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Fターム[5F157AB95]の内容

半導体の洗浄、乾燥 (54,359) | 被洗浄物の取扱い (8,692) | 処理槽(室)内での洗浄時の運動 (1,468) | 直線運動 (177) | 往復運動 (28)

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揺動 (14)

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【課題】電子製品用の基板に付着した異物を除去する異物除去装置において、エアー射出による異物への除去作用を維持しながらも異物の拡散による再汚染を防止し、充分な異物除去能力を得ることができる。
【解決手段】この発明の異物除去装置においては、異物除去処理を行う際に基板1上部に隙間を空けて対向して配置される異物飛散防止板3と、異物飛散防止板3の外周に設けられる囲い板4と、異物飛散防止板3に開口して設けられるエアー射出部5と、エアー射出部5と囲い板4の間に開口して設けられるメインエアー吸引部6およびサブエアー吸引部7とを備えるものである。 (もっと読む)


【課題】基板表面の洗浄均一性を向上できる流体供給部材、液処理装置、および液処理方法を提供する。
【解決手段】開示される流体供給部材は、第1の点から第2の点まで第1の方向に延在する本体部と、前記本体部に設けられ、前記第1の方向に交差する第2の方向に開口し、前記第1の方向に配列される複数の流体吐出部とを備える。前記複数の流体吐出部のうち、前記第1の点側の前記流体吐出部の開口角度は、前記第2の点側の前記流体吐出部の開口角度よりも小さい。 (もっと読む)


【課題】被処理体の全域を均一に超音波洗浄することができる超音波洗浄装置を提供する。
【解決手段】本発明による超音波洗浄装置1は、洗浄液を貯留する洗浄槽10と、洗浄槽10内に挿入可能に設けられ、被処理体Wを保持して洗浄液に浸漬させる被処理体保持装置20と、洗浄槽10の底部に設けられた振動子40と、振動子40に超音波振動を生じさせる超音波発振装置42とを備えている。洗浄槽10内には、被処理体Wを保持する側部保持部材50が設けられている。また、被処理体保持装置20は、駆動装置26によって側方に移動するようになっている。制御装置44は、被処理体Wを側部保持部材50に保持させた後、被処理体保持装置20を側方へ移動させるように駆動装置26を制御すると共に、振動子40に超音波振動を生じさせて振動子40からの超音波振動を被処理体Wに伝播させるようになっている。 (もっと読む)


【課題】基板ロボットを用いることなく第1チャンバから第2チャンバに基板を搬送させることができ、かつその搬送中の基板に処理流体を用いた処理を施すことができる基板処理装置を提供すること。
【解決手段】第1チャンバ1内には、ウエハWの周縁部を支持して、ウエハWをほぼ水平姿勢に支持するための複数の第1支持部材10が収容されている。第2チャンバ2内には、ウエハWをほぼ水平姿勢に支持するための複数の第2支持部材20が収容されている。第1支持部材10A〜10Dおよび/または第2支持部材20A〜20Dが、ウエハWを支持しつつX方向に移動されることにより、ならびに第1支持部材10A〜10Dおよび第2支持部材20A〜20Dが開閉されることにより、4つの第1支持部材10A〜10Dから4つの第2支持部材20A〜20DにウエハWが受け渡される。搬送中のウエハWに対して処理部3による処理が施される。 (もっと読む)


【課題】表面処理装置において、被処理物の表面上での処理ガスの流れを調節する。
【解決手段】被処理物9を支持部21にて処理領域に配置して支持する。第1処理ガス供給系60Aにて、処理ガスを被処理物9の相対的に内側の部分に供給する。第2処理ガス供給系60Bにて、処理ガスを被処理物9の相対的に外周側の部分に供給する。第1処理ガス供給系60Aの処理ガスの供給流量と第2処理ガス供給系60Bの処理ガスの供給流量を互いに連関させて調節する。好ましくは、第1処理ガス供給系60Aの供給流量を第2処理ガス供給系60Bの供給流量より大きくする。 (もっと読む)


【課題】複数枚の基板を基板保持手段により保持し処理槽内の処理液中に浸漬させて処理する装置において、基板表面からパーティクルや残留薬液を除去して効率良く処理槽外へ排出することができ、処理時間の短縮と処理液の使用量の低減を図ることができる装置を提供する。
【解決手段】処理液を貯留する処理槽10と、鉛直姿勢で水平方向に配列された複数の基板Wの最下端部および両側の各下端部をそれぞれ保持する第1保持部34および第2保持部36a、第3保持部36bを有し処理槽10の内方位置と上方位置との間で上下方向へ移動する基板保持具12と、処理槽10の底部近傍に設けられた吐出口から処理液を吐出する一対の吐出管18と、基板保持具12を処理槽10内において、第2保持部36a、第3保持部36bが吐出管18の吐出口からの処理液に当たる位置と当たらない位置とに移動させる移動制御手段とを備えて装置を構成した。 (もっと読む)


