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Fターム[5J022BA05]の内容

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Fターム[5J022BA05]に分類される特許

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【課題】比較的低速で幅広いレンジを計測するとともに、比較的狭いレンジで高速かつ高分解能で計測する多チャンネル信号処理装置を得る。
【解決手段】センサ信号S1からセンサ低速信号S4を抽出するローパスフィルタ2と、センサ低速信号S4を基準信号S2として記憶する基準信号記憶器3と、センサ信号S1と基準信号S2との差動増幅信号S3を生成する差動増幅器1と、差動増幅信号S3のADコンバータ101と、センサ低速信号S4のADコンバータ102と、ローパスフィルタ2から基準信号記憶器3への信号路を開閉するスイッチ4と、ローパスフィルタ2からADコンバータ102へのチャンネルを選択する選択器103と、選択チャンネルを決定する選択決定器202と、基準信号S11と差動増幅信号S7とからセンサ物理量S9を計算する換算器201とを備えている。 (もっと読む)


高速で動作するためのアナログ−デジタル変換器は、マイクロコンパレータ/サンプラ、符号器、および選択器を有して実装されることができる。マイクロコンパレータは、受信機/送受信機システムのアンテナからの入力と、トランジスタ対と、リセットトランジスタと、縦続接続されたインバータと、インバータ回路と、バッファと、Dフリップフロップ回路とを含む。並列に設置されたマイクロコンパレータ/サンプラの数に応じて、多数のビットを生成することができる。例えば、15個の異なるマイクロコンパレータ/サンプラからの15個のビットを、15ビットから4ビットへの符号器へ挿入して、4つのビットを生成することができる。
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【課題】対応可能な信号伝送速度の範囲が広い受信機を提供することを目的とする。
【解決手段】並列比較型ADコンバータは、第1基準信号と入力信号との電圧差を増幅する第1増幅回路と、第2基準信号と前記入力信号との電圧差を増幅する第2増幅回路と、前記第1増幅回路の第1出力電圧と、前記第2増幅回路の第2出力電圧とを抵抗分割し、前記抵抗分割された電圧値の論理値を判定する判定回路と、前記第1増幅回路及び前記第2増幅回路の増幅利得を制御する制御信号線とを有する。 (もっと読む)


【課題】本発明は、アナログ/デジタル変換回路の検査を高速かつ高精度に実施することが可能な半導体装置、及び、その検査方法を提供することを目的とする。
【解決手段】本発明に係る半導体装置10は、第1クロックCK1で動作し、アナログデータをデジタルデータに変換して出力するADC11と;第2クロックCK2で動作するCPU12と;第1クロックCK1または第2クロックCK2の一方で動作するメモリ13と;第1クロックCK1で動作し、デジタルデータをメモリ13に書き込むメモリ書込回路14と;デジタルデータのライト時には第1クロックCK1をメモリ13に出力し、デジタルデータのリード時には第2クロックCK2をメモリ13に出力するセレクタ15と;を有して成り、CPU12は、ADC11の検査時において、メモリ13に格納されたデジタルデータを読み出して所定の演算処理を施し、その結果を装置外部に転送する。 (もっと読む)


【課題】消費電力および回路面積の増大を抑制しつつ、逐次比較によるA/D変換処理を高速化する。
【解決手段】比較器12には3つのコンデンサC1〜C3を接続するとともに、第1、第2および第3の参照電圧をコンデンサC1〜C3にそれぞれ入力する3つの切り替え回路SL1〜SL3を設け、制御回路11は、各コンデンサC1〜C3の浮遊容量のチャージ期間においては、3つの切り替え回路SL1〜SL3のうちの少なくとも2つの切り替え回路を選択し、その選択した切り替え回路のスイッチング素子のいずれか1つを同時にオンさせ、比較器12による比較期間においては、コンデンサC1〜C3のうちのいずれか一つを一回の比較動作時に選択させ、次回の比較動作では異なるコンデンサC1〜C3を選択させる。 (もっと読む)


