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Fターム[5F058BC03]の内容

絶縁膜の形成 (41,121) | 無機単層構造絶縁膜の材料 (5,394) | 酸化物 (3,578) | 金属酸化物 (1,240)

Fターム[5F058BC03]に分類される特許

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【課題】絶縁膜中の欠陥を低減する半導体装置の製造方法及び基板処理装置システムを提供する。
【解決手段】金属膜としてのTiN膜及び絶縁膜としてのZrO2膜が形成されたウエハを処理室へ搬入し、この処理室にZrO2膜を改質する改質ガスとしてO2を供給し、このウエハに電磁波を照射することにより、ZrO2膜を構成する双極子を励起してZrO2膜を改質し、ウエハを処理室から搬出する。 (もっと読む)


【課題】 半導体装置の製造工程を簡略化させ、金属元素含有膜の酸化を抑制させる。
【解決手段】 金属元素含有膜及び金属元素含有膜上に形成された絶縁膜を備える基板を処理室内に搬入し、処理室内に設けられた基板支持部により支持する工程と、励起状態の水素と励起状態の窒素のいずれか又は両方と、励起状態の酸素と、を含む反応ガスを処理室内で基板上に供給して基板を処理する工程と、基板を処理室内から搬出する工程と、を有する。 (もっと読む)


【課題】立体構造キャパシタを備えた半導体装置であって、上下部電極に金属若しくは金属化合物を用いるMIM構造で、容量絶縁膜に高誘電体膜を用いるキャパシタにおいて、高誘電率でリーク電流が抑制された信頼性の高いキャパシタを備える半導体装置を提供する。
【解決手段】TiN下部電極102上に酸化ジルコニウム誘電体膜113を形成し、誘電体膜上にTiNを含む上部電極117を形成する際、誘電体膜をALD法で形成し、上部電極を形成する前に誘電体膜形成時のALD法の成膜温度を70℃以上超える温度を付加することなく、第一の保護膜116を成膜する。 (もっと読む)


【課題】酸化プラセオジムの誘電体、酸化プラセオジムを備えたトランジスタ及びその製造方法を提供し、以って半導体素子のリーク電流及び等価酸化物膜厚の過大の問題を解決すること。
【解決手段】本発明では、酸化プラセオジムを備えたトランジスタは、少なくとも一つのIII−V族基板と、一つのゲート誘電層と、一つのゲート電極とを含む。また、III−V族基板にゲート誘電層が設けられ、ゲート誘電層にゲート電極が設けられ、誘電層は酸化プラセオジム(Prxy)である。本発明は、誘電層材料として高誘電率及び高エネルギーギャップを備えた酸化プラセオジム(Pr611)を用いることにより、リーク電流を有効に抑制する外、更にIII−V族材料を基板とした素子の等価酸化膜厚(EOT)を薄くさせることもできる。 (もっと読む)


【課題】高価な機体設備を組み合わせる必要なしに、コストを抑えて、大面積の酸化膜を製造する方法を提供する。
【解決手段】第1前駆体、燃料および溶剤を含む塗料を調製し、前記塗料を基材に塗布し、前記基材の塗料に焼き戻しのステップを行い、前記塗料を酸化膜に転化させるステップを包括する。前記第1前駆体が第1金属を含み、前記第1金属がタングステン、ニッケル、チタン、亜鉛、銅或いは銀であり、前記燃料がチオウレア、ウレア、グリシン、クエン酸の何れかひとつ、或いはこれらの組み合わせを含み、前記溶剤が水、アルコール、過酸化水素水の何れかひとつ、或いはこれらの組み合わせを含む。 (もっと読む)


【課題】炭化珪素とその上に形成される絶縁膜との界面の品質及び当該絶縁膜の品質を改善して界面準位密度を低減することができる炭化珪素半導体素子の製造方法及び電子デバイスの製造方法を提供する。
【解決手段】炭化珪素基板1の主表面を、水素ガスを含むクリーニングガスで表面処理し、前記主表面を窒素含有ガスで表面処理し、前記主表面上に絶縁膜2を形成する。 (もっと読む)


【課題】反応ガス同士をより確実に分離することが可能な原子層(分子層)成膜装置を提供する。
【解決手段】反応容器10内に回転可能に設けられ、基板が載置される回転テーブル2;第1の反応ガスが供給される第1の領域481と第2の反応ガスが供給される第2の領域482とを分離するために、該第1および第2の領域の天井面よりも低い天井面と、分離ガスを供給する分離ガス供給部41,42とを有する分離領域;該分離領域において、回転テーブル2と反応容器10の内側面との間に配置される上ブロック部材46A,46B;を有する成膜装置とする。上ブロック部材46A,46Bは、前記分離領域における回転テーブル2の回転方向上流側に、前記分離ガスが流通可能な空間Sが形成されるように配置される。 (もっと読む)


