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Fターム[5F045AF06]の内容

気相成長(金属層を除く) (114,827) | 被成膜面の組成、基板の特徴、ダミー基板、マスク (7,328) | 被成膜面が半導体であるもの (4,466) | II−VI族(ZnSe等)面への成膜 (90)

Fターム[5F045AF06]に分類される特許

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【課題】絶縁耐圧性と耐候性に優れた薄膜太陽電池を簡便かつ低コストで製造し得る方法を提供する。
【解決手段】薄膜太陽電池の製造方法において、透光性絶縁基板(1)の一主面の全領域を覆うように、表面凹凸を有する透光性絶縁下地層(2)を形成し、その透光性絶縁下地層の全周縁エッジから所定幅の内側までの全周縁領域を覆うマスク(11)を設け、そのマスクの内側領域内において、透光性の酸化亜鉛電極層(3)、半導体光電変換層(4)、および裏面電極層(5)を順次堆積し、その後にマスクを除去し、さらに裏面電極層および透光性絶縁下地層の全周縁領域を覆うように裏面保護層(61、62)を接合させる工程を含む。 (もっと読む)


【課題】低い基板温度でも炭素コンタミネーションが少なく結晶性が良好な窒化ガリウムの成膜方法を提供する。
【解決手段】大気圧近傍の圧力下で一対の電極12H,12E間に、有機ガリウム化合物であるTMGと窒素(N)と水素(H)とを含有するプロセスガスを導入するとともに、電極12H,12E間に電界を印加して放電を生成する。放電後のプロセスガスを基板90に接触させる。成膜時の基板温度を100〜400℃にする。 (もっと読む)


【課題】ドット状発光層を有する発光素子の製造方法において、安定した歩留まりおよび発光素子特性を得ること。
【解決手段】第1の基板上にドット状発光層を有する発光素子構造を形成する工程とその発光素子構造の表面にイオン照射を行ったのち第1導電性酸化膜層を形成する工程、第2の基板表面にイオン照射を行ったのち前記第1導電性酸化膜層と同じ材料の第2導電性酸化膜を形成する工程、第1導電性酸化膜層と第2導電性酸化膜層の表面にイオン照射を行い接着させる工程、化学薬品を用いて第1の基板からドット状発光層を有する発光素子構造を剥離する工程、および剥離後の表面にイオン照射を行ったのち第3導電性酸化膜層を形成する工程を具備する。 (もっと読む)


第1半導体材料の結晶基板と、結晶基板の表面上に配置されるマスク(11)とを含む半導体ヘテロ構造(10)である。マスク(11)は、900nm以下の幅(w)を有する複数の細長い開口部(13,14)を含む開口(12)を有する。細長い開口部の少なくとも第1開口部(13)は、複数の細長い開口部のうちの少なくとも1つの第2開口部(14)に対して非平行に配向される。半導体ヘテロ構造(10)は、開口(12)を充填してマスクをカバーする第2半導体材料のオーバーグロース結晶層をさらに含む。かかる半導体ヘテロ構造の製造方法も提示される。
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【課題】歩留まりの向上を図ることができ、量産性に優れ、高性能でかつ高信頼性な半導体素子及びその製造方法を提供する。
【解決手段】半導体素子10は、ZnO(酸化亜鉛)単結晶基板12と、ZnO単結晶基板12上に成長させて形成される窒化物半導体層を含む素子30と、ZnO単結晶基板12の外面のうち、素子30を形成する表面12aとは反対側の裏面12bおよび両側面12c、12cを覆う窒化物半導体からなる保護膜40と、を備えている。ZnO単結晶基板12の裏面12bおよび両側面12c、12cが窒化物半導体からなる保護膜40で覆われているので、ZnO単結晶基板12の表面12a上に窒化物半導体層を成長させる際にZnOの昇華を抑制できる。V族原料としてアンモニアNH3を用いて窒化物半導体層を成長させるMOCVD法を利用できる。
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【課題】細かい加熱温度制御を容易に行うことができる加熱装置及び半導体製造装置を提供する。
【解決手段】半導体製造装置の反応室内に配置された支持体上に載置される半導体基板を加熱する加熱装置であって、着脱可能であると共に周方向に向きを変えて取付け可能な熱源ランプをそれぞれ有する、複数の熱源ユニットを備えたことを特徴とする加熱装置、及び反応ガスが供給される反応室と、反応室内に配置された支持体と、支持体上に載置される半導体基板を加熱する加熱装置とを備えた半導体製造装置であって、加熱装置は、着脱可能であると共に周方向に向きを変えて取付け可能な熱源ランプをそれぞれ有する、複数の熱源ユニットを備えたことを特徴とする半導体製造装置。 (もっと読む)


