所望のコンタクトホール11のボトム面積を確保することができ、コンタクト抵抗上昇に起因する製造歩留まり低下を抑制することができる。 (もっと読む)


【課題】 反射防止膜とハードマスク層の役割を同時に果たす多機能ハードマスク層を用
いることにより、製品の生産期間とコストを削減する半導体素子の製造方法を提供する。
【解決手段】本発明は、半導体素子の製造方法に関し、反射防止膜とハードマスクの役割を同時に果たす多機能ハードマスク層を用いることにより、格納電極コンタクトホールと格納電極との間のオーバーラップマージンを確保してコンタクト抵抗を低下させ、層間絶縁膜の食刻時に発生する傾斜により下部の線幅が減少する現象を防止する。さらに、層間絶縁膜の蒸着、ポリシリコン層の蒸着及びポリシリコン層の食刻工程を省略することにより、製品の生産期間とコストを削減する技術を開示する。 (もっと読む)


【課題】スルーホールに収容されるプラグと、その下部の導体パターンとの間のコンタクト抵抗を低減可能な半導体装置の製造方法を提供する。
【解決手段】半導体装置10の製造方法は、半導体基板上に絶縁膜(15,16,21)を形成するステップと、異方性エッチングによって絶縁膜の上部分(16,21)にスルーホールの上部分22を形成するステップと、スルーホールの上部分22の側壁にエッチ保護膜23を形成するステップと、絶縁膜の下部分(15)に、スルーホールの上部分22に連続するスルーホールの下部分24を等方性エッチングによって形成するステップとを有する。 (もっと読む)


【課題】MISトランジスタを有する半導体装置において、微細化及び製造歩留りの向上を実現する。
【解決手段】半導体装置は、基板101上にゲート絶縁膜103を介して形成されたゲート電極117と、基板101におけるゲート電極117の両側に形成されたソース領域及びドレイン領域107bとを有するMISトランジスタを備え、ゲート電極117は金属シリサイドからなり、ソース領域及びドレイン領域107bの少なくとも一方の上に、金属シリサイドからなる第1のコンタクト電極116を備える。 (もっと読む)


【課題】貫通電極を有する半導体装置の信頼性を損なうことなく、貫通電極の脱落を抑制する。
【解決手段】半導体装置100は、シリコン基板101、シリコン基板101を貫通する貫通電極129、および貫通電極129の側面外周に設けられるとともにシリコン基板101を貫通する第一絶縁リング130を有する。また、半導体装置100は、シリコン基板101の少なくとも素子形成面の裏面の近傍に設けられるともに貫通電極129に接して設けられ、シリコン基板101の面内方向に貫通電極129の内部に向かって張り出した張出部146を備える。 (もっと読む)


【課題】下部電極と相変化膜との間の接触面積を効果的に減少させた相変化記憶素子及びその製造方法を提供すること。
【解決手段】相変化記憶素子は、下部パターン及びこれを覆うように形成された第1絶縁膜22を有する半導体基板21と、第1電極24と、第1コンタクトホール26を備えた第2絶縁膜25と、第1コンタクトホール26の内部及びそれに隣接する第2絶縁膜25上に形成された第1相変化膜27と、第2コンタクトホール29を備えた第3絶縁膜28と、第2コンタクトホール29内に形成された第2相変化膜30と、第2電極31とを備え、第1及び第2コンタクトホール26、29のうち、いずれか一方が他方より大きく形成されている。 (もっと読む)


【課題】 薄膜トランジスタと電極との接続信頼性を向上させたアレイ基板を提供する。
【解決手段】 表面に薄膜トランジスタ40が設けられた基板11と、基板11の表面を覆うように形成された層間絶縁層50と、層間絶縁層50上に形成されると共に、層間絶縁層50に形成されたコンタクトホール23を介して薄膜トランジスタ40と電気的に接続された電極19とを備え、層間絶縁層50は、珪素を含む第1の無機絶縁膜15と、有機絶縁膜16と、珪素を含む第2の無機絶縁膜18とが、この順で積層されてなると共に、第1の無機絶縁膜15、有機絶縁膜16及び第2の無機絶縁膜17には、それぞれコンタクトホール23に対応する位置に開口部15a,16a,18aが設けられ、これら開口部15a,16a,18aのうち少なくとも第2の無機絶縁膜18の開口部18aが有機絶縁膜16の開口部16aよりも大きいことを特徴する。 (もっと読む)


【課題】高信頼性の電子部品の製造方法と、互いに接近した配置が可能な電子部品を提供する。
【解決手段】半導体基板(10、10′)に回路を形成するためのCMOS構造(20、20′)を形成し、CMOS構造(20、20′)の形成後、低温処理、特に450℃以下の温度での処理で、半導体基板(10、10′)の第1面(S1)とそれとは反対側の第2面(S2)との間で回路の接続を行うべく、半導体基板(10、10′)の開口内に少なくとも1つの電気導体(30、30′)を形成する。この電子部品は電子回路及びセンサ(80、80′)の狭小な配置を可能とし、特に医療機器用として適する。 (もっと読む)


【課題】マスクの枚数を増やすことなく、ストレージキャパシタの電極間から半導体パターンを除去して高画質化を実現させる表示装置及びその製造方法を提供する。
【解決手段】本発明によるTFTパネルの製造では、半導体パターンとTFTのドレイン電極とを、同じマスクを利用したエッチングで同時にパターニングする。一方、画素電極の直下に形成される絶縁膜のパターニングには別のマスクを利用する。ドレイン電極を覆う絶縁膜の領域では、中央部の全体を感光させ、周辺部を半分の厚みまで感光させる。ストレージ電極の上方を覆う絶縁膜の領域は薄い一部を残して感光させる。ドレイン電極を覆う誘電膜をエッチングしてドレイン電極を露出させるとき、絶縁膜のその薄い一部がその下地の誘電膜を保護する。その後、絶縁膜のその薄い一部を画素電極の一部に置換し、保護された誘電膜を隔ててストレージ電極と対向させる。 (もっと読む)


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