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Fターム[5F044CC02]の内容

ボンディング (23,044) | ワイヤボンディング方法 (382) | 後処理 (22)

Fターム[5F044CC02]に分類される特許

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【課題】シリコンよりなるシリコン部品の一面側に設けられたワイヤボンディング用のパッドに、ウェッジボンディングによりワイヤを接続するワイヤボンディング方法において、パッドの下地であるシリコンよりなる基部を傷つけることなく、接合後のワイヤに対して確実にワイヤカットを行えるようにする。
【解決手段】ワイヤカット工程では、ワイヤ30を加熱して溶融させるプラズマ照射手段200を用い、ワイヤ30における外れ部30bがシリコンよりなる基部21の一面21aから浮いた状態となるように、外れ部30bをワイヤ30における接合部30aよりも上方に引っ張り上げつつ、プラズマ照射手段200のトーチ210によって、基部21の一面21aと平行な方向Yから外れ部30bにプラズマを照射して加熱を続けながら、外れ部30bを溶融させて接合部30aから引きちぎるようにした。 (もっと読む)


【課題】被接続部材との接続部におけるクラックの発生および進展を抑止する。
【解決手段】半導体装置10は、少なくともマグネシウムおよびシリコンを含有し、且つマグネシウムおよびシリコンの含有量の合計が0.03wt%以上1.0wt%以下であるアルミニウム合金からなるボンディングワイヤ17と、このボンディングワイヤ17が接続されるシリコンチップ16と、の接続部構造15を備える。シリコンチップ16の表面には、アルミニウム−シリコンフィルム16aが形成されている。接続部構造15は、ボンディングワイヤ17を構成するマトリクス層17a内と、このマトリクス層17aおよびアルミニウム−シリコンフィルム16aの間に形成されるアルミニウム合金の微細粒層17b内と、マトリクス層17aおよび微細粒層17bの界面とに、マグネシウムおよびシリコンを含む化合物18を備えている。 (もっと読む)


【課題】安定的にインナリードの高さが交互に異なる半導体装置を製造する。
【解決手段】ダイパッド220上に固定された半導体チップ120の複数の電極パッドと、複数のインナリード240と、をそれぞれボンディングワイヤ140で接続したリードフレーム200を準備する。次いで、リードフレーム200を準備する工程の後、少なくとも一部のインナリード240の高さが交互に異なるように、少なくとも一部のインナリード240を屈曲させる。 (もっと読む)


【課題】本発明は、湿気の多い外気によるセンサの金属電極の腐食を防止し、かつセンサの樹脂封止によるセンサの反りの発生を防止してセンサ特性への影響を低減するセンサデバイスの製造方法及びセンサデバイスを提供する。
【解決手段】センサデバイスの製造方法は、固定部、前記固定部の内側に位置する可動部、前記固定部と前記可動部を接続する可撓部、及び複数の金属電極を有するセンサを基板上に配置し、前記センサの複数の金属電極及び前記基板の複数の端子をボンディングワイヤにより電気的に接続し、前記複数の金属電極と前記複数の端子の間にある前記ボンディングワイヤの一部が露出するように、前記センサの複数の金属電極の前記ボンディングワイヤと接続された部位を樹脂により覆う。 (もっと読む)


【課題】本発明は、材料費が安価で、Al電極との接合部の長期信頼性に優れ、車載用LSI用途にも適用できる接合構造、または半導体用銅ボンディングワイヤを提供することを目的とする。
【解決手段】銅ボンディングワイヤの先端に形成したボール部をアルミ電極に接合したボール接合部を形成し、銅ボンディングワイヤの先端に形成したボール部をアルミ電極に接合したボール接合部であって、前記ボール接合部を130〜200℃のいずれかの温度で加熱した後において、前記ボール接合部の断面に有するCuとAlで構成される金属間化合物の厚さに対して、CuAl相の金属間化合物の厚さの割合である相対化合物比率R1が、40%以上100%以下となるものであることを特徴とする。 (もっと読む)


【課題】高温環境下にさらされても劣化せず、高い接続/接合信頼性を有するフリップチップ実装構造を提供する。
【解決手段】Al電極22を有するICチップ21とAu電極43を有する基板41とをワイヤレスに接続するフリップチップ実装構造において、ICチップ21のAl電極22上にAlもしくはAl合金よりなるバンプ52を形成し、そのバンプ52を介してICチップ21のAl電極22と基板41のAu電極43とを接合する。 (もっと読む)