【課題】ウェハの反りを抑制しつつ、リーク電流を一層低減させることができる半導体電子デバイスを提供すること。
【解決手段】基板1上にバッファ層2,3を介して積層された半導体動作層4を備える電界効果トランジスタ100において、バッファ層3は、Al組成が0.2以下の窒化物系化合物半導体を用いて形成された第1の層11上に、Al組成が0.8以上の窒化物系化合物半導体を用いて形成された第2の層12が積層された複合層10を有する。 (もっと読む)


【課題】基板上に窒化物系III−V族化合物半導体層を良好な結晶品質で成長させることができる窒化物系III−V族化合物半導体層の成長方法を提供する。
【解決手段】GaN層を基板上に化学気相成長法により成長させ、このGaN層上にAlGaN層を化学気相成長法により成長させる場合に、Gaの原料の供給量に対するNの原料の供給量のモル比を8000以上、好ましくは10000以上、より好ましくは11000以上にしてGaN層を成長させる。基板としてはAl2 3 基板、ZnO基板、SiC基板などを用いる。 (もっと読む)


【課題】 紫外光や近紫外光の吸収性がある透明導電層を形成した発光素子において、透明導電層中での光吸収の影響を小さくし、光取り出し効率に優れたものを提供すること。
【解決手段】 発光素子は、基板10上に、n型窒化ガリウム系化合物半導体層12と、発光層13と、p型窒化ガリウム系化合物半導体層14とが形成されており、p型窒化ガリウム系化合物半導体層14は、発光層13により生じた光の波長を変換する蛍光体を含む複数の透明導電層15a,15b,15cが積層されて成るp型電極15が表面に形成されており、発光層13に最も近い透明導電層15aが発光層13により生じた光を第1波長の光に変換する蛍光体17aを含み、発光層13から離れるに従って発光層13により生じた光を第1波長の光よりも短波長の光に変換する蛍光体17b,17cを含む透明導電層15b,15cが積層されている。 (もっと読む)


【課題】 プラズマCVD法においてTMSを用いて低温条件下で成膜する場合であっても、炭素の混入を抑えて良好な膜質の絶縁膜を有する半導体装置の製法を提供すること。
【解決手段】 TMSを用いて低温条件下で成膜された絶縁膜を有する半導体装置の製法において、前記絶縁膜が、プラズマCVD法によって、絶縁膜の原料となるガスとしてTMSと、酸化ガスとしてNOとを用い、室温以上250℃以下の基板温度にて形成されることを特徴とする半導体装置の製法とする。 (もっと読む)


複数のエピタキシャル層を有し、動作時(E)界がかかっている半導体デバイスであり、具体的には、高電子移動度トランジスタ(HEMT)である。エピタキシャル層の中には、動作時(E)界を打ち消すための負イオン領域がある。半導体デバイスを製造するための1つの方法は、基板を設けるステップと、基板の上にエピタキシャルを成長させるステップとを備える。半導体デバイスの中の動作時電(E)界を打ち消すために、負イオンがエピタキシャル層の中に導入され、負イオン領域を形成する。コンタクトは、負イオン領域形成の前か後に、エピタキシャル層の上に堆積させることができる。
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【課題】 基板上にZnTeを成膜した半導体において、ドーパントとして一般的な不純物を用いた場合であっても、キャリア濃度が高い半導体の製造方法を提供するものである。
【解決手段】 基板1a上にp型ZnTe薄膜1bを成膜した被処理基板1を、熱処理装置2の処理室3内で、ガス導入口5から導入したZnTeと反応しない気体の雰囲気中において、成膜処理工程における成膜温度以下で電気炉4によって熱処理する。 (もっと読む)


【課題】ラテラル成長技術を用いて製造される新規な窒化物半導体ウェハを提供することを目的とする。
【解決手段】異種基板1と、異種基板1上に成長した窒化物半導体結晶層3と、からなる窒化物半導体ウェハであって、窒化物半導体結晶層3が、第1結晶層31と、第1結晶層31を下地層として成長した第2結晶層32とを含んでおり、第2結晶層32の少なくとも一部にはMgが添加されており、第1結晶層31と第2結晶層32との間にはマスク層Mが挟まれている窒化物半導体ウェハ。好ましくは、窒化物半導体結晶層3が、更に、第2結晶層32の上にMg拡散防止層33を含んでいる。 (もっと読む)


【課題】比較的簡便な手法によって低転位のAlN系III族窒化物厚膜を得ることができる方法を提供する。
【解決手段】所定の基材上にMOCVD法によってAlN系III族窒化物成長下地層が形成されてなるエピタキシャル基板の上に、HVPE法によってAlN系III族窒化物厚膜をエピタキシャル形成する場合に、MOCVD法における加熱温度よりも高い温度で該エピタキシャル基板を加熱処理した上で、厚膜層の形成を行うようにすることで、厚膜層の低転位化を実現することができる。すなわち、HVPE法を用いた厚膜成長に先立って、加熱処理という比較的簡便な処理を施すだけで、HVPE法による成長に際して特別の構成を有する装置を用いたり、あるいは成長条件に特段の限定を加えたりしなくとも、低転位のAlN系III族窒化物からなる厚膜層を形成することができる。 (もっと読む)


