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Fターム[5F045AE19]の内容

気相成長(金属層を除く) (114,827) | 成膜条件−成膜時の圧力 (3,707) | 減圧(圧力が明示されていない) (3,333) | 0.1≦P<1Torr(100≦P<1000mTorr 13.3≦P<133Pa) (640)

Fターム[5F045AE19]に分類される特許

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【課題】窒化物半導体膜の気相成長において、一度に処理する基板の枚数を増大させ、生産性を向上させることができる膜の形成方法および基板処理装置を提供する。
【解決手段】縦型バッチ処理室201内の基板処理領域2062に複数の基板が搬入される工程と、前記処理室内の前記基板処理領域が加熱維持され、前記処理室内の前記基板処理領域外に設けられた第一ガス供給口931から窒素含有ガスが供給され、前記第一ガス供給口931よりも前記基板処理領域側に設けられた第二,第三,第四,第五ガス供給口935,936,937,938から金属含有ガスが供給され、前記複数の基板に窒素及び金属からなる窒化物半導体膜が形成される工程と、を有する。 (もっと読む)


【課題】反応管内の異物汚染を抑制し、装置稼働率の低下を防止することができる基板処理装置を提供する。
【解決手段】複数の基板を積層して収容する石英製の反応管203と、前記反応管内に処理ガスを供給する処理ガス供給系と、前記反応管内にクリーニングガスを供給するクリーニングガス供給系と、前記反応管内の雰囲気を排気する排気系と、前記処理ガス供給系と前記クリーニングガス供給系と前記排気系とを制御する制御系と、を有し、前記反応管内に前記基板の積層方向に沿って延びる石英製の板状部材266aを設け、前記クリーニングガス供給後の前記反応管内に付着した膜の除去状態を確認する。 (もっと読む)


【課題】枚葉移載と一括移載を切り替える際に、パーティクル発生を抑制することのできる基板処理装置を提供する。
【解決手段】複数の基板が収容される基板収容器と、複数の基板が積載されるボートと、複数の基板が積載されたボートを収容し前記ボート上の複数の基板を処理する処理室と、前記基板収容器と前記ボートとの間で基板の移載を行う基板移載装置とを備え、前記基板移載装置は、1枚の基板を移載するための枚葉移載用プレートを駆動する第1の駆動部と、複数枚の基板を移載するための一括移載用プレートを駆動する第2の駆動部とを備え、1枚の基板を移載する場合は、第1の駆動部により枚葉移載用プレートを駆動し、複数枚の基板を移載する場合は、第1の駆動部と第2の駆動部により、枚葉移載用プレートと一括移載用プレートを同期して駆動するように、基板処理装置を構成する。 (もっと読む)


【課題】欠陥密度を低減させることが可能なアモルファスカーボン膜及びこれを用いた太陽電池を提供する。
【解決手段】Si含有量が1at%以下である、アモルファスカーボン膜とし、該アモルファスカーボン膜を用いた太陽電池とする。 (もっと読む)


【課題】軽量かつコンパクトで簡素な構造により、変換器の内部における反射波とプラズマの発生を防止して、放電室において安定したプラズマを発生させることのできる真空処理装置を提供する。
【解決手段】互いに平行に対向し、その間にプラズマ処理が施される基板Sが配置される放電用のリッジ電極21a,21bを有したリッジ導波管からなる放電室2と、この放電室2の長さ方向両端に隣設されて、互いに平行に対向する一対の平板状のリッジ部31a,31bを有したリッジ導波管からなる変換器3A,3Bと、高周波電源5A,5Bと、電源接続用の同軸ケーブル4A,4Bと、変換器3A,3Bの内部において対向するリッジ部31a,31bの間に充填される充填材35とを備え、充填材35は、同軸ケーブル4A,4Bが変換器3A,3Bに接続される電源導入部Cの近傍の範囲で電源導入部Cと同心円の円柱状に設置されてなる構成の真空処理装置とする。 (もっと読む)


【課題】半導体デバイス製造の多層プロセスにおいて、劣悪な平坦性は、ホトリソグラフィー工程で問題を惹起し得る。特に初期の堆積ステップにおける劣悪な平坦性は、半導体デバイス製造のより高い層を通じて増幅される傾向がある。この点を改良した半導体デバイス製造工程初期のブランケット層の堆積方法を提供する。
【解決手段】ガス状の前駆体混合物を形成するためにシリコンソース、ゲルマニウムソース及びエッチャントを混合することを含み、SiGe膜30をブランケット堆積する方法。本方法はさらに、化学気相成長条件下において、ガス状の前駆体物質を基板10上に流し、パターンの有無に関わらず、基板10上にエピタキシャルSiGeを堆積させる方法に依り、平坦性の優れたブランケット層30を堆積する。 (もっと読む)


