説明

Fターム[5F044QQ02]の内容

ボンディング (23,044) | ワイヤレスボンディング用半導体チップ (2,288) | バンプ電極 (1,821) | 形状・配置 (453)

Fターム[5F044QQ02]に分類される特許

201 - 220 / 453


【課題】半導体チップと基板との電気的接続状態を安定化することを目的とするものである。
【解決手段】基板1に半導体チップ2をフリップチップ実装して半導体装置を製造する際に、半導体チップ2の多重の環状に形成されたパッド4の最内周パッド以外のパッド4間に突出部9を設け、基板1上の最内周パッドの内側に対応する部分に固定用樹脂体3を載置し、加圧,加温することにより基板1と半導体チップ2との間全面に固定用樹脂体3を広げ、基板1と半導体チップ2とを固定用樹脂体3により固定することにより、最内周パッドの外側にボイド等が形成されることを抑制し、半導体チップ2と基板1との電気的接続状態を安定化することができる。 (もっと読む)


【課題】 薄いガラス基板で構成される液晶表示装置では、COG実装時の熱ひずみによって液晶表示パネルが反り、この反りによる表示ムラが発生している。
【解決手段】 液晶表示装置が、ガラス基板とICチップに挟まれた領域の中央部にICチップのバンプと同じ高さの突起を設ける。突起は、ACF樹脂が熱硬化後冷却収縮する際にICチップと液晶表示パネルの間隔が狭まるのを防ぐスペーサの役割をする。 (もっと読む)


【課題】半導体装置1と基板7とを接続するバンプ5、6のうち外縁部に配置された第1のバンプ5が破壊されることなく、また、半導体装置1に振動や機械的外力が印加されても半導体装置1と基板7とがずれない半導体装置の実装構造を提供する。
【解決手段】半導体装置1と基板7とを接続する接続部のうち、半導体装置1と基板7とによる大きな熱応力が繰り返し印加される外縁部に、半導体装置1の作動温度範囲内に融点を有し、半導体装置1が作動している間に少なくとも一度は液相状態になる材質で構成された第1のバンプ5を配置し、外縁部の内側、つまり第1のバンプ5が配置される内側に、半導体装置1の作動温度範囲より高い温度に融点を有し、半導体装置1が作動している間においても固相状態である材質で構成された第2のバンプ6を配置する。 (もっと読む)


【課題】チップサイズを縮小することにより、LCDドライバの製造コストを低減させることのできる技術を提供する。
【解決手段】第1金属膜からなるバンプ6が形成されない領域のパッシベーション膜9上に、第2金属膜からなる容量素子7C、抵抗素子7Rまたはインダクタンス素子7L等の受動素子を形成する。第1金属膜は金膜、第2金属膜は金膜、ニッケル膜または銅膜であり、あるいは第1金属膜は下層をニッケル膜または銅膜とし上層を金膜とする積層膜、第2金属膜はニッケル膜または銅膜である。さらに、第1金属膜の厚さは第2金属膜の厚さと同じか、あるいは第2金属膜の厚さよりも厚く形成する。 (もっと読む)


【課題】基板に規定された実装領域に対するその実装領域に実装された他の基板の剥離強度を高め、且つ実装領域を小さくする。
【解決手段】複数の接続電極15を有する実装領域11aが端部に規定された第1基板11と、複数の接続電極の一部15b,15aに対応して突起状に設けられた複数のバンプ電極21を底面に有し、各バンプ電極21を各接続電極15b,15aにそれぞれ電気的に接続して実装領域11aに実装された集積回路チップ20と、集積回路チップ20よりも外側で複数の接続電極15の他部15cに電気的に接続して上記実装領域11aに実装された第2基板25とを備え、第2基板25の一部を、各バンプ電極21よりも外側で第1基板11と集積回路チップ20との間に設けるようにした。 (もっと読む)


【課題】複数個のバンプを介して2枚の半導体チップを超音波接合するにあたり、数のバンプを一括して超音波接合するにときに、各バンプの接合状態を均一化するのに適した製造方法を提供する。
【解決手段】それぞれ複数個のバンプ31、32が一面側に平面的に配置された第1の半導体チップ10、第2の半導体チップ20を用意し、第1の半導体チップ10の他面に、超音波を発振するホーン100を当てて、両半導体チップ10、20の各バンプ31、32同士を接触させ、ホーン100によって第1の半導体チップ10のバンプ31に超音波を印加する半導体装置の製造方法において、第1の半導体チップ10の一面のうち超音波による第1の半導体チップ10の振動方向Xにおける中央部に位置するバンプ31よりも周辺部に位置するバンプ31の方が、印加される超音波エネルギーが大きくなるようにする。 (もっと読む)


【課題】二つの電子部品のバンプ電極同士が小さい荷重によって十分な機械的強度をもって接合された実装構造を提供する
【解決手段】実装構造100はMEMSチップ110と配線基板130とを有している。MEMSチップ110はバンプ電極150Aを有し、配線基板130はバンプ電極150Bを有している。バンプ電極150A,150Bは互いに対応する位置に設けられて配置されている。バンプ電極150A,150Bは、それぞれ、山型突起152A,152Bを有している。MEMSチップ110と配線基板130は、バンプ電極150Aとバンプ電極150Bとが互いに対向するように配置されて加圧される。これにより、互いに接触した山型突起152A,152Bが塑性変形し、バンプ電極150A,150Bが互いに接合される。 (もっと読む)