【課題】固体成膜原料を、従来からのCVD法やALD法による成膜方法に使用できる形態で安定的に供給する。
【解決手段】固体成膜原料21を気化させて供給する気化供給装置1であって、超臨界流体を生成して供給する超臨界流体供給部10と、超臨界流体供給部10から供給される超臨界流体を固体成膜原料21に接触させて、超臨界流体に固体成膜原料21を溶解させる超臨界流体調整部20と、固体成膜原料21が溶解した超臨界流体を気体に相転移させて、気体中に固体成膜原料21を析出させるとともに、析出した固体成膜原料21を気化させる気化部30と、を有している。 (もっと読む)


【課題】絶縁性酸化物の量産性を高めこと、また、そのような絶縁性酸化物を用いた半導体装置に安定した電気的特性を付与すること、信頼性の高い半導体装置を作製する。
【解決手段】亜鉛のように400〜700℃で加熱した際にガリウムよりも揮発しやすい材料を酸化ガリウムに添加したターゲットを用いて、DCスパッタリング、パルスDCスパッタリング等の大きな基板に適用できる量産性の高いスパッタリング方法で成膜し、これを400〜700℃で加熱することにより、添加された材料を膜の表面近傍に偏析させる。膜のその他の部分は添加された材料の濃度が低下し、十分な絶縁性を呈するため、半導体装置のゲート絶縁物等に利用できる。 (もっと読む)


【課題】低温で薄膜を形成した場合であっても、高品質な薄膜が形成できる基板処理装置を提供する。
【解決手段】基板処理装置は、ウエハ200が収容された処理室201内に第1の反応物質を供給し、ウエハ200の表面に第1の反応物質を吸着させる工程と、処理室201から余剰な第1の反応物質を除去する工程と、処理室201内に第2の反応物質を供給し、ウエハ200の表面に吸着した第1の反応物質と反応させて少なくとも1原子層の薄膜を形成する工程と、処理室201から余剰な第2の反応物質を除去する工程と、から成る薄膜形成工程と、薄膜形成工程後に、処理室201内にプラズマ励起された第3の反応物質を供給するプラズマ処理工程と、を所望の厚さの薄膜が形成されるまで所定回数繰り返すように制御手段を構成してなる。 (もっと読む)


【課題】キャパシタの誘電体膜において、リーク特性改善のためのAlドープ層を設けても、誘電体膜がAlドープ層で分断されず、サイズ効果の影響を抑え、結晶性の良好な誘電体膜を提供する。
【解決手段】誘電体膜中に少なくとも1層のAlドープ層を有し、Alドープ層の1層におけるAl原子の面密度を1.4E+14[atoms/cm]未満とする。また、その面密度を達成するため、通常のALDによる誘電体膜成膜と、Alソースの吸着サイトを制限するブロッカー分子の吸着を行った後、Alソースを吸着させ、反応ガスを導入して反応させる吸着サイト・ブロッキングALD法によるAl添加の組み合わせを採用する。 (もっと読む)


【課題】基板上に、下部電極層、ピンド層、トンネルバリア層、フリー層、上部電極層を順次成膜してなるトンネル磁気抵抗効果素子において、極力小さい膜厚で良好な被覆性を確保できるトンネルバリア層を実現する。
【解決手段】基板10上に、下部電極層20、ピンド層30、トンネルバリア層40、フリー層50、上部電極層60が順次積層されてなるトンネル磁気抵抗効果素子1において、トンネルバリア層40は、原子層成長法により成膜されたアルミナなどからなり、膜厚を薄いものとしても、下地のピンド層30の表面に存在する凹凸の被覆性を高め、トンネルバリア層40の膜厚ばらつきを小さくできる。 (もっと読む)


【課題】 高誘電率絶縁膜の吸湿を抑制し、信頼性を向上させる。
【解決手段】 処理容器内に基板を搬入する工程と、処理容器内で基板上に高誘電率絶縁膜を形成する工程と、処理容器内で高誘電率絶縁膜上に高誘電率絶縁膜よりも吸湿性の低い低吸湿性絶縁膜を形成する工程と、処理容器内より低吸湿性絶縁膜形成後の基板を搬出する工程と、を有する。 (もっと読む)


【課題】 AlGaN層上に容易に絶縁膜を形成することができる技術を提供する。
【解決手段】 AlGaN層と、AlGaN層の表面に形成されたAlGaN酸化膜とを備えている半導体装置の製造方法であって、アルカリ溶液48中にAlGaN層を有する基板40と陰極44とを浸した状態で、AlGaN層と陰極44との間にAlGaN層がプラスとなる電圧を印加するとともに、AlGaN層に紫外線を照射する酸化ステップを有している。 (もっと読む)