【課題】高速かつ小型のアナログデジタル変換器を提供することを課題とする。
【解決手段】複数の参照電圧を複数領域に分割し、前記分割した複数領域のうち、入力アナログ電圧が属する領域を判定するために前記入力アナログ電圧と領域境界電圧との比較を行う上位ビット比較器(112)と、前記複数の参照電圧と前記入力アナログ電圧との差分電圧を出力する複数のアンプ(103)と、前記分割された複数領域数の前記アンプの出力信号のうち、前記上位ビット比較器により判定された領域に応じて前記アンプの出力信号を選択する複数の第2のセレクタ(104)と、前記複数の第2のセレクタにより選択された信号のうちの2つの信号の大きさを比較して比較結果信号を出力する複数の下位ビット比較器(109)と、下位ビット比較器の出力信号を選択する第3のセレクタ(110)とを有するアナログデジタル変換器が提供される。 (もっと読む)


【課題】従来のアナログ/デジタル変換では、並列比較の精度を向上させようとすると、比較回数が多くなり、高速変換を実現することが難しいという課題があった。
【解決手段】サンプルホールド回路と、D/Aコンバータと、コンパレータと、逐次比較レジスタと、タイミング制御回路とを具備して、冗長比較を行う逐次比較型アナログ/デジタルコンバータによって解決することができる。コンパレータは、アナログ入力電圧と、複数の比較電圧のそれぞれとを比較する並列比較を逐次行う。逐次比較レジスタは、並列比較の結果が得られると、並列比較の結果に基づいて、前回の所定のサーチ電圧範囲内において、次回の所定のサーチ電圧範囲を設定する。タイミング制御回路は、所定のタイミングで、並列比較から冗長比較への切り替えを行うための信号を生成する。 (もっと読む)


【課題】帯域を確保することができ、後段回路の面積、電力を削減でき、ひいては高精度、高速動作を実現することが可能なラッチ回路およびA/D変換器を提供する。
【解決手段】ラッチ回路130−1〜130−5は、複数の異なる入力差動電圧信号を差電流に変換して出力する複数の入力トランジスタ対を有し、各差電流信号の正極・負極が交互に合成されるように、上記各トランジスタNT131〜NT133、NT134〜NT136の第1端子(ドレイン端)が接続され、各入力差動電圧信号の遷移部を合成して一つの折り返し差電圧信号を生成する回路を含む。 (もっと読む)


【課題】全ビット・グレイコード変換方式と同等のスパークル抑止能力を持ち、配線の錯綜およびパイプラインディレイの増大を防止したADCを実現する。
【解決手段】所定電圧ステップずつ異なる基準電圧Vrefを生成し、基準電圧Vrefとアナログの入力信号Vinとの電圧比較を並列に行ってアナログの入力信号の電圧レベルを検出し、所定ビットNの上位のnビット分の電圧レベルを符号化しグレイコードを出力する第1エンコーダ3−8と、残りの下位ビット分の電圧レベルを符号化し出力する第2エンコーダ3−1〜3−7と、第1エンコーダから出力されるグレイコードをバイナリーコードに変換し、上位nビットADB[5]〜ADB[3]を生成する第1出力回路4と、第1出力回路4から生成されるディジタル信号ADB[3]と、第2エンコーダの出力とを用いて、下位ビットADB[2]〜ADB[0]を生成する第2出力回路5とを有する。 (もっと読む)


【課題】クロック分配移相器を用いることなく、高いサンプルレート、幅広いビット数の要求を同時に満たすアナログ・ディジタル変換回路を低コストで提供する。
【解決手段】アナログ信号VINを入力するN個(N:自然数)のnビット(n:自然数)のアナログ・ディジタル変換要素38〜41を、クロック分配器37からの同一位相のクロックで動作させ、かつ、参照電圧の上限値VRTと下限値VRBとのそれぞれをあらかじめ定めたシフト電圧値ずつ電圧シフトさせて電圧発生器36から分配することにより、コード変換器42にて、N個の前記アナログ・ディジタル変換要素38〜41からのnビットのディジタル信号(aof,a2,a1,a0)〜(dof,d2,d1,d0)を組み合わせて、nビットよりも多いビット数のディジタル信号D4〜D0にコード変換して出力する。また、nビットよりも増加させるビット数をlogNとする。 (もっと読む)