【課題】充填剤の充填不良を回避しつつ、短時間での半導体素子と基板との隙間への充填剤の充填が可能である半導体装置を提供する。
【解決手段】半導体チップ10と基板20との間に配置したはんだボール11・11・・・により半導体チップ10と基板20とを接合するとともに、前記はんだボール11・11・・・により接合された半導体チップ10と基板20との間に形成される隙間にアンダーフィル剤31を充填して半導体チップ10と基板20との接合を補強する半導体装置1であって、半導体チップ10は、基板20と対向する面(下面)を、アンダーフィル剤31の充填側と反対側の隙間が該充填側の隙間より大きくなるように傾斜した面として構成され、半導体チップ10における充填口22側からの距離に応じてはんだボール11・11・・・の断面積を設定し、はんだボール11・11・・・を、充填口22を中心として放射状に配置した。 (もっと読む)


本発明は導電性の機械的相互接続部材(12)を作る方法に関する。この方法は、サブミクロン直径を有し、且つ金属から作られた基板(2)の表面から突出する複数の金属ワイヤ(2a)を含む構造を、電気化学的に堆積する第1の段階と、前記ワイヤの部分的溶解を制御して、それらワイヤの直径を低減する第2の段階とを含む。本発明はまた、機械的及び/又は電気的相互接続を作る方法にも関する。この方法は、前述された方法に従って2つの相互接続部材を作ることと、相互接続部材を対向させて配置し、これらを相互に対向して押圧して、前記部材の表面から突出するナノメトリックワイヤの貫入及び絡み合いを実行することとの各ステップを含む。本発明はまた、そのような相互接続部材によって機械的及び電気的に相互接続されたマイクロ電子チップのスタックを含む3次元電子デバイスにも関する。 (もっと読む)


【課題】製造工程においてチッピングが発生しにくい積層型半導体装置を提供する。
【解決手段】所定分布密度のバンプ7が形成された回路領域9を有する半導体基板8同士が、バンプ7を接合することにより積層されて形成された積層型半導体素子であって、半導体基板1の周辺部10には、回路領域9のバンプ7の分布密度より高い分布密度で、半導体基板1に密着してダミーバンプ11が形成され、半導体基板1同士において、ダミーバンプ11同士の接合がなされていることを特徴とする積層型半導体装置。 (もっと読む)


【課題】配線の断線を防止することができる半導体装置を提供する。
【解決手段】フィルム基板に実装されたインターポーザ基板と、インターポーザ基板に実装された半導体素子とを備え、インターポーザ基板は、複数個の第1基板金属バンプと、複数個の第1基板パッドメタル23と、複数本の基板配線24とを有し、半導体素子は、第1基板金属バンプとそれぞれ熱圧着により接合した複数個の素子金属バンプと、複数個の素子パッドメタル13と、複数本の素子配線14とを有する半導体装置であって、第1基板パッドメタル23および素子パッドメタル13は、各角が外側に向かって突き出る多角形状をしており、基板配線24は、それぞれ対応する第1基板パッドメタル23の角の頂点から間隔を空けた位置に接続され、素子配線14は、それぞれ対応する素子パッドメタル13の角の頂点から間隔を空けた位置に接続されている。 (もっと読む)


【課題】COF等のフリップチップやILBによるベアチップ実装において、配線基板の寸法変化に起因する半導体素子の電極との間の位置ずれを緩和する。
【解決手段】配線基板1は、導体配線2が延在して形成され、半導体素子4の領域の外側から半導体素子の第1素子電極列5と各々接合された第1接合用配線列9と、半導体素子領域の外側から半導体素子の第2素子電極列7と各々接合された第2接合用配線列10とを備える。第1接合用配線列を構成する各々の導体配線のピッチは、半導体素子領域の外側では第1素子電極列のピッチより広く、半導体素子の中心側の先端では第1素子電極列のピッチより狭くなるように連続的に変化しており、第2接合用配線列を構成する各々の導体配線のピッチは、半導体素子領域の外側では第2素子電極列のピッチより狭く、半導体素子の中心側の先端では第2素子電極列のピッチより広くなるように連続的に変化している。 (もっと読む)


【課題】表面及び裏面に電極が形成された半導体チップの表面電極をパッケージ基板にフリップチップ接続する場合に、バンプ電極の接合不良を防止することができる半導体装置の製造方法及び製造装置を提供する。
【解決手段】ボンディングヘッド12の吸着口20A〜20Dの各々は、半導体チップ30のバンプ電極32(表面電極)がパッケージ基板16のバンプ電極22と接合される接合領域を避けるように配置されている。半導体チップ30の裏面側には、バンプ電極32対向する位置に、バンプ電極32と接続されるバンプ電極34(裏面電極)が設けられる。吸着口20A〜20Dは接合領域と重なることがないので、この接合領域でバンプ電極34(裏面電極)が吸引されることはない。 (もっと読む)


