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Fターム[5F045AE23]の内容

気相成長(金属層を除く) (114,827) | 成膜条件−成膜時の圧力 (3,707) | 減圧(圧力が明示されていない) (3,333) | 7.6≦P<76Torr(0.01≦P<0.1気圧 10.13≦P<101.3hPa) (552)

Fターム[5F045AE23]に分類される特許

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【課題】
薄膜シリコン太陽電池の微結晶シリコン膜及び多結晶シリコン太陽電池のパッシベーション膜等を製造するプラズマCVD装置の応用分野においては、生産性向上及び低コスト化を図るために、大面積基板を対象に高速、高品質のシリコン系膜の形成が可能なプラズマCVD装置及びその装置を用いたシリコン系膜の製造法が求められている。特に、微結晶シリコン膜の高品質・高速製膜化が可能なプラズマCVD技術が強く求められている。
【解決手段】
一対の平行平板電極を備えたプラズマCVD装置において、ガス噴出孔を有する電極に、凹部と平坦部を設け、該凹部に原料ガスを噴出する複数の原料ガス噴出孔を配置し、該平坦部に希釈ガスを噴出する複数の希釈ガス噴出孔を配置するとともに、該希釈ガス噴出孔をその方向が基板表面の法線方向以外に向くように設置させるということを特徴とする。 (もっと読む)


【課題】加熱した触媒により処理ガスを活性化し、この処理ガスから生成する活性種を用いて基板に対して処理を行うにあたり、触媒を加熱するための給電部位の断線や短絡を防止すること。
【解決手段】ウエハWに対向するように島状に複数の棒状体のセラミックヒータ31処理容器1の天板に固定して配置すると共に、このセラミックヒータ31の下方側の先端部にガス拡散板11のガス吐出孔13に対向するように金属触媒層44を設けて、セラミックヒータ31(抵抗発熱線42)により金属触媒層44を間接的に加熱して処理ガスを活性化する。 (もっと読む)


本発明の諸実施形態は、多層堆積する間中の欠陥を低減する方法を提示する。一実施形態では、この方法は、基板をプラズマの存在下で第1のガス混合物および不活性ガスに曝して、基板上に第1の材料の層を堆積するステップと、第1の材料の所望の厚さが得られたときに、プラズマを引き続き維持しつつ不活性ガスを流しながら、第1のガス混合物を終了させるステップと、基板をプラズマの存在下で、第1のガス混合物と共存できる不活性ガスおよび第2のガス混合物に曝して、第1の材料の層の上に第2の材料の層を同じ処理チャンバ内で堆積するステップとを含み、第1の材料の層と第2の材料の層は互いに異なる。
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【課題】留まりを向上するエピタキシャル膜および発光素子を提供する。
【解決手段】エピタキシャル膜30は、基板32と、基板32上に形成された第1導電型クラッド層と、第1導電型クラッド層上に形成された活性層35と、活性層35上に形成された第2導電型クラッド層とを備えている。第1および第2導電型クラッド層の少なくとも一方がInxAlyGa(1-x-y)N層(0<x<1、0<y<1、0<x+y<1)であり、厚みのばらつきが6%以内である。 (もっと読む)


本発明の実施例として、半導体装置上のエピタキシャル領域を示した。ある実施例では、エピタキシャル領域は、成膜−エッチングプロセスを経て基板に成膜される。周期的な成膜−エッチングプロセスの間に、スペーサの下側に形成されるキャビティは、エピタキシャルキャップ層によって埋め戻される。エピタキシャル領域およびエピタキシャルキャップ層は、チャネル領域での電子移動度を改善し、短チャネル効果が抑制され、寄生抵抗が低下する。
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【課題】InxAlyGa(1-x-y)N結晶(0≦x<1、0≦y<1、0<x+y≦1)の厚みを均一にし、かつ成長速度を向上する結晶の製造方法および発光素子の製造方法を提供する。
【解決手段】InAlGaN結晶を成長する工程では、基板20の主表面20aに垂直な方向において主表面に近い側に位置する第1のガス供給部11aからV族元素の原料を含む第1原料ガスG1を基板20の主表面20a上に供給するとともに、基板20の主表面20aに垂直な方向において第1のガス供給部11aより主表面20aから遠い側に位置する第2のガス供給部11bから、複数のIII族元素の原料である有機金属を含む第2原料ガスG2を基板20の主表面20a上に供給し、第1原料ガスG1の流速を第2原料ガスG2の流速の0.5以上0.8以下にし、反応容器3内の圧力を20kPa以上60kPa未満にする。 (もっと読む)