【課題】配線を等長にすることなくデータのタイミングスキューを最小にして高速動作時の有効ビットの低下を抑えた並列型アナログ・ディジタル変換器を提供する。
【解決手段】各々異なる比較電圧とアナログ信号電圧とを比較する(2−1)個の比較器と、複数の論理ゲート及びラッチ回路から構成され(2−1)個の比較器の出力である温度計コードを、グレイコードを介してバイナリコードヘ変換するエンコーダと、から構成されるアナログ・ディジタル変換器であり、前記エンコーダは前記比較器列に接続するn段のラッチ回路列を有し、各比較器と各ラッチ回路はANDゲートを介して接続し、ラッチ回路と次段のラッチ回路はORゲートまたはNORゲートを介して接続し、隣接する2つの比較器の出力が1つのANDゲートに入力し、隣接する2つのラッチ回路の出力が1つのORゲートまたはXORゲートに入力する順序で前記比較器列を配置した。 (もっと読む)


【課題】A/D変換器のサンプリングレートと同等な速度で補正処理を可能にして、その結果装置全体の動作を高速化できるようにする。
【解決手段】入力信号をサンプリングタイミングがずれた複数のA/D変換器に与えるインタリーブ方式のA/D変換装置において、各A/D変換器22(1)〜22(N)に対応してそれぞれ設けられ、当該A/D変換器の出力値およびその出力値の間を補間するN−1個の補間値を推定して並列に出力する複数Nの推定処理部31(1)〜31(N)と、各推定処理部31(1)〜31(N)からそれぞれ並列出力される出力値および補間値に対して、複数のA/D変換器間に生じる誤差を補正するための補正演算を並列に行い、該演算結果を加算して、A/D変換器の出力値を基準のA/D変換器でサンプリングしたのと等価な値に補正する複数Nの等化処理部35(1)〜35(N)とを備えている。 (もっと読む)


【課題】高速で小面積な自己補正逐次比較型A/D変換器を提供する。
【解決手段】Jビットの第1のデジタル信号に応じた電圧を生成する容量D/A変換器と、第2のデジタル信号に応じた電圧を生成する抵抗D/A変換器と、抵抗D/A変換器の生成する電圧を出力ノードに容量結合する容量素子と、出力ノードに現れる電圧に応じた比較結果信号を生成する比較器と、比較器からの比較結果信号に応じて、第1のデジタル信号を容量D/A変換器に供給すると共に、容量D/A変換器の容量誤差の補正値を示す第3のデジタル信号と、Kビットの第4のデジタル信号を出力する制御回路と、第3のデジタル信号と第4のデジタル信号とに基づいてKビット以上のビット数の第2のデジタル信号を生成して抵抗D/A変換器に供給するデジタル演算回路を含み、(J+K)ビットのデジタルデータを生成する。 (もっと読む)


【課題】カウンタとラッチ(メモリ)の間でカウント値の入出力および演算が可能で、複雑な処理が可能なAD変換装置、固体撮像素子、およびカメラシステムを提供する。
【解決手段】光電変換を行う複数の画素が行列状に配列された画素部110から行単位でデータの読み出しを行う画素信号読み出し回路(ADC群)150と、を有し、ADC群150は、画素の列配列に対応して配置され、読み出し信号電位と参照電圧とを比較判定し、その判定信号を出力する複数の比較器151と、比較器の出力により動作が制御され、対応する比較器の比較時間をカウントする複数のカウンタ152と、第1のNビットメモリ231および第2のNビットメモリ232を含むラッチ230と、を有し、各カウンタ152は、シリアル入出力機能を持つNビットカウンタ220(152)として構成され、その出力がインバータ240あるいは演算器270を介して入力に接続されている。 (もっと読む)


【課題】シングルスロープ型のアナログデジタル変換回路は、分解能が増加するにつれ参照信号のステップ数を増大させる必要があるため、変換速度が遅くなってしまう。
【解決手段】コンパレータCPは、デジタル信号に変換すべきアナログ信号に対応する電圧を受ける第1入力端子と、電圧レベルが順次上昇または下降する第1参照電圧を受ける第2入力端子を有し、第1入力端子の電圧と第2入力端子の電圧とを比較する。容量Cは、出力側端子がコンパレータCPの第1入力端子に直列に接続され、入力側端子がアナログ信号Vinを受ける。容量Cによりサンプリングされたアナログ信号Vinに対応する電圧が第1入力端子に現れたのち、容量Cの入力側端子に、電圧レベルが順次上昇または下降する第2参照電圧が入力される。 (もっと読む)


