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Fターム[5F045AB03]の内容

気相成長(金属層を除く) (114,827) | 成長層の組成 (12,584) | 4族 (3,529) | Si (2,361) | ポリSi (557)

Fターム[5F045AB03]に分類される特許

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【課題】絶縁膜と微結晶シリコン膜との密着性を向上させた微結晶シリコン膜の作製方法を提供する。
【解決手段】絶縁膜55上に、後のプラズマ酸化等により完全に酸化される高さ(例えば0nmより大きく5nm以下)の微結晶シリコン粒、または後のプラズマ酸化等により完全に酸化される膜厚(例えば0nmより大きく5nm以下)の微結晶シリコン膜もしくはアモルファスシリコン膜を形成し、前記微結晶シリコン粒または前記微結晶シリコン膜もしくはアモルファスシリコン膜に酸素を含むプラズマ処理またはプラズマ酸化を施すことにより、前記絶縁膜上に酸化シリコン粒57aまたは酸化シリコン膜を形成し、前記酸化シリコン粒または前記酸化シリコン膜の上に微結晶シリコン膜59を形成する微結晶シリコン膜の作製方法である。 (もっと読む)


【課題】ウェーハ成膜後の降温時におけるスリップ発生を抑え、歩留り、信頼性の向上を図ることが可能な半導体製造方法を提供する。
【解決手段】反応室内にウェーハを搬入し、支持部材上に載置し、ウェーハの表面に、ソースガスを含むプロセスガスを供給し、ウェーハを第1の回転数で回転させながら、ヒータの出力を制御して所定温度に加熱することにより、ウェーハの表面に成膜を行い、ソースガスの供給を止め、ウェーハの回転数を、ウェーハのオフセットバランスを保持可能な第2の回転数に降下させるとともに、ヒータの出力を止め、第2の回転数で回転させながらウェーハを降温させる。 (もっと読む)


【課題】基板上に堆積された薄膜の膜厚の均一性を向上する。
【解決手段】プラズマ装置100は、アンテナ21〜24を備える。アンテナ21〜24は、反応容器110の天板112に固定される。アンテナ21,24は、基板ホルダー120との距離が12cmに設定され、アンテナ22,23は、基板ホルダー120との距離が25cmに設定される。アンテナ21〜24は、一方端が平板部材60に接続され、他方端が接地電位GNDに接続される。高周波電源170は、高周波電力を整合器160を介して平板部材60に供給する。 (もっと読む)


【課題】大型の基板にも安定したプラズマ処理を行え、かつプラズマ処理基板の生産量を向上させることのできる真空処理装置を提供する。
【解決手段】平行に対向配置され、その間にプラズマが生成されるリッジ電極21a,21bを有するリッジ導波管からなる放電室2と、その長さ方向両端に隣設され、高周波電源を放電室2に伝送してプラズマを発生させる一対の変換器3A,3Bと、高周波電力を供給する高周波電源と、プラズマ処理前の基板Sをリッジ電極21a,21bの所定位置に送り込み、プラズマ処理後の基板Sを上記所定位置から送り出す基板搬送装置35と、基板Sの搬送方向Cを、リッジ電極21a,21bの長さ方向Lに沿わせ、放電室2および変換器3A,3Bの、その各々のリッジ導波管断面形状における、リッジ電極21a,21bおよびリッジ部31a,31bの厚み方向に隣接する凹部空間40に、基板搬送装置35の少なくとも一部を収容した。 (もっと読む)


【課題】成膜処理する基板の歩留まりを向上できる技術を提供する。
【解決手段】ガス供給ノズル2321aのクリーニング工程において、ガス供給ノズル2321aからはエッチングガスEGが放出されるが、ガス供給ノズル2321aとは別のガス供給ノズル2321bから希釈ガスを放出している。この結果、インナーチューブ230内の処理室201内へ放出されたエッチングガスEGが処理室201内に配置されたウェハ200へ到達することを抑制できる。 (もっと読む)