【課題】回転テーブルの回転速度を高めた場合でも良好な成膜処理を行うことができる成膜装置を提供すること。
【解決手段】真空容器1内にて、複数のウエハWを載置した回転テーブル2を回転して、前記ウエハWが第1及び第2の処理領域P1,P2に供給された第1及び第2の反応ガスと順次接触して、前記ウエハWの表面に薄膜を形成するにあたり、ウエハW表面に第1の反応ガスを吸着させる処理を行う第1の処理領域P1と、この第1の処理領域P1よりも面積が大きく、ウエハW表面に吸着された第1の反応ガスと第2の反応ガスとを化学反応させる処理を行う第2の処理領域P2とを設ける。これにより吸着に比べて化学反応の処理時間を長く確保することができ、回転テーブル2の回転速度を高めても、金属の吸着よりも長時間を要する化学反応を十分に進行させて、良好な成膜処理を行うことができる。 (もっと読む)


【課題】炉口に溜まった水を短時間で除去し、製品の生産速度をあげるとともに、デバイス特性不良を少なくすることができる基板の熱処理装置を提供する。
【解決手段】基板の熱処理装置は、底部に設けられた炉口23を通してプロセスチューブ22内に搬入された基板をウェット処理する熱処理炉2と、前記炉口23を開放可能に閉塞する開閉扉と、前記熱処理炉2の下方に設けられたロード空間3と、前記基板をボート4で保持して前記炉口23を通してロード空間3側からプロセスチューブ22内に搬入するとともに、当該プロセスチューブ22からロード空間3に搬出する昇降リフト5と、前記プロセスチューブ22内にパージ用のガスを供給するパージガス供給手段32と、前記プロセスチューブ22内を真空状態にしてウェット処理で生じた液分の沸点を下げる真空手段30とを備えている。 (もっと読む)


【課題】 本発明の目的は、高温での酸化膜形成におけるリスクを回避しつつ酸化膜の膜質を向上させ、電気特性を改善することにある。また、本発明の他の目的は、酸化膜形成の際に、下地となる材料の消費を最小限に抑え、微細な構造への適正な酸化膜形成を実現することにある。
【解決手段】 基板を収容した処理容器内に所定元素を含む原料ガスを供給し排気して、基板上に所定元素含有層を形成する工程と、加熱された大気圧未満の圧力雰囲気下にある処理容器内に酸素含有ガスと水素含有ガスとを供給し排気して、所定元素含有層を酸化層に変化させる工程と、を交互に繰り返して、基板上に所定膜厚の酸化膜を形成する工程と、加熱された大気圧未満の圧力雰囲気下にある処理容器内に酸素含有ガスと水素含有ガスとを供給し排気して、基板上に形成された酸化膜を改質する工程と、を有する。 (もっと読む)


【課題】(0001)面以外の任意に特定される主面を有する、クラックの少ないIII族窒化物結晶の製造方法を提供する。
【解決手段】2枚以上のシード基板を隣接して配置し、それらシード基板上にIII族窒化物結晶を成長させるIII族窒化物結晶の製造方法において、シード基板の境界線と成長させるIII族窒化物結晶の<0001>軸を主面に投影した直線とがなす角度をθとした場合、1以上の境界線が以下の(1)又は(2)を満たす。(1)0°<θ<90°である。(2)θ=0°である境界線(l)が2本以上存在し、隣り合う境界線(l)が同一直線上にない。 (もっと読む)


【課題】反応炉内に分解付着物が生成しないような構造とすることにより基板上への異物の付着を抑制し、分解付着物の再蒸発によるエピタキシャル薄膜の劣化を抑制でき、かつ反応炉内の分解付着物を取り除くためのメンテナンス回数を削減可能な構造の化合物半導体エピタキシャル成長装置を提供する。
【解決手段】基板13を収容した反応炉11内に、V族元素を含む原料を供給して、基板13上に気相エピタキシャル成長させる化合物半導体エピタキシャル成長装置10において、V族元素を含む原料が分解し、反応炉11内でその分解付着物が付着する付着部分17の上流側に水素ラジカルを過剰に含むガスを流すための水素ラジカル供給手段36を接続した。 (もっと読む)


【課題】第1及び第2の反応ガスとの混合を抑制するために使用される分離ガスによって、これらの反応ガスが希釈されるのを低減して、成膜速度の低下を抑える。
【解決手段】成膜装置は、容器内に回転可能に設けられ、基板が載置される基板載置領域を第1の面に含む回転テーブルと、回転テーブルの第1の面へ第1の反応ガスを供給する第1の反応ガス供給部と、第1の反応ガス供給部から回転テーブルの回転方向に沿って離間し、回転テーブルの第1の面へ第2の反応ガスを供給する第2の反応ガス供給部と、第1及び第2の反応ガス供給部との間に設けられ、第1及び第2の反応ガスを分離する分離ガスを供給する分離ガス供給部と、容器内を排気するための排気口と、第1及び第2の反応ガス供給部のうちの少なくとも一方に対して設けられ、該反応ガス供給部と回転テーブルの第1の面との間の空間を含む第1の空間と、第1の空間のガスよりも分離ガスが流れ易い第2の空間とを画成する空間画成部材とを備える。 (もっと読む)


