【課題】ＧａＮトランジスタを理想的な還流ダイオードとして動作させ、低損失のスイッチ装置を実現できるようにする。
【解決手段】スイッチ装置は、窒化物半導体素子３０１と、窒化物半導体素子３０１を駆動する駆動部３０２とを備えている。窒化物半導体素子３０１は、第１のオーミック電極、第２のオーミック電極及び第１のゲート電極を有している。駆動部３０２は、第１のゲート電極にバイアス電圧を印加するゲート回路３１１と、第１のゲート電極と第１のオーミック電極との間に接続され、双方向に電流を流すスイッチ素子３１２とを有している。駆動部３０２は、第１のオーミック電極から第２のオーミック電極への電流を通電し且つ第２のオーミック電極から第１のオーミック電極への電流を遮断する動作を行う場合には、スイッチ素子３１２をオン状態とする。 （もっと読む）

【課題】高性能なＩＩＩ−Ｖ族ＭＩＳＦＥＴの実現を可能にする、より効果的なＩＩＩ−Ｖ族化合物半導体表面のパッシベーション技術を提供する。
【解決手段】エピタキシャル成長により化合物半導体層をベース基板上に形成するステップと、前記化合物半導体層の表面をセレン化合物を含む洗浄液で洗浄するステップと、前記化合物半導体層の上に絶縁層を形成するステップと、を有する半導体基板の製造方法を提供する。前記セレン化合物として、セレン酸化物が挙げられる。前記セレン酸化物として、Ｈ_２ＳｅＯ_３が挙げられる。前記洗浄液が、水、アンモニアおよびエタノールからなる群から選択された１以上の物質をさらに含んでもよい。前記化合物半導体層の表面がＩｎ_ｘＧａ_１−ｘＡｓ（０≦ｘ≦１）からなる場合、前記絶縁層がＡｌ_２Ｏ_３からなるものであることが好ましく、Ａｌ_２Ｏ_３は、ＡＬＤ法により形成されることが好ましい。 （もっと読む）

【課題】相互接続構造の珪化物層と、ロープロファイルバンプを含む、バンプ間ショートを防止したパワーＭＯＳＦＥＴからなる半導体デバイスおよび製造方法を提供する。
【解決手段】基板上にソース領域１６０およびドレイン領域１７０を有し、珪化物層１７４が、ソース領域およびドレイン領域の上に配置されている。第１の相互接続層１９４が、珪化物層上に形成されており、ソース領域に接続される第１のランナー１９６と、ドレイン領域に接続される第２のランナー１９８とが配置される。第２の相互接続層２１４が、第１の相互接続層上に形成されており、第１のランナーに接続される第３のランナー２１６と、第２のランナーに接続される第４のランナー２１８とを含む。第３の相互接続層２３４が形成され、ソースパッド２３６、ソースバンプ２４０が電気的に接続される。 （もっと読む）

【課題】ＧａＮ系の窒化物半導体を用いたデバイスのゲートリセス量の制御性を向上することで、閾値電圧の面内均一性を向上することができる窒化物半導体装置を実現できるようにする。
【解決手段】窒化物半導体装置は、基板１０１上に形成された第１のＧａＮ系半導体からなるバッファ層１０２と、第２のＧａＮ系半導体からなるキャリア走行層１０３と、第３のＧａＮ系半導体からなるキャリア供給層１０４とを備えている。キャリア供給層１０４の上には第１の絶縁膜１０５と、アルミニウムを含む第２の絶縁膜１０６と、第１の絶縁膜１０５より膜厚が厚い第３の絶縁膜１０７とが形成されている。ソース電極１０８及びドレイン電極１０９は第１の絶縁膜１０５上に形成されている。ゲート電極１１０は、リセス構造を含む第２の絶縁膜１０６及び第３の絶縁膜１０７上に形成されている。 （もっと読む）

【課題】従来の電界効果型トランジスタでは、ソース領域およびドレイン領域に形成する高濃度不純物のイオン注入工程により半導体基板表面がアモルファス化されるため、低濃度不純物拡散領域と高濃度不純物拡散領域との境界部において、活性化熱処理により結晶欠陥を誘発し、電界効果型トランジスタの信頼性を低下させる問題があった。
【解決手段】本発明の電界効果型トランジスタは、ソース領域およびドレイン領域を構成する部分の上部に高濃度不純物を含有する導電性膜を設ける。高濃度不純物のイオン注入を行う必要がないことから、この領域の半導体基板表面がアモルファス化することがない。これにより、低濃度不純物拡散領域と高濃度不純物拡散領域との境界部において、再結晶化による結晶欠陥の発生を防ぐことができる。 （もっと読む）

