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Fターム[5F045AE23]の内容

気相成長(金属層を除く) (114,827) | 成膜条件−成膜時の圧力 (3,707) | 減圧(圧力が明示されていない) (3,333) | 7.6≦P<76Torr(0.01≦P<0.1気圧 10.13≦P<101.3hPa) (552)

Fターム[5F045AE23]に分類される特許

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【課題】分離領域による処理領域同士の雰囲気の分離機能を確保しながら、当該分離領域に供給される分離ガスの消費量を抑えること。
【解決手段】真空容器1内において分離領域Dを介して処理領域P1、P2をウエハWが順番に通過するように回転テーブル2を回転させるにあたり、回転テーブル2の中央側よりも周縁側の分離ガスの供給量が多くなるように、当該中央側では周縁側よりも分離ガスノズル41、42のガス吐出孔33の配列間隔uを広く設定すると共に、分離領域Dから処理領域P1、P2側に吐出される分離ガスの流速について、各領域A1、A2における回転テーブル2の最大周速度よりも夫々僅かに速くなるように設定する。 (もっと読む)


【課題】ALD法により成膜を行う半導体デバイスの製造方法であって、Naによる基板の汚染を低減できる半導体デバイスの製造方法を提供する。
【解決手段】半導体デバイスの製造方法は、基板を収容する処理室に、第1の処理ガス及び第2の処理ガスを互いに混合させないように、それぞれの処理ガスの供給と排出を交互行って、前記基板の表面に膜を生成する基板処理工程と、前記処理室に前記第1の処理ガス及び前記第2の処理ガスを共に供給して、前記処理室の内壁表面にコーティング膜を形成するコーティング膜形成工程とを有する。 (もっと読む)


【課題】光取り出し効率を向上させることのできる発光素子を提供する。
【解決手段】発光素子1は、第1半導体層と、第2半導体層と、第1半導体層と第2半導体層とに挟まれる発光層とを有する半導体積層構造10と、半導体積層構造10の一方の面上に設けられ、線状表面電極部を有する表面電極50と、半導体積層構造10の表面電極50が設けられる側の反対の面側に設けられ、光を反射する反射層32と、半導体積層構造10と反射層32との間に設けられる誘電体層と、半導体積層構造10と反射層32とを電気的に接続し、線状界面電極部を有する界面電極40とを備え、線状表面電極部と線状界面電極部とがそれぞれ、平面視にて予め定められた方向に沿って延び、半導体積層構造10が、半導体積層構造10の反射層32の反対側の表面に、予め定められた方向とは異なる方向に沿って設けられる溝80を有する。 (もっと読む)


【課題】絶縁膜中の欠陥を低減する半導体装置の製造方法及び基板処理装置システムを提供する。
【解決手段】金属膜としてのTiN膜及び絶縁膜としてのZrO2膜が形成されたウエハを処理室へ搬入し、この処理室にZrO2膜を改質する改質ガスとしてO2を供給し、このウエハに電磁波を照射することにより、ZrO2膜を構成する双極子を励起してZrO2膜を改質し、ウエハを処理室から搬出する。 (もっと読む)


【課題】本発明は、トランジスタ特性の再現性が高く、高速でパワーの大きい電界効果トランジスタ及びその製造方法を提供することを課題とする。
【解決手段】ダイヤモンド基板11と、前記ダイヤモンド基板11の一面11a側に離間して形成された第2の電極13及び第3の電極14と、2つの電極13、14の間に離間して形成された第1の電極15と、を有する電界効果トランジスタであって、第1の電極15とダイヤモンド基板11との間にIII族窒化物半導体層12が設けられ、ダイヤモンド基板11とIII族窒化物半導体層12との界面17の近傍領域に正孔伝導チャネル領域16が形成されている電界効果トランジスタ10を用いることによって前記課題を解決できる。 (もっと読む)


【課題】比較的短い製造時間で容易且つ確実に反りのない基板を得ることを可能とし、低コストで信頼性の高い高耐圧及び高出力の化合物半導体装置を実現する。
【解決手段】Si基板10上に、AlNからなる第1のバッファ層2と、AlGaNのAl組成比率が均一となるように形成された均一組成領域3aと、第2のバッファ層3の上面に近づくにつれてAlGaNのAl組成比率が徐々に高くなるように形成された傾斜組成領域3bとが積層されてなる第2のバッファ層3とが形成され、第2のバッファ層3上に電子走行層4及び電子供給層6等が形成されてAlGaN/GaN・HEMTが構成される。 (もっと読む)


【課題】 プラズマ窒化処理によって形成した酸化窒化珪素膜からのN抜けによる膜中窒素濃度の低下を抑制し、被処理体間・ロット間での窒素濃度のばらつきを最小限にする。
【解決手段】 絶縁膜の改質方法は、被処理体の表面に露出した酸化珪素膜をプラズマ窒化処理し、酸化窒化珪素膜を形成する窒化処理工程と、前記酸化窒化珪素膜の表面を酸化処理する改質工程とを行い、窒化処理工程の終了から前記改質工程の開始までの間、真空雰囲気を維持する。また、プラズマ窒化処理は、窒化処理工程直後の酸化窒化珪素膜の膜中窒素濃度をNC0とし、改質工程後の酸化窒化珪素膜の膜中窒素濃度の目標値をNCTとしたとき、NC0>NCTとなるように行う。 (もっと読む)


