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Fターム[5F173AA48]の内容

Fターム[5F173AA48]に分類される特許

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【課題】自励発振型の半導体レーザにおいて、高温動作させた場合においても、十分な自励発振動作ができるようにする。
【解決手段】p−クラッド層105を、キャリア濃度が異なる2層から構成し、活性層104に近い側のp−クラッド層105Aに対して、活性層104に遠い側のp−クラッド層105BのZnドープ量が低くなるように設定する。このようにp−クラッド層105に濃度分布を持たせることによって、高温時においてもp−クラッド層105Bの濃度が電流の広がらない最適な膜厚およびキャリア濃度に設定され、また、p−クラッド層105Aの濃度が活性層104にZnが拡散せず、高温時においてもキャリアのオーバーフローが抑制できるように、Znがドープされる。 (もっと読む)


【課題】高次横モード発振を抑制できる面発光レーザ素子を提供する。
【解決手段】本発明の面発光レーザ素子は、第1多層反射膜102および第2多層反射膜109と、第1多層反射膜上109に形成される活性層104と、スペーサ層103,105,108と、活性層104と第2多層反射膜109の間に形成され、スペーサ層108に光学膜厚差分の凹凸を生じさせて凸部分の電流注入領域113と凹部分の電流ブロック領域114とを形成する高濃度p型層106および高濃度n型層107とから構成される。第1多層反射膜102および第2多層反射膜109は、高屈折率層と該高屈折率層の下層の低屈折率層との対を1ペアとした複数のペアから構成され、第2多層反射膜109の最下にある低屈折率層109aが一部除去されている。 (もっと読む)


【課題】偏向特性の悪化を防ぐことでき、かつ、ドループ率の低下を防ぐことができる半導体レーザ素子およびその製造方法を提供する。
【解決手段】n型GaAs基板101は、表面に断面略矩形状の溝103,104が形成され、かつ、溝103と溝104との間にリッジが形成されている。溝103,溝104内には、n型GaAsバッファ層107、n型AlGaAs下クラッド層108、ノンドープAlGaAs下光ガイド層109、ノンドープGaAs/AlGaAs多重量子井戸構造活性層110、ノンドープAlGaAs上光ガイド層111、p型AlGaAs第1上クラッド層112、p型GaAsエッチングストップ層113、p型AlGaAs第2上クラッド層114、p型GaAsキャップ層115および電流ブロック層118が形成されている。これらの層の表面はn型GaAs基板101の表面に対して略平行になっている。 (もっと読む)


【課題】量子ドット光半導体素子の製造方法において、プロセスが簡便で、かつ、結晶品質が低下しないようにする。
【解決手段】量子ドット光半導体素子の製造方法を、V族元素を含む量子ドット3を自己形成する第1の工程と、量子ドット3の組成とは異なり、かつ、V族元素を含むバリア層4で量子ドット3を埋め込む第2の工程と、少なくとも気相エッチング終了時に量子ドット3を構成するV族元素を含む雰囲気になるようにして、バリア層4の一部及び量子ドット3の一部を気相エッチングする第3の工程とを含むものとし、第1の工程から第3の工程までを複数回繰り返して、複数の量子ドットを積層させてなる複合量子ドット5を形成する。 (もっと読む)


【課題】低駆動電力かつ高い信頼性を保つことができるように改良された半導体レーザ素子を提供することを主要な目的とする。
【解決手段】活性層105を間に挟んで、上下にp型クラッド層109を含む複数のp型導電型層106〜110,114,115と、n型クラッド層103を含む複数のn型導電型層101〜104とが設けられた半導体レーザ素子において、発振波長が1.0μm以下であり、上記複数のp型導電型層106〜110,114,115のうちのn番目の層をp型導電型層(n)とし、該p型導電型層(n)の光閉じ込め係数をΓ(n)とし、該p型導電型層(n)のドーピング濃度をP(n)としたときのΓ(n)とP(n)の積の総和 Σ[Γ(n)×P(n)] が8.0×1017cm-3 以下であることを特徴とする。 (もっと読む)