【課題】ＣＭＰによるダミーゲート電極の頭出し工程およびＣＭＰによるメタルゲート電極の形成工程を回避できる製造方法を提供する。
【解決手段】シリサイド膜２４Ｓ，２４Ｄ上に選択的に、シリコン膜２５Ｓ，２５Ｄを形成する工程と、側壁絶縁膜２３ＷＡ，２３ＷＢの間にシリコン基板の表面を露出する凹部２３Ｖを形成する工程と、側壁絶縁膜２３ＷＡ，２３ＷＢの表面および露出されたシリコン基板表面を連続して覆うように、誘電体膜を形成する工程と、シリコン基板上に金属または導電性金属窒化物を含む導電膜を、凹部２３Ｖに誘電体膜を介して充填するように形成する工程と、導電膜をエッチバックし、側壁絶縁膜２３ＷＡ，２３ＷＢの間において凹部２３Ｖを誘電体膜を介して充填するゲート電極を形成する工程と、を含む。 （もっと読む）

【課題】第１配線の比抵抗が小さく、シリサイド異常成長が抑制された半導体装置の製造方法の提供。
【解決手段】第１溝を半導体基板１に設けた後、第１溝内に、シリコンとの間でシリサイドを形成しない材料からなる導体層６と半導体層１０とを含む第１配線１１を形成して、半導体層と半導体基板とを直接に接触させる工程と、半導体層に含まれるドーパントを半導体基板に拡散させて第１不純物拡散領域１３を形成する工程と、第１溝と交差する方向に延在する第２溝を半導体基板に設けることで、第１不純物拡散領域を包含して半導体基板に立設されたピラー部１ｂを形成する工程と、第２溝の側壁面にゲート絶縁膜１６を形成してから、ゲート絶縁膜を介してピラー部に対向する第２配線１７を第２溝内に形成する工程と、ピラー部の先端部に、第２不純物拡散領域１９を形成する工程と、を具備してなる半導体装置の製造方法を採用する。 （もっと読む）

【課題】レジスト残渣に起因するリーク電流の増大を生じさせることがなく、微細パターンの形成が可能であり、電極のエッジ部分の絶縁膜が薄くなることに起因するリーク電流の増大を抑制することが可能な電磁気素子の製造方法を提供すること。
【解決手段】基板上に、１２(Ｃａ_xＳｒ_1-x)Ｏ・７Ａｌ₂Ｏ₃（０≦ｘ≦１）を含む絶縁膜を形成する絶縁膜形成工程と、絶縁膜の上にアンモニウム塩アルカリ溶液を含む現像液で現像可能な第１フォトレジストを塗布し、第１フォトマスクパターンに応じて第１フォトレジストを露光する第１フォトレジストパターン形成工程と、第１フォトレジストをアンモニウム塩アルカリ溶液を含む現像液に接触させ、第１フォトレジストの可溶部分の溶解と同時に、絶縁膜をエッチングする現像・エッチング工程とを備えた電磁気素子の製造方法。 （もっと読む）

【課題】放熱効率を向上し且つ歩留りや信頼性の低下を防止することが可能な半導体装置および半導体装置の製造方法を提供する。
【解決手段】裏面に凹部ＤＰ１が形成されたシリコン基板１０１と、シリコン基板１０１における裏面と反対側の上面上に成長されたｐ型半導体層１０３と、ｐ型半導体層１０３の上方または側方に互いに離間して形成されたソース電極１０８ｓおよびドレイン電極１０８ｄと、を含むＭＯＳＦＥＴと、を備える。ｐ型半導体層１０３は、シリコン基板１０１に対して格子定数および熱膨張係数のうち少なくとも１つが異なる。凹部ＤＰ１は、シリコン基板１０１の厚み方向から見て少なくともソース電極１０８ｓおよびドレイン電極１０８ｄで挟まれた領域を内包する領域に形成されている。 （もっと読む）

