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【課題】従来よりも簡易な光学系を用い、均一なレーザ照射を行うことのできるレーザ照射装置を提供することを課題とする。また、このようなレーザ照射装置を用いたレーザ照射方法を提供し、レーザ照射方法を工程に含む半導体装置の作製方法を提供することを課題とする。
【解決手段】レーザと、レーザから射出されたレーザ光を偏向させ、ステージにおいて移動させる手段と、ステージを固定し、偏向されたレーザ光をステージに対して一定の角度で入射させる手段とを有し、レーザ光をステージにおいて形状を一定に保ちつつ移動させることを特徴としている。そして、このようなレーザ照射装置を用いて、半導体膜に対してレーザ光の照射を行い、半導体膜の結晶化や活性化を行うことができる。 (もっと読む)


【課題】レーザ照射による半導体膜の結晶化において、横方向結晶成長過程および横方向成長結晶粒の長さや幅を検知し、得られた検知情報からフィードバック制御を行って半導体膜の所望の領域に一様な横方向結晶長さを実現し、SLS法で確実に横方向結晶粒を引き継いで成長させる。
【解決手段】絶縁基板上に形成された半導体膜を第一レーザ光照射によって溶融させて横方向に結晶成長させる過程が、その半導体膜における第二レーザ光の反射光または透過光を用いてモニタリングされる。検出された反射率または透過率の時間変化および変化率から結晶成長過程が横方向か縦方向かを判別でき、凝固時間から横方向成長した結晶長および結晶幅を求めることができ、これらが横方向結晶成長の制御情報として用いられ得る。 (もっと読む)


【課題】
本発明は、大粒径の結晶粒を有する結晶性半導体膜を、位置を制御して形成することにより、高速動作が可能な薄膜トランジスタを提供することを目的とする。
【解決手段】
下地絶縁膜231と半導体膜232が形成された基板230の表面側から第1のレーザビーム241を照射し、基板230の裏面側に設置された反射層222で反射された第2のレーザビーム242を裏面側から照射することにより、半導体膜の所定の位置に結晶核245を形成し、横方向に結晶成長させることで大粒径の結晶粒を有する結晶性半導体膜を得るものである。 (もっと読む)


【課題】結晶粒の均一性を向上させた位相シフタ、位相シフタの製造方法および結晶化装置を提供すること。
【解決手段】入射光を位相変調する位相シフタ(1)は、ガラス基板のような透光性基板(2)と、この透光性基板(2)のレーザ光の入射面に入射光を位相変調する例えば凹凸パターンの位相変調部(3)を設け、この位相変調部(3)の光強度分布が減少する周辺部の光を遮光する遮光部(4)を位相シフタ(1)の前記レーザ光の入射面または出射面に設け、入射レーザ光の照射面内周辺部の光を遮光するようにしたものである。 (もっと読む)


【課題】結晶性に優れた結晶性半導体膜を有する半導体基板を安定的に製造することが可能な半導体基板の製造方法を提供する。
【解決手段】絶縁基板上に結晶性半導体膜を有する半導体基板の製造方法であって、上記製造方法は、絶縁基板上の非晶質半導体膜から結晶性半導体膜を形成するに際し、少なくとも3回の結晶化工程を行う半導体基板の製造方法である。 (もっと読む)


膜との相互作用のためにレーザービームを整形するためのシステム及び方法が開示され、レーザービームはビーム経路に沿って進行し、短軸と長軸を備えている。1態様において、システムは、ビーム経路に沿って膜から距離d1に配置されたエッジを有する第1の短軸要素と、ビーム経路に沿って膜から距離d2に配置されたエッジを有する第2の短軸要素とを含み、d2<d1である。膜との相互作用のために短軸においてビームを合焦させるための光学系が第2の要素と膜との間でビーム経路に沿って配置される。別の態様において、システムは、短軸要素のエッジの一方又は両方の湾曲を選択的に調整するために動作する機構を有している。
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【課題】照射面またはその近傍におけるレーザ光の端部は、レンズの収差などにより、エネルギー密度が徐々に減衰している。このような領域(減衰領域)は被照射体のアニールにおけるエネルギー密度が十分でないため、前記被照射体に対して均一なアニールを行うことはできない。
【解決手段】複数のレーザ光のうちの1つのレーザ光のスポットを切断して2つに分割し、分割されたレーザ光のそれぞれの切断面が外側となるように入れ替える手段と、複数のレーザ光を1つに重ね合わせ線状に形成する手段とを有し、重ね合わせ線状に形成する手段により重ね合わされた線状のレーザー光の長尺方向において、減衰領域を除いたエネルギー密度の平均値は±10%以内であり、重ね合わされた線状のレーザ光は、分割されたレーザ光の切断面を長尺方向の両端部とし、かつ分割されたレーザ光同士は重なり合わない。 (もっと読む)