【課題】リッジ部の基板面に対する垂直性及びリッジ部の対称性に優れた構造を持つ半導体レーザ装置において、結晶性が高い電流ブロック層を確実に形成できるようにする。
【解決手段】半導体レーザ装置は、基板102の上に形成されたn型クラッド層103と、n型クラッド層103の上に形成された活性層104と、活性層104の上に少なくとも上部がリッジストライプ状に形成されたリッジ部100を有するp型クラッド層105と、p型クラッド層105のリッジ部100の上に形成されたp型コンタクト層110と、p型クラッド層105におけるリッジ部100の側方に形成され、p型コンタクト層110を露出する開口部107aを有するn型電流ブロック層107とを有している。p型コンタクト層110におけるリッジ部100の長手方向の側面は、該側面の上部から下部に向けて外側に傾斜すると共に、面方位に(111)面を含む結晶面を有している。 (もっと読む)


【課題】素子特性が低下するのを抑制することが可能な半導体レーザ素子を提供する。
【解決手段】この半導体レーザ素子は、電流注入領域70を挟んで対向するとともに、素子部50の上面からGaAs基板1に達する深さを有し、かつ、素子部50の側端面と平行に延びるように設けられた一対の溝部20が設けられている。また、素子部50の両側端面には、溝部20と平行に延びるように、段差部30aが設けられており、GaAs基板1の裏面であって、段差部30aの底面の真下に位置する領域に、段差部30aと平行に延びるスクライブライン40が設けられている。 (もっと読む)


【課題】光導波路の先端に上面が高い窓構造を容易に形成することができる光半導体装置を提供する。
【解決手段】基板1上面に段差を形成し、低い面に光導波路形成領域1Bを、高い面に窓構造形成領域1Aを画定する。そして、光導波路形成領域1Bに形成されたメサストライプ8(光導波路3を含む)を埋め込む埋込み層7を、基板1上に堆積する。窓構造5はこの埋込み層7を一部として構成される。かかる窓構造5は、光導波路形成領域1B及び窓構造形成領域1A上に同一厚さの半導体層を堆積することで容易に形成することができる。 (もっと読む)


【課題】共振器の両端面付近の1次モードの光の吸収を増加させ、キンクレベルを向上させることができる半導体レーザ素子を提供する。
【解決手段】共振器面を有する半導体レーザ素子において、第1導電型の半導体基板1と、この表面上に形成される第1導電型の第1クラッド層2と、第1クラッド層上に形成される活性層3と、活性層上に形成される第2導電型の第2クラッド層4と、第2クラッド層上に形成された細長形状の第2導電型のリッジ部20と、リッジ部との段差を埋めるように形成される第1導電型の電流ブロック層22とを有し、電流ブロック層は、共振器面を含む共振器面近傍領域では、活性層でレーザ光が発生された際に活性層から電流ブロック層に漏れ出たレーザ光を吸収する吸収膜10からなり、共振器面近傍領域以外の領域では、吸収膜と、活性層から電流ブロック層に漏れ出たレーザ光を透過する透過膜9とを有する。 (もっと読む)


【課題】埋め込み型半導体レーザのリーク電流を低減し、電流光出力特性を向上させる。
【解決手段】埋め込み型半導体レーザ1は、p型のInP基板2を用いて形成され、p型InPからなる第1クラッド層3、AlGaInAs歪量子井戸活性層4、n型InPからなる第2クラッド層5を積層したリッジ部6を有している。リッジ部6の両側には、p型InPからなる第1埋め込み層7、n型InPからなる第2埋め込み層8、半絶縁性FeドープInPからなる第3埋め込み層9が順に積層された埋め込み電流ブロック層10が形成されている。第3埋め込み層9の上面は、n型のInPからなる半導体層11により覆われている。上記構造により、第3埋め込み層9の上面にリーク電流経路が発生することを抑制し、埋め込み型半導体レーザの信頼性を向上させることができる。 (もっと読む)