【課題】大型の基板にも安定したプラズマ処理を行え、かつプラズマ処理基板の生産量を向上させることのできる真空処理装置を提供する。
【解決手段】平行に対向配置され、その間にプラズマが生成されるリッジ電極21a,21bを有するリッジ導波管からなる放電室2と、その長さ方向両端に隣設され、高周波電源5A,5Bを放電室2に伝送してプラズマを発生させる一対の変換器3A,3Bと、プラズマ処理前の基板Sをリッジ電極21a,21bの所定位置に送り込み、プラズマ処理後の基板Sをリッジ電極21a,21bの所定位置から送り出す基板搬送装置44と、高周波電力を供給する高周波電源5A,5Bと、リッジ電極21a,21bと基板Sとの間の気体を排気する排気手段とを有し、リッジ電極21a,21bの幅方向(H方向)の寸法を、長さ方向(L方向)の寸法よりも大きく設定し、基板Sの搬送方向Cを、リッジ電極21a,21bの幅方向Hに沿わせた。 (もっと読む)


【課題】リッジ電極及び基板の熱変形を抑制し、大型の基板にも安定した製膜処理が行える真空処理装置を提供する。
【解決手段】プラズマが生成される排気側リッジ電極21a及び基板側リッジ電極21bを有するリッジ導波管からなる放電室2と、高周波電力を方形導波管の基本伝送モードであるTEモードに変換して放電室2に伝送し、排気側リッジ電極21a及び基板側リッジ電極21bの間にプラズマを発生させる一対の変換器と、基板側リッジ電極21bの外面側に設置されて温度を均等に加熱する均熱温調器40と、排気側リッジ電極21aの外面側に設置されてプラズマ処理が施される基板Sの板厚方向の熱流束を制御する熱吸収温調ユニット50とを有し、基板Sを排気側リッジ電極21a及び基板側リッジ電極21bの間に設置してプラズマ処理を施す。 (もっと読む)


【課題】軽量かつコンパクトで簡素な構造により、変換器の内部における反射波とプラズマの発生を防止して、放電室において安定したプラズマを発生させることのできる真空処理装置を提供する。
【解決手段】互いに平行に対向し、その間にプラズマ処理が施される基板Sが配置される放電用のリッジ電極21a,21bを有したリッジ導波管からなる放電室2と、この放電室2の長さ方向両端に隣設されて、互いに平行に対向する一対の平板状のリッジ部31a,31bを有したリッジ導波管からなる変換器3A,3Bと、高周波電源5A,5Bと、電源接続用の同軸ケーブル4A,4Bと、変換器3A,3Bの内部において対向するリッジ部31a,31bの間に充填される充填材35とを備え、充填材35は、同軸ケーブル4A,4Bが変換器3A,3Bに接続される電源導入部Cの近傍の範囲で電源導入部Cと同心円の円柱状に設置されてなる構成の真空処理装置とする。 (もっと読む)


【課題】リッジ電極および基板の熱変形を抑制し、大型の基板にも安定したプラズマ処理が行える真空処理装置を提供する。
【解決手段】平板状に形成されて互いに平行に対向配置され、その間にプラズマが生成される一方および他方のリッジ電極21a,21bを有するリッジ導波管である放電室2と、その両端に隣設され、対向配置された一対のリッジ部を有するリッジ導波管からなり、高周波電力をTEモードに変換して放電室2に伝送し、リッジ電極21a,21b間にプラズマを発生させる一対の変換器と、リッジ電極21bの外側に間隔を空けて平行に設置され、プラズマ処理が施される基板Sがセットされ、該基板Sの温度を均等に加熱する均熱温調器11と、リッジ電極21aの外側に設置され、該リッジ電極21aおよびプラズマ処理が施される基板Sの板厚方向を通過する熱流束を制御する熱吸収温調ユニット12とを有する。 (もっと読む)


【課題】電気特性が良好な半導体装置を、生産性高く作製する。
【解決手段】第1の条件により、高い結晶性の混相粒を低い粒密度で有する種結晶を形成した後、第2の条件により混相粒を成長させて混相粒の隙間を埋めるように、種結晶上に微結晶半導体膜を積層形成する。第1の条件は、シリコンまたはゲルマニウムを含む堆積性気体の流量に対する水素の流量を50倍以上1000倍以下にして堆積性気体を希釈し、且つ処理室内の圧力を67Pa以上1333Pa以下とする条件である。第2の条件は、シリコンまたはゲルマニウムを含む堆積性気体と、水素との流量比を周期的に増減させながら処理室に供給し、且つ処理室内の圧力を1333Pa以上13332Pa以下とする条件である。 (もっと読む)