【課題】ガラス基板上の非晶質シリコン膜を結晶化する際に、生成されるポリシリコン膜の不均一化を防止することができる半導体結晶化装置及び半導体結晶化方法を提供する。
【解決手段】石定盤11には、ガラス基板7を真空吸着するための穴が設けられている。石定盤11の上に設けられる、ガラス又は石英製の散乱用基板10には、石定盤11に設けられた穴と位置が重なるように真空吸着用穴が設けられる。この散乱用基板10の裏面14には、すりガラス加工が施されており、非晶質シリコン膜32、SiO2及びSiN4からなるバッファ層31、ガラス基板本体部30を透過したレーザービーム20は、すりガラス加工された面14で散乱される。散乱光は、ガラス基板7上のシリコン膜に達したとしても、強度がきわめて微弱となり、シリコン膜に影響することがない。 (もっと読む)


【課題】レーザー光の照射により凹凸が形成された結晶性珪素の平坦性を高める。
【解決手段】レーザー光の照射により凹凸が形成された結晶性珪素膜に対して、
凹凸が形成された結晶性半導体膜に不活性ガスを吹きつけるために、結晶性半導体膜上の近傍に設けられた複数の開口部と、凹凸が形成された結晶性半導体膜に照射されるレーザー光が通過するために、複数の開口部の中心に設けられた一つのスリットと、を有することを特徴とするレーザー照射装置を用いてレーザー光を照射する。 (もっと読む)


【課題】 照射対象物を均一に結晶化させることができる投影マスク、レーザ加工方法およびレーザ加工装置を提供するとともに、照射対象物に形成したときの電気的特性を均一にすることができる薄膜トランジスタ素子を提供する。
【解決手段】 第1および第4ブロックBA,BDに第1光透過パターン25aが形成され、第2および第3ブロックBB,BCに第2光透過パターン25bが形成される投影マスク25であって、第1ブロックBA、第2ブロックBB、第3ブロックBCおよび第4ブロックBDの順に並べて配設される投影マスク25に、光源21から発せられるレーザ光31を照射し、前記第1および第2光透過パターン25a,25bを透過したレーザ光を半導体膜37に照射する。 (もっと読む)


【課題】電気的特性に優れた半導体装置を低コスト且つ高スループットに作製する。
【解決手段】単一のファイバーレーザーから射出されたレーザー光を半導体膜に照射することにより、当該半導体膜を結晶化または活性化する。また、複数のファイバーレーザーからそれぞれ射出されたレーザー光をカップラーを用いて単一のレーザー光に結合し、当該結合されたレーザー光を半導体膜に照射することにより、当該半導体膜を結晶化または活性化する。 (もっと読む)


【課題】レーザ光の偏光方向によって結晶粒形に異方性が生じた場合であっても、TFT特性の異方性を抑制できるYAG2ωレーザを用いたレーザ結晶化方法を提供する。
【解決手段】非晶質Si膜11に直線偏光のビーム光13を照射してレーザアニールをすることにより、多結晶Si膜12を形成する。このとき、直線偏光の方向をスキャン方向21に対して45度を成す角度にする。多結晶Si膜12の結晶粒形の大きさは、スキャン方向21とそれに垂直な方向で略同一になる。そのため、多結晶Si膜12を用いてTFTを形成した場合に、スキャン方向21のチャネルを有するTFTと、スキャン方向21に垂直な方向のチャネルを有するTFTの移動度の差を抑制できる。 (もっと読む)


【課題】 照射対象物を均一に結晶化させることができる投影マスク、レーザ加工方法およびレーザ加工装置を提供するとともに、照射対象物に形成したときの電気的特性を均一にすることができる薄膜トランジスタ素子を提供する。
【解決手段】 照射対象物である半導体膜37を結晶化させるべき複数の方向に対し、前記第1軸線および第2軸線を含む平面内において、第1軸線と第2軸線との交点を中心として第2軸線から予め定める周方向一方に45度傾斜した第1方向に延びる複数の第1光透過パターン25aと、前記平面内において前記45度傾斜した第1方向に直交する第2方向に延びる複数の第2光透過パターン25bとが形成される投影マスク25に、光源21から発せられるレーザ光31を照射し、前記第1および第2光透過パターン25a,25bを透過したレーザ光を半導体膜37に照射する。 (もっと読む)


【課題】電気的特性の向上。
【解決手段】基板上に非晶質シリコーン薄膜を形成する段階と、非晶質シリコーン薄膜の一部に低いエネルギー密度を有したレーザビームを照射して非晶質シリコーン薄膜を部分溶融させる段階と、部分溶融された非晶質シリコーン薄膜を結晶化させて一方向の結晶配列を有する多結晶シリコーングレインを形成する段階と、多結晶シリコーングレインから高いエネルギー密度を有したレーザビームを反復的に所定間隔移動させながら照射して非晶質シリコーン薄膜を完全溶融させる段階と、完全溶融された非晶質シリコーン薄膜を一方向の結晶配列と対応するように結晶化させて多結晶シリコーングレインを成長させる段階を含む。 (もっと読む)