【課題】 低コストで必要な仕事関数及び耐酸化性を有する金属膜を備えた半導体装置を提供する。
【解決手段】 表面に金属膜が形成された基板を処理容器内に搬入する工程と、処理容器内に原料ガスと酸化源とを供給し排気することで、基板の表面に形成された金属膜上に所定膜厚の金属酸化膜を形成する処理を行う工程と、処理済基板を処理容器内から搬出する工程と、を有し、処理を行う工程では、酸化源としてオゾンガス、酸素ガスまたはプラズマにより活性化された酸素ガスを用い、所定膜厚の金属酸化膜を形成する過程において形成される金属酸化膜越しに、酸化源に含まれる酸素原子を、金属膜の表面に導入することで、金属膜の表面を酸化して導電性の金属酸化層に改質する。 (もっと読む)


【課題】第1の金属元素および第2の金属元素を含む第3の金属酸化膜を形成する際に、第3の金属酸化膜中の第1の金属元素及び第2の金属元素の組成比の制御性を向上させる。
【解決手段】第1の金属元素を含む第1原料を供給し排気する工程と、酸化剤を供給し排気する工程と、を1サイクルとしてこのサイクルを少なくとも1回行うことで第1の金属酸化膜を形成する工程と、第2の金属元素を含む第2原料を供給し排気する工程と、酸化剤を供給し排気する工程と、を1サイクルとしてこのサイクルを少なくとも1回行うことで第2の金属酸化膜を形成する工程と、を交互に所定回数行うことで第3の金属酸化膜を形成する工程を有し、第1原料および第2原料として、第2の金属酸化膜を形成する工程における1サイクルあたりに形成する膜厚が、第1の金属酸化膜を形成する工程における1サイクルあたりに形成する膜厚よりも小さくなるような原料を用いる。 (もっと読む)


【課題】紫外光による基板のダメージを最小限に抑えながら基板の酸化膜の改質を行う。
【解決手段】オゾンと紫外光とを基板11に供して基板11上の酸化膜を改質する酸化膜改質装置1は、格納された基板11に対してオゾンと紫外光が供される処理炉2と、前記改質が開始されてからの基板11に供された後のオゾンガスのオゾン濃度の上昇を検出しこの検出したオゾン濃度の上昇速度の変化に基づき紫外光の照射を制御する制御部7とを備える。制御部7は前記オゾン濃度の上昇速度の低下を検出した時点で基板11に対する紫外光の照射を停止させる。 (もっと読む)


【課題】薄膜キャパシタ等において、チューナビリティ、リーク電流特性及び誘電率を向上させ得る誘電体薄膜形成用組成物、誘電体薄膜の形成方法及び誘電体薄膜を提供する。
【解決手段】一般式:Ba1-xSrxTiy3(式中0.2<x<0.6、0.9<y<1.1)で示される複合金属酸化物Aに、Cu(銅)を含む複合酸化物Bが混合した混合複合金属酸化物の形態をとる薄膜を形成するための液状組成物であり、複合金属酸化物Aを構成するための原料及び複合酸化物Bを構成するための原料が上記一般式で示される金属原子比を与えるような割合で、かつAとBとのモル比B/Aが0.001≦B/A<0.15の範囲内となるように、有機溶媒中に溶解している有機金属化合物溶液からなることを特徴とする。 (もっと読む)


【課題】環境に優しく、圧電特性に優れた新規な圧電材料を提供する。
【解決手段】ペロブスカイト型構造を有する圧電材料は,一般式(1)で表される。(Bi1-xBax)(Fe1-xTix)O3・・・(1)但し,0<x<1である。xは、ペロブスカイト型構造のAサイトにおけるBa組成であって、BサイトにおけるTi組成である。圧電材料は、環境上問題となる鉛(Pb)を含まないため、極めて有用である。さらに、鉛フリーでありながら、良好な圧電特性、例えば充分な格子のひずみ量を得ることができる。 (もっと読む)


【課題】膜厚方向に亘って緻密な薄膜を得ること。また、良好なデバイス構造を得ること。
【解決手段】回転テーブル2を回転させることにより、Si含有ガスとO3ガスとを用いてウエハWに反応生成物を形成する成膜ステップと、プラズマにより前記反応生成物を改質する改質ステップと、からなる成膜−改質処理を複数回行うと共に、薄膜の形成途中にてプラズマの強度を変更する。具体的には、反応生成物の積層膜厚が薄い時(成膜−改質処理を開始した初期)にはプラズマの強度を小さくすると共に、反応生成物の積層膜厚が増加する程(成膜ステップの回数が増える程)、ウエハWに供給するプラズマの強度を段階的に大きくする。あるいは、反応生成物の膜厚が薄い時にプラズマの強度を強くして、その後弱くする。 (もっと読む)


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