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Fターム[5F033VV15]の内容

半導体集積回路装置の内部配線 (234,551) | 配線の用途 (10,506) | TFT用 (1,331)

Fターム[5F033VV15]に分類される特許

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【課題】表示装置の薄膜トランジスタ基板において、水素プラズマ処理時の水素による影響を低減する。
【解決手段】非晶質ケイ素の膜により形成された非晶質ケイ素層上に形成される銅配線において、第1添加元素として水素化物の生成エネルギーが負の元素、さらに第2添加元素を含む銅を主成分とする合金により形成された銅合金層107Aと、前記銅合金層の上に純銅により形成された純銅層107Bとを有する薄膜トランジスタ基板を備える。 (もっと読む)


【課題】銅を含む層とチタニウムを含む層とをエッチングする時に、非過水系のエッチング液を使用して工程の安定性を向上させる。
【解決手段】本発明は、薄膜トランジスタ表示板に対する発明であって、より詳細には、銅(Cu)とチタニウム(Ti)とをそれぞれ含む二重層配線に形成される薄膜トランジスタ表示板に関し、構造的にはチタニウムを含む層が銅を含む層より幅が広くて、チタニウムと銅とを共にエッチングする段階と、別にエッチングする段階とを含めて製造することを特徴とする。また、ゲート絶縁膜に段差が形成されている。 (もっと読む)


【課題】モリブデン系金属膜上の絶縁膜をドライエッチングする際に、選択比を比較的大きくする事ができる方法を提供する。
【解決手段】ドライエッチングにより、レジスト膜45の開口部46に対応する部分つまりソース電極9上におけるオーバーコート膜13にコンタクトホール14を形成し、また同時に、レジスト膜45の開口部47に対応する部分つまり金属膜21a上におけるオーバーコート膜13およびゲート絶縁膜4にコンタクトホール22を形成し、さらに同時に、レジスト膜45の開口部48に対応する部分つまり金属膜31a上におけるオーバーコート膜13にコンタクトホール32も形成する場合、エッチングガスとしてフッ素系ガス(SF、CF)、酸素ガスおよび窒素ガスからなる混合ガスを用いる事で窒化シリコン等からなるオーバーコート膜13とモリブデン系金属からなる金属膜31aとの選択比を大きくする。 (もっと読む)


【課題】多層配線間で形成される寄生容量を低減することを目的の一とする。
【解決手段】絶縁表面上に第1配線と、前記第1配線を覆う第1層間絶縁膜と、前記第1層間絶縁膜上の一部に接して第2層間絶縁膜と、前記第1層間絶縁膜及び前記第2層間絶縁膜上に第2配線とを有し、前記第1配線と前記第2配線とが重なっている領域には、前記第1層間絶縁膜と前記第2層間絶縁膜とが積層された半導体装置である。第1配線と第2配線間に層間絶縁膜が積層されていることで寄生容量の低減が可能となる。 (もっと読む)


【課題】耐湿性に優れ、信頼性に優れた低誘電率膜を用いて、高性能なパッシベーション膜を備えた表示装置を提供する。このようなパッシベーション膜を用いることにより、表示装置の薄膜化、軽量化、製造コスト削減が可能となる。
【解決手段】ボラジン骨格を有する重合体を含むことを特徴とする表示装置用パッシベーション膜とする、もしくはボラジン骨格を有する化合物及び/または重合体から得られる表示装置用パッシベーション膜を用いる。 (もっと読む)


【課題】薄膜トランジスタにおいて透明導電膜とAl合金膜が直接接続する構造を備えた表示装置であって、上記腐食防止用塗料の塗布や剥離といった更なる工程を設けることなく、ピンホール腐食を防止することのできる表示装置を提供する。
【解決手段】薄膜トランジスタにおいて透明導電膜とAl合金膜が直接接続する構造を備えた表示装置であって、前記Al合金膜が、Niおよび/またはCoを0.15原子%以下(0原子%を含まない)、Geを0.2原子%以上2.0原子%以下、およびLa、Gd、NdおよびYよりなる群から選択される1種以上の元素を0.05原子%以上1.0原子%以下含有し、かつ、前記Al合金膜の表面において観察される腐食孔のアスペクト比(腐食深さ/腐食直径)が0.12以下であることを特徴とする表示装置。 (もっと読む)


【課題】長期間貯蔵された古い金属ナノ粒子を含有する組成物を用いた場合であっても、高い導電性を有する電子デバイスの導電性フィーチャを提供することである。
【解決手段】電子デバイスの導電性フィーチャは、有機系安定剤が表面上に存在する金属ナノ粒子を含有する組成物を、基材上に成膜して成膜組成物を形成し、前記成膜組成物を加熱し、前記成膜組成物をアルカリ組成物に接触させて導電性フィーチャを形成する、ことを含む方法により形成される。前記アルカリ組成物としては、水酸化ナトリウム、水酸化カリウム、水酸化カルシウム、水酸化マグネシウム、アンモニア、炭酸ナトリウム、酢酸ナトリウム、有機アミン、イミダゾール、ピリジン、又はその混合物を含むことが好ましく、有機安定剤としては、チオール、アミン、カルボン酸、カルボン酸塩、ポリエチレングリコール、又はピリジンであることが好ましい。 (もっと読む)