1つの態様のもとで、膜を処理する方法は、基板上に配置されレーザ誘起融解が可能な膜内で結晶化させるべき複数の相隔たる領域を画定することと、照射される領域内で膜をその厚さにわたって融解させるのに十分なフルエンスを有し、各々のパルスが長さ及び幅を有するライン・ビームを形成する、一連のレーザ・パルスを生成することと、一連のレーザ・パルスにより選択された速度で膜を1回目の走査において連続的に走査して、各パルスが対応する相隔たる領域の第1の部分を照射し融解させ、第1の部分が冷却により一つ又はそれ以上の横方向に成長した結晶を形成するようにすることと、一連のレーザ・パルスにより選択された速度で膜を2回目に連続的に走査して、各パルスが対応する相隔たる領域の第2の部分を照射し融解させて、各々の相隔たる領域内の第1及び第2部分が部分的に重なり、第2の部分は冷却により、第1の部分の1つ又はそれ以上の横方向に成長した結晶に対して延びた、1つ又はそれ以上の横方向に成長した結晶を形成するようにすることと、を含む。
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【課題】薄膜トランジスタの活性層となる半導体薄膜のレーザアニールによる再結晶化処理を均一化及び最適化するとともに、ゲート配線の低抵抗化を図る。
【解決手段】表示装置は、各薄膜トランジスタ4のゲート電極1を互いに接続するゲート配線6と、各薄膜トランジスタ4のソース電極Sを互いに接続する信号配線7とが絶縁基板上で互いに交差する様に形成されている。ゲート配線6は、個々のゲート電極1と一体的に形成された一体部6aと、これらを互いに接続する別体部6bとに分かれている。ゲート電極1はゲート配線6の別体部6bより低い熱伝導性を有し、ゲート配線6の別体部6bはゲート電極1より低い電気抵抗を有する。信号配線7とゲート配線6の一体部6aとが絶縁膜14をはさんで交差する。 (もっと読む)


1つの態様の下では、薄膜を処理するための方法は、第1のレーザ・ビーム・パルスから第1の組の成形ビームレットを生成し、第1の組のビームレットの各々のビームレットは、y方向を定める長さと、x方向を定める幅と、照射された膜領域内で膜をその厚さ全体を通して実質的に溶融させるのに十分なフルエンスとを有し、さらにギャップによって第1の組のビームレットの隣接するビームレットからx方向に離間されるステップと、第1の組の成形ビームレットで膜の第1の領域を照射して第1の組の溶融ゾーンを形成し、第1の組の溶融ゾーンは冷却されると横方向に結晶化して、x方向に対して実質的に平行な結晶粒を含み、各々の成形ビームレットの長さ及び幅と実質的に同じ長さ及び幅を有し、成形ビームレットを分離するギャップと実質的に同じギャップによって隣接する結晶化領域から分離される第1の組の結晶化領域を形成するステップと、第2のレーザ・ビーム・パルスから第2の組の成形ビームレットを生成し、第2の組のビームレットの各ビームレットは、第1の組のビームレットの各ビームレットの長さ、幅、フルエンス、及び間隔と実質的に同じ長さ、幅、フルエンス、及び間隔を有するステップと、第2の組の成形ビームレットで膜の第2の領域を照射するように膜を連続的に走査して、第1の組の結晶化領域からx方向に変位した第2の組の溶融ゾーンを形成し、第2の組の溶融ゾーンのうちの少なくとも1つの溶融ゾーンは、第1の組の結晶化領域の少なくとも1つの結晶化領域に部分的に重なり、冷却されると結晶化して、その少なくとも1つの結晶化領域内で結晶の伸長を形成するステップと、を含む。
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【課題】 レーザービームによるパターン変形を防止できる逐次的横方向結晶化用のマスク及びその製造方法を提供する。
【解決手段】 逐次的横方向結晶化用のマスクは、透明基板と、前記透明基板上に形成され、レーザービームを遮断する耐熱性酸化膜パターンとを有する。 (もっと読む)


【課題】 高く安定したトランジスタ特性を有する薄膜トランジスタを提供する。
【解決手段】 ソース領域12及びドレイン領域13のいずれか一方のみに対応して、ゲート絶縁層に比して高い熱伝導率を有する伝熱部材3aが、ゲート電極3に少なくとも熱的に連結して設けられた構成とする。 (もっと読む)


【課題】結晶粒径が大きく表面粗さが小さい多結晶シリコン膜を形成可能な多結晶シリコン膜の製造方法を提供する。
【解決手段】基板上に膜厚60nm以上の非晶質シリコン膜を形成し、それに波長390nm〜640nmのレーザを照射して多結晶シリコン膜を形成する。このときレーザ照射を、酸素分圧が2Pa以下の雰囲気で行う。それにより多結晶シリコン膜の表面粗さを抑えつつ、その結晶粒径をサブミクロンオーダーにまで大きくできる。また2μm以下のスキャンピッチでレーザを走査することによって、多結晶シリコン膜の結晶粒径の均一性が向上する。このような多結晶シリコン膜に形成したTFTは、電気的特性に優れ信頼性の高いものとなる。 (もっと読む)


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