【課題】半導体材料を堆積させる新規な方法及び堆積システムを提供する。
【解決手段】III−V族半導体材料を基板に堆積させる方法は、複数のガスコラムに対する基板の空間的位置づけを変更することによってIII族元素のガス状前駆体及びV族元素のガス状前駆体を基板に連続的に導入するステップを含む。例えば、基板は、各々が異なる前駆体を配置する複数の実質的に位置合わせされたガスコラムに対して移動することができる。前駆体を生成するための熱運動化ガス噴射器は、入口と、熱運動化管路と、液体試薬を保持するように構成された液体容器と、出口とを含むことができる。1つ又は複数のIII−V族半導体材料を基板の表面に形成するための堆積システムは、前駆体を複数のガスコラムを介して基板に誘導するように構成された1つ又は複数のそのような熱運動化ガス噴射器を含むことができる。 (もっと読む)


【課題】ドープされる元素の濃度と成長速度とのバッチ間均一性が良好な膜を作製することができる半導体装置の製造方法を提供する。
【解決手段】製品基板に対して処理を行うステップと、反応炉内に処理後の製品基板を収容した状態で、反応炉内への不活性ガスの供給と反応炉内の排気とを含むサイクルを1回以上行うことで、反応炉内の圧力を変化させて反応炉内に対し第1パージを行うステップと、反応炉内から処理後の製品基板を取り出した状態で、反応炉内への不活性ガスの供給と反応炉内の排気とを含むサイクルを1回以上行うことで反応炉内の圧力を変化させて反応炉内に対し第2パージを行うステップと、を有し、第2パージにおける反応炉内の圧力変化量を、第1パージおける反応炉内の圧力変化量よりも大きくする。 (もっと読む)


【課題】触媒成長によって成長したワイヤの表面上の金属触媒残渣を取り除く方法を提供する。
【解決手段】触媒成長によって得られた、第1材料で作られたソリッド構造体(3)の表面上に存在する触媒残渣(2)を取り除くこの方法は、以下の段階:第2材料で作られたソリッド構造体(4)を前記触媒残渣(2)から触媒成長させる段階と、前記第2材料で作られたソリッド構造体(4)を選択的に取り除く段階と、を含む。前記ソリッド構造体(3,4)はワイヤであり、且つ有利にナノワイヤである。前記触媒(2)は、銅、金、白金及びアルミニウムを含む群から有利に選ばれた金属触媒である。 (もっと読む)


【課題】処理室から搬出される基板保持具から基板を搬送する搬送機構の電装部が高温になるのを抑制することができる基板処理装置を提供する。
【解決手段】基板処理装置は、ウエハを保持するボートと、このボートに保持されたウエハを処理する処理室と、この処理室からボートが搬出される移載室と、この移載室に設けられ、ボートに保持されたウエハを搬送するウエハ搬送機構と、を有し、ウエハ搬送機構は、ウエハを搬送するウエハ移載装置を昇降させる昇降部に動力を伝える動力部と、この動力部の電気的回路を形成する電装部と、この電装部を冷却する冷却装置と、を有する。 (もっと読む)


【課題】トレンチをエピタキシャル膜にて埋め込んで半導体基板を製造する上においてトレンチ開口部の塞がりの抑制と成長速度の向上の両立を図ることができる半導体基板の製造方法を提供する。
【解決手段】nシリコン基板1の上に形成したn型エピタキシャル膜2に、複数のトレンチ4を、トレンチ幅Wtよりも、隣接するトレンチ4間の間隔Ltを大きく形成する。トレンチ4内を含めたエピタキシャル膜2上に、エピタキシャル膜2の不純物濃度よりも高濃度なp型エピタキシャル膜23を、少なくともトレンチ4の埋め込みの最終工程において、p型エピタキシャル膜23の成膜のために供給するガスとして、シリコンソースガスとハロゲン化物ガスとの混合ガスを用いて成膜し、トレンチ4の内部をp型エピタキシャル膜23で埋め込む。 (もっと読む)


【課題】Alを含むIII族窒化物系半導体からなるチャネル層を備え、二次元電子ガスの移動度を高め電流特性を向上させることが可能なIII族窒化物半導体デバイス、及び該III族窒化物半導体デバイスの作製に用いられるIII族窒化物半導体積層ウェハを提供する。
【解決手段】III族窒化物半導体積層ウェハ10は、AlGa1−XN(0<X≦1)からなる基板27と、Alを含むIII族窒化物系半導体からなり基板27上に設けられた第1のAlGaN層13と、第1のAlGaN層13上に設けられ、第1のAlGaN層13よりバンドギャップが大きいIII族窒化物系半導体からなる第2のAlGaN層15とを備える。第1のAlGaN層13の(0002)面及び(10−12)面におけるX線ロッキングカーブの半値幅は、1000[arcsec]未満である。 (もっと読む)