【課題】スループットがよく、取り扱いの容易な絶縁膜材料を用いながら光電変換素子の特性を簡便に向上させることができる半導体層の製造方法と、太陽電池の製造方法とを提供する。
【解決手段】本発明に係る太陽電池は、pn接合を有し、光電変換素子を構成するものであって、光受光側とは反対側のp型半導体層の表面上にSiNx膜と裏面電極とが形成されているとともに、p型半導体層とSiNx膜との界面における界面固定電荷密度Qの値が、1.3e12cm−2≦Q≦4e12cm−2の範囲内である。これにより、太陽電池の良好な諸特性が得られる。 (もっと読む)


【課題】電気特性が良好な半導体装置を、生産性高く作製する。
【解決手段】第1の条件により、高い結晶性の混相粒を低い粒密度で有する種結晶を形成した後、第2の条件により混相粒を成長させて混相粒の隙間を埋めるように、種結晶上に微結晶半導体膜を積層形成する。第1の条件は、シリコンまたはゲルマニウムを含む堆積性気体の流量に対する水素の流量を50倍以上1000倍以下にして堆積性気体を希釈し、且つ処理室内の圧力を67Pa以上1333Pa以下とする条件である。第2の条件は、シリコンまたはゲルマニウムを含む堆積性気体と、水素との流量比を周期的に増減させながら処理室に供給し、且つ処理室内の圧力を1333Pa以上13332Pa以下とする条件である。 (もっと読む)


【課題】第1ガスの使用効率を向上させる。
【解決手段】処理室に連通する第1ノズルから、処理室内の排気速度を低下させた状態で処理室内に第1ガスを供給する工程と、第1ガスの供給を止めた後、第1ノズル内に不活性ガスを供給する工程と、処理室内に残留する第1ガスを除去する工程と、を有する。 (もっと読む)


【課題】比較的低温で成膜しても含有する炭素濃度を多くさせてクリーニング時のエッチングレートを比較的小さくでき、もってクリーニング時の膜厚の制御性を向上させることができる成膜方法を提供する。
【解決手段】被処理体Wが収容されて真空引き可能になされた処理容器4内に、シラン系ガスと窒化ガスと炭化水素ガスとを供給して前記被処理体の表面にSiCN膜よりなる薄膜を形成する成膜方法において、前記シラン系ガスと前記窒化ガスと前記炭化水素ガスとをそれぞれ一定の供給期間でパルス状に供給する供給工程と供給を停止する停止工程とよりなる1サイクルを複数回繰り返し実行してプラズマを用いることなく前記薄膜を形成する。これにより、比較的低温で成膜しても含有する炭素濃度を多くさせてクリーニング時のエッチングレートを比較的小さくでき、もってクリーニング時の膜厚の制御性を向上させる。 (もっと読む)


【課題】複数種類の処理ガスの混蝕を回避しつつ、ガス排気が正しく開始されなかった場合には直ちにそのことを認識可能にし、これにより排気完了までに多くの時間を要するのを抑制できるようにする。
【解決手段】基板を収容する処理室と、混蝕を避けるべき複数種類の処理ガスを当該処理ガスの流路である配管を通じて処理室内へ供給するガス供給系と、処理室内および配管内のガスを排気するガス排気系と、を有した基板処理装置において、配管内に滞留するガスの状態をガス残留状態、排気中状態、排気完了状態の少なくとも三段階で表示部に表示させる制御部を設ける。 (もっと読む)


【課題】 反応容器の中の不純物量の変動に影響されずに、休止後の再稼動時であっても、生産性を低下させない堆積膜形成方法を提供することにある。更に、特性バラツキを低減した堆積膜形成方法を提供することにある。
【解決手段】 減圧可能な真空処理容器を用いて堆積膜を形成する堆積膜形成方法において、前記堆積膜の形成を休止し(S521)、前記真空処理容器の中の不純物の量がほぼ飽和するまで前記真空処理容器を大気開放する(S522)。その後、ほぼ飽和した不純物の量に対応して予め定めた堆積膜形成条件(通常とは異なる堆積膜形成条件)を、再稼働時の堆積膜形成条件とする(S532)。 (もっと読む)


【課題】Siウエハなどの基板にSi、SiGeなどの半導体膜を選択成長にて成膜する際の、膜形状を平坦化させる。
【解決手段】絶縁体面間に半導体面が露出された第一基板の対向面に絶縁体面が露出された第二基板を配置した状態で反応室内へ搬送する第一工程と、前記反応室内を加熱するとともに前記反応室内へ少なくともシリコン含有ガスと該シリコン含有ガスとは異なる塩素含有ガスとを供給して、少なくとも前記第一基板の半導体面に選択的に平坦な表面を有するシリコン含有膜を形成する第二工程と、を有する。 (もっと読む)


【課題】基板表面へ供給される活性種の濃度を増大させ、基板処理工程の効率や生産性を向上させることが可能な基板処理装置及び半導体デバイスの製造方法を提供する。
【解決手段】複数の基板を所定の間隔で多段に積層して収容する処理室と、該処理室内で処理ガスを基板の表面へ噴出する複数のガス噴出口が設けられ基板の積層方向に沿って延在するガスノズル270aと、を備え、前記ガス噴出口から噴出する処理ガスを活性化させて基板に供給するガス活性化部22a,22b,22c,22dを、前記ガスノズル270aの外側に、前記処理ガスの流れが基板の外周縁に対して垂直となるように通過可能な隙間を空けながら、前記ガス噴出口を囲むように、有する。 (もっと読む)


