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Fターム[5F083PR03]の内容

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Fターム[5F083PR03]に分類される特許

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【課題】良好な特性を維持しつつ、微細化を達成した、酸化物半導体を用いた半導体装置を提供することを目的の一とする。
【解決手段】酸化物半導体層と、酸化物半導体層と接するソース電極及びドレイン電極と、酸化物半導体層と重なるゲート電極と、酸化物半導体層とゲート電極との間に設けられたゲート絶縁層と、を有し、ソース電極またはドレイン電極は、第1の導電層と、前記ゲート電極と一部が重畳するように第1の導電層の端部よりチャネル長方向に伸長した領域を有する第2の導電層と、を含み、第2の導電層の伸長した領域の上にサイドウォール絶縁層を有し、サイドウォール絶縁層は異なる複数の材料層が積層される半導体装置である。 (もっと読む)


【課題】多数の種類の材質の膜をエッチングによって加工する際に、膜の種類に応じた複数のハードマスクで加工を行いながら、工程数の増加を抑えることができる不揮発性記憶装置の製造方法を提供する。
【解決手段】第1の素子となる所定形状の素子形成部C1〜WL1間に絶縁膜60が形成された素子層上に、第2の素子となる素子材料層VR2〜BL1と、第2の素子の配線の一部となる配線材料層C2と、絶縁材料からなるマスク層と、を積層させ、所定形状に加工したマスク層を用いて配線材料層C2と素子材料層BL1〜VR2とをエッチングし、マスク層と配線材料層C2とをマスクとして、素子層の絶縁膜60をエッチングし、配線材料層C2をマスクとして、素子層の素子形成部C1〜WL1をエッチングして第1の素子を形成し、パターン間に埋め込んだ絶縁層を、配線材料層C2をストッパとして除去し、絶縁層上に第2の素子の配線となる配線層を形成する。 (もっと読む)


【課題】信頼性の高い半導体装置を提供することを課題の一とする。また、信頼性の高い半導体装置の作製方法を提供することを課題の一とする。また、消費電力が低い半導体装置を提供することを課題の一とする。また、消費電力が低い半導体装置の作製方法を提供することを課題の一とする。また、量産性の高い半導体装置を提供することを課題の一とする。また、量産性の高い半導体装置の作製方法を提供することを課題の一とする。
【解決手段】酸素欠損を生じることなく酸化物半導体層に残留する不純物を除去し、酸化物半導体層を極めて高い純度にまで精製して使用すればよい。具体的には、酸化物半導体層に酸素を添加した後に加熱処理を施し、不純物を除去して使用すればよい。特に酸素の添加方法としては、高エネルギーの酸素をイオン注入法またはイオンドーピング法などを用いて添加する方法が好ましい。 (もっと読む)


【課題】接合リーク電流が低減されるとともに、セル容量への書き込み・読み出しに十分な電流駆動能力を確保することが可能な半導体装置及びその製造方法を提供する。
【解決手段】半導体基板1に形成された複数の埋め込みゲート型MOSトランジスタ2を有し、半導体基板1には素子分離領域と活性領域とが形成されており、ゲートトレンチの内部に形成され、少なくとも一部がワード線として設けられるとともに、その他の残部が、活性領域を複数の素子領域に分離する素子分離として設けられる埋め込みゲート電極31A、31Bと、ソース・ドレイン拡散層15、45とが備えられ、埋め込みゲート電極31A、31Bは、上部電極31aと下部電極31bとの積層構造とされ、且つ、半導体基板1の上面側のソース・ドレイン拡散層15、45側に配置される上部電極31aが、下部電極31bに比べて、仕事関数の低いゲート材料からなる。 (もっと読む)


【課題】酸化物半導体を用いたトランジスタと、酸化物半導体以外の半導体材料を用いたトランジスタとを積層して、新たな構造の半導体装置を提供することを目的の一とする。
【解決手段】第1のトランジスタと、第1のトランジスタ上に絶縁層と、絶縁層上に第2のトランジスタと、を有し、第1のトランジスタは、第1のチャネル形成領域を含み、第2のトランジスタは、第2のチャネル形成領域を含み、第1のチャネル形成領域は、第2のチャネル形成領域と異なる半導体材料を含んで構成され、絶縁層は、二乗平均平方根粗さが1nm以下の表面を有する半導体装置。 (もっと読む)