【課題】表示装置に代表される半導体装置において、画面サイズの大型化や高精細化に対応し、表示品質が良く、安定して動作する信頼性のよい半導体装置を提供することを課題の一つとする。
【解決手段】引き回し距離の長い配線にCuを含む導電層を用いることで、配線抵抗の増大を抑える。また、Cuを含む導電層を、TFTのチャネル領域が形成される半導体層と重ならないようにし、窒化珪素を含む絶縁層で包むことで、Cuの拡散を防ぐことができ、信頼性の良い半導体装置を作製することができる。特に、半導体装置の一態様である表示装置を大型化または高精細化しても、表示品質が良く、安定して動作させることができる。 (もっと読む)


【課題】酸化物半導体層を用いた、表示装置に代表される半導体装置において、画面サイズの大型化や高精細化に対応し、表示品質が良く、安定して動作する信頼性のよい半導体装置を提供することを課題の一つとする。
【解決手段】引き回し距離の長い配線にCuを含む導電層を用いることで、配線抵抗の増大を抑える。また、Cuを含む導電層を、TFTのチャネル領域が形成される酸化物半導体層と重ならないようにし、窒化珪素を含む絶縁層で包むことで、Cuの拡散を防ぐことができ、信頼性の良い半導体装置を作製することができる。特に、半導体装置の一態様である表示装置を大型化または高精細化しても、表示品質が良く、安定して動作させることができる。 (もっと読む)


【課題】製造工程の複雑化と製造コストの高価格化を招くことなく、多層電極間の接続を容易に行うことが可能な電極基板の製造方法、電極基板、及び薄膜トランジスタを提供する。
【解決手段】下地層の上に、下層電極、層間絶縁膜、上層電極がこの順番で積層され、下層電極と上層電極とが層間絶縁膜に形成された開口部を介して電気的に接続された電極基板の製造方法であって、下地層の上に、電極材料を含有する溶液を塗布した後、乾燥させて下層電極を形成する工程と、下層電極が形成された下地層の上に、開口部を有する層間絶縁膜を形成する工程と、開口部に溶液の溶媒を滴下し、開口部に位置する下層電極を溶解した後、乾燥させることにより、電極材料を開口部の内壁に沿ってコーヒーステイン形状に形成する工程と、電極材料が開口部の内壁に沿ってコーヒーステイン形状に形成された層間絶縁膜の上に上層電極を形成する工程と、を有する。 (もっと読む)


【課題】インジウム系金属膜、アルミニウム−ランタニウム系合金膜及びチタニウム系金属膜からなる三重膜用エッチング液組成物を提供すること。
【解決手段】本発明のエッチング液組成物は、組成物の総重量に対して、過酸化水素1重量%〜15重量%、無機酸0.1重量%〜10重量%、含フッ素化合物0.01重量%〜5重量%、及び水残部を含むことを特徴とする、 (もっと読む)


【課題】オフ電流および漏れ電流が抑制された薄膜トランジスタ、および前記薄膜トランジスタを歩留り良く製造することのできる薄膜トランジスタの製造方法を提供する。
【解決手段】ゲート電極12上にゲート絶縁膜12を介して順次形成されるSi(i)膜13およびSi(n)膜14上に金属膜を形成し、フォトレジストパターン22をマスクとしてエッチングし、ソース電極15およびドレイン電極16を形成する。酸素を含むプラズマで処理して、フォトレジストパターン22の側面を後退させるとともに、ソース電極15およびドレイン電極16の側面および露出した上面にAl酸化皮膜17を形成する。残存するフォトレジストパターン22およびAl酸化皮膜17をマスクとして、チャネル部18のSi(n)膜14およびSi(i)膜13の表面の一部をエッチングする。 (もっと読む)


【課題】下地に対する選択比が大きく、テーパー形状の配線を形成するドライエッチング
方法を提供する。
【解決手段】基板上に導電性材料からなる膜を形成し、ICPエッチング装置を用いて前
記導電性材料からなる膜をドライエッチングして、テーパー角が60°以下の配線を形成
する。また、基板上に導電性材料からなる膜を形成し、ICPエッチング装置を用いて前
記導電性材料からなる膜をドライエッチングして、テーパー角が60°以下のゲート配線
を形成し、前記ゲート配線上にゲート絶縁膜を形成し、前記ゲート絶縁膜上に活性層を形
成する。 (もっと読む)