【課題】解離させるガス分子の種類やその解離エネルギーに応じてプラズマの電子エネルギー分布を容易に制御することができるプラズマ処理装置を提供する。
【解決手段】本発明に係るプラズマ処理装置10は、プラズマ処理室11と、プラズマ処理室11と連通するプラズマ生成室12と、プラズマを生成するための高周波アンテナ16と、プラズマ中の電子エネルギーを制御するためのプラズマ制御板17と、プラズマ制御板17の位置を調整するための操作棒171及び移動機構172と、を備える。このプラズマ処理装置10では、移動機構172により操作棒171を長手方向に動かし、高周波アンテナ16とプラズマ制御板17の間の距離を調整するだけで、プラズマ生成室12内で生成されたプラズマの電子エネルギー分布を制御することができるため、解離させるガス分子の種類やその解離エネルギーに応じたプラズマ処理を容易に行うことができる。 (もっと読む)


【課題】セルフクリーニングを行うタイミングを簡素に、かつ、汎用性を有するように設定でき、しかも、このタイミングを一層延長させることができ、生産効率を向上できる真空処理装置を提供することを目的とする。
【解決手段】基板に製膜処理を行う製膜室1内に、クリーニングガスを導入してセルフクリーニングを行う真空処理装置の運転方法であって、セルフクリーニングの終了後に、製膜室1内に下地膜32を形成する下地製膜作業を行う工程を備え、該下地製膜作業を行う工程において、下地膜32を200nm以上3000nm以下の膜厚とし、製膜圧力が製膜処理時の1.0倍以上1.5倍以下で、かつ、少なくとも製膜初期に放電電極に供給する高周波電力が製膜処理時の0.1倍以上1.0倍以下で実施され、製膜処理の積算膜厚が500μmを超えないよう運用することを特徴とする。 (もっと読む)


【課題】3層以上の膜を成膜するに際して、第1の膜の成分が第3の膜に含まれることを防ぐ成膜方法を提供する。
【解決手段】上部電極104と下部電極102が設けられた成膜装置100により3層以上の膜を成膜する多層膜の成膜に際して、下部電極102上に基板110を配して第1の膜112を成膜し、前記第1の膜112の形成時よりも上部電極104と前記基板110の間の距離を長くし、前記第1の膜112上に第2の膜114を成膜し、前記第2の膜114の形成時よりも前記上部電極104と前記基板110の間の前記距離を短くし、前記第2の膜114上に第3の膜116を成膜する。 (もっと読む)


【課題】簡易な構成で電極間に一様な電界分布を発生させることのできる高周波プラズマ発生装置を得る。
【解決手段】反応容器(10)と、反応容器内に設けられた接地電極(12)と、反応容器の開口部に絶縁体を介して設けられ、接地電極と一対の平行平板電極を形成する非接地電極(21)と、非接地電極に設けられた複数の給電点を介して非接地電極に高周波電力を供給する電力供給手段(40)とを備え、非接地電極は、方形形状を有し、複数の給電点は、接地電極と対向しない面における対向する2辺に沿った端部に設けられており、絶縁体は、非接地電極の長辺に沿った側面と反応容器が向かい合う領域に設けられた第1の誘電体(1b)と、非接地電極の短辺に沿った側面と反応容器が向かい合う領域に設けられた第2の誘電体(1c)とを含み、第1の誘電体の誘電率と第2の誘電体の誘電率が互いに異なる。 (もっと読む)


【課題】ボイドの発生を抑制することができるシリコン膜の形成方法およびその形成装置を提供する。
【解決手段】シリコン膜の形成方法は、第1成膜工程と、エッチング工程と、第2成膜工程とを備えている。第1成膜工程では、被処理体の溝を埋め込むようにシリコン膜を成膜する。エッチング工程では、第1成膜工程で成膜されたシリコン膜をエッチングして前記溝の開口部を広げる。第2成膜工程では、エッチング工程で開口部が広げられた溝にシリコン膜を埋め込むように成膜する。これにより、表面に溝が形成された被処理体の溝にシリコン膜を形成する。 (もっと読む)