【課題】コンタクト構造物の形成方法及びこれを利用した半導体装置の製造方法を提供する。
【解決手段】コンタクト領域１０３を有する対象体１００上に絶縁層１０６を形成した後、絶縁層１０６をエッチングしてコンタクト領域１０３を露出させる開口を形成する。露出されたコンタクト領域１０３上にシリコン及び酸素を含む物質膜を形成した後、シリコン及び酸素を含む物質膜上に金属膜を形成する。シリコン及び酸素を含有する物質膜と金属膜を反応させて、少なくともコンタクト領域１０３上に金属酸化物シリサイド膜１２１を形成した後、金属酸化物シリサイド膜１２１上の開口を埋める導電膜を形成する。コンタクト領域とコンタクトとの間に金属、シリコン、及び酸素が三成分系を成す金属酸化物シリサイド膜を均一に形成することができるため、改善された熱安定性及び電気的特性を有する。 （もっと読む）

【課題】ビット線の容量を小さくし、高速動作が得られるダイナミックランダムアクセスメモリを得ること。
【解決手段】ソース／ドレイン領域の一方になる第１の導電層６の上に、第１の半導体層１１、チャネル半導体層１２、ソース／ドレイン領域の他方になり、かつストレージノード２６にもなる第２の導電層１３が設けられている。第２の導電層１３の上にキャパシタ絶縁膜２１が設けられる。キャパシタ絶縁膜２１を介在させて、ストレージノード２６の上にセルプレート２２が設けられている。 （もっと読む）

【課題】簡易な製造工程によって形成可能なノーマリーオフ型のＧａＮ系ＦＥＴを提供すること。
【解決手段】本発明においては、ソース電極Ｓ直下およびドレイン電極Ｄ直下にそれぞれｎ−ＡｌＧａＮ層１６を形成し、さらにｎ−ＡｌＧａＮ層１６の間に位置するチャネル層であるｐ−ＧａＮ層１４上に形成される絶縁膜１７の上にゲート電極Ｇを形成することによって、ソース電極Ｓおよびドレイン電極Ｄとｎ−ＡｌＧａＮ層１６との接触抵抗を低下させたノーマリーオフ型のＧａＮ系のＦＥＴ１を実現することができる。 （もっと読む）

【課題】電界効果型トランジスタのリーク電流を低減し、寿命の向上を図るための簡便な修復方法を提供することを課題とする。また、作製コストの増加を抑え、消費電力が小さく、且つ信頼性の高い半導体装置を提供することを課題とする。
【解決手段】ソース電極又はドレイン電極の一方と、ゲート電極との間に、電気的な衝撃を加える。または、ソース電極又はドレイン電極の一方と、ソース電極又はドレイン電極の他方との間に、電気的な衝撃を加える。これにより、リークパスを絶縁化し、リーク電流を低減することができる。なお、上記の電気的な衝撃は、静電気等の電気パルスであっても良いし、直流電圧、交流電圧、直流電流、交流電流等であっても良い。 （もっと読む）

【課題】高耐圧で、安全動作領域が広く、かつ、熱散逸性がよく、有効コンダクタンスおよび周波数特性が良好なＳＯＩデバイスを提供すること。
【解決手段】半導体装置１００において、ｐ^-基板１０１の表面層の一部にはＢＯＸ領域１０２が設けられる。ＢＯＸ領域１０２は、ゲート電極１１０の中心から下ろした垂線Ｌｃ付近まで設けられており、ドレイン領域１０９および拡張ドレイン領域１０３をｐ^-基板１０１から分離する。ドレイン領域１０９の厚さは１５０ｎｍ〜３００ｎｍのいずれかであり、ＢＯＸ領域１０２の厚さは１５０ｎｍ以上である。 （もっと読む）

【課題】半導体基板に形成された電界効果トランジスタのソース領域やドレイン領域に生じる欠陥を抑制する。
【解決手段】半導基板１の主面上にゲート電極７Ｇを形成した後、ゲート電極７Ｇをマスクとして不純物を半導体基板１に導入することにより半導体基板１の主面に低濃度層１１を形成する。続いて、ゲート電極７Ｇの側面に第１サイドウォール１２および第２サイドウォール１３を形成した後、第１サイドウォール１２、第２サイドウォールおよびゲート電極７Ｇをマスクとして半導体基板１に窒素等をイオン打ち込みすることにより、半導体基板１の主面に結晶化抑制領域ＣＣＲを形成する。その後、第２サイドウォール１３を除去した後、半導体基板１の主面に、ソースおよびドレイン用の高濃度層を形成する。 （もっと読む）