【課題】アルミニウムを含む中間半導体層が酸素を含む雰囲気でアルミニウム化合物を形成するのを防止し、しかもストライプ頂面と中間半導体層の幅を実用的な範囲で両立させることのできる半導体光デバイスの製造方法を提案する。
【解決手段】アルミニウムを含む中間半導体層に達しない範囲で、上部半導体層の端部に第1ストライプ側壁を形成する工程、第1ストライプ側壁の形成後に、結晶成長装置内において、ハロゲンを含むガスを用いて、中間半導体層の端部および上部半導体層と下部半導体層が中間半導体層と隣接する隣接部分の端部に第2ストライプ側壁を形成する工程、および第2ストライプ側壁の形成に続き、結晶成長装置内において、第2ストライプ側壁に、中間半導体層の端部と隣接部分の端部に接合する保護埋込部を有する埋込半導体層を形成する工程を含む。 (もっと読む)


【課題】メサから埋込層へ電流が流れる無効電流経路が形成されるのを防ぐことができる半導体レーザ素子の製造方法を得る。
【解決手段】本発明に係る半導体レーザ素子の製造方法は、基板上に、活性層を持つ半導体積層構造を形成する工程と、半導体積層構造をエッチングしてメサを形成する工程と、メサの側面の酸化層が強固なものに変化する臨界温度よりも低い温度において、エッチング効果のあるガスによりメサの側面を清浄化させる第1清浄化工程と、第1清浄化工程の後に、臨界温度よりも高い温度において、エッチング効果のあるガスによりメサの側面を清浄化させる第2清浄化工程と、メサの側面を清浄化させた後に、メサの側面を覆うように埋め込み層を形成する工程とを有する。 (もっと読む)


【課題】安定したAPC駆動を行うことの可能な自励発振型半導体レーザを提供する。
【解決手段】n型クラッド層21、活性層22、ならびにストライプ状の埋込リッジ部28を含むp型クラッド層23、n型バッファ層24、p側コンタクト層25、エッチングストップ層26およびキャップ層27をこの順に積層してなる半導体層20を備える。半導体層20のうち埋込リッジ部28の延在方向に対して垂直な前端面に出射側反射膜33が形成されており、前端面側の反射率RfはP2<Pop<P1を満たすように調整されている。 (もっと読む)


【課題】メサから埋込層へ電流が流れる無効電流経路が形成されるのを防ぐことができる半導体レーザ素子の製造方法を得る。
【解決手段】Alを含む半導体材料からなる活性層を持つ半導体積層構造を形成する工程と、半導体積層構造をエッチングしてメサを形成する工程と、メサの側面を覆うように第1の埋め込み層を第1の成長温度で形成する工程と、第1の埋め込み層の上に第2の埋め込み層を第1の成長温度よりも高い第2の成長温度で形成してメサの周囲を埋め込む工程とを有する。 (もっと読む)


【課題】0次横モードと1次横モードの導波損失の差を大きくすることによりキンクレベルを向上させ、且つ信頼性の高い半導体レーザ素子を提供する。
【解決手段】平行な一対の共振器面を有する端面出射型の半導体レーザ素子LAにおいて、第1導電型の半導体基板2と、半導体基板上に順次積層された第1導電型の第1クラッド層4、活性層5、第2導電型の第2クラッド層6、及び第2導電型のエッチングストップ層7と、エッチングストップ層上に共振器面と直交する方向に延在するリッジ19とを有し、リッジにおける共振器面及びエッチングストップ層の表面それぞれに対して平行な方向の長さが共振器面近傍の第1領域26よりも第1領域同士の間の領域である第2領域で長く、第1領域における長さが、レーザ発振させた際に0次横モードのみが伝搬可能な長さである。 (もっと読む)