【課題】結晶性の高い微結晶シリコン膜を作製する方法を提供する。
【解決手段】本発明の微結晶シリコン膜の作製方法は、絶縁膜55上に、第1の条件により第1の微結晶シリコン膜57をプラズマCVD法で形成し、第1の微結晶シリコン膜上に、第2の条件により第2の微結晶シリコン膜59を形成し、第1の条件は、処理室内に供給する原料ガスとしてシリコンを含む堆積性気体と水素が含まれたガスを用い、堆積性気体の流量に対する水素の流量を50倍以上1000倍以下にして堆積性気体を希釈し、且つ処理室内の圧力を67Pa以上1333Pa以下とする条件であり、第2の条件は、処理室内に供給する原料ガスとしてシリコンを含む堆積性気体と水素が含まれたガスを用い、堆積性気体の流量に対する水素の流量を100倍以上2000倍以下にして堆積性気体を希釈し、且つ処理室内の圧力を1333Pa以上13332Pa以下とする条件である。 (もっと読む)


【課題】電気特性が良好な半導体装置を、生産性高く作製する方法を提供する。
【解決手段】第1の条件により、高い結晶性の混相粒を低い粒密度で有する第1の微結晶半導体膜を酸化絶縁膜上に形成した後、第2の条件により混相粒を結晶成長させて混相粒の隙間を埋めるように、第1の微結晶半導体膜上に第2の微結晶半導体膜を積層形成する。第1の条件は、シリコンまたはゲルマニウムを含む堆積性気体の流量に対する水素の流量比を50倍以上1000倍以下にして堆積性気体を希釈し、処理室内の圧力を67Pa以上1333Pa以下とする条件であり、第2の条件は、シリコンまたはゲルマニウムを含む堆積性気体の流量に対する水素の流量比を100倍以上2000倍以下にして堆積性気体を希釈し、処理室内の圧力を1333Pa以上13332Pa以下とする条件である。 (もっと読む)


薄膜太陽電池を堆積するためのクランプユニットおよび信号給電方法を提供する。クランプユニットは、電極板モジュール、信号給電モジュール(201)および支持フレームを含む。電極板モジュールにシールドカバー(204)が設けられる。信号給電モジュール(201)は、胴部セクションおよびヘッド部セクションを含み、ヘッド部セクションが矩形形状の信号給電表面である。信号給電モジュール(201)のヘッド部セクションは、電極板モジュールの給電ポートと表面接触して接続される。給電ポートは、電極板モジュールのカソード板の背面側の中心部分に配置されるくぼんだ矩形表面上に設けられる。クランプユニットは、事実上、定在波効果および表皮効果を除去し、歩留まりを改善し、コストを低減することができる。
(もっと読む)


【課題】良質な微結晶半導体膜を形成することが可能な複数の結晶核を生成し、該複数の結晶核を成長させる微結晶半導体膜の作製方法を提供することを課題とする。
【解決手段】微結晶半導体膜の作製に際して、連続放電によりプラズマを発生させて複数の結晶核を生成させる第1の工程と、パルス放電によりプラズマを発生させて前記複数の結晶核の間隙を埋める第2の工程と、を行い、前記第2の工程は前記第1の工程の後に行う。前記第1の工程と前記第2の工程は更に複数回繰り返してもよい。 (もっと読む)


【課題】ボート上にダミーウエハと隣接して製品ウエハを搭載するようにした基板処理装置において、製品ウエハの面間膜厚均一性を向上させる基板処理装置を提供する。
【解決手段】ボート上に、表面に凹凸が形成された複数の第1の基板(製品ウエハ)を積層保持するとともに第1の基板の上端若しくは下端に第1の基板よりも表面の凹凸が少ない第2の基板(ダミーウエハ)を保持し、処理室内にて第1の基板および第2の基板を処理する際に、第1の基板および第2の基板に向けて処理ガスを供給するとともに、第2の基板に向けて不活性ガスを供給する。 (もっと読む)


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