装置は、電界効果トランジスタＦＥＴを含む。ＦＥＴは、第１の半導体の領域と、第１の半導体の領域上に位置する第２の半導体の層とを含む。層および領域は、半導体ヘテロ構造を形成する。ＦＥＴはまた、領域および層の１つの上に位置するソースおよびドレイン電極と、半導体ヘテロ構造のチャネル部の導電率を制御するように配置されたゲート電極とを含む。チャネル部は、ソース電極とドレイン電極の間に位置する。ゲート電極は、チャネル部、ならびにソースおよびドレイン電極の一部分の垂直上方に位置する。
（もっと読む）

【課題】応力の制御性を向上できる半導体装置およびその製造方法を提供する。
【解決手段】半導体装置は、半導体基板の主表面上に設けられたゲート絶縁膜と、前記ゲート絶縁膜上に設けられたゲート電極と、前記ゲート電極を挟むように前記半導体基板中に隔離して設けられたソースおよびドレインとを備えた絶縁ゲート型電界効果トランジスタＰ１と、前記ソース上に設けられた第１コンタクト配線２６と、前記ドレイン上に設けられた第２コンタクト配線２７と、前記ゲート電極上を覆うように設けられ、一端および他端が前記第１、第２コンタクト配線間に接続された圧電層２２とを具備する。 （もっと読む）

【課題】 短工期であり低消費電力および高駆動能力、高精度を有するパワーマネージメント半導体装置やアナログ半導体装置の実現を可能とする製造方法を提供する。
【解決手段】 ＣＭＯＳを含むパワーマネージメント半導体装置やアナログ半導体装置の製造方法において、低濃度ドレインを構成する半導体領域の上方に熱伝導度の大きい物質を付加し、ドレイン領域を拡大することで、サージ入力時でのドレイン領域の熱伝達（熱放出）を向上させることにより局所的な温度上昇を抑えることで、熱破壊を抑止し、トランジスタの設計自由度を高めたパワーマネージメント半導体装置やアナログ半導体装置を実現する。 （もっと読む）

【課題】コンタクト構造の煩雑化を抑制しつつ、コンタクト抵抗を低減させる。
【解決手段】エピタキシャル成長により、単結晶半導体層７ａ、７ｂをＬＤＤ層５ａ、５ｂ上に選択的に形成し、層間絶縁膜９および単結晶半導体層７ａ、７ｂをそれぞれ介してソース層８ａおよびドレイン層８ｂをそれぞれ露出させる開口部１０ａ、１０ｂを形成した後、バリアメタル膜１１ａ、１１ｂをそれぞれ介して埋め込まれたプラグ１２ａ、１２ｂを開口部１０ａ、１０ｂ内にそれぞれ形成する。 （もっと読む）

本発明は、基板（１１）と、少なくとも一つの半導体素子（Ｅ）を設けた半導体本体（１２）とを有し、単結晶シリコン（１）領域を具え、該単結晶シリコン領域（１）の上に金属シリサイド領域（３）を設け、そして金属シリサイド領域（３）の上に低結晶性シリコン領域（４）を設け、その後、低結晶性シリコン領域（４）を加熱することにより高結晶性を有するエピタキシャルシリコン領域（２）に変化させ、その処理の間に金属シリサイド領域（３）を低結晶性シリコン領域（４）の下部からエピタキシャルシリコン領域（２）の上へと移動させることにより、単結晶シリコン領域（１）の上にエピタキシャルシリコン領域（２）を形成する、半導体デバイス（１０）の製造方法に関する。上記本発明によれば、金属シリサイド領域（３）より高い位置に、孔（６）を設けた絶縁層（５）を形成し、低結晶性シリコン領域（４）を孔（６）中および絶縁層（５）の上に析出させ、絶縁層（５）上の低結晶性シリコン領域（４）の一部（４Ａ、４Ｂ）を平坦化処理により取り除き、その後にエピタキシャルシリコン領域（２）を形成する。この方法では、自己整合方式で金属シリサイドコンタクト（領域）が設けられており、そしてトランジスタのような半導体素子（Ｅ）の一部を形成できる、エピタキシャルシリコン領域（２）、好ましくはナノワイヤ（２）が簡単に得られる。
（もっと読む）