【課題】 信号光の導波方向に発振光を混入させることなく、入力光強度による利得変動を抑えることが可能な光増幅素子を提供する。
【解決手段】 入力導波路402、複数の多モード導波路403a〜403cおよび出力導波路404をn−InP基板401上に形成し、入力導波路402および出力導波路404は、InGaAsPをコアとした利得媒質からなるシングルモード導波路から構成するとともに、多モード導波路403a〜403cは、InGaAsPをコアとした利得媒質からなる多モード導波路から構成し、多モード導波路403の両脇に高反射膜409、410を対向配置し、入力信号光411の導波方向と直交する方向に多モード導波路403内でレーザ発振を起こさせながら、入力信号光411を多モード導波路403内に伝搬させることにより、入力信号光411を増幅する。 (もっと読む)


【課題】同一基板上に複数の発光部が集積された半導体レーザ装置の動作電流及び消費電力を低減する。
【解決手段】レーザ装置は、基板上に、下部クラッド層と、下部クラッド層上の活性層と、活性層上に形成され、水平横方向の光閉じ込め用メサ状リッジ(14a及び24a)を備える上部クラッド層(14及び24)とからなるダブルへテロ構造を有し、同じ長さの共振器を有する複数の発光部(A及びB)が形成されている。活性層は、それぞれの共振器の光が出射する前端面C及びその反対側の後端面Dのうち少なくとも一方の近傍に、不純物が拡散された窓領域(41a、41b、42a及び42b)を備える。複数の発光部は、第1の発光部Aと、それよりも長い波長で発光する第2の発光部Bとを含む。後端面Dから前端面Cに向かう方向についての窓領域の寸法を窓領域の長さとするとき、第2の発光部Bの窓領域は、第1の発光部Aの窓領域よりも長い。 (もっと読む)


【課題】リッジストライプ近傍における空洞の発生を防ぐと共に、リッジストライプ側方の形成する層の層厚ばらつきや不連続性をなくして、歩留まりを向上させることができて安定して動作する半導体レーザ装置およびその製造方法を提供する。
【解決手段】p型GaAsキャップ層107に対してはエッチング可能であるが、p型AlGaAs第2上クラッド層106に対してはエッチング不可能である第1のエッチャントに対して、p型AlGaAs中間層120は被エッチング速度が略0であり、かつ、p型GaAsキャップ層107に対してはエッチングが不可能であるが、p型AlGaAs第2上クラッド層106に対してはEcというエッチング速度を持つ第2のエッチャントに対して、p型AlGaAs中間層120は被エッチング速度がEiである。p型AlGaAs中間層120はEc,EiがEi<Ecの関係を満たす層である。 (もっと読む)


【課題】電解メッキ法により電極・配線層を形成する化合物半導体素子において、メッキ液がバリアメタル層を物理的に通り抜けたり、エッチングして化合物半導体層に浸入し、発振不良や電気特性不良などの素子特性不良が生じることを抑制する。
【解決手段】スパッタリングによりバリアメタル層としてMo層、Ti層、Pt層およびW層のいずれかを形成する際に、何れも、スパッタリング時の入力パワーが2000W以上5000W以下に設定することによって、スパッタリング時の入力パワーを1000Wとした従来技術の場合に比べて、バリアメタル層13の膜質を、従来技術のような多孔質ではなく、緻密な繊維状の多結晶膜とし、バリアメタル層13の金属粒径を50nm以下として金属粒径が半分以下に小さくする。 (もっと読む)


【課題】 量子ドット半導体装置に関し、自己形成型量子ドットのサイズ及び形状を均一にする。
【解決手段】 半導体基板1上に複数の2元化合物半導体の分子層の整数倍が交互に積層された短周期超格子構造層4を設けるとともに、短周期超格子構造層4上に自己形成型量子ドット5を設ける。 (もっと読む)


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