【課題】対向した基板の間に正確な隙間を作ることができ、部品面積を小さくできる電子部品とその製造方法を提供することを目的とする。
【解決手段】デバイス基板(1)にコアパターン(7)とこの表面を覆うバンプパターン(8)を有する第2の電極部(6)を設け、コアパターン(7)はバンプパターン(8)よりも硬度が高い材料で構成し、接合基板(2)にはバンプパターン(8)と同一材料の第1の電極部(5)を設け、直接接合した第1の電極部(5)とバンプパターン(8)を介してデバイス基板(1)の機能部と第1の電極部(5)とを電気接続したことを特徴とする。 (もっと読む)


【課題】回路電極が狭接続面積化及び狭ピッチ化されても、安定した電気的接合の確保を低コストで実現可能な回路接続方法を提供する。
【解決手段】本発明に係る回路接続方法は、
チップ本体12の主面S上にバンプ16が形成された半導体チップ10を用意する工程と、バンプ16に対応する電極が基板の主面に設けられた回路部材を用意する工程と、チップ本体10の主面Sと基板の主面とが対向するように半導体チップ10及び回路部材を配置する工程と、半導体チップ10及び回路部材によって異方導電材料を加圧しつつ挟持することで、バンプ16と電極とを接合する工程とを備える。バンプ16は、主面Sの周縁近傍に複数設けられており、主面Sの中央寄りの側から主面Sの周縁寄りの側に向かうにつれて主面Sからの高さが高くなるような傾斜面16aを有している。 (もっと読む)


【課題】半導体素子と回路基板の熱膨張量の差があっても、従来よりも電気特性の高信頼性を期待できる半導体装置を提供することを目的とする。
【解決手段】突起電極103を有する半導体素子101が、突起電極106を有する回路基板104の上に配置され、半導体素子101と回路基板104がスペーサ109を介してと当接して間隔が決定され、互いに向き合う突起電極103,106の間に隙間が形成され、この隙間に導電性弾性体108が介装されている。 (もっと読む)


【課題】半導体装置の信頼性を向上させる。
【解決手段】複数の第1の凹部と第1の凹部内に形成された第2の凹部とを有した支持基板を準備した後に(ステップS1)、第2の凹部に、第1の電極層を配置する(ステップS2)。次に、複数の第2の電極層を配設した半導体素子を、支持基板に接近させる(ステップS3)。次に、加熱処理により、第2の電極層を支持基板の第1の凹部に受容しながら、第2の電極層内に第1の電極層の一部を貫入する(ステップS4)。そして、第1の電極層及び第2の電極層を冷却し、支持基板を第1の電極層及び第2の電極層から離反する(ステップS5)。 (もっと読む)


【課題】 実装した半導体チップを実装基板に実装するとともに、初期不良が発見された半導体チップを容易に取り外すことが可能な電子部品を提供する。
【解決手段】 第1の基板(1)の表面上に第1のパッド(2)が形成されている。第1のパッドの表面上に金属膜(3)が配置されている。第1の基板の、第1のパッドが形成された面に対向するように第2の基板(6)が配置されている。第2の基板の、第1のパッドに対向する表面上に第2のパッド(7)が形成されている。導電性のナノチューブ(8)の一端が第2のパッドに接続され、他端が金属膜内に埋め込まれている。金属膜と、ナノチューブとの界面に、ナノチューブの少なくとも1つの構成元素と、第1のパッドの少なくとも1つの構成元素とを含む導電性の化合物からなる中間膜(9)が配置されている。 (もっと読む)


【課題】バンプ電極と基板側端子との間の接合強度を高めて導電接続状態の信頼性を向上し、さらに、実装コストの低減化をも可能にした、電子部品の実装構造を提供する。
【解決手段】バンプ電極12を有する電子部品121を、端子11を有する基板111上に実装した電子部品の実装構造10である。バンプ電極12は、電子部品121に設けられた下地樹脂13と、下地樹脂13の表面の一部を覆うとともに、電極端子に導通する導電膜14とを有している。導電膜14は、端子11に直接導電接触している。下地樹脂13は、弾性変形していることにより、導電膜14に覆われることなく露出している露出部13aの少なくとも一部が、基板111に直接接着している。基板111と電子部品121とは、下地樹脂13の露出部13aの基板111に対する接着力により、バンプ電極12が端子11に導電接触している状態が保持されている。 (もっと読む)


【課題】接続電極との接続信頼性を向上させることができる電子部品を提供すること。
【解決手段】所定の機能を有する水晶片11と、水晶片11に形成されたバンプ電極14と、バンプ電極14と接続電極33、34との導電接触状態を保持する接着層15とを有し、バンプ電極14が、弾性を有する樹脂コア24と、樹脂コア24の表面に設けられた導電膜25、26とを有すると共に、樹脂コア24の弾性変形により導電膜25、26と接続電極33、34とが導電接触する。 (もっと読む)


201 - 220 / 453