【課題】形状制御性良く、タングステンを含む導電層のエッチングを行える半導体装置の製造方法を提供する。
【解決手段】半導体装置の製造方法は、下地層上にタングステンを含む導電層を形成する工程と、導電層を選択的にエッチングし、導電層の表面から下地層に達する深さよりも浅い溝を形成する工程と、溝を形成した後、臭素を含むガスを用いて、溝内の導電層の側面及び底面にタングステンと臭素との化合物を含む保護膜を形成する工程と、導電層の底面の保護膜を除去する工程と、導電層の底面の保護膜を除去した後、導電層の側面に保護膜が形成された状態で、導電層における溝より下の部分をエッチングする工程と、を備えた。 (もっと読む)


【課題】精度良く形成された小型化された電極を備えた電極構造体及びその製造方法、並びに半導体装置を提供する。
【解決手段】第1の層間絶縁膜13に、第1の方向に延在する複数の第1の溝16を形成し、第1の溝16の対向する2つの側面及び底面を覆うように第1の導電膜32を形成し、第1の導電膜32が形成された複数の第1の溝16を第1の絶縁膜19で充填し、第1の層間絶縁膜13、第1の絶縁膜19、及び第1の導電膜32の上面に、第2の方向に延在する複数の開口部を有したハードマスク層33を形成し、異方性エッチング法により、複数の開口部から露出された部分の第1の絶縁膜19及び第1の導電膜32を除去することで、第1の溝16に第1の導電膜32よりなる電極を形成すると共に、第1の層間絶縁膜13に第1の溝16と交差する第2の溝17を複数形成し、ハードマスク層33を除去した後、第2の溝17を第2の絶縁膜21で充填する。 (もっと読む)



【課題】良好な特性を維持しつつ、微細化を達成した、酸化物半導体を用いた半導体装置を提供することを目的の一とする。
【解決手段】酸化物半導体層と、酸化物半導体層と接するソース電極及びドレイン電極と、酸化物半導体層と重なるゲート電極と、酸化物半導体層とゲート電極との間に設けられたゲート絶縁層と、酸化物半導体層に接して設けられた絶縁層と、を有し、酸化物半導体層は、該酸化物半導体層の端面において、ソース電極またはドレイン電極と接し、且つ該酸化物半導体層の上面において、絶縁層を介して、ソース電極またはドレイン電極と重なる半導体装置である。 (もっと読む)


【課題】デプレッション型トランジスタを用いて構成される記憶素子を有する半導体装置であっても、正確な情報の保持を可能にすること。
【解決手段】あらかじめ信号保持部への信号の入力を制御するトランジスタのゲート端子に負に帯電させ、且つ電源との接続を物理的に遮断することにより負電荷を保持させる。加えて、一方の端子が当該トランジスタのゲート端子に電気的に接続される容量素子を設け、当該容量素子を介して当該トランジスタのスイッチングを制御する。 (もっと読む)


【課題】高アスペクト比を有する下部電極を備えたキャパシタを提供する。
【解決手段】本発明の半導体装置の製造方法は、第1キャパシタホール121内壁にクラウン形状の第1電極151を形成する工程と、第1キャパシタホール121に連通する第2キャパシタホール181を上層の絶縁膜に形成する工程と、第2キャパシタホール内壁に第2電極膜191を形成し、第2キャパシタホールの底部の第2電極膜を除去して第2電極201を形成することで、第1電極の内壁面と第2電極の内壁面とを連続させる工程を有する。 (もっと読む)



【課題】良好な特性を維持しつつ、微細化を達成した、酸化物半導体を用いた半導体装置を提供することを目的の一とする。
【解決手段】酸化物半導体層と、酸化物半導体層と接するソース電極及びドレイン電極と、酸化物半導体層と重なるゲート電極と、酸化物半導体層とゲート電極との間に設けられたゲート絶縁層と、を有し、ソース電極またはドレイン電極は、第1の導電層と、第1の導電層の端面よりチャネル長方向に伸長した領域を有する第2の導電層と、を含み、第2の導電層の伸長した領域の上に、前記伸長した領域のチャネル長方向の長さより小さいチャネル長方向の長さの底面を有するサイドウォール絶縁層を有する半導体装置である。 (もっと読む)


【解決手段】
各々が能動回路領域を含むチップの積層体において、多重チップ積層体内の複数のスルーシリコンビア(TSV)開口をパターニングし、エッチングし、そして熱的伝導性材料で充填することによって、多重チップ積層体からの熱を熱的に伝導させるための複数のTSV構造が形成され、複数のTSV開口は、いずれの能動回路領域をも貫通せずに多重チップ積層体の実質的に全体を通って延びる第1の大きなTSV開口と、能動回路領域まで下に延びるが通過はしない第2の小さい開口と、を含む。 (もっと読む)