【課題】第1の電極端子と第2の電極端子間の配線におけるオン抵抗を低減する、半導体装置及び半導体装置の製造方法を提供する。
【解決手段】半導体装置100は、第1の電極端子と、第2の電極端子と、前記第1及び第2の電極端子を接続する少なくとも2本のワイヤー14とを有する。少なくとも2本のワイヤー14は、ワイヤー14が延びる方向に沿って導電性接着剤15を用いて互いに電気的に接続されている。第1の電極端子は、例えば外部引き出し電極20の端子である。また、第2の電極端子は、例えばMOSFETのソース電極22の端子である。 (もっと読む)


【課題】
破損しやすいワイヤボンドを保護する。
【解決手段】
ワイヤボンドプロテクタは、超小型電子デバイスの端部に沿った、半導体ダイを基板上の導体に接続するワイヤボンドの長いアレイに対応して細長い形状を有する。ワイヤボンドが保護された超小型電子デバイスを作る場合には、まずワイヤボンドが従来の方法により形成される。その後、ワイヤボンドプロテクタが、ワイヤボンドを少なくとも部分的に覆うようにワイヤボンドのアレイに沿って延びる方向に超小型電子デバイスへ取り付けられる。 (もっと読む)


【課題】半導体素子とリード端子とを接続するワイヤが、ワイヤ流れにより隣接リード端子に接触することを、完全に防止することが可能な半導体装置を提供する。
【解決手段】半導体素子1を載置する載置片10及び基端部11a〜15aを備えたリード端子11〜15で構成されるリードフレーム9において、半導体素子1の接続端子とリード端子11〜15の基端部11a〜15aとの間にワイヤ21〜25が接続されると共に、封止樹脂によりモールドされて形成される半導体装置1aを、封止樹脂によりモールドされる際に、注入された該封止樹脂の流動圧力により生じるワイヤ流れによりリード端子12,14と隣接する隣接リード端子11,15の基端部11a,15aに接続されたワイヤ21,25が、リード端子12,14に接触することを防止するための接触防止手段31a,31bを、リード端子12,14の基端部12a,14aに備えて構成する。 (もっと読む)


【課題】熱膨張によるボンディングワイヤまたはその接続部の断線や損傷を生成する応力の緩和を低コストで実現することのできる半導体装置を提供する。
【解決手段】半導体素子2と、半導体素子2の周囲に設けられた導体部材と、半導体素子2の一面と導体部材とを接続するボンディングワイヤ4と、半導体素子2、導体部材およびボンディングワイヤ4を封止するモールド樹脂5とを備えた半導体装置。ボンディングワイヤ4とモールド樹脂5とが、接着しておらず、滑りが可能であるように構成されている。 (もっと読む)


半導体デバイスの製造中のワイヤ押し流し及び短絡を低減させる方法には、ワイヤ結合に硬化可能な組成物をスプレーすることと、その硬化可能な組成物をフリーラジカル重合によりBステージにすることと、次にCステージに熱硬化させることとが含まれる。スプレー可能な硬化可能組成物も開示される。 (もっと読む)


【課題】信頼性が高く、かつ、容易に製造することができるとともに、半導体装置の大きさを大きくすることなく内部抵抗の一層の低抵抗化を図ることのできる半導体装置及びその製造方法を提供する。
【解決手段】半導体素子2と、リード3と、半導体素子2の電極2aとリード3とを電気的に接続する配線部材4と、を備え、配線部材4は、少なくとも導電性を有する材料によって被覆されている。 (もっと読む)


【課題】回路基板に電子部品が実装されて構成される半導体装置において、容易に確認することができる管理用情報を付与すること。
【解決手段】回路基板(20)に電子部品(10)が実装されて構成される半導体装置(1)であって、前記電子部品と前記回路基板の電極同士をワイヤボンディング方式により接続する接続部材(30)に、当該半導体装置の管理用情報が付与されていることを特徴とする、半導体装置。電子部品は、半導体素子(チップ)、LSI、IC、コンデンサ、リレー、コネクタ等、如何なるものであってもよい。 (もっと読む)