【課題】銅配線層の接着性を改善するとともに、銅配線層の抵抗値が大きくなることを抑制する配線構造を提供する。
【解決手段】配線構造10では、ガラス基板11上に、チタンからなる接着層12と、酸化銅からなるバリア層13と、純銅からなる銅配線層14とが順に積層されている。接着層12は、銅配線層14をガラス基板11に確実に接着させて、銅配線層14がガラス基板11から剥がれるのを防止する。バリア層13は、配線構造10を熱処理したときに、接着層12を構成するチタン原子が銅配線層14内に拡散しないようにして、銅配線層14の抵抗値が大きくならないようにする。このため、銅配線層14は、熱処理された後も、比抵抗を小さな値に保つことができるので、信号の遅延を防止できる。 (もっと読む)


【課題】 CF、CHF、C等の地球温暖化の一因となるガスを用いずに、レジスト膜を良好にアッシングするレジスト膜の除去方法、およびそれを用いた表示装置の製造方法を提供する。
【解決手段】 薄膜トランジスタ及び画素電極の上層側に成膜されたオーバーコート膜12から前記画素電極の少なくとも一部を露出させる際のマスクとして前記オーバーコート層12上にパターニングして形成されたレジスト膜28を、前記オーバーコート層12から前記画素電極の少なくとも一部を露出させた後にCOFまたはFのいずれか一方と酸素ガスとを含む混合ガスを用いて除去する。 (もっと読む)


【課題】高密度で微細なパターンの断線を低温プロセスによって修正可能な回路基板の欠陥修正方法を提供する。
【解決手段】基板1上に形成された配線3の断線箇所Dを含む基板1の露出面領域に、光照射によって濡れ性が変化する物質を用いた濡れ性調整層5を成膜する。次の第2工程では、濡れ性調整層5における断線個所Dに対応する部分、またはそれ以外の部分に光を照射する。これにより濡れ性調整層5における断線個所に対応する部分の電極形成液に対する濡れ性を、それ以外の部分よりも高くする。その後断線個所Dに対応する濡れ性調整層5部分上に電極形成液を供給して乾燥させる。これにより、断線個所Dに電極形成液を乾燥させた修正電極パターン7を形成する。 (もっと読む)


【課題】信頼性が高く、耐酸化性に優れる薄膜トランジスタを提供すること。
【解決手段】基板2上に、ゲート電極3、ゲート絶縁層4、半導体層5、ソース電極6およびドレイン電極7を形成してなる薄膜トランジスタであって、アルカリ可溶性フェノール樹脂(A)と感放射線化合物(B)とを含有する感放射線性樹脂組成物からなる保護膜8が、前記ゲート絶縁層4、前記半導体層5、前記ソース電極お6よび前記ドレイン電極7に接触して形成されていることを特徴とする薄膜トランジスタ。 (もっと読む)


【課題】半導体回路装置と外部機器との電気的接続を、簡易に安定させることができる半導体回路装置の製造方法などを提供する。
【解決手段】半導体回路形成工程と、半導体回路160を囲む絶縁層140の一部を除去し、絶縁層140を半導体回路160と接する第1の絶縁部140、及び第1の絶縁部140と分離した第2の絶縁部140bに分離し、第2の絶縁部140bの半導体回路160側の側面を傾斜面にする第1の除去工程と、パッシベーション層形成工程と、第2の絶縁部140bの一部及びパッシベーション層180の一部を転写元基板100の基板面に対して垂直方向に除去する第2の除去工程と、転写元基板100と転写先基板とを貼り合わせる接着剤硬化工程と、転写元基板100及び第2の絶縁部140bを、転写先基板等から剥離させる剥離工程と、を備える。 (もっと読む)


【課題】多層配線間で形成される寄生容量を低減することを目的の一とする。
【解決手段】画素、メモリ部、又はCMOS回路等に配置されたトランジスタのチャネル形成領域213、214と重なる第1の配線(ゲート電極)の一部または全部と第2の配線(ソース線またはドレイン線)154、157とを重ねる。また、ゲート電極と第2配線154、157の間には第1の層間絶縁膜149及び第2の層間絶縁膜150cを設け、寄生容量を低減した半導体装置である。 (もっと読む)


【課題】 レジスト材料の利用効率を向上させて、作製コストの削減を目的としたレジス
トパターンの作製方法、レジストパターンの除去方法、半導体装置の作製方法を提供する
ことを課題とする。
【解決手段】 本発明は、減圧下で、被加工物上に、感光剤を含む組成物を吐出してレジ
ストパターンを形成するステップを有することを特徴とする。また、前記レジストパター
ンをマスクとして前記被加工物をエッチングするステップ、若しくは、前記レジストパタ
ーンに、フォトマスクを介して前記感光剤の感光波長域の光を照射するステップ、前記レ
ジストパターンをマスクとして前記被加工物をエッチングするステップ、前記被加工物上
の前記レジストパターンを除去するステップを有することを特徴とする。 (もっと読む)


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