【課題】半導体装置の微細化に対処しうる、製造が容易で安価な低コンタクト抵抗の半導体装置およびその製造方法を得る。
【解決手段】Si基板(1)上の不純物領域(7)を覆うように層間絶縁膜(8)が形成され、その層間絶縁膜(8)には、層間絶縁膜(8)を貫通して不純物領域(7)を掘り込むようにコンタクトホール(9)が形成されている。コンタクトホール(9)内には、金属膜(10)、バリア層(11)、金属シリサイド(12)およびソース、ドレイン配線(14)が形成されている。ソース、ドレイン配線(14)は、タングステンから形成されている。 (もっと読む)


【課題】電極構造体を具備するキャパシタ、その製造方法及び電極構造体を含む半導体装置を提供すること。
【解決手段】構造的安全性及び電気的特性が改善された電極構造体を有するキャパシタとそのような電極構造体が適用された半導体装置が開示される。電極構造体は絶縁層を有する基板、絶縁層を埋め立てる金属を含む第1導電パターン、第1導電パターンから延びて金属酸化物を含む第2導電パターン、そして第2導電パターン上に配置される第3導電パターンを含むことができる。写真エッチング工程を利用せずに簡単な工程で要求されるレベルの電気的な特性と集積度を確保することのできるキャパシタと半導体装置を実現することができる。 (もっと読む)


【課題】DRAM素子のような半導体装置において、半導体基板の溝部におけるゲート電極の埋設状態が良好となり、配線抵抗が低減され、素子特性に優れた半導体装置の製造方法を提供する。
【解決手段】シリコン基板1の表面にゲート電極溝13を形成する工程と、ゲート電極溝13の内面に第1のバリア膜16aを形成する工程と、第1のバリア膜16aをエッチバックして、ゲート電極溝13の底面に第1のバリア膜16aの一部を残存させながら除去する工程と、ゲート電極溝13の内面と残存した第1のバリア膜16aの表面に第2のバリア膜16bを形成する工程と、第2のバリア膜16aの表面にタングステン膜を形成する工程と、このタングステン膜及び第2のバリア膜16bをエッチバックしてゲート電極溝13内にそれぞれ一部を残存させながら各膜を一括除去する工程と、を具備する。 (もっと読む)


【課題】複雑な作製工程を必要とせず、消費電力を抑えることができる記憶装置、当該記憶装置を用いた信号処理回路の提供を目的の一つとする。
【解決手段】インバータまたはクロックドインバータなどの、入力された信号の位相を反転させて出力する位相反転素子を用いた記憶素子内に、データを保持するための容量素子と、当該容量素子における電荷の蓄積及び放出を制御するスイッチング素子とを設ける。上記スイッチング素子には、酸化物半導体をチャネル形成領域に含むトランジスタを用いる。そして、上記記憶素子を、信号処理回路が有する、レジスタやキャッシュメモリなどの記憶装置に用いる。 (もっと読む)


【課題】絶縁層と導電層とを交互にエッチングするにあたっての生産性が高い半導体装置の製造方法を提供する。
【解決手段】半導体装置の製造方法は、基体50上に、シリコン酸化物を含む絶縁層25と、シリコンを含む導電層WLとをそれぞれ交互に複数積層する工程と、絶縁層25と導電層WLとの積層体上にSiOC膜40を形成する工程と、SiOC膜40をパターニングする工程と、パターニングされたSiOC膜40をマスクにして絶縁層25及び導電層WLをエッチングし、積層体にホールMHを形成する工程と、を備えた。 (もっと読む)


【課題】電力が供給されない状況でも記憶内容の保持が可能で、かつ、書き込み回数にも制限が無い半導体装置を提供する。
【解決手段】第1の配線と、第2の配線と、第3の配線と、第4の配線と、第1のトランジスタ160と、第2のトランジスタ162と、を有し、第1のトランジスタ160は、半導体材料を含む基板に設けられ、第2のトランジスタ162は酸化物半導体層を含んで構成され、第1のトランジスタ160のゲート電極と、第2のトランジスタ162のソース・ドレイン電極とは、電気的に接続され、第1の配線と、第1のトランジスタ160のソース電極とは、電気的に接続され、第2の配線と、第1のトランジスタ160のドレイン電極とは、電気的に接続され、第3の配線と、第2のトランジスタ162のソース・ドレイン電極の他方とは、電気的に接続され、第4の配線と、第2のトランジスタ162のゲート電極とは、電気的に接続される。 (もっと読む)


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