【課題】基板を載置するための基板載置部材を回転テーブルに着脱自在に設けることにより、前記回転テーブルにおける基板載置面の表面粗さが適切な範囲から外れた場合に容易に対応できる基板処理装置を提供する。
【解決手段】真空容器内に設けられ、水平面に沿って回転する回転テーブル2に形成された凹部24の内部に、基板をなすウエハWを載置するための基板載置部材200を着脱自在に設ける。この基板載置部材200には、回転テーブル2の回転時に遠心力によるウエハWの移動を規制する位置規制部201a,201b,201cが設けられている。基板載置部材200は着脱自在に設けられているので、回転テーブル2の回転時にウエハWの移動がある場合や、クリーニングによって基板載置部材200の表面が荒れ、表面粗さが適切な範囲から外れた場合には、基板載置部材200を交換する。 (もっと読む)


【課題】アモルファスシリコン膜の表面粗さを改善することを可能とする。
【解決手段】基板上にアモルファスシリコン膜を第1の炉内圧力で成膜するプリパージ工程と、プリパージ工程の次の工程であり第2の炉内圧力で成膜するデポ工程とからなり、前記デポ工程時の炉内圧力である第2の炉内圧力に関しては前記プリパージ工程の炉内圧力である第1の炉内圧力より低くしたことを特徴とする。更に各工程におけるSiHの流量を異ならせることを特徴とする。 (もっと読む)


【課題】プラズマCVD法による膜成長初期段階においては結晶性の良いシリコン層を形成させることが困難である。
【解決手段】基板上に、基板側から順に、酸化チタンを主成分とする酸化チタン層と、結晶性シリコン層と、を有し、酸化チタン層と結晶性シリコン層が接していることを特徴とする半導体装置。 (もっと読む)


【課題】排気配管の温度変化によりクリーニング完了時を判断することにより、より適切なクリーニングを行なうことができる、プラズマCVD装置のクリーニング方法およびプラズマCVD装置を提供する。
【解決手段】成膜室2の内部に、エッチングガスを導入した状態においてプラズマを発生させる第1工程を備える。また、排気配管の温度が、クリーニング開始前における排気配管の温度から所定の温度以上上昇した後に、プラズマの発生を停止する第2工程とを備える。 (もっと読む)


プラズマを用いた、特には階層的に組織化された種類の、ナノ構造化薄層を製造するための方法、及び該方法を実施するための装置(30;40)について記載する。
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【課題】緻密で良好な膜質の光応答性化合物半導体薄膜を安価にかつ簡便に製造する。
【解決手段】ガス中に化合物半導体の原料粒子を分散させたエアロゾルを基板に向けて噴射、衝突させて、基板上に化合物半導体薄膜を形成するエアロゾルデポジション法(AD法)により化合物半導体薄膜を製造する方法。AD法によれば、高真空、あるいはセレン化ないし硫化工程を経ることなく、化合物半導体の結晶構造やバンド構造が保持されたまま、室温において光応答性を有する、太陽電池用途に適した膜質の良好な緻密質膜を容易に形成することができる。 (もっと読む)


【課題】基板を載置する回転テーブルの周方向に沿って設けられる第1の反応ガスが供給される第1の処理領域と、第2の反応ガスが供給される第2の処理領域とをこれら処理領域の雰囲気を分離するための分離領域とを備えた、薄膜を積層する成膜装置において、成膜速度の低下を抑えること。
【解決手段】反応ガスを吐出する吐出孔が、その長さ方向に沿って形成されたガスノズルと、そのガスノズルの上方側に分離ガスを通流させるための通流空間と、前記ガスノズルから前記上流側及び下流側の少なくとも一方に向かって張り出した整流部材と、を備えるように成膜装置を構成し、前記分離ガスを前記通流空間にガイドすることで処理領域の反応ガスの濃度低下を防ぐ。 (もっと読む)


クラッキングする傾向を減少させた、間隙充填酸化ケイ素層の形成が記載される。堆積は、トレンチの充填を容易にする、流動可能なシリコン含有層の形成を含む。高い基板温度における後続の処理が、従来技術の方法に従って形成された流動可能な膜よりも、誘電体膜中のクラッキングを少なくする。間隙充填酸化ケイ素層の形成に先立って堆積された圧縮性ライナ層が記載され、後続して堆積される膜がクラックする傾向を減少する。流動可能なシリコン含有層の後に堆積される圧縮性キャッピング層も、クラッキングを減少させるように決定された。圧縮性ライナ層および圧縮性キャッピング層は、単独でまたは組み合わせて使用され、クラッキングを減少させ、多くの場合クラッキングをなくすことができる。開示した実施形態の圧縮性キャッピング層は、下にある窒化ケイ素の層を酸化ケイ素層に変換できることが、さらに確定されている。 (もっと読む)


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