【課題】 特性のバラツキに起因する変換精度の低下防止と回路規模の増大防止の両方を効果的に実現できるサブレンジング方式のA/D変換回路及び固体撮像装置を提供する。
【解決手段】 直列接続された容量素子C1〜C3と、容量素子C1の出力値と閾値電圧値Vthを比較する電圧比較回路CMPと、容量素子C1とC2間のノードに被変換アナログ電圧信号Vpixを入力する第1入力回路と、容量素子C2とC3間のノードに、上位ビットの値を求める第1変換処理の実行期間中に、電圧値が単調変化する第1参照電圧を入力する第2入力回路と、容量素子C3の入力端に、第1変換処理終了後に未変換ビットの値を求める第2変換処理の実行期間中に、電圧値が単調変化する第2参照電圧を入力する第3入力回路と、第1変換処理における電圧比較回路CMPの出力変化時に、容量素子C3に第1参照電圧を保持する制御信号Vctlを生成する制御回路12を備える。 (もっと読む)


【課題】高速化、高精度化、低電力化を実現するサブレンジング型AD変換器を提供する。
【解決手段】本発明の一態様に係るサブレンジング型AD変換器1は、アナログの入力信号の電位と、複数段の第1の基準電位とを比較し、入力信号における上位側デジタル信号を出力する1段目AD変換手段4と、入力信号の電位と、基準電位出力線11より供給される複数段の第2の基準電位とを比較し、入力信号における下位側デジタル信号を出力する2段目AD変換手段12と、1段目AD変換手段4による変換結果に応じて、基準電位出力線11から2段目AD変換手段12に供給される複数段の第2の基準電位を切り換える基準電位スイッチ9と、基準電位出力線11を、2段目AD変換手段12が動作していない期間に、入力信号の電位に基づいて予めプリチャージするためのプリチャージ手段10とを具備する。 (もっと読む)


【課題】電圧精度を落とすことなく、入力デジタル値の遷移に応じて迅速に変換電圧を切り替えることが可能なD/Aコンバータを提供する。
【解決手段】D/Aコンバータは、分圧回路1と、D/A変換部2と、充電加速制御部3と、放電加速制御部4と、電圧遷移加速部5と、充電加速停止判断部6と、放電加速停止判断部7と、充放電停止判断部8と、マイクロプロセッサ9とを備える。D/A変換部2は、充電判定回路11と、放電判定回路12と、充放電回路13とを有する。充電時には充電加速動作を行い、変換電圧VSWがオーバーシュートすると放電加速を行うという動作を繰り返し、放電時には放電加速動作を行い、変換電圧VSWがアンダーシュートすると充電加速を行うという動作を繰り返すため、充電時も放電時も、変換電圧VSWが収束するまでの時間を短縮できる。 (もっと読む)


【課題】従来技術に比較して消費電力を削減でき、もしくは消費電力を増やさずに処理時間を短縮することができるパイプライン型A/D変換装置を提供する。
【解決手段】互いに縦続接続された複数のA/D変換回路部を含み、サンプルホールド信号をパイプライン形式でA/D変換するパイプライン型A/D変換装置において、各A/D変換回路部は、入力信号をデジタル信号にA/D変換する前置A/D変換回路と、当該デジタル信号をアナログ制御信号にD/A変換し、入力信号を、サンプリングキャパシタを用いてサンプリングし、ホールドし、増幅することによりD/A変換する乗算型A/D変換回路とを含む。プリチャージ回路は、サンプリングする前に、サンプリングキャパシタを、各A/D変換回路部への入力信号に対する出力信号を示す各A/D変換回路部の入出力特性に実質的に適合するデジタル入出力特性に従って、所定の出力値になるように予め充電する。 (もっと読む)


【課題】複数のアナログスイッチが所望の基準電圧を出力する動作速度を確保しつつ、そのアナログスイッチの占有面積を最小限に抑えること。
【解決手段】この発明は、入力基準電圧を複数の抵抗R1〜R(2)で分圧し、この分圧された複数の分圧電圧のうちの1つを複数のアナログスイッチSW1〜SW(2−1)の1つで選択して所望の基準電圧として出力する。複数のアナログスイッチSW1〜SW(2−1)は、それぞれトランジスタで構成した。複数のトランジスタのサイズは、出力する基準電圧のレベルに応じてそれぞれ変更するようにした。 (もっと読む)


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