【課題】基板洗浄装置において基板の生産性を向上させること。
【解決手段】基板洗浄装置2は、洗浄部材50により基板6を洗浄する位置から離れて設けられ、その下面がブラシ部と接触して当該ブラシ部を洗浄する洗浄面として形成されたブラシ洗浄体5と、洗浄部材を、基板を洗浄する領域とブラシ洗浄体によりブラシ部が洗浄される領域との間で移動させる移動手段と、ブラシ洗浄体の下面に洗浄部材のブラシ部を押し当て、ブラシ洗浄体と洗浄部材とを相対的に回転させるための手段と、ブラシ洗浄体とブラシ部材とを相対的に回転させているときにブラシ洗浄体の下面とブラシ部との間に洗浄液を供給する洗浄液供給手段と、を備える。 (もっと読む)


【課題】 本発明は、速やかにエキシマランプの周囲に不活性ガスを満たすことのできる紫外線照射ユニットを提供することを目的とする。
【解決手段】 本発明の紫外線照射ユニットは、放電容器内に形成された密閉空間に放電ガスが封入されると共に、当該密閉空間を挟んで一対の電極が前記放電容器の外表面に形成された複数のエキシマランプと、当該複数のエキシマランプを取り囲み鉛直方向における一方向が開口したランプハウスと、当該ランプハウスの内部に不活性ガスを供給するためのガス供給機構とを備える紫外線照射ユニットであって、前記ランプハウス内には、前記エキシマランプによって占有されている空間以外の空間に空間閉塞体が配置されていることを特徴とする。 (もっと読む)


【課題】
原版の上に付着した微粒子を効果的に除去する露光装置を提供する。
【解決手段】
本発明の露光装置は、真空環境下で投影光学系を介して原版のパターンを基板に露光する露光装置であって、露光装置は、原版を洗浄する洗浄装置を有し、洗浄装置は、原版のレーザー照射領域にレーザー光を照射する照射手段と、原版を移動させるステージと、レーザー光を原版に正射影したときの方向をレーザー入射方向と定義した場合、照射手段又はステージの一方を用いて、レーザー照射領域をレーザー入射方向と直交する方向に移動させる第1の走査手段と、照射手段又はステージの他方を用いて、レーザー照射領域をレーザー入射方向と同一の方向に移動させる第2の走査手段とを有する。 (もっと読む)


【課題】 基板洗浄方法及び装置が開示される。
【解決手段】 レーザービームを利用する基板洗浄方法及び装置において、工程チャンバー内にはレーザー誘起衝撃波が発生する空間を限定する内部チャンバーが配置される。前記レーザービームは前記内部チャンバー内に位置した焦点に集中され、これによってレーザー誘起プラズマ衝撃波が前記レーザー焦点の周囲に発生する。前記プラズマ衝撃波は内部チャンバーの内側表面によって反射され、前記内部チャンバーの下部を通じて基板上に照射される。結果的に基板上に照射されるプラズマ衝撃波の強度が増加し、これによって、基板上の汚染物質の除去効率が向上する。 (もっと読む)


【課題】フッ化水素(HF)を含む処理ガスにより表面処理する際、被処理物の取り替え等で一時停止した後、ガス状態の安定化工程を省き直ちに処理を再開可能にし、タクト時間を短縮する。
【解決手段】表面処理の実行時には、複数の生成部10を用いて所要の流量及びフッ化水素濃度の処理ガスを生成し、噴出路画成部20の噴出路23,24,25に通して被処理物Wに噴き付ける。選択手段51にて一時停止モードを選択すると、フッ化水素を生成する生成部10の数を減らし、表面処理実行時より小さい流量で、かつ表面処理実行時と略同じフッ化水素濃度の処理ガスを噴出路23〜25に通す。 (もっと読む)


【課題】処理液の消費量を抑えつつ、基板全体に均一な処理をより効率的に行う。
【解決手段】基板処理装置10は、基板Sを水平姿勢で搬送すると共に、エッチング処理中、所定の処理位置において基板Sを往復移動させる搬送ローラ14と、往復移動に伴う基板端部の移動範囲Eを少なくとも含み、かつ当該移動範囲Eの上流側の位置に延設される液案内板18と、この液案内板18における前記移動範囲Eの外側の部分に、上流側から下流側に向かって斜め方向にエッチング液を吐出するノズル16とを備えている。 (もっと読む)


真空の中で基板を放射エネルギーに曝す露光装置は、中に前記真空が形成されるチャンバーと、前記チャンバーの中に配された供給ノズルを含み、前記真空が形成された前記チャンバーの中に配された物体に対して前記供給ノズルを介してガスを噴射する噴射デバイスと、前記チャンバーの中に配された回収ノズルを含み、前記供給ノズルを介して前記チャンバー内に噴射されたガスを、前記回収ノズルを介して回収する回収デバイスとを備え、前記噴射デバイスから前記回収デバイスへ向かう方向とは逆の方向であって前記噴射デバイスによる噴射とは平行に前記物体が移動するように構成されている。 (もっと読む)


対象物の表面の少なくとも一部を処理するための流体メニスカスを利用する湿式処理装置および方法である。対象物の表面の1つが処理された後に、対象物の他の側面または表面が同様に処理されうる。いくつかの例を挙げれば、この処理はコーティング、エッチング、めっきでありうる。この装置と方法の用途は、半導体処理産業、特にウェハおよび基板の処理にある。この方法と装置は、電子構成部品の多数の表面の処理をも可能にする。 (もっと読む)


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