【課題】従来よりも低温でシリコン含有窒化膜を成膜することができる半導体装置の製造方法を提供する。
【解決手段】ウエハにSiN膜を形成する半導体装置の製造方法であって、ウエハが収容される処理室に、DCS(ジクロロシラン)を供給するシラン系ガス供給工程と、前記シラン系ガスの供給と同時ではないタイミングで、前記処理室にNH(アンモニア)を供給する窒化ガス供給工程と、前記処理室にTEA(トリエチルアミン)を供給するアミン系ガス供給工程と、前記処理室の前記シラン系ガスまたは前記窒化ガスを排気する排気工程と、を有し、前記アミン系ガス供給工程は、前記シラン系ガス供給工程及び前記窒化ガス供給工程と合わせて行う。 (もっと読む)


【課題】等方性酸化を複数枚の基板が積層して配置された装置にて実施する場合に、基板配置場所により水素濃度が異なり酸化膜厚が大きく変動するのを抑制し、高品質な半導体装置を製造する。
【解決手段】半導体装置の製造方法は、複数枚の半導体ウエハ1を処理室4内に搬入する工程と、処理室4内を加熱するとともに圧力を大気圧よりも低くした状態で、酸素含有ガスと水素含有ガスとを供給して半導体ウエハ1を酸化処理する工程と、複数枚の半導体ウエハ1を処理室4内より搬出する工程とを有し、酸化処理する工程では、水素含有ガスを、複数枚の半導体ウエハ1が垂直方向に積層されて配列される基板配列領域に対応する領域の半導体ウエハ1が配列される方向における複数箇所から供給することで、酸素含有ガスと水素含有ガスとを基板配列領域に対応する領域の複数箇所で反応させて反応種を生成し、酸化処理を行う。 (もっと読む)


【課題】3層以上の膜を成膜するに際して、第1の膜の成分が第3の膜に含まれることを防ぐ成膜方法を提供する。
【解決手段】上部電極104と下部電極102が設けられた成膜装置100により3層以上の膜を成膜する多層膜の成膜に際して、下部電極102上に基板110を配して第1の膜112を成膜し、前記第1の膜112の形成時よりも上部電極104と前記基板110の間の距離を長くし、前記第1の膜112上に第2の膜114を成膜し、前記第2の膜114の形成時よりも前記上部電極104と前記基板110の間の前記距離を短くし、前記第2の膜114上に第3の膜116を成膜する。 (もっと読む)


【課題】凹凸形状部位にもリーク電流が小さく高誘電率のジルコニア系膜を確実に成膜することができる成膜方法および成膜装置を提供すること。
【解決手段】真空保持可能な処理容器内に被処理体を挿入し、処理容器内を真空に保持した状態とし、処理容器内にジルコニウム原料と酸化剤とをこの順に供給して被処理体上にZrO膜を形成する第1工程と、前記処理容器内にジルコニウム原料とシリコン原料と酸化剤とをこの順で供給して被処理体上にSiがドープされたZrO膜を形成する第2工程とを、それぞれの回数を調整して実施することにより、膜中のSi濃度を制御しつつ所定膜厚のジルコニア系膜を成膜する。 (もっと読む)


【課題】ボイドの発生を抑制することができるシリコン膜の形成方法およびその形成装置を提供する。
【解決手段】シリコン膜の形成方法は、第1成膜工程と、エッチング工程と、第2成膜工程とを備えている。第1成膜工程では、被処理体の溝を埋め込むようにシリコン膜を成膜する。エッチング工程では、第1成膜工程で成膜されたシリコン膜をエッチングして前記溝の開口部を広げる。第2成膜工程では、エッチング工程で開口部が広げられた溝にシリコン膜を埋め込むように成膜する。これにより、表面に溝が形成された被処理体の溝にシリコン膜を形成する。 (もっと読む)


【課題】ステップ搬送の停止期間中に非成膜ゾーンで発生する張力上昇とそれに伴う応力集中を防止できるステッピングロール方式の薄膜形成装置を提供する。
【解決手段】帯状の可撓性基板1に機能性薄膜を積層形成するための薄膜形成装置で、成膜ユニット5,6,7,8を含む成膜ゾーンZ1,Z2と、成膜ゾーンの上流側および下流側に配設された第1および第2搬送制御ロール16,26と、搬送の停止期間中に各成膜ユニットに密閉空間を画成すべく各成膜ユニットに併設された遮蔽手段53,54,63,64,73,74,83,84と、搬送中に基板の張力を制御する第1張力制御手段16,17,18,19と、成膜ゾーンの下流側に隣接した非成膜ゾーンZ3,Z4とを備え、搬送の停止期間中に、遮蔽手段が基板を挟んで閉じた状態で、非成膜ゾーンにおける基板の張力を制御する第2張力制御手段3,4を備えた。 (もっと読む)


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