【課題】特性の優れた薄膜トランジスタ（ＴＦＴ）およびＴＦＴを有する半導体集積回路を提供する。
【解決手段】周辺回路およびアクティブマトリクス回路を含む半導体装置において、前記周辺回路および前記アクティブマトリクス回路は、第１の絶縁膜を介して半導体層の下に設けられた第１のゲイト電極および第２の絶縁膜を介して前記半導体層の上に設けられた第２のゲイト電極を含む複数の薄膜トランジスタを含み、前記周辺回路の薄膜トランジスタの半導体層に結晶性半導体が用いられ、前記アクティブマトリクス回路の半導体層に非晶質半導体が用いられたことを特徴とする。 （もっと読む）

【課題】 シリコンウェハから形成されるＩＣチップは利用形態の増大、需要の増大が予想され、さらなる低コスト化が要求される。
そこで本発明は、さらなる低コストでの生産が可能なＩＣチップの構造、プロセスの提供を課題とする。
【解決手段】 本発明において、剥離層に金属膜と、該金属膜を有する反応物を用いることを特徴とする。金属膜、又は金属を有する反応物はエッチング速度が高く好ましく、さらに、金属膜、又は金属を有する反応物をエッチングする化学的手段に加え、物理的手段を用いることができ、より簡便に、短時間で剥離層を除去することができる。 （もっと読む）

【課題】 アクティブマトリクス駆動方式の液晶装置において、プリチャージ回路、サンプリング回路等が有するＴＦＴの下側からの戻り光等に対する遮光性能を高め、優れたスイッチング特性により高品質の画像表示を行う。
【解決手段】 液晶装置（２００）は、一対の基板間に挟持された液晶層（５０）と、基板にマトリクス状に設けられた画素電極（１１）と、これをスイッチング制御するＴＦＴ（３０）とを備える。このＴＦＴや、プリチャージ回路（２０１）及びサンプリング回路（３０１）のＴＦＴの下側には、遮光層が設けられている。 （もっと読む）

第一ウェハ上に形成された第一の複数のトランジスタと、第二ウェハ上に形成された第二の複数のトランジスタとを備えた集積回路。第一トランジスタのうち少なくとも実質的に大部分が第一導電型であり、第二の複数のトランジスタのうち少なくとも実質的に大部分が第二導電型である。ウェハ同士が結合された後、第二ウェハの一部が除去されて、第二の複数のトランジスタのチャネルの歪みの圧縮性が、第一の複数のトランジスタのチャネルの歪みの圧縮性よりも高くなる。
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【課題】 ｐ型電界効果トランジスタ（ＰＦＥＴ）およびｎ型電界効果トランジスタ（ＮＦＥＴ）を有する集積回路を提供することにある。
【解決手段】 第１の歪みは、ＮＦＥＴではなくＰＦＥＴのみのソースおよびドレイン領域内に配置されたシリコン・ゲルマニウムなどの格子不整合半導体層を介してＮＦＥＴではなくＰＦＥＴのチャネル領域に加えられる。ＰＦＥＴおよびＮＦＥＴを形成するプロセスが提供される。ＰＦＥＴのソースおよびドレイン領域になるためのエリア内にトレンチがエッチングされ、それに隣接するＰＦＥＴのチャネル領域に歪みを加えるために、格子不整合シリコン・ゲルマニウム層をそこにエピタキシャル成長させる。シリコン・ゲルマニウム層の上にシリコンの層を成長させ、シリコンの層からサリサイドを形成して、低抵抗ソースおよびドレイン領域を提供することができる。 （もっと読む）

【課題】ソース／ドレイン拡張とフロントゲート（front gate）に自己整合させたバックゲートを含む、ＦＤ型ＳＯＩ−ＣＭＯＳデバイスの製造方法に関する。
【解決手段】
ＳＯＩ−ＣＭＯＳ技術は、ポリシリコン、即ちポリＳｉバックゲートは、フロントゲート・デバイスの閾値電圧を制御するために使用され、ｎＭＯＳ及びｐＭＯＳバックゲートは、互いに独立に、及びフロントゲートと独立に、スイッチされる。
特に、バックゲートが、デバイスのフロントゲート及びソース／ドレイン拡張に自己整合されたバックゲートＦＤ型ＣＭＯＳデバイスの製造方法を提供する。バックゲートＦＤ型ＣＭＯＳデバイスは、ＳＩＭＯＸ又は結合ＳＯＩ−ウエハ、ウエハボンディングと薄膜化、ポリＳｉエッチング、ＬＰ−ＣＶＤ、機械化学研磨（ＣＭＰ）を用いて製造される。 （もっと読む）

【課題】 優れた特性を有する多結晶シリコン膜を備えた半導体装置を高い歩留まりで製造することが可能な半導体装置の製造方法を提供する。
【解決手段】 石英ガラスや無アルカリガラスなどの基板１上に、非晶質シリコン膜２ａを形成する。その非晶質シリコン膜２ａ上にＷシリサイド膜（導電膜）４ｂを形成する。そして、Ｗシリサイド膜（導電膜）４ｂに対し、高周波やＹＡＧレーザービームなどの電磁波を照射することにより、Ｗシリサイド膜（導電膜）４ｂを発熱させ、この熱を利用して、非晶質シリコン膜２ａを多結晶シリコン膜２に変える。 （もっと読む）