【課題】結晶方位に関し反対向きの構造を取る異なる極性を混在させた結晶において少なくとも表面において極性の単結晶としてデバイスをその上に製造するに適した単結晶基板を製造する方法を提供する。
【解決手段】結晶方位に関し反対向きの構造を取る異なる極性A、Bを持つ部分が混在する結晶において、一方の極性Bの部分をエッチングして表面部分を除去し、あるいは除去せずそのままに極性Bの上を異種物質Mで被覆し、さらに同じ結晶の成長を行い極性Aの結晶A’によって表面を覆うようにする。 (もっと読む)


【課題】低温ZnO多結晶フィルム及びこれを用いたTFTの製造方法を提供する。
【解決手段】MOCVDによって第1の温度で第1の時間の間基板にZnOを成長させてZnOバッファ層を形成する工程と、第1の温度より低い温度で基板を加熱し、第1の時間より長い第2の時間の間バッファ層上にZnOを成長させてZnOフィルムを形成する工程とを含む低温ZnO多結晶フィルムの製造方法である。これにより、200℃低温でも実用的な良質のZnOフィルムを成長でき、従って熱に弱い基板、例えば、プラスチック基板に形成することができる。 (もっと読む)


【課題】低転位であり、特に、窒化物半導体基板に内在する応力を抑制させて、反りの少ない窒化物半導体基板の製造方法を提供することを目的とする。
【解決手段】基板上に第1の窒化物半導体を成長させ、該第1の窒化物半導体に、(11−20)面と等価である面で囲まれ、平面形状において相似である2以上の凹部を有するパターンを形成し、該第1の窒化物半導体パターンにおける(11−20)面と等価である面を成長核として第2の窒化物半導体を成長させることを含むか、あるいは、基板上に、第1の窒化物半導体のパターンを形成し、該第1の窒化物半導体パターンを成長核として第2の窒化物半導体を成長させる窒化物半導体基板の製造方法であって、第1の窒化物半導体パターンは、平面形状が複数の正三角形の枠体によって形成され、この枠体の頂点のみを、隣接する枠体と共有するように、規則的に配置されて構成される本発明の窒化物半導体基板の製造方法。 (もっと読む)


【課題】基板としてMgxZn1-xO(0≦x≦0.5)のような酸化亜鉛系化合物を用いながら、その上部に成長される窒化物半導体の結晶性をよくするとともに、膜はがれやクラックの発生を防止し、漏れ電流が少なく高効率の窒化物半導体素子を提供する。
【解決手段】基板1上に窒化物半導体層が積層されて窒化物半導体素子を形成する場合に、基板1がMgxZn1-xO(0≦x≦0.5)のような酸化亜鉛系化合物からなっており、その基板1に接してAlyGa1-yN(0.05≦y≦0.2)からなる第1の窒化物半導体層2が設けられ、その第1の窒化物半導体層2上に半導体素子を形成するように、窒化物半導体層3〜5が積層されている。 (もっと読む)


【課題】ZnOのp形層を高品質で確実に形成でき、充分な発光出力が得られ、量産性及び環境性に優れた半導体発光素子を提供する。
【解決手段】ドナー不純物のドーピングによって低抵抗化したn形ZnOバルク単結晶基板10上に、p形層11として窒素をドープしたZnO系化合物からなる半導体薄膜を形成してpn接合させている。n形ZnOバルク単結晶基板10の亜鉛原子を含む面にp形層11を形成するのが望ましい。 (もっと読む)


【課題】単結晶窒化物系半導体基板及びこのような単結晶基板と発光構造体とを用いた垂直型窒化物系発光素子を製造する方法。
【解決手段】最初の基板上にシード物質層が形成され、シード物質層から多機能性基板が成長する。多機能性基板上には窒化物系バッファ層が積層される。シード物質層は良質の単結晶窒化物系半導体基板の成長及び単結晶窒化物系半導体基板と発光構造体とを用いた高信頼性窒化物系発光素子の製造のために必要な高品質の多機能性基板の成長を優先してアシストし、窒化物系発光素子製作のとき、生産収率を高める。高品質の多機能性基板層は高温及び水素雰囲気で下部のシード物質層の変形と分解とを防止することができ、良質の単結晶窒化物系半導体基板を成長するために六方晶構造である単結晶または多結晶構造を有する。 (もっと読む)


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