【課題】生産性を向上し、空隙率が高いエアギャップを形成することができる半導体装置の製造方法及び基板処理装置を提供することができる。
【解決手段】表面に複数の配線層が形成された基板に対し処理ガスを供給して、前記基板の表面における隣り合う配線層間に形成される溝に対して段差被覆性の悪い条件で絶縁膜を形成する工程と、前記基板に対しエッチングガスを供給して、前記絶縁膜に対して等方性エッチングを行う工程と、を所定回数行うことにより、隣り合う配線層間にエアギャップを形成する。 (もっと読む)


【課題】カーボン基材またはSi含浸SiC基材の基板支持具表面に形成された高純度SiC膜の、処理室クリーニング時におけるエッチングを抑制し、処理室内や基板の汚染を回避する。
【解決手段】基板支持具の表面にSi含有層を形成する工程と、減圧下で酸素含有ガスと水素含有ガスとを用いて前記Si含有層をSiO層に変化させる工程と、を交互に繰り返すことにより基板支持具の表面にSiO膜を形成する工程S1,S2と、表面にSiO膜が形成された基板支持具により基板を支持した状態で基板上に薄膜を形成する工程S4と、基板支持具に付着した堆積物をフッ素含有ガスを用いて除去する工程S5と、その後に再度、基板支持具の表面にSi含有層を形成する工程と、減圧下で酸素含有ガスと水素含有ガスとを用いてSi含有層をSiO層に変化させる工程と、を交互に繰り返すことにより基板支持具の表面にSiO膜を形成する工程S6と、を有する。 (もっと読む)


【課題】 基板に対する原料ガスの供給を促し、基板上に形成される薄膜の成膜速度や膜厚均一性を向上させる。
【解決手段】 基板を収容した処理容器内に原料ガスを供給し排気管より排気する工程と、処理容器内に原料ガスとは異なる反応ガスを供給し排気管より排気する工程と、を1サイクルとして、このサイクルを1回以上行うことで、基板上に所定膜厚の薄膜を形成する工程を有し、原料ガスを供給する工程では、原料ガスを供給する直前に、排気管に設けられたバルブを一時的にフルクローズして排気管を一時的に閉塞する。 (もっと読む)


【課題】大面積化が容易で且つ廉価なシリコンからなる基板に、残留応力が少なく且つ高品質の化合物半導体を形成する製造方法を提供する。
【解決手段】シリコン基板101の表面にシリコン酸化膜を形成し、その後、前記シリコン酸化膜よりも下層側の領域にイオン注入を行い、次いで熱処理して、イオン注入された単結晶のシリコンからなる下地層102を形成する。続いて、前記シリコン酸化膜を除去することにより下地層102を露出させる。その後、下地層102の上にAlNバッファ層103,AlGaNバッファ層104,およびGaN層105を形成する。 (もっと読む)


【課題】容量増加による高周波特性の劣化及び裏面電極に起因する絶縁破壊を抑止し、チップ面積を増加させることなく、インパクトイオン化により生成したホールを容易且つ確実に引き抜いて排出することを可能として、高耐圧性及び高信頼性を実現する化合物半導体装置及びその製造方法を提供する。
【解決手段】絶縁性又は半絶縁性の基板1の表面に電子走行層3、電子供給層4が形成され、電子供給層4内には局所的なp型領域7が形成されており、基板1の裏面にp型領域7の一部を露出させる開口1aが形成され、開口1aを導電材料で埋め込みp型領域7とオーミック接続された裏面電極8を備え、AlGaN/GaN・HEMTが構成される。 (もっと読む)


【課題】均一な厚さおよび所望の特性を有する堆積膜を基板上に成膜することができるプラズマ処理装置を提供する。
【解決手段】プラズマ処理装置1は、原料ガスが供給される真空容器2と、真空容器2内を減圧する真空ポンプ3と、真空容器2内に設置されたカソード電極4と、真空容器2内に設置されカソード電極4に対して基板8を略平行に支持する載置面5Aを有するアノード電極5と、アノード電極5に設けられた基板加熱機構10と、カソード電極4とアノード電極5との間にプラズマ9を発生させる高周波電源7とを備える。基板加熱機構10は、相互に独立して駆動される第1加熱機構11および第2加熱機構12を有し、第1加熱機構11は載置面5A内の略全面を加熱し、第2加熱機構12は載置面5A内を部分的に加熱する。 (もっと読む)


【課題】長期信頼性が高い窒化物系化合物半導体、窒化物系化合物半導体素子、およびその製造方法を提供すること。
【解決手段】アルミニウム原子、ガリウム原子、インジウム原子およびボロン原子から選択される、少なくともガリウム原子を含むIII族原子と、窒素原子とを含む窒化物系化合物半導体であって、前記III族原子の格子間原子を拡散させる拡散促進物質を添加物としてドープしたものである。好ましくは、前記拡散促進物質はリン、砒素、またはアンチモンである。 (もっと読む)


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