【課題】従来のボンディング装置では、洗浄槽をボンディングステージに設置して、ツールを洗浄槽内の洗浄液に浸漬して超音波洗浄を行っていたが、これにはある程度の時間を要するので、さらなる洗浄作業時間の短縮が望まれていた。
【解決手段】半導体素子52が載置されるボンディングステージ20と、アルミテープ15を半導体素子に対して圧接し、該アルミテープに超音波振動を付与して、アルミテープを半導体素子に超音波接合するツール13と、ツールが装着され、超音波発振器12を備え、ボンディングステージ20に対して相対的に移動可能なボンディングヘッド11と、ボンディングヘッドが移動可能であり、ツールによる接合動作が可能なボンディングエリアに設置されるバルク材30とを備えており、バルク材はアルミテープよりも高い硬度を有する部材にて構成され、ツールがバルク材に対して接合動作を実施可能に構成されるボンディング装置。 (もっと読む)


【課題】使用時の大電流繰り返し通電によっても接続部に発生したクラックの進行を抑制して信頼性の高い接続部を実現するボンディングワイヤ及びボンディング方法を提供する。
【解決手段】ボンディングワイヤは、線材がAl−0.1〜1wt%Xで、XがCu、Fe、Mn、Mg、Co、Li、Pd、Ag、Hfから選ばれた少なくとも一種類の金属であり、線の太さが断面を円形にしたときの直径が50〜500μmである点を特徴とする。このボンディングワイヤによってAlを主成分とする電極と接続したとき微細粒層とマトリックスとの界面にAlとXの金属間化合物が存在する接続部構造を得る。 (もっと読む)


【課題】ボールボンディング用のキャピラリにより被接合部材に対してワイヤを接合するワイヤボンディング方法において、キャピラリを交換することなく、キャピラリに付着した汚れを除去できるようにする。
【解決手段】キャピラリ100の先端部を、配線50上に形成され当該先端部をクリーニングするためのクリーニング部材としてのボール41に押し当てた状態で、キャピラリ100を振動させることにより、キャピラリ100の先端部に付着した汚れKを擦り落とすクリーニング工程を備える。 (もっと読む)


【課題】複数の電気接続端子を有する半導体チップと複数の電気接続端子を有する基板とが金属ワイヤによって導電接続されているワイヤ接続型に関し、特に小型化、高密度化したときに高い接続信頼性を発揮できる半導体装置、及び、半導体装置の製造方法を提供する。
【解決手段】複数の電気接続端子を有する半導体チップと複数の電気接続端子を有する基板とが金属ワイヤによって導電接続されている半導体装置であって、前記金属ワイヤの表面が、平均粒子径0.1〜5μmの絶縁粒子によって略均質に被覆されている半導体装置。 (もっと読む)


本発明は、パッケージ化された半導体デバイスを提供する。接合ワイヤがアルミニウムバンプ接合部によりリードに接合される。半導体デバイスは、リードを有するリードフレームに取り付けられ、当該リードはニッケルメッキ部を有している。50μm(2ミル)のような細いアルミニウムワイヤとリードとの間にバンプ接合部を形成するために、アルミニウムバンプがニッケルメッキ部に接合され、ワイヤがバンプに接合される。バンプはニッケルをドープされたアルミニウムであり、150μm(6ミル)の直径のワイヤのような大きな直径のワイヤから形成される。
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【課題】狭ピッチの半導体チップを多層配線基板に搭載し、封止した半導体装置について、ワイヤボンディング工程時のワイヤボンダ装置を容易に特定する。
【解決手段】まず、多層配線基板を用意した後、半導体チップを多層配線基板上にダイボンディングする(工程S1)。次いで、ワイヤボンダ装置によって、半導体チップ上の電極パッド(第1電極)と多層配線基板上の金属配線(第2電極)とをワイヤボンディングする(工程S4)。このワイヤボンディング工程において、ワイヤボンダ装置に備え付けられたレーザマーカ機構によって、ワイヤボンディングされた多層配線基板にワイヤボンディング情報をレーザ刻印する。次いで、半導体チップを覆うように多層配線基板上にレジンからなる封止体を形成する(工程S5)。 (もっと読む)


装置および方法が、ICパッケージ化工程において裸ボンディングワイヤを絶縁ボンディングワイヤと置き換えることの影響の低減を提供する。詳細には、組立工程に必要とされる変更を限定し、それによって、現在の組立プロセスのより速くより安価な転換を可能にするための方法および装置が提示される。
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